常君 葉丹 王寅冬 拜文娟
【摘? 要】Link-up Time(連接時間)測試是車載以太網(wǎng)物理層測試中的一項,目的是考驗接口在一定時間內(nèi)快速建立起連接的能力,確保接口芯片能夠快速響應(yīng)通信。本文結(jié)合實際項目給出了Link-up Time測試的原理、方法和詳細(xì)過程,為行業(yè)測試提供參考。
【關(guān)鍵詞】車載以太網(wǎng);物理層測試;工作模式
中圖分類號:U463.6? ? 文獻(xiàn)標(biāo)志碼:A? ? 文章編號:1003-8639( 2023 )08-0075-02
Test Method for Link-up Time of Automotive Ethernet
CHANG Jun,YE Dan,WANG Yin-dong,BAI Wen-juan
(Dalian Neusoft Smart Go Co.,Ltd.,Dalian 116085,China)
【Abstract】Link-up Time test is one of the automotive Ethernet physical layer test items. It aims to examine the interface's ability of establishing connection of within a defined period,so as to ensure that the chip can respond to communication request rapidly. This article elaborates the theory,method and process of link-up time test based on a practical project,and provides useful reference to the sector.
【Key words】automotive Ethernet;physical layer test;working mode
車載以太網(wǎng)泛指任何用于車用系統(tǒng)的以太網(wǎng)網(wǎng)絡(luò)方案,是汽車局域網(wǎng)總線技術(shù)發(fā)展的新興領(lǐng)域,應(yīng)用越來越廣泛。車載以太網(wǎng)采用單對非屏蔽雙絞線,可實現(xiàn)全雙工100Mb/s甚至1Gb/s速度等級的傳輸,相比傳統(tǒng)的以太網(wǎng),能夠更加適應(yīng)車輛環(huán)境,滿足汽車行業(yè)對高可靠性、低電磁輻射、低功耗、高帶寬分配、低延遲以及同步實時性等方面的要求。采用車載以太網(wǎng)技術(shù),不僅能夠減少車內(nèi)線束的質(zhì)量、布線的復(fù)雜度,同時也能對車輛的性能進(jìn)行提升,例如其高帶寬能有效滿足車聯(lián)網(wǎng)的實時交通信息、娛樂信息傳輸、智能駕駛傳感器大量的數(shù)據(jù)傳輸需求,為用戶帶來更好的體驗感受。
為了保證車載以太網(wǎng)在應(yīng)用過程中的可靠性與安全性,需要對其開展測試工作。車載以太網(wǎng)分為7層,物理層是OSI 7層模型的最底層。針對物理層測試,主要參照由單線對以太網(wǎng)聯(lián)盟(One-pair Ethernet Alliance,OPEN)制定的汽車以太網(wǎng)控制器測試規(guī)范TC8。該規(guī)范對汽車以太網(wǎng)各層測試給出了建議性的測試項與測試要求,其中物理層的測試相關(guān)內(nèi)容主要分為IOP (Interoperability Tests)測試和PMA(Physical Medium Attachment)測試,Link-up Time(連接時間)即是IOP其中一項。車載以太網(wǎng)主要通過PHY(Physical)芯片來完成以太網(wǎng)數(shù)據(jù)幀(Frame)的收發(fā)控制、連接建立等功能,因此測試也是圍繞PHY芯片的操作來展開。
1? 測試原理
物理層測試的目的是為了保證車載以太網(wǎng)端口能夠快速響應(yīng)互連互通性能,檢測發(fā)送器和接收器發(fā)送或接收信號是否符合汽車通信標(biāo)準(zhǔn)。為了測試DUT(被測設(shè)備)與連接系統(tǒng)建立連接的時間,判斷該時間是否在給定的時間范圍內(nèi),需要測試Link-up Time(連接時間)項目,測試可分為上電模式(Power on)和喚醒模式(Wake up)兩種,以下分別進(jìn)行詳細(xì)敘述。
1.1? 上電模式(Power on)
上電模式主要測試PHY芯片從復(fù)位后一直到能夠連接成功的時間,要求DUT程序能夠穩(wěn)定工作,并且上電后能自動進(jìn)入正常工作模式。從PHY_RESET ON→PHY_LINK_UP的時間可通過此芯片的兩個引腳用示波器捕獲,但是在正式測試時是對整機測試,不會單獨從DUT(被測設(shè)備)內(nèi)部引出PHY_RESET引線供測試,因此只能通過間接方式來進(jìn)行。通常,檢測機構(gòu)會測試BATT/ACC同時ON→PHY_LINK UP的時間T3,而從BATT/ACC同時ON→PHY_RESET ON的時間T1需要提前通過示波器方式測試出,輸出給檢測機構(gòu),這樣PHY_RESET ON→PHY_LINK_UP的時間就可以通過公式T2=T3-T1計算得出。當(dāng)PHY_LINK UP成功時,PHY_LED端子的狀態(tài)會有變化,可以通過此端子變化來確認(rèn)連接是否成功。上電模式時序圖參見圖1。在測試前,對T1的時間要提前測試好,并且要求非常精準(zhǔn),并提前輸入給檢測機構(gòu)。正式測試時會測試100次,取平均值。測試標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)TC8 SPEC V2.0 PASS標(biāo)準(zhǔn),其結(jié)果要符合10ms 1.2? 喚醒模式(Wake up) 喚醒模式主要測試PHY芯片從收到喚醒信號后一直到能夠連接成功的時間。要求DUT(被測設(shè)備)程序能夠穩(wěn)定工作,并且上電后能自動進(jìn)入待機狀態(tài),當(dāng)芯片收到喚醒源時,能立即進(jìn)入工作連接狀態(tài)。從PHY_WAKE→PHY_LINK_UP的時間可通過芯片引腳可獲得,但是在正式測試時是對整機測試,不會單獨從DUT(被測設(shè)備)內(nèi)部引出PHY_WAKE引線供測試,因此也是通過間接方式來進(jìn)行。在測試時,DUT是持續(xù)供電BATT的,整機的喚醒源是ACC,通過內(nèi)部轉(zhuǎn)換電路輸入PHY芯片的喚醒引腳,當(dāng)ACC 由OFF→ON時,通常測試系統(tǒng)會測試出ACC ON→PHY_LINK UP的時間T3,而ACC同時ON→PHY_WAKE的時間T1需要提前通過示波器方式測試出,輸出給檢測機構(gòu),這樣從PHY_WAKE→PHY_LINK_UP的時間就可以通過公式T2=T3-T1計算得出。當(dāng)PHY_LINK UP成功時,PHY_LED端子的狀態(tài)會有變化,通過此端子變化確認(rèn)是否連接成功。喚醒模式時序圖參見圖2。同樣,在測試前,對T1的時間要提前測試好,并且要求非常精準(zhǔn),輸入給檢測機構(gòu)。在正式測試時會測試100次,取平均值。測試標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)TC8 SPEC V2.0 PASS標(biāo)準(zhǔn),其結(jié)果也要符合10ms 2? 測試過程 在具體測試過程中,需要確認(rèn)以下幾個狀態(tài)。 2.1? 狀態(tài)確認(rèn) 1)主從模式:在車載以太網(wǎng)中連接的2個節(jié)點必須一個是主(Master),另一個是從(Slave),針對DUT的PHY接口測試,要求DUT配置成從模式。 2)軟件狀態(tài):要求在上電模式下,DUT得電BATT/ACC后,能立即啟動,無需其他外部喚醒源參與;在喚醒模式下,當(dāng)ACC失電后,能進(jìn)入休眠模式,并記錄下休眠電流。 3)關(guān)于T1測量:在兩種模式下的T1時間需要提前測量出來,并提供給檢測機構(gòu),例如本案例中喚醒模式T1為10414ms,上電模式T1為95ms。 2.2? 環(huán)境搭建 1)DUT設(shè)備需要引出BATT、ACC、GND以及PHY接口的TBC+/-接線,與測試系統(tǒng)一一對接,要保證PHY接口的TBC+/-接線線長盡可能短。測試接線圖可參照圖3。 2.3? 執(zhí)行測試 設(shè)備環(huán)境搭建后,對測試系統(tǒng)的配置主要參數(shù)是兩種狀態(tài)下的T1時間和休眠時的暗電流,在執(zhí)行上電模式測試時,檢測系統(tǒng)會對DUT進(jìn)行多次上、下電操作,計算DUT與測試系統(tǒng)建立連接所需要的時間;在執(zhí)行喚醒模式時,對DUT也是進(jìn)行多次喚醒、睡眠操作,計算DUT與測試系統(tǒng)建立連接所需要的時間,并自動減去輸入的時間參數(shù)T1。當(dāng)測試結(jié)束后會生成測試結(jié)論報告。 例如:圖4為上電模式測試時間結(jié)論圖,最小數(shù)值為10462.03ms,最大數(shù)值為10478.18ms,當(dāng)減去10414ms時,結(jié)論為48~64ms,符合10~100ms范圍;圖5為喚醒模式測試時間結(jié)論圖,最小數(shù)值為128.59ms,最大數(shù)值為164.51ms,當(dāng)減去95ms時,結(jié)論為33~69ms,符合10~100ms范圍,滿足物理層接口標(biāo)準(zhǔn)要求。 3? 結(jié)束語 通過以上測試,對車載以太網(wǎng)Link-up Time(連接時間)的測試原理和過程有了一定的認(rèn)識和了解。在產(chǎn)品開發(fā)階段可以提前對物理層測試進(jìn)行摸底,確認(rèn)PHY接口的PCB設(shè)計、布局、阻抗匹配等參數(shù)是否合理,對發(fā)現(xiàn)的問題應(yīng)立即整改,為后續(xù)正式測試一次性通過提供有力幫助。 隨著汽車銷量的增加,對車載以太網(wǎng)更需要完備的測試,才能提高汽車的品質(zhì)、可靠性以及安全性,才能推動汽車向智能化和網(wǎng)聯(lián)化快速前進(jìn)。 參考文獻(xiàn): [1] 李巍,張麗靜,王燕芳. 車載以太網(wǎng)技術(shù)及標(biāo)準(zhǔn)化[J]. 電信網(wǎng)技術(shù),2016(6):1-5. [2] IEEE Std.802.3bw,subclause 96.5.2-Test modes[S]. [3] OPENSig,OPEN Alliance Automotive Ethernet ECU Test Specification v2.0[S]. [4] OPENSig,OPEN TC11 Switch Semiconductor Test Specification v1.0[S]. [5] 李志濤. 車載以太網(wǎng)的研究與分析[J]. 汽車電器,2018(3):9-12. (編輯? 凌? 波) 作者簡介 常君(1975—),男,硬件經(jīng)理,高級工程師,現(xiàn)從事車載電子T-Box設(shè)計方向的研究工作。