電磁法勘探在尋找隱伏盲礦體中的應(yīng)用
——以甘肅老金廠金礦床為例

景勇

（新疆有色地質(zhì)勘查局七O四隊(duì)，新疆哈密 839000）

0 引言

老金廠金礦區(qū)賦礦巖石為礦區(qū)F1斷層兩側(cè)輝綠巖，輝綠巖與F1斷層關(guān)系密切。目前，隨著礦區(qū)逐年的開采，淺部的金資源量已基本查明，但深部金資源量仍然未知。因此，查明F1 斷層構(gòu)造及兩側(cè)輝綠巖深部的延伸情況顯得尤為重要。為了緩解老礦山資源枯竭，進(jìn)一步增儲，本次采用雙源型音頻大地電磁測深（EH4）工作手段進(jìn)行查證，從而查明F1 斷層深部產(chǎn)狀及兩側(cè)輝綠巖分布情況。通過對比淺部含金礦體輝綠巖的地球物理特征，推測深部輝綠巖的含礦性，從而尋找隱伏金礦體。

1 礦區(qū)地質(zhì)特征

1.1 構(gòu)造特征

礦區(qū)構(gòu)造主要為F1 斷層，為一多期活動(dòng)性大斷裂，區(qū)域上近東西向延伸長50～60 千米。F1 斷層為雙堡塘組火山巖段與碎屑巖段的分界斷裂，控制著區(qū)內(nèi)火山巖的分布，斷裂南側(cè)沿線分布有英安巖、英安斑巖、無斑英安巖；斷裂北側(cè)主要是碎屑巖，沿?cái)嗔褞в惺⒚}分布。F1 斷層以礦區(qū)中礦帶為界，其西段表現(xiàn)為朝南傾的逆斷層，東段表現(xiàn)為朝北傾的正斷層。正是由于斷層表現(xiàn)的性質(zhì)不同，則形成了不同性質(zhì)的次級容礦構(gòu)造。

1.2 礦體特征

金礦體主要賦存于輝綠巖中，亦可出現(xiàn)在英安巖、板巖中，大多數(shù)礦體斜穿巖層，與圍巖界線清楚，多為脈狀、薄脈狀、透鏡狀，具分枝復(fù)合及膨脹收縮現(xiàn)象[1]。老金廠金礦主要產(chǎn)于（蝕變）輝綠巖及石英脈之中，礦床是與基性火山巖有關(guān)的石英脈型熱液礦床，礦床受新金廠EW 向深斷裂的控制，賦存于大斷裂南側(cè)的次一級斷裂及羽狀裂隙中[2]。由此可見，老金廠金礦與斷層構(gòu)造、基性火山巖（輝綠巖）關(guān)系密切，查明深部的斷層構(gòu)造、輝綠巖分布情況，對在該區(qū)尋找隱伏金礦體有重要的指示意義。

2 地球物理特征

2.1 巖礦石地球物理特征

地球物理勘探，物性差異是勘探有效的決定性因素。礦區(qū)主要巖石為板巖、輝綠巖及脈石英，局部出露英安巖；其中，輝綠巖為賦礦巖石，板巖為圍巖。通過物性參數(shù)統(tǒng)計(jì)（表1），區(qū)內(nèi)巖石物性差異較大，含礦輝綠巖為相對低阻高極化率特征，不含礦輝綠巖為相對中阻中極化率特征。圍巖板巖為相對中低阻中高極化組合特征；石英為高阻低極化率特征。通過對比淺部已知鉆孔的EH4 斷面特征，結(jié)合物性參數(shù)，能夠較好的推測深部F1 斷層兩側(cè)輝綠巖的含礦性。

表1 老金廠巖（礦）石物性參數(shù)統(tǒng)計(jì)表

2.2 EH4典型剖面特征

根據(jù)F1斷層及地質(zhì)概況，為了查明F1斷層深部的產(chǎn)狀由西向東共布設(shè)11 條EH4 剖面，方向角為115～135°。91-8 剖面線總長度為700 米，測點(diǎn)間距20 米，測線方位角115°。剖面線從北至南出露輝綠巖，局部伴有礦體及含金石英脈穿插。

（1）剖面異常特征與解釋

①近地表為相對低阻區(qū)，電阻率值小于500Ω·m，是由地表巖石破碎、黏土化（風(fēng)化層）引起的，局部由礦體引起的相對低阻異常帶，深部高阻是由輝長巖及硅質(zhì)輝長巖引起。②剖面中部偏左結(jié)合地質(zhì)填圖圈定2條金礦脈，經(jīng)巷道驗(yàn)證異常形態(tài)與金礦脈一致，驗(yàn)證了該方法的有效性。③剖面中部偏右，地表填繪出F1 斷層構(gòu)造帶，西北傾向，根據(jù)異常形態(tài)，推測其至少向深部延伸1000米。④剖面右側(cè)低阻異常是由炭質(zhì)板巖引起，視電阻值小于200Ω·m。

（2）有利成礦部位推斷

根據(jù)F1 斷層的深部延伸形態(tài)，推測2 處有利成礦部位，分別編號為Ⅱ-1，Ⅱ-2。Ⅱ-1號有利成礦部位位于F1 下盤，視電阻率變化范圍約950～1250Ω·m。結(jié)合礦體標(biāo)本參數(shù)、電阻率反演結(jié)果圖（等值線扭曲部位）及構(gòu)造控礦原理，推測Ⅱ-1號低阻異常是由含礦化輝綠巖體引起。Ⅱ-2號有利成礦部位位于F1上盤，視電阻率變化范圍約750～1150Ω·m。結(jié)合礦體標(biāo)本參數(shù)、電阻率反演結(jié)果圖（等值線扭曲部位）及構(gòu)造控礦原理，推測Ⅱ-2號低阻異常是由含礦化輝綠巖體引起。

（3）有效性驗(yàn)證依據(jù)

根據(jù)鉆孔驗(yàn)證，金礦（化）體位與斷面視電阻率等值線具有一定圈閉趨勢且發(fā)生扭曲異常部位，電阻率值變化范圍約650～1000Ω·m。剖面左側(cè)深部850米低阻異常（電阻率小于400Ω·m）是由泥質(zhì)輝長巖引起，且位置位于高低阻異常過渡帶，再一次證明了EH4剖面的有效性。

3 結(jié)論

（1）查明深部超低阻（電阻率小于400Ω·m）是由破碎泥質(zhì)的偏基性巖體引起，巖性界限對應(yīng)EH4 視電阻率等值線過渡帶，驗(yàn)證了EH4成果的有效性，對后續(xù)的解釋工作提供強(qiáng)有力的依據(jù)。本次建議后續(xù)鉆孔施工不針對深部超低阻異常進(jìn)行驗(yàn)證，通過兩個(gè)已知鉆孔已驗(yàn)證為破碎泥質(zhì)輝長巖引起。

（2）根據(jù)鉆孔驗(yàn)證，有利成礦位置對應(yīng)EH4 等值線扭曲部位，電阻率值變化范圍約650～1000Ω·m。特征為電阻率等值線具有一定圈閉趨勢且發(fā)生扭曲（異常），趨勢上等值線有明顯的區(qū)別。

圖1 91-8線EH4剖面成果推斷圖