三星采用新思科技Custom Compiler為EUV技術(shù)加速IP設(shè)計(jì)

徐泉

新思科技近日宣布，全球先進(jìn)半導(dǎo)體技術(shù)廠商三星已經(jīng)采用新思科技定制設(shè)計(jì)平臺(tái)，基于Custom Compiler設(shè)計(jì)環(huán)境，為其采用遠(yuǎn)紫外（EUV）光刻技術(shù)的5 nm早期低功耗（LPE）工藝進(jìn)行IP設(shè)計(jì)。為了支持部署，三星和新思科技已經(jīng)共同開發(fā)了針對(duì)該平臺(tái)的模擬/混合信號(hào)（AMS）參考流程，以及5LPE可互操作工藝設(shè)計(jì)套件（iPDK），并且現(xiàn)在能夠提供給三星的客戶使用。這個(gè)參考流程充分利用Custom Compiler的視覺輔助自動(dòng)化技術(shù)，幫助提升開發(fā)者的工作效率，以更快速度完成設(shè)計(jì)。

三星IP開發(fā)團(tuán)隊(duì)副總裁Jongshin Shin表示：“5G、人工智能、高性能計(jì)算和汽車應(yīng)用等日益增長(zhǎng)，推動(dòng)了客戶采用5LPE工藝技術(shù)的需求。為了提升這個(gè)工藝節(jié)點(diǎn)開發(fā)者的效率，我們與新思科技合作開發(fā)AMS參考流程，并為我們自己的內(nèi)部設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)部署這一流程?！?/p>

新思科技定制設(shè)計(jì)平臺(tái)是首款面向三星5LPE工藝并提供AMS參考流程支持的定制設(shè)計(jì)解決方案。這個(gè)定制設(shè)計(jì)平臺(tái)的主要特征包括可靠性感知驗(yàn)證、參數(shù)提取融合技術(shù)和視覺輔助版圖設(shè)計(jì)。可靠性感知驗(yàn)證可以確保進(jìn)行可靠的AMS設(shè)計(jì)，并帶有簽核（Sign-off）精度的晶體管級(jí)EM/IR分析、大規(guī)模蒙特卡洛仿真、老化分析和其他驗(yàn)證檢查。采用StarRC寄生參數(shù)提取的參數(shù)提取融合技術(shù)通過(guò)在版圖設(shè)計(jì)完成之前，支持精確的寄生仿真來(lái)縮短設(shè)計(jì)收斂時(shí)間。視覺輔助自動(dòng)化是一種減少版圖設(shè)計(jì)工作量的開創(chuàng)性方法，尤其適用于先進(jìn)節(jié)點(diǎn)設(shè)計(jì)，它已被證明能夠提升工作效率。

三星已經(jīng)為其內(nèi)部IP設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)部署了基于新思科技定制設(shè)計(jì)平臺(tái)的完整設(shè)計(jì)流程，以便加速5LPE IP設(shè)計(jì)。相同的平臺(tái)也在被新思科技使用，為三星5LPE工藝設(shè)計(jì)業(yè)內(nèi)最廣為使用的經(jīng)過(guò)硅驗(yàn)證的IP，Synopsys DesignWare Library。新思科技的定制設(shè)計(jì)平臺(tái)以Custom Compiler電路設(shè)計(jì)和版圖設(shè)計(jì)環(huán)境為基礎(chǔ)，包含HSPICE，F(xiàn)ineSim SPICE，CustomSim FastSPICE電路仿真；Custom WaveView波形顯示；StarRC寄生參數(shù)提取以及IC Validator物理驗(yàn)證。

5LPE參考流程包含一系列教程，以闡明怎樣利用新思科技定制平臺(tái)來(lái)達(dá)到5 nm電路和版圖設(shè)計(jì)的關(guān)鍵要求。這些教程包含樣例設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)和步驟介紹說(shuō)明，支持完成典型的電路和版圖設(shè)計(jì)任務(wù)。

該參考流程可以通過(guò)三星SAFE計(jì)劃獲取，這項(xiàng)計(jì)劃提供經(jīng)過(guò)廣泛測(cè)試的三星工藝設(shè)計(jì)套件（PDK）和參考流程（附帶設(shè)計(jì)方法）。

新思科技芯片設(shè)計(jì)事業(yè)部產(chǎn)品管理副總裁Aveek Sarkar表示：“在以期利用現(xiàn)有設(shè)計(jì)工具更快取得結(jié)果的需求推動(dòng)下，客戶正在加速轉(zhuǎn)向使用Custom Compiler。此次合作，能夠讓我們共同的客戶，包括三星內(nèi)部IP開發(fā)者，最大限度地提升開發(fā)者的工作效率，并以更快的速度完成設(shè)計(jì)。”