凌凱,姜麗,姚治海,于梓麒
(長春理工大學(xué) 物理學(xué)院,長春 130022)
光子晶體是一種折射率呈周期性變化的材料,這個概念最早是在1987 年,由Yablonovitch[1]和John[2]分別獨立提出的。光子晶體按構(gòu)成介質(zhì)在空間的排布方式可以分為一維、二維和三維光子晶體。一維光子晶體具有結(jié)構(gòu)簡單、參數(shù)容易調(diào)整、制作工藝成熟等優(yōu)點;二維、三維光子晶體結(jié)構(gòu)復(fù)雜,制作方法繁瑣,但禁帶效應(yīng)最好[3]。由于一維光子晶體計算方法簡單,可以嚴(yán)格計算,而且一維光子晶體也可以具有制造出不少二維、三維光子晶體所制備器件的能力[4]。因此,一維光子晶體的研究依然具有很高的價值。
與電子在半導(dǎo)體材料的周期性勢場下形成能帶結(jié)構(gòu)相類似,具有周期性結(jié)構(gòu)的光子晶體對不同頻率的光有阻斷作用,從而使光在光子晶體中傳播產(chǎn)生能帶結(jié)構(gòu),處于帶隙內(nèi)的光則不能通過光子晶體而被反射[5-6]。在周期性結(jié)構(gòu)的光子晶體中引入一層不同的介質(zhì),破壞周期性結(jié)構(gòu),光傳播到這個位置時就會被局域限制,具體表現(xiàn)為在透射譜中出現(xiàn)一個帶寬很窄且透射率很高的透射峰(缺陷模),在一定條件下,缺陷模處光的透射率可以達到100%。因此通過在光子晶體中引入缺陷的方法可以實現(xiàn)對光的控制,使得用光子取代電子來傳輸、處理和存儲信息成為可能[7]。目前,光子晶體的應(yīng)用主要有濾波器、光子晶體光纖、光子晶體激光器、無損耗光子晶體波導(dǎo)、光子晶體偏振器等[8-9]。對光子晶體濾波特性的研究趨向于高性能、高品質(zhì)、濾波范圍廣等方向。潘繼環(huán)等人[10]研究了對稱雙缺陷光子晶體,設(shè)計了一種高性能、高品質(zhì)的新型雙通道光學(xué)濾波器件。高越等人[11]設(shè)計了一種一維光子晶體,可實現(xiàn)在單、雙通道濾波之間切換。王周益等人[12]設(shè)計了一種高效率的四通道濾波器,傳輸效率可達85%。
石墨烯是一種由一層碳原子構(gòu)成的二維蜂窩狀晶體材料,它的厚度約為0.34 nm,是世界上最薄的半導(dǎo)體材料。同時石墨烯具有質(zhì)量輕、延展性好、硬度強等特點[13-15]。由于石墨烯獨特的晶格結(jié)構(gòu),使得石墨烯具有電子高遷移率、電磁波低吸收等特點[16]。單層石墨烯對可見光的吸收率在2.3%左右[17]。Deng 等人[18]研究了一種新型梳狀石墨烯納米帶寬帶濾波器,可以實現(xiàn)中紅外波長的帶通濾波,并且可以有效地調(diào)整通帶中心和帶寬。Belhadj 等人[19]研究了一維石墨烯缺陷介電光子晶體的太赫茲光譜特性,研究發(fā)現(xiàn)透射譜中出現(xiàn)梳狀共振峰,并且數(shù)量密度隨著結(jié)構(gòu)周期數(shù)的增加而增加。Jahani 等人[20]提出了一種含石墨烯的一維光子晶體,該結(jié)構(gòu)可實現(xiàn)超窄帶多通道濾波。Sattarian 等人[21]研究了一維混合石墨烯光子晶體,在可見光范圍內(nèi)獲得適用于廣泛入射角的高透射峰。王飛等人[22-23]基于電磁場邊界條件和相位匹配,采用全新的方法推導(dǎo)了石墨烯界面?zhèn)鬏斁仃?,并進一步給出了反射系數(shù)與透射系數(shù),該傳輸矩陣適用于各種含石墨烯界面的情況。
基于石墨烯的特殊性質(zhì),將石墨烯作為缺陷層嵌入到光子晶體中,來實現(xiàn)對透射光強度的控制,解決三通道濾波器中各通道濾波強度不易調(diào)節(jié)的問題。利用傳輸矩陣法研究了含有三個缺陷層的一維光子晶體的光學(xué)特性。并用mathematica 軟件對該結(jié)構(gòu)的透射特性進行了模擬。得出了透射峰位置、寬度、高度隨光子晶體的周期數(shù)、介質(zhì)層的厚度等因素的變化規(guī)律,實現(xiàn)了對透射峰的調(diào)控。該研究結(jié)果具有重要的實踐意義,可以根據(jù)需要控制介質(zhì)層厚度和周期數(shù)來設(shè)計三通道濾波器,并有望在光波分復(fù)用通信系統(tǒng)中發(fā)揮作用。
光子晶體的濾波特性與透射譜中的缺陷模相關(guān),缺陷模又與光子晶體的內(nèi)部缺陷有關(guān)。理論研究表明,對于含有N個缺陷的光子晶體,其缺陷模頻率方程恰好有N個根,因此光子晶體禁帶中出現(xiàn)缺陷模的個數(shù)與引入缺陷層的個數(shù)相等[24-25]。傳統(tǒng)的光子晶體是由折射率為實數(shù)的理想介質(zhì)材料構(gòu)成,這種正常折射率的材料不會對光產(chǎn)生吸收,即這種材料的光子晶體對透射峰的強度不易控制。石墨烯不同于傳統(tǒng)的材料,對光可以產(chǎn)生吸收,因此在光子晶體中加入石墨烯可以實現(xiàn)對透射峰強度的調(diào)節(jié)。
為了保證結(jié)構(gòu)的對稱性,選擇替換式的摻雜方式將石墨烯加入到光子晶體中,其準(zhǔn)周期結(jié)構(gòu)為(AB)mG(BA)nG(AB)nG(BA)m。其中A 為低折射率材料,B 為高折射率材料,G 為石墨烯,m為外層周期數(shù),n為內(nèi)層周期數(shù)。結(jié)構(gòu)模型如圖1 所示。在這種結(jié)構(gòu)的光子晶體中,引入了三個石墨烯缺陷層,理論上在禁帶中將得到三個缺陷模,采用這種光子晶體的濾波器便能實現(xiàn)三通道濾波。
圖1 石墨烯缺陷光子晶體結(jié)構(gòu)示意圖。
下面以TE 模為例來研究光子晶體的光學(xué)特性。若光從左側(cè)向右進入光子晶體,光波進入光子晶體可以看成電磁波進入介質(zhì)層并在介質(zhì)中傳播,首先來看光穿過單層介質(zhì)的情況,設(shè)第j層入射面上光波的電場強度與磁場強度為(Ej,Hj),出射面上光波的電場強度與磁場強度為(Ej+1,Hj+1),根據(jù)麥克斯韋方程組和邊界條件可以得出:
其中,σG為石墨烯的表面電導(dǎo)率,它是角頻率(ω)、化學(xué)勢(μc)、電子弛豫時間(τ)和溫度(T)的函數(shù),由Kobu 公式[26]可知:
其中,i為虛數(shù)單位;π 為圓周率;e為元電荷電量;?為約化普朗克常數(shù);kB為玻爾茲曼常數(shù)。由于σintra取決于能帶內(nèi)的能量,能帶內(nèi)的能量占能量主要部分,所以在計算時只考慮σintra這一項,而忽略σinter項。
光波在整個光子晶體中的傳播可以用一個總的傳播矩陣來描述,將對應(yīng)各層的傳輸矩陣相乘就可以得出整個光子晶體的傳輸矩陣。
其中,η1與ηN+1為光子晶體兩外側(cè)介質(zhì)的光學(xué)導(dǎo)納。
透射率T、反射率R和吸收率A分別為:
假設(shè)一維光子晶體處于空氣中,其組成介質(zhì)都是非磁性物質(zhì)。研究發(fā)現(xiàn),缺陷模會隨著介質(zhì)折射率的增大發(fā)生紅移,但是整體變化不大[27-28],所以將介質(zhì)折射率作為一個可調(diào)參數(shù)的意義不大,因此將材料A 與B 的折射率取為固定值。取A 材料為二氧化硅(SiO2),忽略吸收系數(shù)后其折射率與相對電容率為nA= 1.45、εrA= 4.5;取B 材料為硅(Si),忽略吸收系數(shù)后其折射率與相對電容率為nB= 3.42、εrB= 12。為了便于觀察,將中心波長取為可見光的中間值,即λ0=580 nm。兩介質(zhì)層的光學(xué)厚度分別取中心波長的四分之一,,即dA=100 nm,dB=42.40 nm。對于石墨烯材料,化學(xué)勢、電子弛豫時間和溫度分別取為μc=0.5 eV、τ=0.5 fs、T=300 K、dG=0.34 nm。對于空氣缺陷光子晶體,將公式(7)中的MG替換成了相同厚度的空氣層的傳輸矩陣。
為了研究光子晶體中石墨烯對光傳播的影響,分別計算了在相同參數(shù)下空氣缺陷光子晶體與石墨烯缺陷光子晶體的透射率、反射率和吸收率。如圖2 所示,圖中使用的參數(shù)為外層周期數(shù)m=3、內(nèi)層周期數(shù)n=2、入射角θ=0°。
圖2 空氣缺陷與石墨烯缺陷光子晶體的光學(xué)特性譜線
從圖2(a)與圖2(d)中可以看出,在光子晶體中引入三個缺陷,透射譜中均出現(xiàn)三個缺陷模,與文獻[25]中的結(jié)論一致。透射譜中一個缺陷模位于中心波長處,另外兩個缺陷模分別位于中心波長的兩側(cè),且關(guān)于中心波長對稱。石墨烯缺陷光子晶體與空氣缺陷光子晶體的缺陷模不同,對于空氣缺陷光子晶體,三個缺陷模處的透射率均達100%;而石墨烯缺陷光子晶體三個缺陷模處的透射率各不相同,中心波長處的透射率略低于兩側(cè)缺陷模處的透射率。石墨烯缺陷光子晶體對特定波長的光有一定的反射和吸收,如圖2(e)、圖2(f)所示,吸收峰位于三個缺陷模處,中心波長處的吸收率接近40%。在石墨烯缺陷光子晶體中,石墨烯的加入產(chǎn)生了反射和吸收,最終使得透射譜中透射峰降低。
傳統(tǒng)的光子晶體介質(zhì)的折射率全部為實數(shù),這種材料對光不產(chǎn)生吸收。而石墨烯不同于傳統(tǒng)材料,其表面電導(dǎo)率為復(fù)數(shù),對光可以產(chǎn)生吸收。對于石墨烯缺陷的光子晶體,當(dāng)光進入石墨烯兩側(cè)介質(zhì)層所形成的微法布里-珀羅諧振腔后,不斷在腔體內(nèi)發(fā)生反射,每反射一次都要經(jīng)過一次石墨烯層。因此,這種微腔結(jié)構(gòu)大幅度提高了石墨烯對光的吸收率。因此,在設(shè)計光子晶體濾波器的時候可以通過加入石墨烯缺陷來調(diào)節(jié)不同通道的濾波強度。
光子晶體在做濾波器的同時,常常要考慮光子晶體對入射角的敏感程度,為了研究入射角對該結(jié)構(gòu)光子晶體的濾波特性的影響,計算了在0°~90°角入射下光子晶體的透射率。如圖3所示,圖中所使用的參數(shù)外層周期數(shù)m=3、內(nèi)層周期數(shù)n=2。
圖3 不同入射角下透射率隨波長變化關(guān)系
從圖3 中可以看出,透射譜中的缺陷模隨入射角的增大發(fā)生藍(lán)移,三個透射峰藍(lán)移的速度不同,兩側(cè)的透射峰藍(lán)移速度較快,中間的透射峰藍(lán)移速度較慢,整體表現(xiàn)為中間透射峰向右側(cè)透射峰靠近。透射峰的高度隨入射角也有所變化,左側(cè)透射峰的高度逐漸增加,右側(cè)和中間透射峰的高度逐漸減小,在入射角為78.6°時消失。因此在大角度入射時可以實現(xiàn)單通道窄帶濾波。由可以看出,相位不變的情況下,cosθ與λ成正比,當(dāng)入射角增大時cosθ減小導(dǎo)致透射峰發(fā)生藍(lán)移。因此,該結(jié)構(gòu)的光子晶體對入射角度比較敏感,根據(jù)這個特點可以設(shè)計動態(tài)調(diào)諧濾波器。
光子晶體濾波器的濾波通道受介質(zhì)層光學(xué)厚度的影響,為了研究介質(zhì)層光學(xué)厚度對濾波通道的影響,分別研究了在光線垂直入射的情況下,同時增大A、B 層光學(xué)厚度與增大A 層光學(xué)厚度減小B 層光學(xué)厚度兩種情況下光子晶體透射譜的變化規(guī)律。
在保持A、B 層的光學(xué)厚度之比不變的情況下,改變A、B 層的光學(xué)厚度繪制光子晶體透射率隨波長變化關(guān)系,如圖4 所示,繪圖范圍取原介質(zhì)層光學(xué)厚度的0.8~1.2 倍,圖中使用的參數(shù)外層周期數(shù)m=3、內(nèi)層周期數(shù)n=2、入射角θ=0°。研究發(fā)現(xiàn)三個透射峰的相對位置不變,高度也不變,整體隨介質(zhì)層厚度的增加發(fā)生紅移。并且紅移速度與介質(zhì)層厚度呈線性關(guān)系。其原因是光學(xué)厚度的增加,導(dǎo)致中心波長的增加,但周期性重復(fù)單元不變,缺陷位置不變,所以透射峰的相對位置不變,整體發(fā)生紅移。因此,在設(shè)計濾波器的時候可以通過改變介質(zhì)層厚度調(diào)節(jié)濾波通道的整體位置。
圖4 不同中心波長下透射率隨波長變化關(guān)系
在保持A、B 層的光學(xué)厚度之和不變的情況下,改變A、B 層的光學(xué)厚度之比繪制光子晶體透射率隨波長變化關(guān)系,如圖5 所示,繪圖范圍取A、B 層光學(xué)厚度之比為(0.6∶1.4)~(1.4∶0.6),圖中使用的參數(shù)外層周期數(shù)m=3、內(nèi)層周期數(shù)n=2、入射角θ=0°。研究發(fā)現(xiàn),中間透射峰的位置隨著光學(xué)厚度之比的增加發(fā)生藍(lán)移,中間透射峰的高度隨著光學(xué)厚度之比的增加逐漸減小,當(dāng)光學(xué)厚度之比超過1∶1 后逐漸增加;外側(cè)兩透射峰的位置關(guān)于593 nm 對稱,左側(cè)透射峰的高度由接近1 開始逐漸減小,當(dāng)光學(xué)厚度之比超過1∶1 后高度開始逐漸增大,半高寬度逐漸增大;右側(cè)透射峰的高度逐漸減小,當(dāng)光學(xué)厚度之比超過1∶1 后高度逐漸增大到接近1,半高寬度逐漸減小。在該結(jié)構(gòu)中,周期性重復(fù)單元總光學(xué)厚度不變,所以中心波長不變,但是受石墨烯表面電導(dǎo)率的影響,外側(cè)兩個透射峰的對稱中心位置偏移至593 nm 處;中間透射峰的位置與兩介質(zhì)層的相位差有關(guān),兩介質(zhì)層光學(xué)厚度之比改變,相位差就會改變,最終導(dǎo)致中間透射峰藍(lán)移。因此,在設(shè)計濾波器的時候可以調(diào)節(jié)介質(zhì)層的光學(xué)厚度比來改變中間濾波通道的位置。
圖5 不同光學(xué)厚度之比下透射率隨波長變化關(guān)系
由前文可知,同時增大介質(zhì)層的光學(xué)厚度無法調(diào)節(jié)三個濾波通道之間的距離,改變介質(zhì)層的厚度比無法同時調(diào)節(jié)透射峰的線寬,提高濾波質(zhì)量。因此,研究了在垂直入射的情況下周期數(shù)(m、n)對光子晶體透射率的影響,計算了不同周期數(shù)下光子晶體的透射率,如圖6 所示,所使用的參數(shù)為圖6(a)外層周期數(shù)m=3、內(nèi)層周期數(shù)n=1、2、3;圖6(b)內(nèi)層周期數(shù)n=2、外層周期數(shù)m=2、3、4;
圖6 不同周期數(shù)下透射率隨波長變化關(guān)系
在透射譜中,透射峰隨周期數(shù)發(fā)生明顯改變,如圖6 所示。研究發(fā)現(xiàn)外層周期數(shù)m決定透射峰的半高寬度,透射峰的半高寬度隨外層周期數(shù)m的增大而減小。內(nèi)層周期數(shù)n決定外側(cè)兩透射峰的位置,外側(cè)兩透射峰隨內(nèi)層周期數(shù)n的增大向中心峰靠近。繼續(xù)增大內(nèi)層周期數(shù)n時,三個透射峰可以合并成一個透射峰。周期數(shù)的變化除了會引起透射峰寬度與位置的變化外,透射峰的高度也會發(fā)生變化。透射峰的高度隨周期數(shù)的增大而降低,外層周期數(shù)m對透射峰高度的影響更加明顯。
對于透射峰位置的變化可以用固體物理中的緊束縛方法來分析,當(dāng)內(nèi)層周期數(shù)增大時,兩個缺陷層之間的距離變大,缺陷層之間無相互作用,缺陷模的波函數(shù)無重疊,因此缺陷模頻率是簡并的。當(dāng)內(nèi)層周期數(shù)減小時,兩個缺陷層之間的距離變小,缺陷層間相互作用加強,缺陷模的波函數(shù)發(fā)生重疊,最終導(dǎo)致缺陷模頻率發(fā)生分裂。研究發(fā)現(xiàn)外層周期數(shù)m的增加,在一定程度上增大了光子的散射概率,使光波的反射率提高,最終導(dǎo)致透射峰的寬度變窄。同時,如果外層周期數(shù)m過多,電磁波的損耗會增大,從而使透射峰的高度降低。因此,在設(shè)計三通道濾波器的時候,可以通過改變內(nèi)層周期數(shù)n來調(diào)節(jié)濾波通道的位置,增加外層周期數(shù)m可以提高濾波器的濾波質(zhì)量,同時為了保證濾波效果周期數(shù)不宜過大。
利用傳輸矩陣法研究了三缺陷光子晶體的帶隙結(jié)構(gòu)和光學(xué)傳輸特性,分析了透射譜中缺陷模在周期數(shù)、入射角度、介質(zhì)層厚度下的變化規(guī)律。結(jié)果表明:具有(AB)mG(BA)nG(AB)nG(BA)m準(zhǔn)周期結(jié)構(gòu)的光子晶體在可見光的范圍內(nèi)透射譜中有三個透射峰,石墨烯的引入對可見光有一定的吸收,使透射峰的高度降低。透射峰會隨著周期數(shù)(m、n)、入射角度(θ)、介質(zhì)層光學(xué)厚度(nAdA、nBdB)的變化發(fā)生明顯的改變。透射峰的半高寬度與外層周期數(shù)有關(guān),外層周期數(shù)越大,透射峰的半高寬度越小;透射峰的位置與內(nèi)層周期數(shù)有關(guān),內(nèi)層周期數(shù)越大,三個透射峰靠得越近。當(dāng)入射角增大時,透射峰將發(fā)生藍(lán)移;保持A、B 層的光學(xué)厚度之比不變的情況下,增大A、B 層的光學(xué)厚度,三個透射峰的位置與高度不變,整體發(fā)生紅移;保持A、B 層的光學(xué)厚度之和不變的情況下,改變A、B 層的光學(xué)厚度之比,中間透射峰的位置隨著光學(xué)厚度之比的增加發(fā)生藍(lán)移,高度先減小后增加;外側(cè)兩透射峰的位置關(guān)于593 nm 對稱,高度先減小后增加,左側(cè)透射峰的半高寬度逐漸增大,右側(cè)透射峰的半高寬度逐漸減小。因此,對于石墨烯缺陷光子晶體,通過調(diào)節(jié)周期數(shù)、光學(xué)厚度等參數(shù)可以實現(xiàn)不同強度的三色濾波,為濾波器的設(shè)計提供了相應(yīng)的理論指導(dǎo)。