吳 靜,韓金軍,肖 文
(中航飛機(jī)起落架有限責(zé)任公司,陜西 漢中 723200)
高強(qiáng)度鋼電鍍鎘工藝被廣泛應(yīng)用于飛機(jī)起落架上,高強(qiáng)度鋼的應(yīng)用減輕了起落架的重量,但強(qiáng)度增高帶來(lái)材料韌性下降,尤其是對(duì)氫脆的敏感性,能使材料在低于其屈服強(qiáng)度的應(yīng)力條件下發(fā)生早期脆性斷裂,因此高強(qiáng)度鋼的使用必須重視氫脆問(wèn)題。使用勞倫斯測(cè)氫儀對(duì)電鍍鎘槽液定期進(jìn)行氫脆性監(jiān)測(cè),是降低零件脆性斷裂的一種重要手段,與缺口拉伸試棒和應(yīng)力環(huán)試樣相比,這一方法可簡(jiǎn)單、快速地對(duì)電鍍槽液的氫脆性進(jìn)行評(píng)估,短時(shí)間內(nèi)得到氫脆試驗(yàn)結(jié)果,降低氫脆發(fā)生的幾率,使得受影響的零件數(shù)量降低,因此廣泛應(yīng)用于高強(qiáng)度鋼鍍鎘的質(zhì)量控制過(guò)程中。
勞倫斯測(cè)氫儀是一種測(cè)量電鍍時(shí)氫的吸收量和鍍層的氫滲透性的儀器。通過(guò)測(cè)量電鍍槽液的氫脆性(用λPC值表示),將λPC值控制在一定范圍,從而來(lái)避免產(chǎn)品零件由于氫脆造成的破壞。通過(guò)對(duì)勞倫斯測(cè)氫儀檢測(cè)電鍍鎘槽液過(guò)程中的各個(gè)環(huán)節(jié)進(jìn)行分析,找出了影響電鍍鎘槽液氫脆性的主要因素為試驗(yàn)用探頭、試驗(yàn)溶液溫度、電鍍槽液中的雜質(zhì)、電鍍效率、溶液攪拌、電流密度。針對(duì)這些影響因素,提出了提高試驗(yàn)精度的方法。
勞倫斯測(cè)氫儀利用一種鐵殼電子管作為探頭進(jìn)行電鍍,電鍍過(guò)程中產(chǎn)生的一部分氫原子透過(guò)鍍層和管壁滲入電子管內(nèi),使管內(nèi)真空度降低(電鍍產(chǎn)生的氫脆正是這部分深入基體金屬內(nèi)部的原子氫引起的)。
勞倫斯測(cè)氫儀測(cè)試過(guò)程[1]如圖1所示:電鍍時(shí),氫原子通過(guò)鍍層和管壁滲入管內(nèi),氫原子在管內(nèi)被離子化,此時(shí)曲線上升(第Ⅰ階段),電鍍結(jié)束后,清洗管壁,曲線稍有下降,即管內(nèi)氫稍向外擴(kuò)散(第Ⅱ階段)。最后將電子管置于烘箱中烘烤,鍍層和管壁吸收的氫向管內(nèi)擴(kuò)散,曲線逐漸上升。當(dāng)擴(kuò)散達(dá)到平衡時(shí),曲線達(dá)到最高點(diǎn)(最大氫壓值HP),然后管內(nèi)氫通過(guò)管壁和鍍層向外擴(kuò)散,曲線開(kāi)始下降(第Ⅲ階段)。鍍層越疏松,氫越容易滲透,則曲線下降越快。規(guī)定曲線從最高點(diǎn)HP降到1/2HP所需時(shí)間為λ值(以s為單位),λ值越小,表示鍍層的氫脆危險(xiǎn)越小。
圖1 勞倫斯測(cè)氫儀測(cè)試過(guò)程示意圖
探頭烘烤→探頭檢查→探頭制備(屏蔽)→干燥磨料吹砂→校正/電鍍→洗滌和干燥→探頭插入烘箱里→在記錄儀上的數(shù)據(jù)顯示→記錄(圖表紙、記錄本、探頭烘烤記錄表)→數(shù)據(jù)應(yīng)用。
該試驗(yàn)使用的探頭為勞倫斯公司生產(chǎn)的HDP-3A型探頭,在使用前應(yīng)檢查探頭的SRP值(SRP值是作為背景或探頭中殘余氣壓而檢查的),它是探頭靈敏度的象征,并且它隨著探頭的使用而損耗將逐漸升高,增加清洗時(shí)間有助于降低SRP值。探頭的SRP值小于0.5才能用于試驗(yàn)[2]。
探頭在校準(zhǔn)及電鍍前應(yīng)檢查探頭窗口尺寸,正規(guī)窗口尺寸應(yīng)滿足(16.0±0.8) mm[3](見(jiàn)圖2),探頭窗口界限外的部分必須涂敷。如果有除窗口部位外的裸露金屬,會(huì)導(dǎo)致電鍍面積增大,在同樣的電鍍電流下,相當(dāng)于降低了電流密度,從而使電鍍?nèi)芤旱摩薖值降低。
a)涂敷準(zhǔn)備
探頭在校準(zhǔn)及電鍍前窗口部位應(yīng)使用磨料進(jìn)行噴射處理,其他不需要噴射處理的部位使用屏蔽物(如3M膠帶)進(jìn)行保護(hù)。對(duì)于低氫脆鍍鎘來(lái)說(shuō),在電鍍前,光滑的窗口表面(用較細(xì)的砂粒噴砂)比粗糙的表面孔隙更少,表面越粗糙,滲入探頭內(nèi)的氫會(huì)越多,HPP值(電鍍時(shí)最大氫壓值HP)將會(huì)越高,λP(電鍍時(shí)的λ值)也會(huì)偏高,這是由于較高的表面點(diǎn)將被鍍上更高的電流密度,凹槽的電流將更少,從而形成更多孔的金屬沉積物,因此清潔探頭時(shí)應(yīng)盡量選擇粒度合適的磨料。另外,濕磨料或壓縮空氣含水,也將增加氫的輸入,所以所用的磨料和壓縮空氣應(yīng)干凈、干燥,不含油、水和污物。
清潔完成后注意觀察窗口部位,應(yīng)無(wú)污物或指痕,表面質(zhì)量應(yīng)均勻一致,在清潔前后正規(guī)探頭的質(zhì)量損失應(yīng)滿足(40±10) mg。HDP-3A型探頭表面每進(jìn)行一次噴射處理,窗口上的鋼板就會(huì)變薄一些,這就使探頭的測(cè)試值HP值增大,λ值減小,為了保證試驗(yàn)結(jié)果能達(dá)到更高精度,每?jī)纱坞婂儾僮骱髴?yīng)對(duì)探頭進(jìn)行一次校準(zhǔn)。
溫度更高的溶液將會(huì)增加氫向零件的輸入。例如在5% NaOH和5% NaCN溶液中,當(dāng)溫度增加20 ℃時(shí),氫的吸附將會(huì)是原來(lái)的2倍(見(jiàn)圖3),這一溶液類似于電鍍鎘溶液。圖3中的吸氫率為觀察到的HP值與0 ℃時(shí)HP值的比值。對(duì)于電鍍鎘鈦溶液,如果溫度從74 ℉(23.3 ℃)增加到82 ℉(27.8 ℃),λP值將增加10 s。為確保得到更精確的試驗(yàn)數(shù)據(jù),盡量在校準(zhǔn)和電鍍時(shí)或2次校準(zhǔn)之間使用相同或盡可能相近的溶液溫度。
圖3 氫的吸附與溫度的關(guān)系
3.3.1 有機(jī)物污染
一些分子,如小濃度的有機(jī)分子(如油、抑制劑、清洗劑、潤(rùn)滑劑等),將會(huì)使電鍍金屬變得光亮,使其不具有多孔性。有機(jī)物傾向于作為光亮劑,使鎘層沉積在更均勻、多孔性更少的鎘板上,這往往會(huì)導(dǎo)致探頭λP值的增加[4]。在氰化鍍鎘溶液中,有機(jī)物污染經(jīng)常會(huì)引起氫脆,通過(guò)碳處理電鍍槽液,將有機(jī)物吸附到碳表面來(lái)可去除電鍍槽中的有機(jī)化合物。
3.3.2 金屬離子(氰化鍍鎘溶液)
在電鍍槽液中若含有鐵或銅離子,在用勞倫斯測(cè)氫儀測(cè)試時(shí),HPP值往往會(huì)增加,可在試驗(yàn)前對(duì)電鍍槽液進(jìn)行成分分析來(lái)驗(yàn)證金屬污染物。電鍍槽液中的金屬離子很難去除,可以使用模擬槽來(lái)進(jìn)行。
模擬槽:將大陰極放置在槽中,并在低電流密度(1.7 A/ft2)下放置數(shù)小時(shí),以除去金屬離子(如銅、鉛、鉻、鎳)。具有脊骨形狀的大陰極將導(dǎo)致電鍍電流密度因陰極形狀而變化。
去除鐵的模擬槽:高濃度鐵會(huì)導(dǎo)致鎘板變色,在80 A/ft2的條件下電鍍5 h,可以不同程度地從溶液中清除鐵。可選取1 L電鍍槽液進(jìn)行測(cè)試,然后對(duì)這一試驗(yàn)溶液進(jìn)行分析,以驗(yàn)證這一方法的可行性。另一種方法是將鍍液加熱到90 ℉(32.2 ℃),并在碳處理時(shí)攪拌。
碳酸鹽濃度應(yīng)控制在規(guī)定的范圍內(nèi)。在低氫脆鍍鎘溶液中,高濃度的碳酸鹽會(huì)在電鍍?nèi)芤褐芯奂⒁餒PP和λP值升高,也會(huì)導(dǎo)致電鍍鎘層耐鹽霧腐蝕性能變差。低氫脆鍍鎘槽冷卻(5~10 ℃)或加入化學(xué)添加劑時(shí),會(huì)沉淀出碳酸鹽。含氰的槽液會(huì)吸收來(lái)自于大氣中的CO2形成碳酸鹽。
在含有鈦的固體微粒懸浮溶液中,可以對(duì)溶液里鈦的含量進(jìn)行分析。鈦粒子可能吸附沉積在陽(yáng)極上,這會(huì)引起一個(gè)陽(yáng)極的假的松孔作用,使λP值比干凈槽液的λP值要低。
鑒于以上雜質(zhì)對(duì)試驗(yàn)結(jié)果的影響,在使用勞倫斯測(cè)氫儀測(cè)試電鍍槽液的氫脆性時(shí),為確保抽取的槽液能代表電鍍槽的特性,并能獲得更接近真實(shí)結(jié)果的試驗(yàn)數(shù)據(jù),應(yīng)先攪動(dòng)電鍍槽液,確保溶液均勻,然后在電鍍槽液表面以下抽取試樣,不能從電鍍槽表面取樣,并在取樣后對(duì)溶液的化學(xué)成分進(jìn)行分析,確保溶液的成分符合標(biāo)準(zhǔn)要求再進(jìn)行勞倫斯測(cè)氫試驗(yàn)。
電鍍槽效率低意味著陰極(零件)將會(huì)吸收更多的氫,因此零件也會(huì)吸收更多的氫,這將會(huì)引起HP值的增加。電鍍過(guò)程中零件上起泡的氫是陰極處2H++2e-=H2的結(jié)果,稱為“浪費(fèi)電流”,因?yàn)檫@些電子沒(méi)有沉積Cd2+。在電鍍過(guò)程中,由于H2的釋放,電鍍效率不可能達(dá)到100%。勞倫斯認(rèn)為一個(gè)好的鍍層沉積達(dá)到96%即可,比如按DPS 9.28中規(guī)定,在60 A/ft2條件下[5],用正規(guī)窗口的探頭對(duì)松鍍鎘溶液電鍍6 min沉積0.166 9 g的鍍層(鍍層沉積達(dá)96%,4%轉(zhuǎn)化為H2釋放),電鍍效率就可以被認(rèn)為達(dá)到了100%。記錄沉積在探頭上鍍層的質(zhì)量是監(jiān)測(cè)電鍍效率的一種簡(jiǎn)單方法,電鍍前、后對(duì)探頭進(jìn)行稱重,然后計(jì)算鍍層的質(zhì)量。
通過(guò)保持適當(dāng)?shù)腃dO和NaCN的濃度和比例,也可以提高電鍍效率,從實(shí)用角度和氫離子的滲入方面綜合考慮,CdO(30 g/L)和NaCN(100 g/L)的比例較好[6]。
如果電鍍?nèi)芤菏艿轿廴?,則在電鍍零件時(shí)攪拌溶液會(huì)使板的多孔性降低,攪拌會(huì)增加氫的吸收。對(duì)于清潔、高效的電鍍?nèi)芤簞t沒(méi)有多大影響。攪拌溶液對(duì)鍍鎘氫脆性能的影響如圖4所示。從圖4[7]中的試驗(yàn)數(shù)據(jù)可以看出,如果溶液沒(méi)有污染的話,不同程度的攪拌影響很小。但是,在污染和攪拌一起發(fā)生的情況下,將引起λPC值(電鍍時(shí)經(jīng)修正后的λ值)的增加。因此,探頭在電鍍期間,禁止攪拌溶液。
圖4 攪拌溶液對(duì)鍍鎘氫脆性能的影響
3.6.1 電流密度對(duì)污染的電鍍槽液氫脆性能的影響
在較高的電流密度下比在較低的電流密度下沉積的鎘鍍層更多孔[8]。電流密度對(duì)污染的鍍鎘溶液的氫脆性能的影響如圖5所示。從圖5中可以看出,在探頭上的電流密度越低,則λPC越高。溶液污染程度的不同,在相同的電流密度下,λPC值也有很大的差距。相對(duì)于有污染的電鍍?nèi)芤簛?lái)說(shuō),在干凈的電鍍?nèi)芤褐须婂儠r(shí),電流密度對(duì)λPC值的影響更小。
圖5 電流密度對(duì)污染的鍍鎘溶液的氫脆性能的影響
3.6.2 電流密度對(duì)干凈的低氫脆鍍鎘槽液氫脆性能的影響
用勞倫斯測(cè)氫儀對(duì)干凈的低氫脆鍍鎘溶液進(jìn)行測(cè)試,在不同的電流密度下的測(cè)試結(jié)果如圖6和圖7所示。從圖中可以看出,對(duì)于低氫脆鍍鎘溶液,電流密度低于60 A/ft2時(shí),HPPC(經(jīng)修正后的HPP值)和λPC(經(jīng)修正后的λP值)值隨著電流密度的增加而急劇下降,電流密度高于60 A/ft2時(shí),曲線趨于平穩(wěn),因此在對(duì)低氫脆鍍鎘槽液氫脆性進(jìn)行測(cè)試時(shí),筆者選擇的電流密度為60 A/ft2,這也是電鍍零件表面預(yù)期的最低的電流密度。
圖6 低氫脆鍍鎘時(shí)電流密度對(duì)HPPC的影響
圖7 低氫脆鍍鎘時(shí)電流密度對(duì)λPC的影響
對(duì)于勞倫斯測(cè)氫儀來(lái)說(shuō),電流是由儀器所固定的,因此對(duì)電流密度的控制主要是保證探頭窗口的固有尺寸,保證儀器檢定時(shí)要求的安培計(jì)上的電流大小,并在試驗(yàn)時(shí)保證沒(méi)有電流泄漏或旁路。
通過(guò)上述研究可以得出如下結(jié)論。
1)在電鍍過(guò)程中,氫原子會(huì)滲入鋼基體內(nèi),這部分氫能導(dǎo)致高強(qiáng)度鋼在施加低應(yīng)力的情況下產(chǎn)生脆性斷裂。為避免或減少氫脆的發(fā)生,可采用勞倫斯測(cè)氫儀對(duì)電鍍槽液進(jìn)行定期監(jiān)測(cè)。
2)電鍍探頭的處理、試驗(yàn)溶液溫度、電鍍槽液中的雜質(zhì)、電鍍效率、溶液的攪拌、電流密度不同程度地影響著HPP值(電鍍時(shí)最大氫壓值)和λP值(電鍍時(shí)從最高點(diǎn)HP降到1/2HP所需時(shí)間),在進(jìn)行試驗(yàn)的過(guò)程中,應(yīng)采取一些措施,嚴(yán)格控制這些參數(shù),保證試驗(yàn)精度,降低零件發(fā)生氫脆的幾率。