何友誼
(湖南文理學(xué)院師范學(xué)院,湖南 常德 415000)
電子產(chǎn)品性能的退化、設(shè)備材料零件的損壞、人體器官結(jié)構(gòu)的病變等問題大都并不是由外力瞬間造成,而是因來自自身或外界的某些因素長期的干擾造成的,想要研究這些因素的影響就需要建立起合適的模型。1969年,Birnbaum 與 Saunders 在研究周期應(yīng)力之下由于疲勞度逐漸累積、裂口進(jìn)一步擴(kuò)展而導(dǎo)致失效的機(jī)器零件的模型時,提出了這種描述產(chǎn)品壽命的新分布,Birnbaum-Saunders疲勞壽命分布[1]從此應(yīng)運(yùn)而生。相比Weibull分布、對數(shù)正態(tài)分布等這類通常適用于描述產(chǎn)品壽命的分布,由于其疲勞失效的基本特征,那些因疲勞導(dǎo)致失效的產(chǎn)品壽命特征用BS分布來表述更貼近。因此,無論是可靠性統(tǒng)計(jì)分析中的疲勞失效研究,還是性能退化評定,該分布模型都運(yùn)用廣泛。又因?yàn)樵摲植嫉膮?shù)估計(jì)相對難度較大,有必要探究簡便而適用的估計(jì)方法,并對其進(jìn)行更進(jìn)一步的分析改進(jìn)與研究,無論在理論研究還是實(shí)際應(yīng)用上都將是意義重大的。
Birnbaum-Saunders 疲勞壽命分布(以下將簡稱BS分布)的分布函數(shù)為
此處,V~N(0,1),α>0為形狀參數(shù),β>0為刻度參數(shù),同時記T~BS(α,β).
BS分布的概率密度函數(shù)為:
BS分布的分布函數(shù)F(t)和概率密度函數(shù)f(t)另可表示為
α,β同上,Φ(x)為標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布N(0,1)的分布函數(shù),φ(x)為密度函數(shù),即
對于BS分布的相關(guān)問題,國內(nèi)外已有不少文獻(xiàn)對其參數(shù)估計(jì)進(jìn)行了研究分析[1-3,6-10]。從上面可以看到,該分布的密度函數(shù)相對復(fù)雜,這樣也對其參數(shù)的估計(jì)問題造成了一定的難度。因此,不少文獻(xiàn)從估計(jì)方法上進(jìn)行了不斷地研究改進(jìn),同時,在 BS 分布模型上,不少文獻(xiàn)也做了一些新的改進(jìn),提出了新的壽命分布族如廣義BS分布等等。
比較典型的,如Leiva等基于廣義 BS 分布族的探討提出新的壽命分析,并運(yùn)用迭代思想得到參數(shù)的MLE與其他推斷,進(jìn)一步進(jìn)行優(yōu)度擬合使得數(shù)據(jù)估計(jì)更優(yōu)異[11];Owen通過放寬獨(dú)立性假設(shè)分別提出全新的兩種廣義三參數(shù) BS分布[12,13],裂縫的擴(kuò)展被重新定義建模,使得這種具有兩個形狀參數(shù)的分布成為了一個靈活性很強(qiáng)的分布。
基于兩參數(shù)BS 壽命分布,通過增加參數(shù)對其進(jìn)行推廣,設(shè)T服從三參數(shù)BS壽命分布T~BS(μ,α,β),令其分布函數(shù)為:
密度函數(shù)為:
其中,μ>0為位置參數(shù),α,β,Φ(x),φ(x)同上。
由于
令
則
聯(lián)系矩估計(jì)的思想方法,構(gòu)建并形成方程組:
若直接求解該方程組,由于其結(jié)構(gòu)相對復(fù)雜,造成不便與困難。
于是,令U=T-1,對u>0
FU(u)=P(T-1≤u)=
即T-1~BS(α,β-1).
于是,可以建立如下矩方程組:
于是有
故得關(guān)于位置參數(shù)μ的超越方程:
即有
基于兩個參數(shù)的Birnbaum-Saunders分布,通過位置參數(shù)μ的增加,新定義了含有三個參數(shù)的BS壽命分布,由于其分布結(jié)構(gòu)的復(fù)雜性,采用矩估計(jì)思想對參數(shù)進(jìn)行了研究分析,豐富了BS分布的相關(guān)理論。當(dāng)然,文中的統(tǒng)計(jì)研究還有一些仍需要不斷完善和進(jìn)一步探討的地方,比如平均剩余壽命分布還未探討,對矩估計(jì)也可進(jìn)行一些隨機(jī)模擬,進(jìn)而確定其精確性方便與其他估計(jì)作比較,也可以適當(dāng)研究參數(shù)的其他估計(jì)方法如區(qū)間估計(jì)等等,這都是今后可以繼續(xù)進(jìn)一步研究的方向。