黨威武
(陜西國防工業(yè)職業(yè)技術(shù)學(xué)院智能制造學(xué)院,陜西西安 710300)
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)是近些年發(fā)展起來的一項(xiàng)三維測(cè)量技術(shù),其測(cè)量原理是測(cè)出零件表面點(diǎn)位于空間三個(gè)坐標(biāo)位置的數(shù)值,將這些點(diǎn)的坐標(biāo)值經(jīng)過計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)處理,擬合形成各種測(cè)量元素,經(jīng)過數(shù)學(xué)計(jì)算得出其尺寸、形狀、位置誤差及其他幾何量數(shù)據(jù)的一種測(cè)量方法。在計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展與輔助下,甚至能完成各種復(fù)雜的測(cè)量[1]。具有測(cè)量精度高、效率高及萬能性等特點(diǎn),主要應(yīng)用于機(jī)械、教育、電子、國防等領(lǐng)域,是現(xiàn)代工業(yè)質(zhì)量控制與檢測(cè)的一種新型、高效、精密測(cè)量設(shè)備[2-3]。
納米是長度單位,它是微觀世界研究的核心。納米技術(shù)就是在納米體系(1~100 nm)內(nèi)研究材料及其性能、應(yīng)用,并實(shí)現(xiàn)其特有功能、智能作用的一種先進(jìn)技術(shù)[4]。納米技術(shù)的主要貢獻(xiàn)是物質(zhì)在納米尺度下,將表現(xiàn)出不同于宏觀尺度下的特性,甚至具有宏觀狀態(tài)下物質(zhì)不具有的特征,這些物質(zhì)、材料或器件的新特征、新功能正是科研工作者所關(guān)注的,可見納米技術(shù)具有廣闊的發(fā)展前景。
近些年,隨著納米技術(shù)的發(fā)展,各種器件產(chǎn)品尺寸在微納米范圍內(nèi),如電子器件尺寸已達(dá)到100 nm 范圍,傳統(tǒng)三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)已經(jīng)不能滿足其測(cè)量要求。納米級(jí)測(cè)量精度的檢測(cè)與表征是微型機(jī)械產(chǎn)品等納米尺度制造業(yè)發(fā)展的基礎(chǔ)。
此外,微電子機(jī)械系統(tǒng)技術(shù)發(fā)展迅速,各種特征尺寸位于微納米范圍內(nèi)的微型器件層出不窮,為了保證器件質(zhì)量,對(duì)高精度、納米體系檢測(cè)技術(shù)提出更高要求。掃描隧道顯微鏡、原子力顯微鏡等微納米體系精密檢測(cè)設(shè)備主要用于二維測(cè)量,很難測(cè)量微型器件的三維特征。而傳統(tǒng)三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)由于測(cè)量精度有限,所用探針不能檢測(cè)1 mm 以下器件,無法在納米尺度上研究器件的結(jié)構(gòu)、性能,不能完成微型器件的質(zhì)量控制與檢測(cè)。因此,有必要建立納米級(jí)測(cè)量精度表征手段,高精度、小體積、微納米級(jí)測(cè)量精度三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的探究與發(fā)展勢(shì)在必行,各國科學(xué)家對(duì)納米三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)進(jìn)行了廣泛而深入的研究。
本文簡要?dú)w納和總結(jié)了近些年國內(nèi)外納米三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的研究現(xiàn)狀,分析討論存在的問題,為納米三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的發(fā)展提供研究基礎(chǔ),并對(duì)納米三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的發(fā)展趨勢(shì)進(jìn)行展望。
研究者在傳統(tǒng)三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的基礎(chǔ)上,嘗試多方面改進(jìn),以開發(fā)出具有納米級(jí)測(cè)量精度的三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。
Takamasu 等人[5]首次提出納米三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的相關(guān)概念和基本特征,指出納米三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的技術(shù)指標(biāo)(如分辨率、測(cè)量范圍、測(cè)量精度等)是傳統(tǒng)三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的1/1000~1/100,見表1。
表1 傳統(tǒng)三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)與納米三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的技術(shù)參數(shù)對(duì)比
英國國家物理實(shí)驗(yàn)室設(shè)計(jì)了一種高精度三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)[6-7],其測(cè)量范圍為50 mm×50 mm×50 mm,總體測(cè)量不確定度約50 nm,各軸分辨率為0.3 nm。它是在傳統(tǒng)三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)基礎(chǔ)上,加裝微型平臺(tái)和微型探頭,該微型平臺(tái)具有高精度位移測(cè)量系統(tǒng)。該測(cè)量機(jī)已廣泛應(yīng)用于實(shí)際測(cè)量中,一定程度上促進(jìn)了納米測(cè)試技術(shù)的發(fā)展。
荷蘭Eindhoven 大學(xué)Haitjema 等人[8]研制的新型納米三坐標(biāo)測(cè)量機(jī),采用了三點(diǎn)對(duì)稱式機(jī)臺(tái)設(shè)計(jì),符合阿貝原則。接觸式觸發(fā)探頭直徑0.3 mm,測(cè)量不確定度為25 nm。整機(jī)測(cè)量范圍達(dá)100 mm×100 mm×100 mm,總體測(cè)量不確定度為100 nm,單軸測(cè)量不確定度為100 nm。
瑞士Küng 等人[9]開發(fā)出采用接觸式探頭的超精密微型三坐標(biāo)測(cè)量機(jī),測(cè)量范圍為90 mm×90 mm×38 mm,各軸重復(fù)性誤差低于5 nm。測(cè)量系統(tǒng)與三維工作臺(tái)分離設(shè)計(jì),由于導(dǎo)軌下裝有空氣軸承,避免了振動(dòng)對(duì)測(cè)量的影響,總體測(cè)量精度較好,低于30 nm。
范光照等人[10]研制出微/納米級(jí)三坐標(biāo)測(cè)量機(jī),其測(cè)量精度為30 nm。利用花崗巖材料制作測(cè)量機(jī)平臺(tái),利用壓電材料摩擦驅(qū)動(dòng)與撓性變形原理實(shí)現(xiàn)X/Y 軸的移動(dòng),測(cè)量探頭最佳分辨率達(dá)2.5 nm。文章總體上介紹了一種成本低廉、小型三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的研制過程,對(duì)納米三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的發(fā)展具有一定的參考意義。
天津大學(xué)栗大超課題組[11]基于德國SIOS 公司納米三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)量定位平臺(tái),研制出一種應(yīng)用于納米三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的三維微接觸式測(cè)頭,并對(duì)其進(jìn)行結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和優(yōu)化,如測(cè)頭相關(guān)結(jié)構(gòu)參數(shù)的仿真優(yōu)化,像測(cè)桿、中心連接體等,實(shí)現(xiàn)測(cè)頭較高測(cè)量精度和穩(wěn)定性。
中國航空工業(yè)集團(tuán)公司王霽等人[12]研制了一種高精度干涉儀,能夠應(yīng)用于納米三坐標(biāo)測(cè)量機(jī),使其在測(cè)量過程中具有中大范圍、高精度位移的特性,測(cè)量范圍小于40 mm,分辨率小于0.1 nm。研究發(fā)現(xiàn),該干涉儀克服了雙頻激光干涉儀的缺點(diǎn),結(jié)構(gòu)上具有光學(xué)器件的偏振特性,提高了系統(tǒng)分辨率、抗干擾性能及精度。同時(shí),納米三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)具有很好的測(cè)量重復(fù)性。
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)是現(xiàn)代測(cè)量技術(shù)發(fā)展起來的一種精密測(cè)量設(shè)備,具有高精度、高效率等優(yōu)點(diǎn),能代替多種量具完成各種復(fù)雜測(cè)量。隨著機(jī)械、電子等微型器件產(chǎn)品迅速發(fā)展,納米三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)應(yīng)運(yùn)而生,它具有更高的納米級(jí)測(cè)量精度,能對(duì)各種微型器件進(jìn)行質(zhì)量控制與檢測(cè),以保證產(chǎn)品質(zhì)量,因此,納米三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)備受各國科研工作者的青睞。
納米三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的主體結(jié)構(gòu)、定位及測(cè)量工作臺(tái)設(shè)計(jì)、探頭及檢測(cè)系統(tǒng)等是影響其精度、性能的主要因素,如何降低這些因素的影響是科研工作者不斷研究的主題,這對(duì)開發(fā)高精度、高質(zhì)量的納米三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)具有重要意義。[1]張作鵬,陳學(xué)奎.淺談三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)及其應(yīng)用[J].廣西輕工業(yè),2009(7):53-56.