陳鳳林 張鄭洪 李恒
摘要:基于串口通信開發(fā)BLE藍(lán)牙芯片測試平臺,針對藍(lán)牙芯片的測試方案,設(shè)計(jì)芯片和儀表的控制流程,完成BLE芯片的一鍵式自動(dòng)化測試,實(shí)現(xiàn)對藍(lán)牙芯片測試項(xiàng)的全面測試,為產(chǎn)線自動(dòng)化提供支持。
關(guān)鍵詞:低功耗藍(lán)牙;藍(lán)牙芯片;GMSK;自動(dòng)化測試
低功耗藍(lán)牙模塊(BLE)指的是藍(lán)牙4.0版本以上的模塊,也是建立在傳統(tǒng)藍(lán)牙基礎(chǔ)之上發(fā)展起來的,并區(qū)別于傳統(tǒng)模塊,最大的特點(diǎn)就是成本和功耗降低,應(yīng)用于實(shí)時(shí)性要求比較高。
市場上低功耗的藍(lán)牙芯片受用戶的喜愛度更深,因?yàn)樗梢越档碗娮釉O(shè)備的功耗和成本,滿足用戶的需求。BLE 藍(lán)牙芯片有以下特點(diǎn):低能耗藍(lán)牙芯片具備經(jīng)典藍(lán)牙芯片的自適應(yīng) AFH 技術(shù),可穩(wěn)定低能耗藍(lán)牙芯片的傳輸,因此低能耗藍(lán)牙芯片具有可靠性、安全性和穩(wěn)定性;連接范圍高達(dá)300 m ;當(dāng)活動(dòng)停止時(shí),BLE 藍(lán)牙芯片大部分處于休眠狀態(tài),這樣可以降低設(shè)備的功耗;集成性和易用性;可以兼容 BLE 藍(lán)牙技術(shù)和經(jīng)典藍(lán)牙技術(shù),兼容性強(qiáng),還可以實(shí)現(xiàn)小型電池供電設(shè)備的高性價(jià)比。
要保證 BLE 藍(lán)牙芯片測試的高效性,本文基于現(xiàn)有藍(lán)牙測試儀表針對某款芯片的測試方案開發(fā)藍(lán)牙芯片測試平臺,完成藍(lán)牙芯片的一鍵式自動(dòng)化測試。
1 GMSK調(diào)制
GMSK 調(diào)制是基于 MSK 調(diào)制的,MSK 本身就是一種連續(xù)相位頻率偏移調(diào)制,在 MSK 信號的基礎(chǔ)上,為了改善信號的旁瓣衰減性能,人們提出了在 MSK 調(diào)制器前端增加一個(gè)濾波器進(jìn)行預(yù)調(diào)制的設(shè)想,引出了最小高斯頻移鍵控(GMSK)的思想。雙極性脈沖序列在通過高斯低通濾波器后,其信號波形更加平滑,經(jīng) MSK調(diào)制器調(diào)制后,產(chǎn)生的調(diào)制信號的相位路徑更加平滑,功率譜的旁瓣衰減性能更好。GMSK 調(diào)制器實(shí)現(xiàn)如圖1所示。
2非標(biāo)藍(lán)牙信號和標(biāo)準(zhǔn)藍(lán)牙信號的區(qū)別
針對藍(lán)牙信號的兩種測試模式,一種模式是芯片發(fā)出 GMSK 調(diào)制信號,另一種是標(biāo)準(zhǔn)的藍(lán)牙測試信號,即帶有藍(lán)牙數(shù)據(jù)包信息的前導(dǎo)。圖2是兩種信號頻率偏移(Frequency Deviation)差異。
3測試方案
針對藍(lán)牙芯片發(fā)出的 GMSK 調(diào)制信號,時(shí)域信號類似于連續(xù)波,這種模式的信號對測試包的起始位置沒有特殊要求,只需要抓取足夠長的信號,進(jìn)行符號同步,進(jìn)而進(jìn)行測試項(xiàng)的計(jì)算即可。
針對正常的藍(lán)牙包信號,在時(shí)域上是有 GAP 的,在抓取芯片信號的時(shí)候可以用沿觸發(fā)進(jìn)行抓取整包數(shù)據(jù),進(jìn)而進(jìn)行正常藍(lán)牙信號的解調(diào)分析。
藍(lán)牙芯片的測試連接圖見圖3。
針對藍(lán)牙芯片發(fā)出的兩種信號,具體的測試流程見圖4。
具體過程描述如下:
1)控制藍(lán)牙芯片發(fā)送 GMSK 調(diào)制信號(payload 類型11110000),儀表配置信號觸發(fā)模式為“Free Run”,F(xiàn)PGA 采集數(shù)據(jù)并保存如 DDR 中;
2) ARM 層從 DDR 中取所需長度的數(shù)據(jù)點(diǎn),并對數(shù)據(jù)進(jìn)行打包等預(yù)處理,上傳到驅(qū)動(dòng)層;
3)驅(qū)動(dòng)層控制完成對信號的解調(diào)分析,并計(jì)算一些需要的測試項(xiàng);
4) PC 完成剩余測試項(xiàng)的計(jì)算,并統(tǒng)計(jì)測試結(jié)果上報(bào);
5)控制藍(lán)牙芯片發(fā)送 GMSK 調(diào)制信號(payload 類型10101010),儀表配置信號觸發(fā)模式為“Free Run”,F(xiàn)PGA 采集數(shù)據(jù)并保存如 DDR 中;
6)重復(fù)步驟2~4,完成對 GMSK 調(diào)制信號的測試。
7)控制藍(lán)牙芯片發(fā)送 BLE 藍(lán)牙信號(payload 類型11110000),儀表配置信號觸發(fā)模式為“沿觸發(fā)”,F(xiàn)PGA 采集數(shù)據(jù)并保存如 DDR 中;
8)重復(fù)步驟2~4。
9)控制藍(lán)牙芯片發(fā)送 BLE 藍(lán)牙信號(payload 類型10101010),儀表配置信號觸發(fā)模式為“沿觸發(fā)”,F(xiàn)PGA 采集數(shù)據(jù)并保存如 DDR 中;
10)重復(fù)步驟2~4,完成對 BLE 藍(lán)牙信號的測試;
11)根據(jù)測試需要切換頻點(diǎn),重復(fù)測試步驟1~10。
4實(shí)例應(yīng)用
將此方法應(yīng)用于 XX 型號藍(lán)牙芯片測試,連接圖如圖5所示。
啟動(dòng)測試軟件,完成芯片測試,測試結(jié)果(BLE2M)見圖6。
由測試結(jié)果可見,本平臺完成 XX 型號藍(lán)牙芯片測試,測試結(jié)果均在芯片給定的指標(biāo)范圍內(nèi)。
5 結(jié)束語
本文針對 XX 型號藍(lán)牙芯片,基于現(xiàn)有藍(lán)牙測試儀表設(shè)計(jì)藍(lán)牙芯片自動(dòng)化測試平臺,通過設(shè)計(jì)藍(lán)牙芯片和測試儀表的控制流程,完成對藍(lán)牙芯片的一鍵式自動(dòng)化測試,測試指標(biāo)穩(wěn)定可靠,可應(yīng)用于藍(lán)牙芯片的產(chǎn)線自動(dòng)化測試。
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