結(jié)合密度峰值和切邊權(quán)值的自訓(xùn)練算法

衛(wèi)丹妮，楊有龍，仇海全，2

1.西安電子科技大學(xué) 數(shù)學(xué)與統(tǒng)計學(xué)院，西安710071

2.安徽科技學(xué)院 信息與網(wǎng)絡(luò)工程學(xué)院，安徽 蚌埠233030

數(shù)據(jù)分類是機器學(xué)習(xí)領(lǐng)域的一個非常活躍的研究方向。傳統(tǒng)的有監(jiān)督分類方法為訓(xùn)練出有效的分類器，往往需要大量的有標(biāo)記樣本。但在實際應(yīng)用中，有標(biāo)記樣本的獲取需要付出較大的代價，不易獲取，而無標(biāo)記樣本的獲取相對較容易。因此，在有標(biāo)記樣本量較少時，有監(jiān)督分類方法難以訓(xùn)練出有效的分類器。在這種情況下，只需少量的有標(biāo)記樣本，并充分利用大量無標(biāo)記樣本的半監(jiān)督分類方法[1-2]引起越來越多的關(guān)注。自訓(xùn)練[3-4]是半監(jiān)督分類中常用的方法之一。首先，用少量有標(biāo)記樣本訓(xùn)練一個初始分類器，并對無標(biāo)記樣本分類。然后，選擇置信度較高的無標(biāo)記樣本及其預(yù)測標(biāo)簽，擴充有標(biāo)記樣本集，并更新分類器。這兩個過程不斷迭代，直至算法收斂。

自訓(xùn)練方法不需要任何特定的假設(shè)，簡單有效，已經(jīng)被廣泛應(yīng)用在文本分類[5]、人臉識別[6]、生物醫(yī)學(xué)[7]等多個領(lǐng)域。但是自訓(xùn)練分類算法也存在一些缺陷，比如分類性能受限制于初始標(biāo)記數(shù)據(jù)集的大小以及它們在整個數(shù)據(jù)集上的分布，對標(biāo)記錯誤樣本的識別改進等。針對自訓(xùn)練方法的缺點，Gan 等人[8]考慮到數(shù)據(jù)集的空間分布，提出用半監(jiān)督模糊c 均值聚類方法來優(yōu)化自訓(xùn)練算法（ST-FCM）。該方法把半監(jiān)督聚類技術(shù)作為一個輔助策略融合到自訓(xùn)練過程，半監(jiān)督聚類技術(shù)能有效地挖掘到無標(biāo)記樣本含有的內(nèi)部數(shù)據(jù)空間結(jié)構(gòu)信息，更好地訓(xùn)練分類器。但模糊c 均值聚類方法不能很好地發(fā)現(xiàn)非高斯分布的數(shù)據(jù)集的空間結(jié)構(gòu)。針對這一問題，Wu 等人[9]提出了基于密度峰值的自訓(xùn)練方法（Self-Training based on Density Peak of data，ST-DP）在ST-DP算法中，數(shù)據(jù)空間結(jié)構(gòu)是用密度峰值聚類[10]的方法發(fā)現(xiàn)的?；诿芏确逯稻垲惖姆椒m然可以有效利用各種數(shù)據(jù)分布的空間結(jié)構(gòu)，但是對一些可視化后有較多重疊樣本的數(shù)據(jù)集，ST-DP的分類效果不好。隨后，Wu等人用差分進化（Differential Evolution，DE）方法來改進自訓(xùn)練算法，提出了基于差分進化的自訓(xùn)練算法（ST-DE）[11]。該方法利用DE算法來優(yōu)化自訓(xùn)練過程中新添加的有標(biāo)記樣本[12]。雖然ST-DE算法解決了樣本重疊的問題，但是優(yōu)化算法在一定程度上帶來了過多的復(fù)雜運算，該方法沒有從根本上解決ST-DP 算法的缺陷。主要原因是在自訓(xùn)練標(biāo)記過程中，那些可視化后重疊的樣本極其容易被標(biāo)記錯誤。而ST-DP 算法將這些錯誤標(biāo)記樣本直接用于后續(xù)迭代標(biāo)記，最終使訓(xùn)練的分類器性能下降。

在ST-DP 算法[9]的基礎(chǔ)上，本文提出了一個基于密度峰值和切邊權(quán)值的自訓(xùn)練方法（Self-Training method based on Density Peak and Cut Edge Weight，ST-DPCEW）。該方法不僅在選擇未標(biāo)記樣本時，利用基于密度聚類的方法發(fā)現(xiàn)數(shù)據(jù)集的潛在空間結(jié)構(gòu)，選出具有代表性的樣本進行標(biāo)簽預(yù)測。更重要的是利用切邊權(quán)值統(tǒng)計方法識別預(yù)測的標(biāo)簽是否正確，并進行修正或重新預(yù)測。切邊權(quán)值和密度峰值聚類一起充分利用樣本空間結(jié)構(gòu)和無標(biāo)記樣本信息，解決了部分樣本被標(biāo)記錯誤的問題，減少迭代過程中的錯誤累積，能有效提高分類器性能。

1 本文算法

本文從自訓(xùn)練過程中被錯誤標(biāo)記的樣本入手來提高自訓(xùn)練半監(jiān)督分類算法的分類準(zhǔn)確率。在ST-DP 基礎(chǔ)上，提出了ST-DP-CEW算法。首先，用密度聚類方法發(fā)現(xiàn)數(shù)據(jù)集的空間結(jié)構(gòu)，可以在每次迭代過程中優(yōu)先選擇有代表性樣本進行標(biāo)簽預(yù)測。然后，用切邊權(quán)值統(tǒng)計方法判斷樣本是否被標(biāo)記正確，用標(biāo)記正確的樣本更新有標(biāo)記集合。上述過程一直迭代，直到所有無標(biāo)記樣本標(biāo)記完全。

1.1 密度聚類發(fā)現(xiàn)數(shù)據(jù)空間結(jié)構(gòu)

聚類是一種典型的無監(jiān)督學(xué)習(xí)方法，聚類的過程可以發(fā)現(xiàn)數(shù)據(jù)空間結(jié)構(gòu)?；诿芏染垲惖姆椒╗10]可以發(fā)現(xiàn)非高斯分布的數(shù)據(jù)集的空間結(jié)構(gòu)，并且可以自動確定簇的個數(shù)。

本文中設(shè)L={(xi,yi)}是有標(biāo)記樣本集，其中xi是訓(xùn)練樣本，yi是它的標(biāo)簽，yi∈{ω1,ω2,…,ωs} ，i=1,2,…,m ，s 是類別數(shù)。U={xm+1,xm+2,…,xn}是無標(biāo)記樣本集。則樣本xi的局部密度定義如下：

其中：

dij為樣本xi和樣本xj的歐式距離，dc被稱為截斷距離，它是一個沒有固定值，與數(shù)據(jù)集本身有關(guān)的常數(shù)[9，13]。顯然，樣本的ρi值等于到xi距離小于dc的樣本個數(shù)。

計算每個樣本xi的ρi值后，找到距離樣本xi最近且有更大局部密度的樣本xj，將xi指向xj，即可找到數(shù)據(jù)集的空間結(jié)構(gòu)。把被指向的樣本xj稱為“下一個”樣本，樣本xi稱為被指向樣本xj的“上一個”樣本。

1.2 切邊權(quán)值統(tǒng)計方法

切邊權(quán)值統(tǒng)計[14]是一個識別和處理錯誤標(biāo)記樣本的方法。首先，為了說明樣本的相似性，在數(shù)據(jù)集上建立一個相對鄰接圖。兩個樣本xi和xj有邊相連，若滿足如下條件：

其中，d(xi,xj)表示樣本xi和xj之間的距離。在鄰接圖中，如果有邊相連的兩個樣本的標(biāo)簽不同，則這條邊被稱為切邊。

直觀上，對于給定的樣本xi，在它鄰域內(nèi)的所有樣本應(yīng)該屬于同一類。因此，如果xi有很多的切邊，即xi鄰域內(nèi)大部分樣本的標(biāo)簽與xi的標(biāo)簽不同，則認(rèn)為它可能被標(biāo)記錯誤。因此，切邊在識別錯誤標(biāo)記樣本中起著重要的作用。對于不同的樣本，它們可能有相同切邊的數(shù)量，但是每條切邊的重要性不同，因此為鄰接圖中的每條邊賦予權(quán)值。設(shè)wij為連接樣本xi和xj的邊的權(quán)值。

最后用假設(shè)檢驗的方法識別樣本xi是否被標(biāo)記錯誤。樣本xi的切邊權(quán)值之和Ji定義如下：

其中：

這里，ni為與樣本xi有邊相連的樣本個數(shù)，yi是樣本xi的標(biāo)簽。如果待檢驗樣本xi的Ji值很大，認(rèn)為該樣本有可能標(biāo)記錯誤。為了進行假設(shè)檢驗，要定義原假設(shè)如下：

H0，鄰接圖中的所有樣本根據(jù)相同的概率分布proy彼此相互獨立地被標(biāo)記。這里proy表示樣本標(biāo)簽為y 的概率。

在原假設(shè)H0下，樣本xi鄰域內(nèi)所有樣本的標(biāo)簽不是yi的概率不超過1-proyi。如果xi的Ji值明顯低于H0下期望，則標(biāo)記正確。否則樣本可能標(biāo)記錯誤。為了做雙邊檢驗，必須首先分析Ji在H0下的分布。在原假設(shè)下，Ii(j)是服從布爾參數(shù)為1-proyi的獨立同分布隨機變量。從而Ji在H0下的期望μ0和方差σ2分別為：

Ji在原假設(shè)H0下服從正態(tài)分布Ji～N(μ0,σ2)，故選用的檢驗統(tǒng)計量為：

則有u～N(0,1)，給定顯著性水平α，可得出拒絕域為：

從而得到切邊權(quán)值之和Ji的拒絕域為：

對于待測樣本xi，如果其Ji值明顯低于在H0下的期望，即在左側(cè)拒絕域，則該樣本標(biāo)記正確，否則有可能標(biāo)記錯誤。用切邊權(quán)值統(tǒng)計方法識別錯誤標(biāo)記樣本的算法主要步驟如下：

步驟1 對樣本集S 建立一個相對鄰接圖，并初始化正確標(biāo)記樣本集T={?}和錯誤標(biāo)記樣本集T′={?}。

步驟2 為鄰接圖中每條邊賦予權(quán)值，計算每個樣本xi的切邊權(quán)值和Ji、原假設(shè)H0下Ji的期望μi和方差δi2。

步驟3 給定顯著性水平α，計算xi的拒絕域。

步驟4 如果Ji值在左側(cè)的拒絕域，則標(biāo)記正確，更新正確標(biāo)記集合T ←T ?xi；如果不在左側(cè)的拒絕域，看它的近鄰樣本，若近鄰樣本全在T 內(nèi)則用大多數(shù)標(biāo)簽標(biāo)記重新標(biāo)記xi，更新T ←T ?xi。否則xi標(biāo)記錯誤，更新錯誤標(biāo)記集合T′←T′?xi。

步驟5 重復(fù)上述步驟，直到所有樣本檢驗完，將數(shù)據(jù)集S 劃分為T、T′。

1.3 權(quán)值的選擇

每條邊的權(quán)值在切邊權(quán)值統(tǒng)計方法中具有很重要的作用。本文中，權(quán)值是先利用每個樣本的最大近鄰距離來標(biāo)準(zhǔn)化鄰域內(nèi)的其他近鄰距離[15]。再計算樣本與每個近鄰樣本標(biāo)簽相同的概率，即為邊的權(quán)值。

設(shè)樣本集{xi,1,xi,2,…,xi,k}是樣本(xi,yi)的k 個鄰接樣本，即它們與xi有邊相連。xi為訓(xùn)練樣本，yi是xi的標(biāo)簽，各個鄰接樣本與xi的距離滿足條件d(xi,1,xi)≤d(xi,2,xi)≤…≤d(xi,k,xi)。用xi的第k 個近鄰樣本距離來標(biāo)準(zhǔn)化前k-1 個鄰接樣本到xi的距離，則標(biāo)準(zhǔn)化后的距離為：

然后將標(biāo)準(zhǔn)化距離轉(zhuǎn)化為xi和樣本xi,j有相同標(biāo)簽的概率P(xi,j|xi)，即為鄰接圖中每條邊的權(quán)值wij。

1.4 基于密度和切邊權(quán)值的自訓(xùn)練算法

由于自訓(xùn)練算法在每步迭代時容易將無標(biāo)記的樣本標(biāo)記錯誤，這些錯誤會參與到下一步迭代中，從而影響分類器的訓(xùn)練，降低算法性能。因此，在自訓(xùn)練過程中，識別標(biāo)記錯誤樣本對算法性能起著重要的作用。識別樣本標(biāo)簽的方法有很多，常見的是基于分類器的過濾方法和基于最近鄰規(guī)則的數(shù)據(jù)剪輯技術(shù)[14]。

基于分類器的過濾方法主要是在每次迭代訓(xùn)練時先把現(xiàn)有的有標(biāo)記樣本集平分成n 個子集，用相同的學(xué)習(xí)算法如C4.5在所有可能的n-1 個子集中訓(xùn)練得到n個不同的分類器。然后用n 個分類器對無標(biāo)記樣本進行分類，根據(jù)一致或多數(shù)投票原則選擇樣本的標(biāo)簽?；谧罱徱?guī)則的數(shù)據(jù)剪輯技術(shù) 主要依賴距離，根據(jù)k個近鄰樣本的標(biāo)簽來判斷待預(yù)測樣本標(biāo)簽是否正確。對于待預(yù)測樣本xi，如果xi的標(biāo)簽和其k 個最近鄰樣本的所有或大多數(shù)標(biāo)簽不一致，則xi標(biāo)記錯誤。

基于分類器的方法對樣本集的劃分和學(xué)習(xí)算法的選取要求極高?；谧罱彽姆椒▽嚯x度量和k 值的選取都需要提前設(shè)定。如果提前選取不當(dāng)會造成判斷錯誤，影響最終的分類效果。而且這兩種方法在識別過程中都沒有利用到無標(biāo)記樣本所攜帶的大量有價值的信息，使得識別的準(zhǔn)確率降低。

切邊權(quán)值統(tǒng)計識別錯誤標(biāo)記樣本的方法不需要預(yù)先設(shè)定任何參數(shù)，也能夠充分利用無標(biāo)記樣本的信息。因此，為提高自訓(xùn)練算法的分類準(zhǔn)確率，本文將切邊權(quán)值統(tǒng)計識別錯誤標(biāo)記樣本的方法融合到ST-DP算法中，提出了ST-DP-CEW算法。該算法先通過密度聚類方法發(fā)現(xiàn)數(shù)據(jù)集的空間結(jié)構(gòu)，利用空間結(jié)果信息在迭代過程中優(yōu)先選取有代表性的無標(biāo)記樣本進行標(biāo)簽預(yù)測，提高了預(yù)測標(biāo)簽的準(zhǔn)確性。然后用切邊權(quán)值統(tǒng)計的方法判斷預(yù)測標(biāo)簽是否正確。將標(biāo)記正確的樣本用于下一次訓(xùn)練。算法的具體步驟描述如下：

步驟1 用密度聚類方法找到整個數(shù)據(jù)集的真空間結(jié)構(gòu)，同時找到了每個樣本xi的“下一個”和“上一個”樣本。

步驟2（1）用KNN 或SVM 作為基分類器，用初始有標(biāo)記樣本集L 訓(xùn)練一個初始分類器；

（2）對L 中所有樣本的“下一個”無標(biāo)記樣本進行標(biāo)簽預(yù)測；

（3）用切邊權(quán)值統(tǒng)計方法識別“下一個”樣本是否標(biāo)記正確，得到正確標(biāo)記的樣本，更新L 和U ，接著更新分類器；

（4）重復(fù)（1）到（3），直到L 的所有“下一個”樣本標(biāo)記完。

步驟3（1）對已更新的L 中所有樣本的“上一個”無標(biāo)記樣本進行標(biāo)簽預(yù)測；

（2）用切邊權(quán)值統(tǒng)計方法識別“上一個”樣本是否標(biāo)記正確，得到正確標(biāo)記的樣本，更新L 和U ，接著更新分類器；

（3）重復(fù)（1）和（2），直到L 的所有“上一個”樣本標(biāo)記完。

顯然，步驟3 和步驟2 類似，只是把步驟2 中的“下一個”換成“上一個”。ST-DP-CEW算法的偽代碼如下：

輸入：有標(biāo)簽樣本集L，無標(biāo)簽樣本集U 。

輸出：分類器C。

1.for L ?U 中每個樣本xido

2.利用公式（1）計算ρi

3.end for

4.找到所有樣本的“下一個”和“上一個”樣本；

5.用L 訓(xùn)練分類器C；

6.令L′為U 中有L 的所有“下一個”樣本集；

7.while L′≠? do

8.用C 對L′中樣本分類；

9.S=L ?L′，T=L，T′=?；

10.在S 中根據(jù)公式（2）建立相對鄰接圖；

11.for L′中的每個樣本xido

12.根據(jù)公式（3）、（4）、（5）計算切邊權(quán)值和Ji以及原假設(shè)H0下Ji的期望μi和方差δi2；

13.給定顯著性水平α，根據(jù)公式（6）、（7）、（8）計算拒絕域W ；

14.if Ji值在左側(cè)拒絕域then

15.T ←T ?xi

16.else if xi鄰域內(nèi)所有樣本在T 中then

17.重新標(biāo)記xi，T ←T ?xi

18.else

19.T′←T′?xi

20.end for

21.更新L 和U ，L ←L ?T ，U ←UT ；

22.更新分類器C；

23.end while

24.令L′為U 中有L 的所有“上一個”樣本集；

25.while L′≠? do

26.用C 對L′中樣本分類；

27.S=L ?L′，T=L，T′=?；

28.for L′中的每個樣本xido

29.根據(jù)公式（3）、（4）、（5）計算切邊權(quán)值和Ji以及原假設(shè)H0下Ji的期望μi和方差δi2；

30.給定顯著性水平α，根據(jù)公式（6）、（7）、（8）計算拒絕域W ；

31.if Ji值在左側(cè)拒絕域then

32.T ←T ?xi

33.else if xi鄰域內(nèi)所有樣本在T 中then

34.重新標(biāo)記xi，T ←T ?xi

35.else

36.T′←T′?xi

37.end for

38.更新L 和U ，L ←L ?T ，U ←UT ；

39.更新分類器C；

40.end while

41.return 分類器C

2 實驗結(jié)果及分析

為了說明算法的有效性，將提出的算法與已有的自訓(xùn)練算法在8 個真實數(shù)據(jù)集上作了對比實驗。數(shù)據(jù)集均來源于KEEL 數(shù)據(jù)庫[16]，相關(guān)信息如表1 所示。對Cleveland 和Dermatology 數(shù)據(jù)集刪除有缺失值的樣本，其余數(shù)據(jù)集不做任何處理。

表1 實驗數(shù)據(jù)集

采用的對比算法有：以KNN、SVM做分類器的傳統(tǒng)自訓(xùn)練算法、基于模糊c 均值聚類的自訓(xùn)練分類算法（ST-FCM）[8]、基于密度峰值的自訓(xùn)練分類算法（ST-DP）[9]和基于差分進化的自訓(xùn)練分類算法（ST-DE）[11]。具體參數(shù)設(shè)置如表2所示。

表2 實驗中相關(guān)算法的參數(shù)設(shè)置

2.1 實驗的實施

采用十折交叉驗證的策略，利用KNN和SVM作為基分類器對數(shù)據(jù)集進行實驗。把其中的一折作為測試集TS，其余九折作為訓(xùn)練集TR。每次實驗都隨機選取訓(xùn)練集中10%的樣本作為初始有標(biāo)記樣本集L，其余的為無標(biāo)記集U 。因此，數(shù)據(jù)集被劃分為有標(biāo)記集L、無標(biāo)記集U 和測試集TS。其中L 和U 共同組成訓(xùn)練集TR。為了確保實驗的準(zhǔn)確性，重復(fù)做十次十折交叉驗證實驗，最后選取十次實驗平均值作為最后實驗結(jié)果。選用分類準(zhǔn)確率（Accuracy Rate，AR）、平均準(zhǔn)確率（Mean Accuracy Rate，MAR）和標(biāo)準(zhǔn)差（SD-AR）作為算法的分類性能的比較標(biāo)準(zhǔn)。計算公式如下：

其中：

這里，f(xi)是樣本xi的預(yù)測標(biāo)簽，NTS是測試集的大小，n 是實驗重復(fù)次數(shù)，MAR 代表算法的分類性能，SD-AR 代表算法的魯棒性。選用MAR±SD-AR作為判斷算法性能好壞的依據(jù)。

表3和表4分別給出了數(shù)據(jù)集以KNN和SVM作為基分類器的實驗結(jié)果，其中加粗的數(shù)據(jù)說明在該算法上分類效果比較好。如表3 和表4 所示，當(dāng)初始標(biāo)記樣本為10%時，在多數(shù)據(jù)集上ST-DP-CEW 的平均分類準(zhǔn)確率明顯優(yōu)于其他對比算法。但是在算法以SVM為基分類器時，ST-DP-CEW 在數(shù)據(jù)集Cleveland 上的分類準(zhǔn)確率基本沒有提高，這主要是由于數(shù)據(jù)集中大部分屬性的數(shù)值接近于0，對同一屬性而言，各樣本差異性較小，導(dǎo)致整體上樣本間差異性小，各類別可區(qū)分性降低，影響最終的分類效果。

2.2 有標(biāo)記樣本比例的影響

另外，分析了初始標(biāo)記樣本比例對算法分類性能的影響，圖1 和圖2 分別給出了基分類器為KNN 和SVM時，幾個算法的平均均分類準(zhǔn)確率在初始標(biāo)記樣本比例為10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%以及50%時的變化趨勢。

從圖1 和圖2 可以看出，在8 個數(shù)據(jù)集上無論是以KNN為基分類器還是以SVM為基分類器，本文提出的算法整體上優(yōu)于其他對比算法。若以KNN作為基分類器，在8個真實數(shù)據(jù)集上本文算法在有標(biāo)記樣本比例極少的情況下平均分類準(zhǔn)確率明顯高于其他對比算法。若以SVM 作為基分類器，在Bupa、Dermatology、Glass、Ionosphere、pima、yeast 這6 個數(shù)據(jù)集上，本文的算法在有標(biāo)記樣本比例極少的情況下平均分類準(zhǔn)確率明顯高于其他對比算法。這是因為ST-DP-CEW在逐步添加無標(biāo)記樣本時，用切邊權(quán)值統(tǒng)計的方法判斷樣本是否被標(biāo)記正確，并進行修正或重標(biāo)記。減少了迭代過程中的樣本標(biāo)記錯誤帶來的負(fù)影響，從而提高了分類準(zhǔn)確率。觀察圖1 和圖2 還可以發(fā)現(xiàn)，隨著初始標(biāo)記樣本比例逐漸增加，ST-DP-CEW 的平均分類準(zhǔn)確率與其他對比算法整體上逐漸接近。這是因為有標(biāo)記樣本數(shù)量比較充足時，這些算法的平均分類準(zhǔn)確率都相對比較穩(wěn)定。提出的算法是基于有標(biāo)記樣本極其少的情況下提出的，主要應(yīng)用于半監(jiān)督分類，更適合在有標(biāo)記樣本比例較低的環(huán)境中進行分類。

表3 基分類器為KNN時的實驗結(jié)果（MAR±SD-AR） %

表4 基分類器為SVM時的實驗結(jié)果（MAR±SD-AR） %

圖1 基分類器為KNN時算法的MAR值與初始標(biāo)記樣本比例的關(guān)系

圖2 基分類器為SVM時算法的MAR值與初始標(biāo)記樣本比例的關(guān)系

3 結(jié)束語

本文從自訓(xùn)練迭代過程中有可能被錯誤標(biāo)記樣本出發(fā)，在ST-DP算法基礎(chǔ)上提出了基于密度峰值和切邊權(quán)值的自訓(xùn)練算法。即將切邊權(quán)值統(tǒng)計識別錯誤標(biāo)記樣本的方法融合到ST-DP 算法中。既考慮了數(shù)據(jù)集的空間結(jié)構(gòu)，又解決了樣本被錯誤標(biāo)記的問題。另外，對鄰接圖中權(quán)值的計算也更好地利用數(shù)據(jù)集的空間結(jié)構(gòu)以及無標(biāo)記樣本所攜帶的信息。在真實數(shù)據(jù)集上充分分析了ST-DP-CEW算法的有效性。特別是在初始有標(biāo)記樣本比例較低的情況下提出的算法較之已有算法，性能上有很大的提升。在后續(xù)工作中，將討論如何更好地構(gòu)建鄰接圖，并在識別過程中引入度量標(biāo)簽錯誤可能性大小的函數(shù)，使標(biāo)簽識別更精確。