喻鴻亮
(宜賓市第二人民醫(yī)院,四川 宜賓)
在頭顱檢查中,CT 是常見(jiàn)的影像學(xué)檢查方法。然而顱底解剖結(jié)構(gòu)較為復(fù)雜,骨骼形態(tài)缺乏規(guī)則,常規(guī)CT 掃描過(guò)程中容易出現(xiàn)顱底偽影,嚴(yán)重影響圖像質(zhì)量,特別是枕骨內(nèi)粗隆、前顱窩雞冠,且受機(jī)體硬化密度不均勻影響,經(jīng)計(jì)算、重建程序糾正偽影后,檢查結(jié)果仍會(huì)受到影響[1-3]。顱底偽影主要表現(xiàn)為放射狀、條狀的高密度、低密度影,嚴(yán)重影響CT 掃描,對(duì)患者臨床診治造成延誤,影響患者預(yù)后[4]。因此臨床上需要探索一種可消除顱底偽影的CT 檢查方法。我院就CT 薄層掃描在顱底偽影消除中的應(yīng)用效果進(jìn)行探討,詳細(xì)報(bào)道如下所示。
研究對(duì)象從我院2018 年1 月至2019 年1 月治的CT 薄層掃描患者中抽取,且均通過(guò)研究納入標(biāo)準(zhǔn)和排除標(biāo)準(zhǔn),患者共50 例,依次實(shí)施常規(guī)CT 掃描以及CT薄層掃描。男/女為30 例/20 例。年齡23~55 歲,平均(33.12±0.21)歲。腦外傷患者占18 例,腦梗塞患者占15 例,腦腫瘤患者占10 例,高血壓腦出血患者占5 例,腦萎縮占2 例。排除呼吸運(yùn)動(dòng)偽影、體位不正、嚴(yán)重病變患者。
50 例患者均以此開(kāi)展常規(guī)CT 檢查、CT 薄層掃描,設(shè)備選擇產(chǎn)自GE 公司的64 排螺旋CT,時(shí)間設(shè)置為3 s,電壓設(shè)置為120 kV,電流設(shè)置為130 mA,矩陣為512×512?;颊哐雠P,于聽(tīng)眉線至顱頂實(shí)施常規(guī)CT 掃描,層厚為10 mm,層距為10 mm。之后開(kāi)展CT 薄層掃描,層厚為5 mm,層距為5 mm,自聽(tīng)眉線、聽(tīng)眉線上方以層厚5 mm 依次進(jìn)行1 次掃查,之后以層厚2 mm 實(shí)施掃查。顱腦CT 窗寬設(shè)置為80 Hu,窗位設(shè)置為40 Hu。CT 薄層掃描結(jié)束后實(shí)施圖像融合成像,并應(yīng)用圖像處理程序?qū)嵤┒鄬盈B加功能,輸入欲融合成像各薄層掃描圖像采集號(hào),經(jīng)運(yùn)算獲取融合掃描圖像。最后組織2 位閱片人員對(duì)圖像進(jìn)行獨(dú)立查看和分析,閱片人員均為經(jīng)驗(yàn)豐富的放射科醫(yī)師,期間若出現(xiàn)意見(jiàn)不統(tǒng)一,則共同商討并達(dá)成一致。
(1)圖像質(zhì)量。對(duì)兩種檢查方法的圖像質(zhì)量予以評(píng)估和分析。
(2)顱底偽影嚴(yán)重程度。評(píng)估兩種檢查方法的顱底偽影嚴(yán)重程度,分級(jí)標(biāo)準(zhǔn)如下:無(wú)偽影則為0 級(jí);偽影寬度為1~3 mm則為1 級(jí);偽影寬度為3~6 mm 且仍可診斷則為2 級(jí);偽影寬度在6 mm 以上且對(duì)圖像質(zhì)量造成嚴(yán)重影響,無(wú)法診斷,則為3 級(jí)。
應(yīng)用SPSS 15.0 統(tǒng)計(jì)學(xué)軟件,計(jì)量資料用均數(shù)±標(biāo)準(zhǔn)差()表示,計(jì)數(shù)資料用率(%)表示,采用t 和χ2檢驗(yàn),以P<0.05 為差異有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義。
常規(guī)CT 掃描存在較多偽影,顱底病變組織受遮;CT 薄層掃描后經(jīng)圖像融合,顯示基本無(wú)顱底偽影。
偽影嚴(yán)重程度顯示,CT 薄層掃描組0 級(jí)占比高于常規(guī)CT 掃描組,1~3 級(jí)占比低于常規(guī)CT 掃描組,數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)顯示P<0.05,有統(tǒng)計(jì)學(xué)意,見(jiàn)表1。
表1 兩種檢查方法指標(biāo)比較[n(%)]
對(duì)于腦梗塞、腦出血、腦腫瘤等顱腦疾病的診斷,CT 掃描是常見(jiàn)影像學(xué)檢查方法,其可清晰顯示顱內(nèi)病灶位置以及情況,還可監(jiān)測(cè)病灶動(dòng)態(tài)變化,為醫(yī)師的臨床診治提供了有效依據(jù)[5-6]。而在實(shí)際實(shí)施顱底CT 掃描過(guò)程中,也可受到一系列影響因素的干擾,導(dǎo)致成像質(zhì)量受到影響。其中顱底偽影是常見(jiàn)的CT 掃描影響因素,也是醫(yī)學(xué)界遇到的難點(diǎn)之一。在CT 掃描過(guò)程中,掃描圖像在腦橋或小腦之間存在重疊條狀、放射狀影,嚴(yán)重影響掃描圖像質(zhì)量,對(duì)醫(yī)師臨床診治造成干擾。對(duì)于顱底偽影的原因分析,學(xué)者認(rèn)為主要是受高密度結(jié)構(gòu)影響,導(dǎo)致X 線在機(jī)體的硬化程度、密度不均勻,經(jīng)計(jì)算、重建程序?qū)嵤┘m正仍難以解決。另外,受高吸收值臨近骨結(jié)構(gòu)影響也可出現(xiàn)顱底偽影,如亨氏暗區(qū)、巖骨等。
相比常規(guī)CT 掃描,CT 薄層掃描可在圖像上顯示組織間細(xì)微的X 線吸收差,進(jìn)一步提高了密度分辨率,從而使微小病灶以及結(jié)構(gòu)得到清晰顯示。應(yīng)用CT 薄層掃描,可有效消除顱底偽影,結(jié)合圖像融合法,可是高密度顱底骨質(zhì)厚度下降,從而緩解因高密度骨質(zhì)產(chǎn)生的射線硬化性偽影,還可消除因非線性局部體積產(chǎn)生的偽影。CT 薄層掃描空間分辨率高,有效確保了圖像質(zhì)量,可清晰顯示顱底解剖結(jié)構(gòu),操作簡(jiǎn)單,易于推廣。
機(jī)體橫斷面掃描基線包括聽(tīng)眶線、聽(tīng)眥線、聽(tīng)眉線。其中外耳孔上緣到眶下緣相連處為聽(tīng)眶線,通過(guò)對(duì)聽(tīng)眶線進(jìn)行掃描,斷面可經(jīng)過(guò)患者眼窩、中顱凹、后顱凹上方,掃描中空白位置即為前顱凹,無(wú)法顯示患者第四腦室以及枕大孔附近情況。外耳孔以及眼外眥相連處則為聽(tīng)眥線,適合實(shí)施幕下掃描。聽(tīng)眉線則位于眉上緣中點(diǎn)與外耳孔相連處,經(jīng)聽(tīng)眉線實(shí)施CT 掃描,優(yōu)勢(shì)體現(xiàn)在以下幾點(diǎn):(1)標(biāo)志清晰明顯,定位更為準(zhǔn)確;(2)可對(duì)三個(gè)顱凹最低處進(jìn)行掃查,掃描范圍理想;(3)組織結(jié)構(gòu)顯示清晰明確,幕下可清晰顯示第四腦室情況,幕上可清晰顯示基底節(jié)情況[7-8]。
我院研究得出,常規(guī)CT 掃描存在較多偽影,顱底病變組織受遮;CT 薄層掃描顯示基本無(wú)顱底偽影。偽影嚴(yán)重程度顯示,CT 薄層掃描組0 級(jí)占比高于常規(guī)CT 掃描組,1~3 級(jí)占比低于常規(guī)CT 掃描組,數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)顯示P<0.05,有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義。可見(jiàn),相比常規(guī)CT 掃描,CT 薄層掃描的顯示效果更好,顱底偽影消除作用更為明顯。
綜上所述,通過(guò)開(kāi)展CT 薄層掃描,可有效消除顱底偽影,降低顱底偽影嚴(yán)重程度,相比常規(guī)CT 掃描可顯示微小的X線吸收差,成像質(zhì)量好,值得推薦和應(yīng)用。