王響雷,楊 雨,薛正兵
(1.北京航天控制儀器研究所,北京100039;2.中國(guó)航天電子技術(shù)研究院,北京100094)
隨著慣性導(dǎo)航技術(shù)的發(fā)展,慣導(dǎo)系統(tǒng)(Inertial Navigation System,INS)測(cè)量精度的提升一直被人們關(guān)注[1],慣性器件誤差控制與補(bǔ)償研究對(duì)系統(tǒng)測(cè)量精度的提升起著至關(guān)重要的作用[2]。其中,溫度誤差對(duì)慣性器件的影響尤為重要,因此環(huán)境溫度控制是提升其測(cè)量精度的關(guān)鍵技術(shù)[3]。慣性器件溫度誤差模型分為兩類:1)靜態(tài)溫度誤差,僅跟溫度絕對(duì)值相關(guān);2)動(dòng)態(tài)溫度誤差,與溫度變化率和溫度梯度相關(guān)[4]。僅通過(guò)靜態(tài)溫度誤差模型的標(biāo)定與補(bǔ)償,慣性器件的輸出精度無(wú)法滿足高精度的測(cè)量要求。
為了有效控制動(dòng)態(tài)溫度誤差,需要對(duì)慣性器件進(jìn)行精密環(huán)境溫度控制,使得慣性器件工作在一個(gè)穩(wěn)定的溫度點(diǎn)上[5]。由于系統(tǒng)只能被動(dòng)地通過(guò)儀器結(jié)構(gòu)的熱傳導(dǎo)、熱輻射、熱對(duì)流等方式進(jìn)行散熱,考慮到INS工作的外部溫度環(huán)境,慣性器件的工作環(huán)境穩(wěn)態(tài)溫度一般在55℃~60℃之間[6]。在高溫情況下,一方面,慣性器件的輸出漂移與長(zhǎng)期穩(wěn)定性相較于常溫和低溫均偏高;另一方面,慣性器件及電路電子器件的使用壽命和可靠性也大大降低[7]。
針對(duì)上述問(wèn)題,本文以某型捷聯(lián)式重力儀為研究對(duì)象,設(shè)計(jì)了新型溫控系統(tǒng)的方案,主要實(shí)現(xiàn)了溫控系統(tǒng)的主動(dòng)制冷功能,降低儀器本體穩(wěn)態(tài)溫度,為慣性器件提供了一個(gè)穩(wěn)定的工作環(huán)境。
某型捷聯(lián)式重力儀主機(jī)的結(jié)構(gòu)主要由五部分組成:箱體、上蓋組合、下蓋組合、本體組合和電路板組合。箱體、上蓋組合和下蓋組合共同構(gòu)成儀器的外殼,是重力儀的第一級(jí)熱傳導(dǎo)結(jié)構(gòu);本體組合最外層是本體罩,其內(nèi)部包含本體單元和加速度計(jì)單元。完整的儀器是一個(gè)針對(duì)加速度測(cè)量單元和儀器外環(huán)境的三級(jí)溫控結(jié)構(gòu),其示意圖如圖1所示。
圖1 三級(jí)溫控系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖Fig.1 Schematic diagram of the three-level temperature control system
在加熱型溫控系統(tǒng)作用下,上述三級(jí)熱傳導(dǎo)溫控系統(tǒng)的各級(jí)穩(wěn)態(tài)溫度由外到內(nèi)依次為45℃、51℃、56℃。本文使用內(nèi)嵌于SolidWorks的計(jì)算流體力學(xué)軟件FloEFD對(duì)儀器的三維模型進(jìn)行溫度場(chǎng)分析,圖2為儀器處于外部高溫環(huán)境(40℃)時(shí)的溫度場(chǎng)特征剖面圖。位于熱傳導(dǎo)結(jié)構(gòu)最內(nèi)層級(jí)的加速度測(cè)量單元溫度高達(dá)56℃,且儀器內(nèi)部溫度場(chǎng)分布不均勻,整體溫度梯度過(guò)大,不利于慣性器件的工作穩(wěn)定性。
圖2 儀器溫度場(chǎng)特征剖面圖Fig.2 Characteristic section of instrument temperature field
重力測(cè)量用高精度加速度計(jì)是捷聯(lián)式重力儀的主要傳感器之一,它的輸出精度及穩(wěn)定性直接影響著儀器的測(cè)量精度與穩(wěn)定性。加速度計(jì)的比力測(cè)量誤差δfb主要受加速度計(jì)零偏誤差K0和標(biāo)度因數(shù)誤差K1的影響[8]。表1為某批次三只石英撓性加速度計(jì)在常溫下的性能參數(shù)。
表1 加速度計(jì)的性能參數(shù)Table 1 Performance technical parameters of accelerometers
溫度發(fā)生變化時(shí),加速度計(jì)的零偏誤差K0和標(biāo)度因數(shù)誤差K1都會(huì)發(fā)生變化,進(jìn)而影響加速度計(jì)的溫度穩(wěn)定性。加速度計(jì)的溫度穩(wěn)定性包含了K0和K1的靜態(tài)溫度誤差與動(dòng)態(tài)溫度誤差。通過(guò)誤差建模與標(biāo)定,K0和K1的靜態(tài)溫度誤差可以通過(guò)軟件進(jìn)行補(bǔ)償;而K0和K1的動(dòng)態(tài)溫度誤差與加速度計(jì)工作溫度的變化率、梯度等變量有關(guān),該部分難以建立誤差模型,一般采取精密溫控的方法進(jìn)行控制[9]。
圖3為上述三只加速度計(jì)全工作范圍(-40℃~+70℃)下的K0和K1的測(cè)量散點(diǎn)圖和擬合曲線。對(duì)圖3中的擬合曲線進(jìn)行求導(dǎo),可以得到各自的溫度系數(shù)變化曲線,如圖4所示。在該溫度區(qū)間下,三個(gè)加速度計(jì)的K0和K1的平均溫度系數(shù)分別為3.72μg/℃ 和 58.74 × 10-6/℃、12.42μg/℃ 和62.66×10-6/℃、0.95μg/℃ 和 85.81×10-6/℃。 根據(jù)兩項(xiàng)誤差的溫度變化曲線,并綜合其溫度系數(shù)變化,設(shè)置石英撓性加速度計(jì)工作溫度在35℃~45℃范圍內(nèi)可以綜合優(yōu)化加速度計(jì)的靜態(tài)溫度誤差及其溫度系數(shù),有利于軟件補(bǔ)償。
圖3 K0和K1的測(cè)量擬合曲線Fig.3 Measurement fitting curves of K0and K1
圖4 K0和K1的溫度系數(shù)變化曲線Fig.4 Temperature coefficient curves of K0and K1
此外,本文對(duì)輸入為1g的加速度計(jì)進(jìn)行了長(zhǎng)期穩(wěn)定性測(cè)量,同一加速度計(jì)在不同溫度下的穩(wěn)定性測(cè)量結(jié)果如表2所示。根據(jù)10天、25天的測(cè)量結(jié)果,相較于高溫狀態(tài),處于常溫狀態(tài)下的加速度計(jì)穩(wěn)定性更好,且常溫下加速度計(jì)13個(gè)月的穩(wěn)定性在數(shù)值上優(yōu)于高溫下25天的穩(wěn)定性,這說(shuō)明高溫對(duì)加速度計(jì)輸出的長(zhǎng)期穩(wěn)定性影響極大。
表2 長(zhǎng)期穩(wěn)定性測(cè)量結(jié)果Table 2 Measurement results of long-term stability
所以,針對(duì)加速度計(jì)的溫度穩(wěn)定性難以建模和長(zhǎng)期穩(wěn)定性受溫度影響問(wèn)題,本文設(shè)計(jì)了帶有主動(dòng)制冷功能的新型溫控系統(tǒng),能夠降低儀器內(nèi)部溫度,穩(wěn)定加速度計(jì)的動(dòng)態(tài)溫度誤差,提升加速度計(jì)的溫度穩(wěn)定性與長(zhǎng)期穩(wěn)定性。
主動(dòng)制冷型溫控系統(tǒng)使用基于Peltier效應(yīng)的TEC元件制冷。通電時(shí),TEC元件冷端吸收本體內(nèi)部產(chǎn)生的熱量,熱端將該部分熱量傳導(dǎo)至儀器外殼部分,并通過(guò)外殼結(jié)構(gòu)的熱輻射和風(fēng)機(jī)的強(qiáng)制對(duì)流將熱量傳遞至環(huán)境中。TEC的主要技術(shù)參數(shù)如表3所示。
表3 TEC的主要技術(shù)參數(shù)Table 3 Main technical parameters of TEC
基于嵌入式芯片STM32的系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)框圖如圖5所示,整個(gè)系統(tǒng)閉環(huán)設(shè)計(jì)的原理是:通過(guò)采集各個(gè)溫度監(jiān)測(cè)點(diǎn)的溫度偏差及其變化率,控制芯片根據(jù)模糊PID控制策略輸出相應(yīng)的脈沖寬度調(diào)制信號(hào)(Pulse Width Modulation,PWM)來(lái)調(diào)節(jié)控制對(duì)象的工作狀態(tài),以達(dá)到控制結(jié)構(gòu)溫度的目的。鉑電阻測(cè)溫傳感器與控制對(duì)象通過(guò)重力儀結(jié)構(gòu)進(jìn)行耦合,電路板及控制對(duì)象分布示意圖如圖6所示。
圖5 主動(dòng)制冷型溫控系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)框圖Fig.5 Hardware design block diagram of active-cooling temperature control system
圖6 硬件電路板及溫控對(duì)象分布圖Fig.6 Distribution diagram of hardware circuit board and temperature control object
作為測(cè)溫傳感器時(shí),鉑電阻阻值隨溫度的變化近似線性,根據(jù)電橋放大及A/D轉(zhuǎn)換電路的參數(shù),測(cè)溫模塊的分辨率優(yōu)于0.001℃。由于測(cè)溫電路模塊中的測(cè)量誤差、溫度漂移、電平波動(dòng)等使用鉑電阻出廠參數(shù)進(jìn)行溫度計(jì)算會(huì)造成溫度測(cè)量誤差,為了消除該項(xiàng)誤差,本文進(jìn)行了測(cè)溫模塊的標(biāo)定校準(zhǔn),對(duì)鉑電阻的溫度系數(shù)進(jìn)行了重新修訂,并通過(guò)測(cè)溫驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)得到:測(cè)量溫度值與絕對(duì)溫度值之間的誤差在0.06%以內(nèi)。
與1.2節(jié)加熱型溫控系統(tǒng)仿真相似,對(duì)儀器三維模型添加熱電制冷器模擬組件,得到配置主動(dòng)制冷型溫控系統(tǒng)的儀器溫度場(chǎng),其特征剖面溫度分布如圖7所示。
圖7 儀器(配置主動(dòng)制冷型溫控系統(tǒng))溫度場(chǎng)特征剖面圖Fig.7 Characteristic section of instrument temperature field with active-cooling temperature control system
為了驗(yàn)證該溫控系統(tǒng)的有效性與合理性,本文整合了主動(dòng)制冷型溫控系統(tǒng)與重力儀的結(jié)構(gòu),并對(duì)系統(tǒng)仿真控制效果進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證。利用溫箱設(shè)置環(huán)境溫度為40℃,保溫2h后進(jìn)行控溫實(shí)驗(yàn)。由圖8(a)的本體罩溫度監(jiān)測(cè)曲線可知,本體罩結(jié)構(gòu)溫度在系統(tǒng)運(yùn)行約1200s后達(dá)到30℃的穩(wěn)態(tài)。由圖8(b)的曲線局部放大圖可知,溫控系統(tǒng)的單級(jí)穩(wěn)態(tài)控制精度在±0.05℃內(nèi)。
圖8 本體罩溫度監(jiān)測(cè)曲線Fig.8 Temperature monitoring curve of body cover
統(tǒng)計(jì)儀器的各級(jí)穩(wěn)態(tài)溫度數(shù)據(jù),并將其與加熱型溫控系統(tǒng)下的溫度數(shù)據(jù)進(jìn)行比較,結(jié)果如表4所示。由表4可知,配置主動(dòng)制冷型溫控系統(tǒng)的儀器本體罩溫度下降最為明顯,溫差達(dá)到了-21.00℃,且加速度計(jì)工作環(huán)境溫度能夠降低并穩(wěn)定到43.59℃,處于其適宜溫度范圍內(nèi)。
表4 不同溫控系統(tǒng)下的溫度數(shù)據(jù)比較Table 4 Comparison of temperature data under different temperature control systems
本文從儀器溫度場(chǎng)分析入手,通過(guò)測(cè)量數(shù)據(jù)分析了高溫對(duì)加速度計(jì)輸出誤差及其溫度系數(shù)的影響,對(duì)比了常溫和高溫下加速度計(jì)的長(zhǎng)期穩(wěn)定性水平,并據(jù)此提出了主動(dòng)制冷型溫控系統(tǒng)的控制指標(biāo)。主動(dòng)制冷型溫控系統(tǒng)以加熱片和TEC元件為控制對(duì)象,在外界高溫環(huán)境下能夠?qū)x器的本體罩穩(wěn)態(tài)溫度從51℃降低到30℃±0.05℃,同時(shí)有效降低了慣性器件的工作環(huán)境溫度及溫度變化率,合理控制了溫度場(chǎng)分布。本系統(tǒng)提升了捷聯(lián)式重力儀的可靠性和環(huán)境適應(yīng)性,有助于捷聯(lián)式重力儀在復(fù)雜環(huán)境下開(kāi)展高精度重力數(shù)據(jù)的動(dòng)態(tài)測(cè)量工作,同時(shí)也為優(yōu)化其他類型慣性導(dǎo)航儀器的溫控系統(tǒng)提供了參考方案。