【作 者】賈東方,金瑋,張尉強,劉義紅,賀飛,鄒金林
1 上海聯(lián)影醫(yī)療科技股份有限公司,上海市,201800
2 上海市第六人民醫(yī)院,上海市,200233
3 上海市醫(yī)療器械檢驗研究院,上海市,201318
4 廣州然因普電子科技有限公司,廣州市,510610
計算機體層成像(computed tomography,CT)是Hounsfield于1969年設計成功的。1971年英國EMI公司與Hounsfield工程師成功研究了第一臺頭部CT掃描機。當前,CT已經發(fā)展到第五代技術,而且掃描成像部位更多,速度更快,圖像分辨率更高,且與磁共振成像、超聲成像、核醫(yī)學成像并列構成影像學的四大檢查手段。
2020年受新冠肺炎的影響,我國對CT的需求量和供給量都快速增長,2020年市場規(guī)模達到258.83億元,同比增長率為14.9%,估計2020年中國CT設備的保有量達29 874臺。未來五年,中國CT市場銷量復合增長率將達到12%,預計2024年中國CT市場銷量將達7113臺,按每臺440萬元計算(綜合考慮現(xiàn)價和通脹因素,經統(tǒng)計,2019年CT平均銷售價格395萬元,按照瑞士百達資產管理未來五年年均通脹率為2.2%的預測,推算2024年CT平均價格預計達440萬元),2024年中國CT設備市場價值將達到313億元。
因此,隨著CT市場規(guī)模的擴大,CT可靠性水平急需提升,這將極大提升產品的利用率,從而降低其耗費成本,一定程度減少了醫(yī)院和病人的支出,具有明顯的社會經濟效益。
常見CT設備由機架、X射線管、高壓發(fā)生器、探測器、配電單元、檢查床(簡稱“病床”)、重建計算機和圖像顯示系統(tǒng)等組成,組成部件較多,系統(tǒng)較為復雜,且涉及機械、電子、電氣、材料、物理等諸多學科,因此,CT的可靠性提升需要通過需求、設計和驗證進行系統(tǒng)性閉環(huán)實現(xiàn)。
現(xiàn)階段,我國仍然存在CT設備資源緊缺的狀況。與國外相比,中國每百萬人口CT擁有量為18.6臺,僅為美國的1/2、日本的1/5。這意味著我國的CT設備面臨著比發(fā)達國家更嚴重的使用負擔,也就面臨著更高的可靠性要求。
CT臨床使用數(shù)據(jù)與醫(yī)院的掃描通量密切相關,考慮到全國醫(yī)療資源分布情況,本研究擬以經濟發(fā)達地區(qū)三甲醫(yī)院的臨床使用數(shù)據(jù)作為參考基線,這便可以覆蓋全國絕大部分醫(yī)院的使用情況。本研究擬以全國綜合排名靠前的上海市第六人民醫(yī)院作為典型代表,這對CT可靠性設計和驗證研究更具廣泛意義。
本研究采用的數(shù)據(jù)從2019.06.21至2021.01.28自然日,按照每年311天工作日(每年約0.852年為工作日)計算,每臺日均掃描病例206例,每臺日均累計掃描時間493 min(8.22 h)。考慮到在CT掃描過程中需要相當?shù)妮o助時間,若每天8.22 h掃描時間則需要至少10 h以上的掃描操作時間,可見,CT設備在使用過程中存在較大的負荷壓力,這對其可靠性要求提出了挑戰(zhàn)。
本研究涉及的CT成像主要有平掃、常規(guī)增強、血管增強三種掃描方式。其中,從掃描病例和掃描時間上看,平掃均在70%以上,占比最大。CT平掃平均單次掃描時間不超過2 min,效率非常高,但這也就意味著病床移動次數(shù)和機架旋轉的啟停次數(shù)相對較多。CT血管增強掃描平均單次掃描時間相對較長,稍微超過7 min。
對于病床、機架這類機械類部件,其失效與運動次數(shù)相關,也就是與掃描病例數(shù)相關。從圖1和表1可以看出,平掃的平均單次掃描時間相對較少,但其掃描病例卻占據(jù)了絕大部分。為了便于分析,本研究將以掃描病例為重點的掃描工況分為平掃和其他掃描。根據(jù)圖2,本研究將平掃和其他掃描的占比近似為0.85:0.15。依據(jù)CT掃描的特點,本研究將較為復雜的血管增強下肢掃描作為典型掃描,便于后續(xù)臨床使用工況的折算。
圖1 CT平均單次掃描時間Fig.1 Average single CT scan time
圖2 CT掃描病例分布 Fig.2 Distribution of CT scanning cases
對于轉子數(shù)據(jù)采集鏈路、靜子采集電路等電子類部件,其失效與掃描時間相關。從圖1和表1可以看出,平掃的平均單次掃描時間明顯較少,其他三種掃描方式即可看做一種掃描類型。為了便于分析,本研究將以掃描時間為重點的掃描工況分為平掃和高強度掃描。根據(jù)圖3,本研究將平掃和高強度掃描的占比分為0.7:0.3。依據(jù)CT掃描的特點,本研究將能量較高的血管增強脊柱掃描作為典型掃描,便于后續(xù)臨床使用工況的折算。
圖3 CT掃描時間分布Fig.3 CT scan time distribution
表1 CT部位掃描分布Tab.1 CT scanning location distribution
3.1.1 可靠性指標需求分解
機械類部件是CT的重要組成部分,主要有病床、掃描固定機架、掃描機架轉子等部件(含X射線管、高壓發(fā)生器等)。這類部件的失效主要與結構應力相關,即主要與掃描的次數(shù)強相關,為此,本研究以CT病床為例,通過臨床使用數(shù)據(jù)探討其可靠性的設計與驗證的閉環(huán)實現(xiàn)方法,進而促進產品可靠性水平的持續(xù)提升。
在CT的使用過程中,病床主要用于完成病人掃描定位的功能。病床由豎直和水平機構兩部分組成,其可進行豎直和水平兩個自由度的運動。從病床的使用特點而知,其壽命主要與掃描病例相關,因此,掃描病例可作為病床壽命設計和驗證的輸入條件。對于平掃掃描,病床通常只需完成單次的升降和水平運動;對于其他掃描,除單次豎直運動外,還需完成3~5次的水平運動(保守計算,取病床完成5次水平運動)。從上述臨床使用數(shù)據(jù)便可計算病床實際單日的載荷次數(shù),詳細計算參見表2。
表2 病床預期壽命載荷計算Tab.2 Calculation of expected life load of patient table
CT平掃和其他掃描的比例為0.85:0.15,即病床每天完成206次升降和329.6次水平運動([0.85+0.15×5]×206=329.6)。通常情況下,大型醫(yī)學影像設備的壽命一般為10年,故假設病床預期壽命為10年,即可推算出病床在該預期壽命期內需滿足640 660次豎直升降運動和 1 025 056次水平運動的需求。
3.1.2 可靠性設計
對于運動部件,其主要為機械強度疲勞失效,因此,病床的結構設計需盡可能降低其工作的應力δ工作。在實際過程中,δ工作最好接近或小于該材料的疲勞強度極限,這可使部件或結構實現(xiàn)高周疲勞壽命周期或永久疲勞壽命周期。
病床結構件材料通常為Q235,屈服強度δb=235 MPa,疲勞強度極限(疲勞強度極限指材料在107循環(huán)次數(shù)下的強度)δ-1=0.25×δb=58.75MPa。根據(jù)Miner理論公式:
N工作為工作循環(huán)次數(shù);N疲勞為疲勞極限下的循環(huán)次數(shù)(這里為107);δ-1為疲勞強度極限;δ工作為工作應力;k為強化系數(shù),鋼材一般取4.5。
為了得到預期工作應力設計值,將式(1)進行轉化得到:
將δ-1=58.75 MPa,k=4.5,N工作豎直=640 660,N工作水平=1 025 056,N疲勞=107代入式(2)可以分別求得,豎直機構的δ工作豎直=108.2 MPa,水平機構的δ工作水平=97.5 MPa。
根據(jù)上述計算可知,在早期的設計或校核時,為了保證10年預期壽命,豎直機構的工作應力不得大于108.2 MPa,水平結構的工作應力不得大于97.5 MPa。由此可見,臨床使用數(shù)據(jù)是產品可靠性設計的輸入條件,其準確性對產品具有重大的影響。
3.1.3 可靠性驗證
病床的可靠性驗證主要為疲勞壽命試驗,通常有常規(guī)載荷和增加載荷試驗兩種。常規(guī)載荷的疲勞壽命試驗的次數(shù)往往與實際工況一致,其通常需要耗時數(shù)周或數(shù)月的時間,這極大制約了產品的驗證效率。增加載荷的疲勞試驗一般稱為加速壽命試驗,其是通過增加試驗時的載荷(應力)來縮短試驗時間(次數(shù))的,這可極大提升產品的驗證效率。
根據(jù)Miner理論,適當提高試驗的載荷(應力)可以縮短試驗時間。在實際的試驗過程中,試驗應力也不可能無限的提高,即其不能超過材料的強度極限。簡而言之,試驗應力δ試驗不能超過其強度極限δb。根據(jù)式(1)改寫得到:
其中,k=4.5,N工作豎直=640 660,N工作水平=1 025 056,δ工作豎直=108.2 MPa,δ工作水平=97.5 MPa,取δ試驗=0.8×δb=0.8×235 MPa=188 MPa,計算可得:
豎直試驗循環(huán)次數(shù)N試驗豎直=53 326,水平試驗循環(huán)次數(shù)N試驗水平=53 402,因此,當提高試驗應力時,試驗的循環(huán)次數(shù)可以得到極大的縮減,這對于開發(fā)進程是十分高效的。同樣,從上述結果看,工作循環(huán)次數(shù)與試驗循環(huán)次數(shù)成正比,而且是加速試驗的必要條件,這說明使用數(shù)據(jù)也是可靠性試驗的輸入條件。
3.2.1 可靠性指標需求分解
電子類部件是CT的另一類重要部件,主要有探測器、轉子數(shù)據(jù)采集鏈路、靜子采集電路等部件。這類部件最核心的部分主要由FPGA和ADC器件構成,其失效主要與溫度相關。由于掃描總時間和單次時間是影響器件溫度的主要因素,為此,此類器件的工況主要分為平掃和高強度掃描兩種。本研究以探測器內部某數(shù)據(jù)采集板(以下簡稱DAS板)為例,基于臨床使用數(shù)據(jù)探討其可靠性的設計與驗證。
DAS板主要用于探測器的數(shù)據(jù)采集,其最核心的器件是位于中央的FPGA器件。對于平掃,由于單次掃描時間相對較短,F(xiàn)PGA的結溫最高為40 ℃。對于高強度掃描,由于單次掃描時間相對較長,F(xiàn)PGA的結溫最高為50 ℃。從上述臨床使用數(shù)據(jù)可知,平掃和高強度掃描的比例為0.7:0.3,日均累計掃描時間約為493 min(8.22 h),便可計算FPGA器件的預期壽命載荷,詳細計算見表3。
表3 DAS板FPGA器件預期壽命載荷計算Tab.3 Calculation of expected life load of FPGA in the DAS
3.2.2 可靠性設計與驗證
電子類產品的設計包含了器件選型和電路設計,器件結溫在不同工況下的量值與電路息息相關,因此,其可靠性設計與驗證往往是迭代進行的。針對DAS板中的FPGA器件,除了合理優(yōu)化電路設計外,選擇較高許用結溫的器件是提高壽命最重要的措施。對于DAS板的FPGA器件,其失效的機理符合阿倫紐斯基本理論。阿倫紐斯公式如下:
ε表示壽命指標,如平均壽命;A為常數(shù);k為玻爾茲曼(Boltzman)常數(shù)(8.167×10-5eV.oC);E為激活能,單位為eV,此處取0.7;T為溫度,此處為芯片的結溫。
將式(5)改寫為加速因子的公式為:
AF為加速因子;k為玻爾茲曼(Boltzman)常數(shù)(8.167×10-5eV.℃);E為激活能,單位為eV,此處取0.7;TA為平掃和高強度掃描下的最高結溫,即分別為40 ℃和50 ℃;TT為加速試驗采用的溫度,這里取85 ℃,低于FPGA器件許用結溫100 ℃。
分別將平掃(最高結溫40 ℃,17 882.5 h)和高強度掃描(最高結溫50 ℃,7681.7 h)兩種工況代入式(6)計算可得,兩種工況下的加速因子AF平掃=26.1和AF高強度掃描=11.7,各自對應的試驗時長為685 h和656.5 h,即總的試驗時長為 1 341.5 h(56 d)。
從上述結果可見,在高強度掃描的工況下,由于FPGA的結溫較高,盡管高強度掃描的工況時間較短,但其加速壽命試驗的時長仍與平掃基本相當。由此可見,高強度掃描同樣對電子類產品壽命的影響較大。
從臨床使用和失效的特點看,CT可分為機械類部件和電子類部件。由于機械類部件失效與產品掃描的病例數(shù)相關,CT掃描可以根據(jù)掃描病例分為平掃和其他掃描。電子類部件失效與掃描時間相關,CT掃描可以根據(jù)掃描時間分為平掃和高強度掃描。對于機械類部件和電子類部件而言,臨床使用數(shù)據(jù)均是可靠性設計與試驗的重要輸入條件,其對CT可靠性水平需求分析、設計及驗證都有著重要的指導意義。此外,對于電子類部件,雖然高強度掃描相對平掃累計時間較短,但是其對電子類部件的壽命影響明顯。