王婷,尹翔宇,馬旭輝,張潤澤
(北京理工大學 機電學院,北京 100081)
隨著現(xiàn)代軍事技術的發(fā)展,僅對目標進行定位、跟蹤已經(jīng)不能滿足實際的需要,需要進一步對目標進行成像. 合成孔徑雷達(synthetic aperture radar,SAR)和逆合成孔徑雷達(inverse synthetic aperture radar,ISAR)[1]技術可以實現(xiàn)目標的高分辨成像,但均依賴于雷達與目標之間的相對運動,難以應用于成靜止目標的像. 孔徑編碼成像[2]最早起源于光學領域,隨后被應用于微波頻段對靜止目標進行高分辨成像,實現(xiàn)孔徑編碼成像的關鍵在于構造差異性的測量模式,以獲取不相干的測量值,再通過計算成像的方法重構出目標的原始圖像. 傳統(tǒng)的孔徑編碼成像系統(tǒng)使用隨機掩膜板對發(fā)射天線的波束進行隨機相位調(diào)制,從而產(chǎn)生不同的測量模式. 近年來受到廣泛關注的微波超材料[3-4]為實現(xiàn)孔徑編碼成像提供了新的思路,通過有源器件控制超材料的電磁特性可以產(chǎn)生具有非相干性的隨機輻射場,在不需要透鏡和隨機掩膜板的條件下實現(xiàn)快速成像.
2013 年杜克大學的HUNT 等[5]利用一維諧振超材料線陣實現(xiàn)了工作于K 波段的超分辨成像系統(tǒng),發(fā)射天線在工作頻段內(nèi)進行掃頻,每個掃頻點處不同的超材料單元處于諧振狀態(tài),從而產(chǎn)生不同的輻射方向圖,實現(xiàn)了高分辨成像. 2016 年LI Yunbo 等[6]使用2 bit 編碼超表面設計了單頻點成像系統(tǒng),該系統(tǒng)使用現(xiàn)場可編程邏輯門陣列(field programmable gate array,F(xiàn)PGA)控制超表面的編碼方式來獲得不同測量模式下的測量值,最后重構出目標的二維像.2018 年國防科技大學羅震龍等[7]將脈沖壓縮技術和可編程超材料相結合,設計了一種三維成像系統(tǒng),此系統(tǒng)使用線性調(diào)頻信號獲取距離向的信息,之后在距超材料天線3,4,5,6 m 的4 個成像平面上并行計算成像,提升了成像效率.
本文使用可編程超材料單元構造1 bit 編碼超表面,用隨機跳頻信號[8]在4 個成像平面上測量立體目標,構造測量矩陣,采用正交匹配追蹤(orthogonal matching pursuit,OMP)算法[9]實現(xiàn)對目標的壓縮感知重構,最后提出了一個基于目標結構的優(yōu)化算法.本文通過模擬雷達回波進行了仿真實驗驗證,結果表明此成像系統(tǒng)在24~28 GHz 頻段具有較好的三維成像性能.
本文采用壓縮感知理論[10-11],即當信號具有可壓縮性時,在遠低于Nyquist 采樣率的條件下采集信號的離散樣本,就能夠憑借此樣本準確的重構出原始信號. 在成像系統(tǒng)中目標圖像可視為目標強散射中心回波信號的疊加,弱散射中心對成像結果的影響很小,因此成像結果具有可壓縮性,可由回波信號的觀測值重構出目標圖像.
首先將目標區(qū)域劃分為M個成像網(wǎng)格,假設編碼超表面由N個單元組成,饋源發(fā)射信號為一正弦信號:
式中σm為第m個成像網(wǎng)格的散射系數(shù).
由上述分析可以看出,接收天線接收到的回波信號中包含了M個成像網(wǎng)格的散射系數(shù)信息,可用多種測量模式進行測量來獲取,為保證不同測量模式之間的非相關性,采用跳頻技術拓寬工作頻率,在式(1)中增加一個隨機跳頻因子,使超表面的工作頻率在24~28 GHz 的帶寬內(nèi)隨機變動,修正后的饋源發(fā)射信號為
為了縮短成像時間,在能夠保證成像效果的基礎上應盡量減少測量模式的數(shù)量,因此上式中測量矩陣的行數(shù)L一般遠小于列數(shù)M,則此成像方程式是病態(tài)的,無法用一般方式求解,需要對成像結果進行重構. 重構方法采用正交匹配追蹤算法,用L次測量結果與測量矩陣的每列做內(nèi)積,選擇一個與測量結果最匹配的列并求出殘差,然后繼續(xù)選擇與殘差最匹配的列并與之前選擇的列做正交化處理,反復迭代,直至殘差小于閾值,最后信號y可以表示為這些列的線性和.
編碼超表面[12]實際上是超材料的二維表現(xiàn)形式,關鍵在于設計具有多種反射相位相差較大的狀態(tài)的超材料單元. 天線輻射的電磁波經(jīng)過超表面后被其上隨機排列的具有不同反射相位的單元進行相位調(diào)制,每有一種不同的隨機排列方案,就會產(chǎn)生一種不同的隨機輻射場,從而達到不同測量模式間觀測結果具有非相關性的要求.
圖1 給出了本文設計的1 bit 超材料單元的結構示意圖. 此單元結構尺寸a為5 mm,從上到下由三部分構成:最上層是2 個尺寸相同的十字形金屬貼片,材料為銅,中間是厚度為2 mm的介質(zhì)板,材料為Rogers RT5880,介電常數(shù)為2.2,損耗角正切為0.000 9,最下層為分隔開的兩片金屬地. 在圖中所示位置加載PIN 二極管,金屬貼片通過貫穿介質(zhì)層的導體圓柱分別與兩片金屬地相連,只需在兩片地施加偏置電壓,就可以控制二極管的通斷,以改變單元的反射特性. 為達到隨機調(diào)相的目的,在二極管導通和斷開兩種狀態(tài)下的單元反射相位應相差接近180°,以此為目標優(yōu)化單元的結構參數(shù). 最終得到的單元在兩種狀態(tài)下的反射特性如圖2 所示. 由圖可知,兩種狀態(tài)下反射率均高于-0.7 dB,反射相位在26 GHz 左右相差180°,隨著頻率升高反射相位差逐漸增大,這種變化趨勢增強了不同測量模式間的差異性.
圖1 十字貼片單元示意圖及結構參數(shù)Fig. 1 Schematic diagram and structural parameters of cross patch unit
圖2 單個超材料單元的反射特性Fig. 2 Reflection characteristics of a single metamaterial unit
通過將不同反射相位的超材料單元隨機排列組成二維超表面,每個單元都能對饋源發(fā)射的波束進行相位調(diào)制并向自由空間輻射,由此形成隨機輻射場,同時單元間的耦合作用會使輻射場的變化更加不規(guī)律.
利用CST 建模完成了圖3 所示的實驗系統(tǒng),圖中發(fā)射天線和接收天線使用低方向性的喇叭天線,反射超表面放置在距發(fā)射天線中心80 mm 處,與發(fā)射天線之間的夾角為45°,防止發(fā)射天線對反射波束起遮擋作用. 共設置4 個成像平面,與超表面相距2.0~2.3 m,成像平面之間的間隔為10 cm,將每個成像平面劃分為10×10,即100 個成像網(wǎng)格,每個網(wǎng)格大小為20 cm,接收天線距成像平面中心直線距離為1.5 m,俯仰角和方位角均為45°.
圖3 模擬實驗場景Fig. 3 Simulation experiment scene
根據(jù)成像系統(tǒng)的輻射場分布得到L×M維的測量矩陣,L為有效測量模式的數(shù)量,M為成像平面被劃分的成像網(wǎng)格數(shù),在本文中L設置為120,M為4×100. 利用Matlab 對場景進行建模,將場景中目標的散射系數(shù)理想化為0 和1,即有物體的網(wǎng)格σ設置為1,否則為0. 利用仿真得到的測量矩陣可以模擬雷達回波,之后由成像方程可重構出目標的散射系數(shù),重構算法采用正交匹配追蹤算法. 實驗結果如圖4 所示,由圖4 可以看出每個成像平面都可以獨立、準確地成像,將4 個平面的成像結果整合到三維空間可以得到三維成像結果,如圖5 所示.
圖4 重構結果Fig. 4 Reconstruction results
圖5 三維成像結果Fig. 5 3D imaging results
測量模式數(shù)量對成像結果的分辨率和精度起著重要作用,測量模式數(shù)量的增加能夠增大不同成像網(wǎng)格之間的差異性,提高成像精度和分辨率,但同時也會增加系統(tǒng)成像的時間,降低成像的實時性. 合理地選擇測量模式數(shù)量需要對測量矩陣的成像性能進行定量描述.
平均列相關系數(shù)定義為矩陣中各列之間互相關系數(shù)的平均值,表征了測量矩陣不同列之間的相干性,可以用來衡量測量矩陣的成像性能. 采用不同的測量模式數(shù)量生成測量矩陣,測得的平均列相關系數(shù)如圖6 所示.
圖6 平均列相關系數(shù)隨測量模式數(shù)量變化曲線Fig. 6 Variation curve of average column correlation coefficient with the number of measurement modes
孔徑編碼成像算法需要對目標進行網(wǎng)格劃分,目標場景較大時,網(wǎng)格數(shù)量就會變多,降低成像的速度和分辨率. 在三維成像算法中網(wǎng)格數(shù)量會進一步增加,但目標在不同成像平面上的像并非完全獨立,可以根據(jù)目標的特點在平面之間建立聯(lián)系,對網(wǎng)格進行處理.
本文基于此提出了一種優(yōu)化算法,在某一網(wǎng)格被識別到有目標存在后,可以認為此網(wǎng)格會對其他成像平面上與此網(wǎng)格存在重疊的網(wǎng)格產(chǎn)生遮擋作用,將其他平面上被遮擋的網(wǎng)格在測量矩陣中對應的列用0 值代替,由此大大降低了成像網(wǎng)格的數(shù)量,提高了成像效率.
為驗證此優(yōu)化算法的有效性,在4 個成像平面上隨機生成多個目標點,分別用三維成像算法和優(yōu)化三維成像算法進行多次成像實驗,當目標點個數(shù)為47 時成像結果如圖7 所示.
圖7 兩種成像算法對比Fig. 7 Comparison of two imaging algorithms
為了衡量測量模式數(shù)量對成像精度的影響,引入相對成像誤差(RIE)來衡量成像結果的質(zhì)量:
仿真場景設置與前文相同,通過計算相對成像誤差來分析兩種算法在目標點個數(shù)不同的場景下的成像效果,仿真結果如圖8 所示.
圖8 兩種算法的相對成像誤差對比Fig. 8 Comparison of relative imaging errors of the two algorithms
從上述仿真結果可以看出,當目標場景較大或場景中包含目標點個數(shù)較多時,此優(yōu)化算法能夠有效減少成像網(wǎng)格的數(shù)量,大大降低了相對成像誤差.
本文根據(jù)壓縮感知理論設計了基于編碼超表面的三維成像系統(tǒng),用仿真實驗驗證了此成像系統(tǒng)的有效性,與傳統(tǒng)的孔徑編碼成像算法相比在距離向上具有較高的分辨率. 同時提出了一種優(yōu)化算法,大大提高了三維成像的效率和精度. 此系統(tǒng)在Ka 波段能夠?qū)崿F(xiàn)對目標在4 個成像平面上的準確重構,可用于安檢等多種場合.