張 森,唐 威,商世廣,姚和平,閆冬冬
(1.西安郵電大學(xué) 電子工程學(xué)院,西安 710121;2.上海電子線路智能保護(hù)工程技術(shù)研究中心,上海 201202;3.上海維安電子有限公司,上海 201202)
低壓差線性穩(wěn)壓器(low dropout regulator,LDO)具有結(jié)構(gòu)簡單、低成本、高精度等特點(diǎn)[1],是電源管理電路的重要組成部分,被廣泛應(yīng)用于手機(jī)、筆記本電腦等電子設(shè)備中[2]。如今,隨著便攜式電子設(shè)備的迅速發(fā)展,如何使LDO在全負(fù)載電流范圍內(nèi)具有高增益和高穩(wěn)定性已成為研究熱點(diǎn)之一[3]。
在許多情況下,兩級(jí)放大器的增益不能滿足設(shè)計(jì)要求,需要級(jí)聯(lián)多個(gè)增益級(jí),大多數(shù)LDO均采用三級(jí)放大器的結(jié)構(gòu)[4]。然而,每增加一個(gè)增益級(jí)都會(huì)不可避免地引入零極點(diǎn),從而造成電路的穩(wěn)定性下降,此時(shí)需要對(duì)電路進(jìn)行頻率補(bǔ)償,實(shí)現(xiàn)電路的穩(wěn)定性控制[5]。
近年來,針對(duì)LDO的頻率補(bǔ)償已有大量文獻(xiàn)進(jìn)行了詳細(xì)分析。文獻(xiàn)[6]采用零極點(diǎn)追蹤補(bǔ)償技術(shù),通過引入一個(gè)動(dòng)態(tài)的零點(diǎn)補(bǔ)償輸出極點(diǎn)來提高電路穩(wěn)定性,但是,這種結(jié)構(gòu)需要額外的晶體管,增加了電路復(fù)雜度;文獻(xiàn)[7]采用等效串聯(lián)電阻(equivalent series resistance, ESR)補(bǔ)償技術(shù),利用輸出電容的等效串聯(lián)電阻引入一個(gè)左半平面(left half plane, LHP)零點(diǎn)來提高穩(wěn)定性,但是,這種方法需要消耗較大的面積。除此之外,共源共柵密勒補(bǔ)償[8]、偽ESR補(bǔ)償[9]、反嵌套密勒補(bǔ)償[10]等技術(shù)都提高了LDO的穩(wěn)定性。
本文針對(duì)反嵌套密勒補(bǔ)償(reverse nested miller compensation, RNMC)會(huì)引入右半平面(right half plane, RHP)零點(diǎn),且不適應(yīng)將PMOS管作為LDO功率級(jí)的問題,提出一種采用電流緩沖器的反嵌套密勒補(bǔ)償(reverse nested miller compensation with current buffers, RNMCCB)型LDO,在不引入RHP零點(diǎn)的同時(shí),使用反嵌套密勒補(bǔ)償提高LDO在全負(fù)載電流范圍內(nèi)的穩(wěn)定性。
反嵌套密勒補(bǔ)償是三級(jí)運(yùn)算放大器頻率補(bǔ)償?shù)闹匾桨?,它改善了放大器的小信?hào)和大信號(hào)特性,如增大帶寬、縮短穩(wěn)定時(shí)間等。由于RNMC的內(nèi)環(huán)密勒電容不加載到輸出端,因而更適合驅(qū)動(dòng)大負(fù)載電容[11]。圖1為傳統(tǒng)RNMC的等效小信號(hào)電路。
圖1 RNMC等效小信號(hào)電路Fig.1 RNMC equivalent small signal circuit
RNMC的傳遞函數(shù)為
(1)
(1)式中:gmi是各級(jí)放大器的等效跨導(dǎo);roi是各級(jí)放大器的等效輸出阻抗;Ci是各級(jí)放大器的等效輸出電容;Cm1、Cm2是反嵌套密勒電容。由(1)式得出,RNMC會(huì)引入一個(gè)RHP零點(diǎn),即Z≈gm3/Cm2,且RHP零點(diǎn)更接近原點(diǎn),使電路的相位裕度(phase margin, PM)變差,降低電路的穩(wěn)定性。為了減弱RHP零點(diǎn)對(duì)電路穩(wěn)定性的影響,通常要求gm3?gm1、gm2。RHP零點(diǎn)產(chǎn)生的原因是密勒電容Cm2從運(yùn)放的輸入端到輸出端存在前饋通路。此外,為了保證電路的負(fù)反饋性質(zhì),使用RNMC方案的通常是輸入和輸出級(jí)為同相增益級(jí),中間級(jí)為反相增益級(jí)的三級(jí)運(yùn)放[11]。
本文RHP零點(diǎn)消除技術(shù)如圖2所示。圖2a為傳統(tǒng)密勒補(bǔ)償,密勒電容Cm除了極點(diǎn)分裂外,還會(huì)在節(jié)點(diǎn)X、Y之間形成前饋通路引入RHP零點(diǎn)[12],即Z≈gmY/Cm。圖2b中,密勒電容Cm通過串聯(lián)一個(gè)適當(dāng)阻值的調(diào)零電阻Rm,將RHP零點(diǎn)變?yōu)長HP零點(diǎn)[13],即Z≈-1/RmCm。類似地,電流緩沖器(current buffer, CB)也可以用來消除RHP零點(diǎn)[14]。圖2c利用電流緩沖器MCG消除前饋通路,并引入一個(gè)LHP零點(diǎn),即Z≈-gmCG/Cm。圖2d利用電流鏡作為反相電流緩沖器[15](inverting current buffer, ICB)與密勒電容Cm串聯(lián),引入一個(gè)LHP零點(diǎn),即Z≈-gmCB/Cm。
圖2 RHP零點(diǎn)消除技術(shù)Fig.2 RHP zero elimation technique
以上分析表明,采用電流鏡作為反相電流緩沖器與RNMC的外環(huán)密勒電容Cm2串聯(lián),既可以消除RHP零點(diǎn),又可以在保證系統(tǒng)內(nèi)部負(fù)反饋性質(zhì)的同時(shí),使運(yùn)放的第2級(jí)和第3級(jí)都采用反相增益級(jí)。
本文設(shè)計(jì)的基于RNMCCB的LDO主體電路如圖3所示,包括第1級(jí)高增益跨導(dǎo)運(yùn)算放大器、第2級(jí)共源級(jí)放大器和第3級(jí)功率級(jí)。
圖3 基于RNMCCB的LDO主體電路Fig.3 LDO main circuit based on RNMCCB
與使用傳統(tǒng)RNMC方案的運(yùn)放不同,本文設(shè)計(jì)的電路第2級(jí)和第3級(jí)都采用反相增益級(jí),M3、M10構(gòu)成的電流鏡作為反相電流緩沖器,保證了電路的負(fù)反饋性質(zhì)。
電容Cm2和反相電流緩沖器M3、M10構(gòu)成外部補(bǔ)償環(huán),電容Cm1和電流緩沖器M9構(gòu)成內(nèi)部補(bǔ)償環(huán)。外環(huán)密勒電容Cm2主要用于對(duì)主極點(diǎn)的壓縮,將第1級(jí)運(yùn)放的輸出極點(diǎn)推向低頻,成為低頻主極點(diǎn)。在M11的負(fù)反饋路徑上添加M9構(gòu)成并聯(lián)負(fù)反饋,降低共源級(jí)放大器的輸出阻抗并使其極點(diǎn)向高頻移動(dòng),提高電路的穩(wěn)定性。
利用第1級(jí)運(yùn)放固有的共柵級(jí)M9和電流鏡M3、M10分別作為電流緩沖器和反相電流緩沖器,分別與密勒電容Cm1和Cm2串聯(lián),消除密勒電容的前饋通路,進(jìn)而消除RHP零點(diǎn)。引入兩個(gè)LHP零點(diǎn),可以補(bǔ)償由LHP極點(diǎn)引起的相位滯后,增加相位裕度,改善穩(wěn)定性。電流緩沖器自身引入的零極點(diǎn)均位于高頻,對(duì)電路穩(wěn)定性的影響可以忽略。RNMCCB補(bǔ)償結(jié)構(gòu)不需要額外的晶體管,因此可降低電路復(fù)雜度,不引入額外的靜態(tài)功耗。
基于RNMCCB的LDO等效小信號(hào)電路如圖4所示,在推導(dǎo)LDO電路的傳遞函數(shù)前,再說明一下各參數(shù)的含義。本文中,gm1,gm2分別是誤差放大器第1級(jí)和第2級(jí)的等效跨導(dǎo);gmp是功率管MP的等效跨導(dǎo);gmCB,gmCG分別是反相電流緩沖器M3、M10和電流緩沖器M9的等效跨導(dǎo);roi是各級(jí)放大器的等效輸出阻抗;Ci是各級(jí)放大器的等效輸出電容;Cgd是功率管等效寄生電容,用rmi代表各晶體管的輸出阻抗,gm12代表M12的跨導(dǎo)。先做近似處理,假設(shè)gmp?gmi;COUT?C1、C2、Cm1、Cm2;Cm2?Cm1;gmiroi?1;功率管等效寄生電容Cgd與輸出電容COUT相比,COUT占主導(dǎo)。第1級(jí)放大器的輸出阻抗ro1≈rm8‖gmCGrm9rm10,第2級(jí)放大器的輸出阻抗ro2≈rm11‖gm12rm12rm13,第3級(jí)放大器的輸出阻抗ro3≈RL。
圖4 基于RNMCCB的LDO的等效小信號(hào)電路Fig.4 Equivalent small-signal circuit of LDO based on RNMCCB
得到該LDO電路的傳遞函數(shù)為
(2)
低頻增益|ADC|為
|ADC|=gm1ro1gm2ro2gmPRL
(3)
主極點(diǎn)為
(4)
兩個(gè)次極點(diǎn)和兩個(gè)LHP零點(diǎn)分別為
(5)
(6)
(7)
(8)
增益帶寬(gain bandwith, GBW)數(shù)值GBW為
(9)
該LDO的相位裕度為
(10)
由(4)—(6)式可以得出,采用RNMCCB補(bǔ)償結(jié)構(gòu),主次極點(diǎn)顯著分離。
不同負(fù)載電流使得極點(diǎn)P2、P3的位置不同。在重載情況下,LDO的輸出阻抗降低,功率級(jí)的等效跨導(dǎo)gmp增大,輸出極點(diǎn)P3向高頻移動(dòng)。次極點(diǎn)P2在并聯(lián)負(fù)反饋的作用下也向高頻移動(dòng),P2、P3均位于帶寬之外,此時(shí)LDO近似為一個(gè)單極點(diǎn)系統(tǒng),可確保電路的穩(wěn)定性。
在輕載情況下,次極點(diǎn)P2和輸出極點(diǎn)P3向低頻移動(dòng),給穩(wěn)定性帶來不利影響。由(7)—(8)式得出,LHP零點(diǎn)Z1、Z2的位置只取決于反相電流緩沖器M3、M10和電流緩沖器M9的等效輸入阻抗,靈活性較高。通過對(duì)零點(diǎn)Z1、Z2位置的合理設(shè)置,使Z1、Z2接近P3、P2的最小頻率,改善相位裕度,提高輕載時(shí)電路的穩(wěn)定性。
綜合上述對(duì)小信號(hào)電路的分析可知,本文提出的基于RNMCCB的LDO在全負(fù)載電流范圍內(nèi)均能保證穩(wěn)定性。
本文LDO基于0.35 μm CMOS工藝進(jìn)行設(shè)計(jì),采用Cadence軟件中Spectre仿真器對(duì)電路進(jìn)行仿真。COUT為0.1 μF,輸入電壓范圍為2.2~5.5 V,負(fù)載電流范圍為1~600 mA。
圖5展示了VIN為3.5 V、COUT為0.1 μF時(shí),不同負(fù)載電流的穩(wěn)定性仿真曲線??梢钥吹?,在負(fù)載電流為600 mA時(shí),環(huán)路增益降低,輸出極點(diǎn)向高頻移動(dòng),環(huán)路增益為90 dB,PM為55°,具有較高的相位裕度;在負(fù)載電流為1 mA時(shí),主極點(diǎn)和輸出極點(diǎn)向低頻移動(dòng),帶寬減小,環(huán)路增益為100.7 dB,PM為38°,此時(shí)增益交點(diǎn)頻率小于相位交點(diǎn)頻率,系統(tǒng)仍保持穩(wěn)定。圖5證明本文設(shè)計(jì)的LDO在全負(fù)載電流范圍內(nèi)具有良好的相位裕度和穩(wěn)定性。
圖5 不同負(fù)載電流的穩(wěn)定性仿真曲線Fig.5 Stability simulation curves of different load currents
圖6展示了VIN為3.5 V、負(fù)載電流為1 mA時(shí),不同輸出電容的相位裕度仿真曲線??梢钥吹紺OUT為0.1 μF時(shí),PM為38°;COUT為1 μF時(shí),PM為56.3°;COUT為5 μF時(shí),PM為83.6°。圖6證明本文設(shè)計(jì)的LDO在不同輸出電容下均能保證穩(wěn)定性。
圖6 不同輸出電容的相位裕度仿真曲線Fig.6 Phase margin simulation curves of different output capacitors
圖7展示了VOUT為2.5 V、COUT為0.1 μF時(shí),負(fù)載電流在1 μs內(nèi)從1 mA跳變到600 mA的負(fù)載瞬態(tài)響應(yīng)曲線。當(dāng)負(fù)載電流從1 mA跳變到600 mA時(shí),輸出電壓的下沖為10.6 mV,響應(yīng)時(shí)間約為5 μs;當(dāng)負(fù)載電流從600 mA跳變到1 mA時(shí),輸出電壓的上沖為11.7 mV,響應(yīng)時(shí)間約為7 μs。圖7證明該LDO電路具有良好的負(fù)載瞬態(tài)特性。
圖7 LDO負(fù)載瞬態(tài)響應(yīng)仿真曲線Fig.7 LDO Load transient response simulation curve
圖8展示了VOUT為2.5 V時(shí),負(fù)載電流從1 mA變化到600 mA的負(fù)載調(diào)整曲線。從圖8可知,輸出電壓的變化量為116.5 μV,負(fù)載調(diào)整率為0.004 6%,符合設(shè)計(jì)要求。
圖8 負(fù)載調(diào)整曲線Fig.8 Load regulation curve
表1為本文設(shè)計(jì)的LDO與其他相關(guān)文獻(xiàn)的LDO電路性能對(duì)比。從表1可看出,本文設(shè)計(jì)的LDO在負(fù)載瞬態(tài)響應(yīng)和負(fù)載調(diào)整率上有更好的性能,并且具有較大的相位裕度,穩(wěn)定性良好。
表1 LDO性能對(duì)比Tab.1 Comparison of LDO performance
本文基于0.35 μm CMOS工藝,設(shè)計(jì)了一種采用電流緩沖器的反嵌套密勒補(bǔ)償型LDO。該電路的第2級(jí)和第3級(jí)都采用反相增益級(jí),在反嵌套密勒補(bǔ)償?shù)幕A(chǔ)上添加電流緩沖器和反相電流緩沖器,在不引入額外靜態(tài)功耗的條件下,保證了電路內(nèi)部負(fù)反饋性質(zhì),消除了密勒電容的前饋通路,引入LHP零點(diǎn),增加相位裕度,改善穩(wěn)定性。仿真結(jié)果表明,RNMCCB提高了LDO在全負(fù)載電流范圍內(nèi)的穩(wěn)定性,且在不同輸出電容下,均能保證穩(wěn)定性,同時(shí)具有較好的負(fù)載瞬態(tài)響應(yīng)和負(fù)載調(diào)整率。本文設(shè)計(jì)的LDO可應(yīng)用于負(fù)載變化范圍大的電路系統(tǒng)。