2021年微電子計量測試技術交流會征文通知

一、會議主題

微電子技術是當代技術革命的先導與核心，微電子技術的發(fā)展，離不開微電子計量與測試技術的保障。一方面，微電子器件的高速發(fā)展及高端測試系統(tǒng)的廣泛應用，給微電子器件參數(shù)的計量與測試帶來了極大的挑戰(zhàn)。另一方面，微電子器件國產(chǎn)化是我國國家發(fā)展戰(zhàn)略，國家集成電路產(chǎn)業(yè)迅速發(fā)展，是我國高質量發(fā)展的重要保障，也帶來了國產(chǎn)化器件參數(shù)的計量與測試新問題、新挑戰(zhàn)。

為加強國內外學術界與工業(yè)界的交流與溝通，深入解析微電子計量與測試的國際化發(fā)展趨勢，促進微電子器件國產(chǎn)化高質量發(fā)展，擬定于2021 年4 月在武漢召開“2021 年微電子計量測試技術交流會”，歡迎相關領域的專家、學者和研究工作者踴躍投稿。

本次會議的主題是“保障微電子器件國產(chǎn)化高質量發(fā)展”，希望本次會議能為國內外從事微電子計量與測試相關行業(yè)的專家、學者建立一個交流、研討的平臺，通過這個平臺來展示和交流國內內微電子計量與測試領域的最新成果、標準和產(chǎn)品，分享微電子器件國產(chǎn)化帶來的計量測試新需求、新成果，促進我國微電子計量與測試技術的發(fā)展，保障我國微電子器件國產(chǎn)化高質量發(fā)展。

二、征文范圍（包括但不限于以下內容）

微電子計量：·微電子計量校準技術·集成電路制造/測試/試驗設備計量技術·特殊環(huán)境下微電子計量測試技術·信息域計量測試技術·綜合電子信息系統(tǒng)計量測試技術元器件測試：·集成電路測試與驗證技術·元器件老煉中測試技術元器件可靠性：·元器件可靠性分析與提升技術·元器件失效分析技術·元器件可靠性試驗與評價技術·環(huán)境試驗/應力篩選試驗技術實驗室體系：·計量綜合管理·實驗室體系管理

三、投稿與出版

1.投稿論文不得涉及國家秘密，請投稿前完成脫密處理。

2.論文不超過5000字，論文題目、作者單位、摘要和關鍵詞應中英文對照；參考文獻不少于10篇，中文參考文獻應附英文翻譯；稿件后請附作者簡介，并提供第一作者的聯(lián)系電話和E-mail 地址（論文格式詳見附件一，電子版可訪問www.709journal.com下載）。

3.請將投稿論文word電子版本發(fā)送到電子郵箱（E-mail：cmmt709@163.com）。

4.會議優(yōu)錄的論文將在《計算機與數(shù)字工程》期刊正式發(fā)表（中國科技核心期刊）。

四、重要日期

投稿截止時間：2020年10月31日；

論文錄用通知：2021年1月31日；

會議召開日期：2021年4月。

五、組織機構

主辦單位：國防科技工業(yè)微電子一級計量站（中國船舶重工集團公司第七〇九研究所）北京航空航天大學可靠性工程研究所

協(xié)辦單位：《計算機與數(shù)字工程》編輯部

六、聯(lián)系方式

聯(lián) 系 人：劉 倩027-81569210/13476020254

周 紅027-87534410/13971447132

傳 真：027-81569333

投稿郵箱：cmmt709@163.com

通信地址：武漢市藏龍島開發(fā)區(qū)藏龍大道709號

郵 編：430205