李健 陳芳兵 王 英 袁慕潔 李 鋒 柏娜
與傳統(tǒng)的金屬烤瓷修復(fù)體相比,氧化鋯全瓷冠存在更高的修復(fù)失敗率,由于氧化鋯基底與飾瓷的結(jié)合力低,飾瓷崩脫成為修復(fù)失敗的主要原因。張廣野等對(duì)氧化鋯烤瓷冠和金屬烤瓷冠進(jìn)行了2~7年的臨床效果觀察,結(jié)果顯示氧化鋯全瓷冠崩的瓷率為12.62%,金屬烤瓷冠的崩瓷率為5.79%[2]。崩瓷的原因較多且存在爭(zhēng)議,主要包括飾瓷對(duì)氧化鋯內(nèi)冠的潤(rùn)濕性差、兩者的熱膨脹系數(shù)不協(xié)調(diào)、兩者之間很難形成化學(xué)結(jié)合、兩者之間的斷裂韌性和彈性模量失配、氧化鋯內(nèi)冠導(dǎo)熱性差等[3-5]。為了應(yīng)對(duì)這一問(wèn)題,目前提出的解決方案主要包括:噴砂、硅涂層處理、增加內(nèi)襯等[6]。對(duì)于上述處理方案,或是存在爭(zhēng)議,或是成本過(guò)高,因此需要尋找一種有效且經(jīng)濟(jì)的處理方法來(lái)增強(qiáng)氧化鋯與飾面瓷的結(jié)合強(qiáng)度。
等離子體被稱為固態(tài)、液態(tài)和氣態(tài)之外的“物質(zhì)第四態(tài)”。等離子體來(lái)源于氣體,在一定的外界作用下產(chǎn)生“電離”而形成。根據(jù)溫度進(jìn)行分類,可將等離子體可分為高溫等離子體、低溫等離子體。低溫等離子體技術(shù)是一種新型材料表面處理手段,其富含高能電子及激發(fā)態(tài)的離子、原子、分子、自由基等諸多活性粒子,在與物質(zhì)的相互作用中可以產(chǎn)生許多特殊的物理和化學(xué)效應(yīng),高能電子可使分子激發(fā)、電離或斷裂成自由基碎片,某些離子、原子可對(duì)材料表面產(chǎn)生一定的刻蝕作用,還有一些原子和自由基會(huì)在材料表面形成沉積層[8,9]。低溫等離子體在口腔醫(yī)學(xué)領(lǐng)域的應(yīng)用主要包括:根管消毒、牙美白、抑制癌細(xì)胞、口腔材料的表面處理[10]。目前,已有研究發(fā)現(xiàn)低溫等離子體處理可以增強(qiáng)氧化鋯與樹(shù)脂、純鈦與飾瓷結(jié)合強(qiáng)度[11,12]。有了上述理論及實(shí)踐基礎(chǔ),我們嘗試使用低溫等離子體處理氧化鋯,以增強(qiáng)氧化鋯基底冠與飾瓷的結(jié)合強(qiáng)度。
1.1 材料與設(shè)備
1)氧化鋯試件(愛(ài)迪特科技股份有限公司,中國(guó));2)氧化鋯陶瓷研磨器(上海道邦磨料磨具有限公司,中國(guó))。3)MULTIMAT C型烤瓷爐(DENTSPLY公司,美國(guó));4)DEKEMA氧化鋯燒結(jié)爐(DEKEMA Service GmbH 公司,美國(guó));5)MH-5040噴砂機(jī)(銘輝噴砂機(jī)械有限公司,中國(guó));6)AS400型低溫等離子體發(fā)生裝置(Plasmatreat GmbH公司,德國(guó));7)JY-PHB型動(dòng)態(tài)接觸角測(cè)定儀(承德優(yōu)特檢測(cè)儀器制造有限公司,中國(guó));8)Dimension Icon型原子力顯微鏡(Bruker公司,美國(guó));9)Phenom Pro型掃描電子顯微鏡(Phenom公司,德國(guó));10)Nexsa?X型X射線光電子能譜分析儀(賽默飛世爾科技公司,美國(guó));11)氧化鋯內(nèi)冠飾面瓷粉(則武株式會(huì)社,日本);12)AGS萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī)(SHIMADZU公司,日本);13)KQ-50E型超聲波清洗器(昆山市超聲儀器有限公司,中國(guó))。
1.2 氧化鋯試件制備
1.2.1 氧化鋯試件切割、燒結(jié)、拋光和噴砂 依據(jù)氧化鋯烤瓷冠生產(chǎn)流程制備試件,使用低速鋸切割牙科氧化鋯圓盤,制備100 片氧化鋯試件(20 mm×10 mm×3 mm),在結(jié)晶爐中燒結(jié)后備用(型號(hào):愛(ài)迪特-賽瓷內(nèi)冠;燒結(jié)后密度≥6.0 g/cm3;燒結(jié)后抗彎強(qiáng)度≥1300 MPa;燒結(jié)后斷裂韌性:5 MPa·m 1/2;燒結(jié)后硬度:12.5 GPa)。燒結(jié)后,將試件的一面標(biāo)記為烤瓷面,將細(xì)粒度氧化鋯研磨車針(道邦,CD2124)裝配到牙科慢速手機(jī)上,對(duì)烤瓷面打磨拋光,以統(tǒng)一試件表面粗糙度(拋光15 s,烤瓷面與車針側(cè)面母線平行)。拋光后,對(duì)試件烤瓷面進(jìn)行噴砂處理,噴嘴與烤瓷面相距10 mm,角度45°,使用110 μm的氧化鋁顆粒,在0.3 MPa的壓力下均勻噴砂15 s,噴砂后在無(wú)水酒精、雙蒸水中先后超聲清洗10 min(超聲頻率:40 kHz,功率50 W,溫度30℃),氣槍吹干。
1.2.2 低溫等離子體處理 噴砂后的試件隨機(jī)分為5組,對(duì)烤瓷面進(jìn)行低溫等離子體處理,A組-不做處理,B組-壓縮空氣低溫等離子體,C組-N2低溫等離子體,D組-O2低溫等離子體,E組-95%Ar+5%O2低溫等離子體。將待處理的氧化鋯試件放置于等離子體噴嘴下方,試件中心正對(duì)噴嘴,二者相距25 mm,依次噴射低溫等離子體處理試件,更換氣體時(shí),先空噴10 s清洗內(nèi)腔和噴嘴中的殘余氣體。(等離子體處理參數(shù):點(diǎn)處理,電壓320 V,電流20 A,頻率20 kHz,處理時(shí)間60 s)
1.3 表面水接觸角測(cè)量 每組選取3片試件依次放置于水接觸角分析儀,采用靜滴法在試件上滴加2 μl去離子水,待水滴接觸材料表面30 s后,拍照并測(cè)量水接觸角θ的數(shù)值,依此來(lái)檢測(cè)低溫等離子體處理對(duì)于氧化鋯表面潤(rùn)濕性的影響。如圖1所示,接觸角θ越小,材料的表面親水性越好。
圖1 固體表面水接觸角
1.4 表面形貌觀察 每組選取2片試件,使用掃描電子顯微鏡(SEM)觀察氧化鋯試件的表面形貌,觀察低溫等離子體處理后氧化鋯試件的表面形貌變化。
1.5 表面粗糙度(roughness of surface,Ra)每組選取3個(gè)試件,使用原子力顯微鏡(AFM)觀察氧化鋯試件的表面形貌,并檢測(cè)試件的表面粗糙度Ra,如圖2所示,從每片試件的掃描區(qū)(20 μm×20 μm)中選取5個(gè)區(qū)域(5 μm×5 μm)檢測(cè)表面粗糙度,平均值作為該試件的表面粗糙度,并計(jì)算每組試件的平均表面粗糙度。
圖2 每片平均表面粗糙度測(cè)試區(qū)選擇方法
1.6 表面元素分析 每組選取3片試件,使用X射線光電子能譜分析儀(XPS)對(duì)氧化鋯試件進(jìn)行表面元素分析,對(duì)比低溫等離子體處理后的氧化鋯表面C、O元素及化學(xué)鍵的變化。
1.7 氧化鋯試件烤瓷 使用塑料空心管(內(nèi)徑5 mm,厚度2 mm)和牙科樹(shù)脂制作烤瓷模具(如圖3,體瓷堆塑區(qū)高度2 mm,直徑5 mm),每組選取10片試件,將模具與氧化鋯試件貼合在一起。使用無(wú)菌水調(diào)制瓷粉(瓷粉1 g:液體0.37 g),將粉漿置入模具中體瓷堆塑區(qū),待粉漿晾干成形后取下模具,放入烤瓷爐中烘干、燒結(jié)。
圖3 烤瓷模具
1.8 剪切粘接強(qiáng)度檢測(cè)(shear bond strength,SBS)每組隨機(jī)選取8片烤瓷試件,使用萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī)進(jìn)行SBS檢測(cè),將氧化鋯烤瓷試件放入固定裝置中,使刀刃長(zhǎng)軸與鋯瓷結(jié)合面平行,刀刃與飾瓷的接觸點(diǎn)距離鋯瓷結(jié)合面0.5 mm,刀刃下降速度設(shè)置為1 mm/min,記錄飾瓷脫落所需的最大負(fù)荷F,利用游標(biāo)卡尺測(cè)量飾瓷鋯-瓷結(jié)合面的直徑,計(jì)算鋯-瓷粘接面積(19.625 mm2)。根據(jù)公式P=F/S,計(jì)算出氧化鋯-飾瓷結(jié)合強(qiáng)度。(P:剪切力強(qiáng)度值,MPa;F:飾瓷脫落時(shí)的最大負(fù)荷讀數(shù),N;S:粘接面積,mm2)
1.9 瓷剝脫面的表面形貌觀察SBS檢測(cè)結(jié)束后,飾瓷層從氧化鋯試件表面剝脫,每組選取4片試件,掃描電子顯微鏡(SEM)觀察試件瓷剝脫面的情況,我們將鋯-瓷結(jié)合破壞模式分為兩種,氧化鋯基底暴露區(qū)的破壞模式為粘接破壞,飾瓷覆蓋區(qū)為內(nèi)聚破壞,Image J軟件測(cè)量每組氧化鋯基底暴露區(qū)的平均面積,計(jì)算兩種破壞模式的比例。
1.10 鋯-瓷結(jié)合橫斷面的電鏡觀察 每組選取2個(gè)試件,用高速車針將烤瓷試件截?cái)?,暴露?瓷結(jié)合橫斷面,依次使用500目、1000目、1500目、2000目砂紙、拋光絨輪打磨截?cái)嗝妫蚰ネ瓿珊髮⒃嚰湃霟o(wú)水酒精、雙蒸水中超聲蕩洗5 min(超聲頻率:40 kHz,功率50 W,溫度30℃),氣槍吹干后使用掃描電子顯微鏡(SEM)觀察鋯-瓷結(jié)合橫斷面。
1.11 統(tǒng)計(jì)學(xué)方法SPSS進(jìn)行統(tǒng)計(jì)學(xué)分析,用均數(shù)±標(biāo)準(zhǔn)差(±s)描述水接觸角θ、平均粗糙度Ra、鋯-瓷結(jié)合強(qiáng)度、氧化鋯基底暴露平均面積,使用單因素方差分析比較組間差異,按照α=0.05水準(zhǔn)判斷結(jié)果。
2.1 表面水接觸角測(cè)量 各實(shí)驗(yàn)組接觸角如圖4所示,B、C、D、E組(壓縮空氣、N2、O2、95%Ar+5%O2)的表面水接觸角均顯著小于A組(對(duì)照組)的表面接觸角,差別有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義(P<0.05),說(shuō)明四種低溫等離子體的表面處理均可增加氧化鋯的表面親水性。
圖4 氧化鋯表面水接觸角
表1 各組氧化鋯表面水接觸角(n=3)
2.2 表面形貌觀察 各實(shí)驗(yàn)組表面形貌掃描電鏡照片如圖5所示,經(jīng)噴砂處理后各組氧化鋯表面呈現(xiàn)粗糙樣貌,與A組對(duì)比,發(fā)現(xiàn)4種低溫等離子處理后的表面形貌無(wú)明顯改變。
2.3 表面粗糙度(roughness of surface,Ra)AFM檢測(cè)后進(jìn)行統(tǒng)計(jì)學(xué)分析(表2),結(jié)果顯示各組試件平均表面粗糙度無(wú)統(tǒng)計(jì)學(xué)差異,結(jié)合SEM、AFM照片(圖5、圖6),說(shuō)明低溫等離子體對(duì)氧化鋯表面形貌無(wú)明顯影響。
圖5 SEM觀察氧化鋯表面形貌
圖6 AFM觀察氧化鋯表面形貌
表2 各組平均表面粗糙度Ra(n=3)
2.4 表面元素分析 各實(shí)驗(yàn)組表面元素XPS峰值變化如圖7、8所示,B、C、D、E組(壓縮空氣、N2、O2、95%Ar+5%O2)與A組相比,C 元素明顯降低(P<0.05),C-C鍵、C-O鍵、羧基(COO-)減少,O元素明顯提高(P<0.05),羥基(-OH)、Zr-O鍵增加。如表3、圖9所示,B、C、D、E組的C/O比例明顯低于A組,差別有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義。
圖7 各組C元素、C-C、C-O、COO-的變化
圖8 各組O元素、Zr-O、-OH的變化
圖9 各組氧化鋯表面C、O元素比例
表3 各組氧化鋯表面C、O元素含量(n=3)
2.5 剪切粘接強(qiáng)度試驗(yàn)(shear bond strength,SBS)各實(shí)驗(yàn)組SBS試驗(yàn)結(jié)果如表4、圖10所示,C、E組(N2、95%Ar+5%O2)的鋯-瓷結(jié)合強(qiáng)度大于A組(對(duì)照組),差別有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義(P<0.05),而B(niǎo)、D組(壓縮空氣、O2)與A組的差別無(wú)統(tǒng)計(jì)學(xué)意義,說(shuō)明N2、Ar-O2低溫等離子體處理可以增強(qiáng)鋯-瓷結(jié)合強(qiáng)度,壓縮空氣、O2低溫等離子體對(duì)鋯-瓷結(jié)合強(qiáng)度無(wú)明顯作用。
表4 各組氧化鋯烤瓷試件鋯-瓷結(jié)合強(qiáng)度(n=8)
圖10 各組氧化鋯烤瓷試件鋯-瓷結(jié)合強(qiáng)度
2.6 試件瓷剝脫面的表面形貌觀察 圖11顯示了各組瓷剝脫面的表面形貌,通過(guò)Image J軟件分析,可見(jiàn)C、E組(N2、95%Ar+5%O2)氧化鋯基底暴露區(qū)面積明顯小于A組(對(duì)照組),差別有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義,B、D組(壓縮空氣、O2)與A組無(wú)明顯差別(P>0.05)。如表5所示,C、E組(N2、95% Ar+5% O2)的內(nèi)聚破壞/粘接破壞比例高于A組(對(duì)照組),差別有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義,B、D組(壓縮空氣、O2)的內(nèi)聚破壞/粘接破壞比例與A組無(wú)明顯差別(P>0.05)。
表5 各組氧化鋯基底暴露面積、破壞模式比例(n=4)
圖11 SEM觀察氧化鋯瓷剝脫面
2.7 鋯-瓷結(jié)合橫斷面的電鏡觀察 鋯-瓷結(jié)合橫斷面的電鏡觀察顯示(圖13),各組的氧化鋯與飾瓷之間均緊密貼合,無(wú)明顯裂隙,但對(duì)照組靠近結(jié)合界面的飾瓷區(qū)存在較多氣泡,可能是低溫等離子體增加了氧化鋯表面親水性,使飾瓷粉漿更好的鋪展于氧化鋯表面。
圖13 SEM觀察鋯-瓷結(jié)合橫斷面
圖12 各組氧化鋯烤瓷試件鋯-瓷結(jié)合破壞模式
通過(guò)上述研究,我們發(fā)現(xiàn)N2、95%Ar+5%O2低溫等離子體處理氧化鋯表面,可以增強(qiáng)氧化鋯-飾瓷結(jié)合強(qiáng)度。
SEM、AFM檢測(cè)發(fā)現(xiàn),低溫等離子體處理后氧化鋯表面形貌未見(jiàn)明顯改變,且各低溫等離子體處理組之間也無(wú)明顯差異。在SEM視野下,低溫等離子體處理后的氧化鋯表面依然呈現(xiàn)粗糙均勻形態(tài),且無(wú)新的裂隙,通過(guò)AFM對(duì)氧化鋯平均表面粗糙度進(jìn)行檢測(cè),結(jié)果表明各組之間的差別無(wú)統(tǒng)計(jì)學(xué)意義,以上結(jié)果說(shuō)明60 s處理對(duì)氧化鋯試件表面無(wú)明顯粗化作用。廖宇等應(yīng)用98%He+2%O2低溫等離子體處理氧化鋯10 s,激光三維形貌測(cè)量顯微鏡和SEM觀察未發(fā)現(xiàn)氧化鋯試件表面形態(tài)改變[13]。Liu等應(yīng)用Ar、O2、CF4低溫等離子對(duì)氧化鋯進(jìn)行30 s處理,SEM觀察發(fā)現(xiàn)處理后氧化鋯表面形貌無(wú)明顯變化[14]。還有研究運(yùn)用Ar、O2、N2低溫等離子體處理氧化鋯120 s,并檢測(cè)氧化鋯表面平均粗糙度,也發(fā)現(xiàn)處理氧化鋯后表面形貌無(wú)明顯變化[11]。此外,陳芳兵等運(yùn)用低溫等離子體處理經(jīng)微弧氧化后的鈦片,SEM觀察發(fā)現(xiàn)處理前后鈦片表面結(jié)構(gòu)未出現(xiàn)明顯改變[15]。結(jié)合上述研究,說(shuō)明短時(shí)間的低溫等離子體處理對(duì)材料的表面形貌無(wú)明顯影響。但是相關(guān)研究的試件大多經(jīng)過(guò)噴砂處理,不能排除噴砂對(duì)于表面形貌變化的掩蓋作用,且所用等離子體的種類及參數(shù)相近,缺乏對(duì)比性。
XPS檢測(cè)發(fā)現(xiàn),低溫等離子體處理后氧化鋯表面C元素明顯降低,C-C鍵、C-O鍵、羧基(COO-)減少,O元素明顯提高,羥基(-OH)、Zr-O鍵增多。Valverde等運(yùn)用Ar低溫等離子體處理氧化鋯,XPS分析顯示處理后C元素相對(duì)含量減少了14%,O元素相對(duì)含量增加了20%,Ar等離子體射流處理10 s后,氧化鋯表面能增加到43.77 MJ/m2,對(duì)照組僅為27.85 MJ/m2,親水性得到明顯改善[16]。Akio Noro等也發(fā)現(xiàn)低溫等離子體處理可使氧化鋯表面C元素減少,增加氧化鋯表面清潔度[17]。低溫等離子體富含的高能電子可以打破氧化鋯表面的C-O鍵、C-C鍵、C-OH鍵,引發(fā)電子氧化,從而起到表面活化及表面清潔作用[18],處理后可在材料表面引入含有羥基(-OH)的活性官能團(tuán),增加材料的親水性[19],并且這些效應(yīng)在有機(jī)材料或惰性無(wú)機(jī)材料表面都可發(fā)生[20]。朱楨健的研究也指出,羥基自由基在提高氧化鋯表面親水性中起著重要作用,低溫等離子體中活性物質(zhì)和高能粒子能夠清除氧化鋯表面污染物,降低疏水基團(tuán)(-CH2)相對(duì)含量,提高含氧化學(xué)基團(tuán)(C=O)相對(duì)含量[21]。通過(guò)觀察氧化鋯表面水接觸角,我們發(fā)現(xiàn)低溫等離子體處理后氧化鋯表面水接觸角明顯減小,表明低溫等離子體可明顯增加氧化鋯表面親水性,這也印證了本研究的XPS分析結(jié)果及上述研究的結(jié)果和觀點(diǎn)。不僅如此,有研究發(fā)現(xiàn)低溫等離子體處理后,氧化鋯表面較強(qiáng)的親水性可保持長(zhǎng)達(dá)五分鐘之久,這一特點(diǎn)明顯拓寬了低溫等離子體的應(yīng)用范圍[22]。
SBS測(cè)試結(jié)果表明,C、E組(N2、95%Ar+5%O2)的鋯-瓷結(jié)合強(qiáng)度大于A組(對(duì)照組),差別有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義(P<0.05),而B(niǎo)、D組(壓縮空氣、O2)與A組的差別無(wú)統(tǒng)計(jì)學(xué)意義。Ji等研究發(fā)現(xiàn)Ar低溫等離子體處理氧化鋯可增強(qiáng)鋯-瓷結(jié)合強(qiáng)度[23],Liu等的研究也印證了Ar低溫等離子體對(duì)鋯-瓷結(jié)合強(qiáng)度的增強(qiáng)作用,其同時(shí)也發(fā)現(xiàn)O2低溫等離子體會(huì)削弱鋯-瓷結(jié)合強(qiáng)度[14]。通過(guò)SEM觀察氧化鋯試件瓷剝脫面,可見(jiàn)C、E組氧化鋯基底暴露區(qū)明顯少于對(duì)照組(P<0.05),說(shuō)明斷裂大多發(fā)生在飾瓷層內(nèi)部,鋯-瓷結(jié)合破壞模式主要為內(nèi)聚破壞,而B(niǎo)、D組的氧化鋯基底暴露區(qū)占比與對(duì)照組的差別無(wú)統(tǒng)計(jì)學(xué)意義。通過(guò)SEM觀察鋯-瓷結(jié)合橫斷面,我們發(fā)現(xiàn)各組氧化鋯與飾瓷之間均緊密貼合,無(wú)明顯裂隙,但對(duì)照組靠近結(jié)合界面的飾瓷區(qū)存在較多氣泡,這可能是因?yàn)榈蜏氐入x子體處理可增強(qiáng)氧化鋯試件的表面親水性,飾瓷粉漿更好地鋪展于氧化鋯表面。上述實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,N2、95%Ar+5%O2低溫等離子體可以增強(qiáng)鋯-瓷結(jié)合強(qiáng)度。
本研究證實(shí)N2、95%Ar+5%O2低溫等離子體處理可以增強(qiáng)鋯-瓷結(jié)合強(qiáng)度,低溫等離子體處理60 s對(duì)氧化鋯表面形貌、表面粗糙度無(wú)明顯影響,但是可以降低C元素含量,使氧化鋯試件表面碳雜質(zhì)中的CC鍵、C-O鍵明顯減少;增加O元素含量,使親水性官能團(tuán)羥基(-OH)含量明顯提升,并改變氧化鋯表面Zr-O鍵含量。我們推測(cè)低溫等離子體可能通過(guò)以下幾點(diǎn)增強(qiáng)鋯瓷結(jié)合強(qiáng)度:第一,低溫等離子體可能是通過(guò)在氧化鋯表面引入含氧極性基團(tuán),增加氧化鋯表面親水性,使飾瓷粉漿更加充分的浸潤(rùn)在噴砂后的氧化鋯表面多孔結(jié)構(gòu)中;第二,同時(shí)低溫等離子體還具有一定的表面清潔作用,破壞氧化鋯表面碳雜質(zhì)中的C-C鍵、C-O鍵,可更好地清除影響鋯-瓷結(jié)合的表面雜質(zhì);第三,四種低溫等離子體均可明顯增加氧化鋯表面親水性,但是只有N2、95%Ar+5%O2組鋯-瓷結(jié)合強(qiáng)度的增幅有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義,通過(guò)XPS結(jié)果可見(jiàn),N2、95%Ar+5%O2組的Zr-O鍵的相對(duì)強(qiáng)度相近,而壓縮空氣組Zr-O鍵的相對(duì)強(qiáng)度高于N2、95%Ar+5%O2組,O2組、對(duì)照組Zr-O 鍵的相對(duì)強(qiáng)度卻低于N2、95%Ar+5%O2組,我們推測(cè)Zr-O鍵相對(duì)強(qiáng)度與鋯-瓷結(jié)合強(qiáng)度具有相關(guān)性?;蛘逳2、95%Ar+5%O2低溫等離子體可能在氧化鋯表面引入某些官能團(tuán),可與飾瓷發(fā)生化學(xué)反應(yīng),而O2低溫等離子體缺乏這種作用或者作用較弱??傊蜏氐入x子體在材料表面處理方面的機(jī)制十分復(fù)雜,涉及多種物理化學(xué)反應(yīng),尚需繼續(xù)深入研究低溫等離子體增強(qiáng)鋯-瓷結(jié)合的機(jī)制。
氧化鋯具有較強(qiáng)的化學(xué)惰性,飾瓷的主要成分為二氧化硅,從化學(xué)成分上看二者很難發(fā)生化學(xué)結(jié)合,氧化鋯與飾瓷的結(jié)合方式主要為機(jī)械嵌合和壓縮應(yīng)力結(jié)合[24,25]。低溫等離子體是一種優(yōu)秀的材料表面處理方法,在與物質(zhì)的相互作用中可以產(chǎn)生許多特殊的物理和化學(xué)效應(yīng),在物質(zhì)表面引入各組官能團(tuán),且其處理作用僅局限于材料表面層,不會(huì)影響材料的固有特性,相比于熱酸蝕、激光、硅涂層等處理方式,低溫等離子體更加安全、便捷、經(jīng)濟(jì)。因此我們嘗試將低溫等離子體應(yīng)用于增強(qiáng)鋯-瓷結(jié)合強(qiáng)度,期望通過(guò)低溫等離子體處理使氧化鋯與飾瓷之間發(fā)生化學(xué)結(jié)合,研究發(fā)現(xiàn)N2、95%Ar+5%O2低溫等離子體處理可以增強(qiáng)鋯-瓷結(jié)合強(qiáng)度,但是增幅不大,我們認(rèn)為可進(jìn)一步研究其他種類等離子體對(duì)鋯-瓷結(jié)合的作用,并調(diào)整N2、95%Ar+5%O2低溫等離子體的處理參數(shù),嘗試找到處理氧化鋯更好的氣體種類及處理參數(shù),以便今后將低溫等離子體運(yùn)用到氧化鋯烤瓷冠的生產(chǎn)過(guò)程中,與傳統(tǒng)的噴砂結(jié)合使用來(lái)增強(qiáng)鋯-瓷結(jié)合強(qiáng)度。