電子元器件質(zhì)量認證中的計量管理要求

施科標 沈琪

摘 要：質(zhì)量認證是以經(jīng)過確認的相關產(chǎn)品標準為依據(jù)，按規(guī)定的程序和要求對承制方生產(chǎn)線進行體系認證的過程。它由標準的編制及確認、計量管理、產(chǎn)品鑒定、生產(chǎn)線現(xiàn)場認證、合格資格保持等部分組成，本文主要介紹認證過程中計量管理的相關要求。

關鍵詞：電子元器件;質(zhì)量認證;計量管理

引言

近年來，隨著科學技術的逐漸發(fā)展，為電子產(chǎn)品提供有效動力，不斷推出各類產(chǎn)品，可使人們得到良好的體驗。但隨著電子產(chǎn)品的逐漸研究探索，電子元器件的質(zhì)量也問題也不斷出現(xiàn)，影響機械設備的正常使用，難以發(fā)揮自身的作用。為此，針對有關問題，提出一系列的解決方法，強化電子元器件質(zhì)量，加強對各項電子元器件的檢測以及監(jiān)控，合理解決檢測問題，保證電子產(chǎn)品能夠有效運用到電子產(chǎn)品中，達到良好的實用效果。

1元器件質(zhì)量數(shù)據(jù)來源

組件質(zhì)量數(shù)據(jù)源是描述組件可靠性級別和狀態(tài)的各種數(shù)據(jù)，這些數(shù)據(jù)是在組件質(zhì)量保證過程中生成的。這些數(shù)據(jù)可以包括數(shù)字、圖表、曲線等。此數(shù)據(jù)涵蓋零部件的整個生產(chǎn)、選擇、采購、檢驗和使用過程。為了便于數(shù)據(jù)管理，質(zhì)量數(shù)據(jù)分為四大類：基線數(shù)據(jù)、質(zhì)量保證數(shù)據(jù)、質(zhì)量管理數(shù)據(jù)和使用信息，質(zhì)量保證數(shù)據(jù)是核心。生產(chǎn)過程生成基本數(shù)據(jù)，如產(chǎn)品規(guī)格、性能指標、環(huán)境指標、質(zhì)量級別、典型應用信息、EDA模型等。，生產(chǎn)工藝合格率、常規(guī)試驗數(shù)據(jù)、鑒定試驗數(shù)據(jù)、篩選數(shù)據(jù)等，諸如產(chǎn)品變更、新產(chǎn)品更換、停產(chǎn)信息等質(zhì)量管理信息。選擇流程生成質(zhì)量管理信息，如選擇目錄、合格供應商、選擇評估、超級目錄審批等。采購流程生成質(zhì)量管理信息，如采購訂單、技術協(xié)議、供應周期和產(chǎn)品價格。檢查過程生成質(zhì)量保證數(shù)據(jù)，如重復檢查過濾數(shù)據(jù)、DPA數(shù)據(jù)、較低的工廠檢查接收信息、故障分析數(shù)據(jù)、應用檢查數(shù)據(jù)、結構分析數(shù)據(jù)等。;使用過程可以生成使用信息，如裝配信息、故障記錄、故障信息、測試記錄、降容信息等。，并輸出入庫信息、例外發(fā)放、重置信息等質(zhì)量管理數(shù)據(jù)。這些定性數(shù)據(jù)主要來自三個來源：一方面，通過電子封裝對生產(chǎn)廠的關鍵工藝進行檢驗和篩選測試;第二，通過計算機系統(tǒng)（ERP、MES、TDM等）從質(zhì)量保證機構的質(zhì)量保證過程中獲得的數(shù)據(jù)。），主要包括篩選和可靠性測試數(shù)據(jù);三是通過數(shù)據(jù)發(fā)布，從使用單位的選擇性報告、質(zhì)量分析報告和零化報告中獲取使用信息。為了獲得高質(zhì)量的數(shù)據(jù)，還需要優(yōu)化對這些數(shù)據(jù)源的總體控制，驗證數(shù)據(jù)的有效性和真實性，優(yōu)化數(shù)據(jù)可用性，并確定數(shù)據(jù)源的可持續(xù)性和可用性。

2電子元器件檢測中存在的主要問題

電容是電子元器件之一，在機械設備中也具有重要作用，可有效應用在回路、能量轉(zhuǎn)換、電路控制等多方面。在其實際應用過程中，能夠根據(jù)不同需求起到不同作用，其品種相對繁多，如，云母電容、獨石電容、滌綸電容等。在電路中，電容通過交流以此可有效對直流進行直接阻隔，可有效在高頻電路中進行廣泛使用，一般情況下，電容的耐壓通常為Φ6.3V、Φ10V、Φ16V等，其在電動馬達中可有效進行相移、通過自身的能量進行放電，并以此達到直流以及交流相通的效果。因此，其起到的作用相對較大，在日常使用過程中，應當加強對其檢測，重視電容的檢測工作。但是，在對其檢測過程中，通常還會存在著相應的問題，影響電子元器件的檢測結果，其中，在電容檢測時，一般常見的問題有擊穿、參數(shù)陳舊、開路等問題。例如，以擊穿為例，該問題較為常見，也是最主要的問題之一，發(fā)生該問題的原因也相對較多，如，介質(zhì)材料問題、導電離子缺陷、介質(zhì)老化、機械損傷、結構問題等。

3電子元器件質(zhì)量認證中有關計量管理的要求

在電子元器件質(zhì)量認證工作中，明確要求計量管理工作要滿足GJB2712《裝備計量保障中測量設備和測量過程的質(zhì)量控制》相關要求。GJB2712A對測量管理體系，在元器件質(zhì)量認證的計量管理過程中，從測量需求開始，為獲得持續(xù)穩(wěn)定可靠的測量結果，需要從人力、環(huán)境、外部供方、測量設備、測量過程幾方面同時管控。測量設備是測量過程、環(huán)境、人力、外部供方管理的基礎保障。但在認證過程或生產(chǎn)線運行中，經(jīng)常出現(xiàn)設備投入使用后發(fā)現(xiàn)分辨力不夠或設備未經(jīng)過計量確認或確認不合理直接使用，造成設備極限誤差（測量不確定度）不滿足產(chǎn)品工藝要求等情況。下文主要從測量設備的配置和計量確認兩方面簡述計量管理中設備的管控。

4電子元器件二次篩選目標

結合企業(yè)經(jīng)營范圍及產(chǎn)品實際情況，開展二次篩選主要是針對集成電路、微波器件、半導體分立器件等產(chǎn)品進行試驗。第一，集成電路的二次篩選。考慮到設備整機質(zhì)量要求與可靠性需求，工作人員需要對集成電路元器件進行二次篩選，通過試驗操作控制元器件的上機質(zhì)量，以此提升設備的整機品質(zhì)，維護設備的穩(wěn)定運行狀態(tài)。在實際過程中，由于集成電路的大規(guī)模使用及表貼元件的普及，導致二次篩選過程中容易出現(xiàn)一些因素限制問題，比如：測試程序限制問題、器件夾具問題、篩選設備限制問題、表面貼裝要求影響、可焊性因素影響等，這就需要工作人員合理調(diào)整二次篩選工作，解決眼前困難。第二，微波器件的二次篩選。企業(yè)經(jīng)營設備產(chǎn)品中的微波器件主要包括混合器件、源器件，這些微波器件的二次篩選試驗發(fā)展水平較低。舉例分析，在微波晶體管的二次篩選中，由于其結構較為特殊，對電路測試、試驗儀器設備的要求較高，需要工作人員嚴謹操作每一個環(huán)節(jié)，避免出現(xiàn)二次篩選時效的問題。為了在最大程度上保證二次篩選質(zhì)量，工作人員分別根據(jù)隔離器、集成微波組件、環(huán)行器、衰減器等不同的微波器件產(chǎn)品，在產(chǎn)品出廠時進行二次篩選，從根源上避免出現(xiàn)元器件質(zhì)量問題引發(fā)的設備故障，從而提升企業(yè)經(jīng)營水平。第三，半導體分立器件的二次篩選。這是一種較為典型的電子元器件，其二次篩選發(fā)展時間較長，已經(jīng)具備較為成熟的篩選模式與流程。在實際過程中，工作人員結合具體標準，在明確試驗條件之后，嚴格遵循規(guī)范流程，進行二次篩選工作。

5注重運用觀察法

觀察法是電子元件檢測最常用的方法之一，在使用觀察法時，檢測人員可以使用兩種方法，既靜態(tài)觀察法和動態(tài)觀察法，在兩種方法進行選擇時，要根據(jù)檢測電子原件的具體情況進行恰當?shù)倪x擇。一方面，靜態(tài)觀察法在大多數(shù)情況下應用于電子元件斷電的情況下，通過目測的方法主要觀察電子元件是否掉落、是否發(fā)生故障。還能通過觀察判斷線圈的狀態(tài)，從大體上估計是否存在銹蝕損壞等情況。靜態(tài)觀察法的檢測順序是由外到內(nèi)，循序漸進地完成全部的檢測，該檢測方法與萬用表結合起來檢測效果較好，對于檢測電子元件短路，斷線等故障效率較高。同時，在運用靜態(tài)觀察法時要確定重點檢測對象，比如，需要對電子元件的外觀、缺口、標志等問題優(yōu)先檢查，確保所有的電子元件與設備相符合，并且，對元件的檢測需要專門觀察，掌握元件的轉(zhuǎn)動狀態(tài)，電阻類的電子元件需要特別檢查外部的灼燒，斷裂等情況，電感類的電子元件需要特別檢測線圈、引腳等位置，要避免出現(xiàn)銹蝕，斷裂等情況，完成嚴重的損失。

結束語

計量管理工作貫穿元器件生產(chǎn)全過程，準確的測量結果直接影響產(chǎn)品的質(zhì)量，有效的測量管理體系不僅能為元器件生產(chǎn)線的穩(wěn)定運行提供保障，還能推進企業(yè)質(zhì)量管理體系的改進和完善，提高企業(yè)在行業(yè)中的競爭力。

參考文獻：

[1]祝軍生，沙群.國產(chǎn)和進口電子元器件質(zhì)量保證等級研究[J].電子質(zhì)量，2018，{4}（10）：46-50.

[2]王璐，于冠龍，馬永強.淺析航空電子元器件的質(zhì)量控制[J].黑龍江科技信息，2018，{4}（32）：63.

[3]蘇卿.航空電子元器件的質(zhì)量控制措施[J].科技資訊，2018，13（12）：123.