美國GE LOGIQ E9 彩超故障維修四例

袁宏

江蘇省南京市高淳中醫(yī)院設(shè)備科 （江蘇南京 211300）

我院于2017、2019年分別購進(jìn)1臺美國GE LOGIQ E9彩超，用于門診患者的超聲檢查。美國GE LOGIQ E9彩超具有圖像清晰度高、細(xì)微分辨力高、彩色血流充盈度好、對低速血流敏感度高等優(yōu)點，能為臨床提供快捷準(zhǔn)確的診斷。同時，該設(shè)備配備了腹部、心臟、腔內(nèi)等探頭，可用于腹部、心臟、腔內(nèi)及淺表、小器官、周圍血管等疾病的診斷。該設(shè)備主要由電源、前端處理器（front end processor，F(xiàn)EP）、后端處理器（back end processor，BEP）、顯示控制電路和顯示器組成。目前，大部分在售品牌彩超的BEP以Windows系統(tǒng)為軟件運(yùn)行平臺，以小型計算機(jī)為硬件運(yùn)行平臺。根據(jù)彩超日常運(yùn)行情況統(tǒng)計，F(xiàn)EP損壞概率較小，BEP損壞概率較大。因此，一般在設(shè)備故障但沒有明顯報錯指向FEP故障的情況下，維修檢查時應(yīng)先排除BEP故障，再考慮FEP故障[1]。本文淺析4例美國GE LOGIQ E9彩超故障，以供同行參考。

1 故障一

1.1 故障現(xiàn)象

美國GE LOGIQ E9彩超無法正常開機(jī)，圖像顯示器無圖像及文本信息顯示，參數(shù)控制顯示器顯示正常，可以進(jìn)行參數(shù)選擇。

1.2 故障分析與處理

該設(shè)備的參數(shù)選擇是在Windows7 sp1 pro系統(tǒng)中進(jìn)行的，由此考慮故障點可能在BEP后，即顯示器故障、DVI視頻信號線故障、顯示控制電路故障；依據(jù)“先外后內(nèi)、先易后難”的維修原則，使用正常圖像顯示器代替該圖像顯示器，通電開機(jī)，故障依舊；使用正常DVI視頻信號線代替該DVI視頻信號線，通電開機(jī)，故障依舊；打開設(shè)備外殼，拆下顯示控制電路的電路板，即視頻信號輸出控制板DACBA04-Dispay和視頻輸出接口板DAC-BA04，這兩塊電路板均通過導(dǎo)電觸片與BEP主板擴(kuò)展插槽連接，用橡皮擦拭導(dǎo)電觸片，重新安裝顯示控制電路的電路板，通電開機(jī)，故障消失，反復(fù)開關(guān)設(shè)備均正常啟動運(yùn)行，且跟蹤隨訪1個月，該設(shè)備未發(fā)生同類故障。

2 故障二

2.1 故障現(xiàn)象

美國GE LOGIQ E9彩超在使用過程中突然顯示溫度過高報警，自動關(guān)機(jī)。

2.2 故障分析與處理

根據(jù)使用經(jīng)驗可知，該故障一般應(yīng)該由散熱過濾網(wǎng)灰塵太多或主散熱風(fēng)扇組損壞導(dǎo)致。由于該設(shè)備散熱過濾網(wǎng)清塵時間距離故障時間較短，所以檢查主散熱風(fēng)扇組，拆下主散熱風(fēng)扇組，外加直流24 V電源測試，發(fā)現(xiàn)主散熱風(fēng)扇組各風(fēng)扇運(yùn)轉(zhuǎn)正常，由此判斷故障點可能在設(shè)備內(nèi)部；首先考慮BEP 主板CPU 散熱不良，打開BEP 外殼發(fā)現(xiàn)主板CPU 散熱風(fēng)扇運(yùn)轉(zhuǎn)正常，拆下主板CPU 散熱風(fēng)扇和散熱片，清理灰塵，涂抹導(dǎo)熱硅脂后重新裝回，進(jìn)一步清除BEP 內(nèi)部灰塵，再次開機(jī)試用，設(shè)備正常運(yùn)行2 h 后再次顯示溫度過高報警，自動關(guān)機(jī)；由于該設(shè)備FEP 裝有溫度傳感器，所以打開FEP 外殼，檢查發(fā)現(xiàn)FEP 內(nèi)部無灰塵，進(jìn)一步檢測溫度傳感器，未發(fā)現(xiàn)異常，將FEP 的所有電路板從基板插槽上拆下，用橡皮擦拭每一塊電路板的導(dǎo)電觸片后將電路板重新裝回基板插槽并固定，通電開機(jī)，設(shè)備正常使用，且跟蹤隨訪兩個月，該設(shè)備未發(fā)生同類故障。

3 故障三

3.1 故障現(xiàn)象

美國GE LOGIQ E9彩超在進(jìn)行四肢血管檢查時，“CF（彩色）模式”血流有干擾。

3.2 故障分析與處理

超聲設(shè)備由于探頭的高靈敏度及整機(jī)電路具有較寬的帶寬和較高的增益，在日常工作中，極易受到各種電磁場的干擾，使圖像質(zhì)量下降，甚至不能正常工作，從而影響醫(yī)師對疾病的正常診斷。電磁干擾進(jìn)入超聲設(shè)備的途徑很多，可以是設(shè)備外部產(chǎn)生的干擾，如強(qiáng)電磁環(huán)境產(chǎn)生的干擾、供電電源產(chǎn)生的干擾、探頭故障導(dǎo)致其抗干擾能力變差、探頭與探頭接口板接觸不良，也可以是設(shè)備內(nèi)部產(chǎn)生的干擾，如設(shè)備內(nèi)部灰塵過多、設(shè)備內(nèi)部電路板導(dǎo)電觸片與插槽接觸不良等。

首先，經(jīng)檢查發(fā)現(xiàn)機(jī)房周圍無施工場地、設(shè)備近距離無強(qiáng)磁和高頻脈沖設(shè)備，使用示波器連續(xù)監(jiān)測供電電源的輸出波形，未發(fā)現(xiàn)明顯的干擾信號；其次，檢查探頭本身，外觀完好，且詢問操作醫(yī)師得知探頭未被摔過，重新拔插探頭，故障依舊；該設(shè)備配備4把探頭，分別是心臟探頭M5S、小器官探頭11L、腹部探頭C1-6、腔道探頭，切換探頭發(fā)現(xiàn)每個探頭均有不同程度的干擾，其中心臟探頭M5S 受到的干擾最嚴(yán)重，小器官探頭11L 受到的干擾最小，由此判斷干擾來自設(shè)備內(nèi)部；打開BEP外殼，檢查BEP 內(nèi)部，發(fā)現(xiàn)灰塵較少，各電路板接觸良好；打開FEP 外殼，發(fā)現(xiàn)金屬屏蔽蓋板松動，重新固定，清除內(nèi)部少量灰塵，重新拔插固定各電路板，再次開機(jī)試用，干擾消失，且隨訪一周，該設(shè)備未發(fā)生干擾現(xiàn)象。

分析本次故障原因為，屏蔽蓋板松動可造成屏蔽板U 形彈簧接觸片與FEP 金屬外殼接觸不良，從而導(dǎo)致抗干擾能力變差，電磁干擾信號竄入設(shè)備，產(chǎn)生圖像干擾，而在上一次維修該設(shè)備時，F(xiàn)EP 金屬屏蔽板固定螺絲未緊固，而后日常使用期間兩次將該設(shè)備推到手術(shù)室使用，來回路上顛簸使FEP 金屬屏蔽板U 形彈簧接觸片與FEP 金屬外殼接觸不良。

4 故障四

4.1 故障現(xiàn)象

美國GE LOGIQ E9彩超對結(jié)石定位時死機(jī)。

4.2 故障分析與處理

首先，考慮散熱問題，檢查發(fā)現(xiàn)無異物堵塞設(shè)備表面或覆蓋設(shè)備散熱孔，于是強(qiáng)行斷電，開機(jī)重啟，設(shè)備藍(lán)屏，考慮設(shè)備藍(lán)屏主要與BEP 主板CPU 溫度過高、顯示控制電路接觸不良或損壞、BEP 的軟件或硬件故障等有關(guān)；拆開設(shè)備，檢查主散熱風(fēng)扇組和BEP 主板CPU 散熱風(fēng)扇，均正常運(yùn)行，BEP 內(nèi)部灰塵較少，拆下BEP 主板擴(kuò)展插槽下的內(nèi)存條、顯示控制電路的電路板，用橡皮檫拭清潔其導(dǎo)電觸片后重新安裝，開機(jī)試驗，設(shè)備依舊藍(lán)屏；拆下BEP 主板擴(kuò)展插槽下的內(nèi)存條、顯示控制電路的電路板放到正常的美國GE LOGIQ E9彩超上，其可正常工作，由此考慮BEP 的軟件或硬件故障，格式化硬盤，重新安裝BEP 的軟件，故障消失，且隨訪一周，該設(shè)備未發(fā)生同類故障。

分析本次故障原因為，該設(shè)備在日常使用期間頻繁往返于手術(shù)室和彩超室，來回路上顛簸致使軟件或硬件故障。

5 小結(jié)

通過對我院美國GE LOGIQ E9彩超的4例故障進(jìn)行總結(jié)，發(fā)現(xiàn)故障原因多為接觸不良、移動顛簸導(dǎo)致。因此，維修工程師應(yīng)根據(jù)設(shè)備的實際情況定期對其進(jìn)行維護(hù)保養(yǎng)，包括用橡皮檫拭電路板導(dǎo)電觸片、拔插設(shè)備各部件之間的連接接頭等，同時臨床使用科室應(yīng)盡量減少設(shè)備的搬運(yùn)、移動等，以降低設(shè)備的故障率。