袁集海,張祥敏,陳昌萍?
(1.廈門大學(xué) 建筑與土木工程學(xué)院,福建 廈門361005;2.廈門理工學(xué)院 土木工程與建筑學(xué)院,福建 廈門361024)
微機電系統(tǒng)(MEMS)因其優(yōu)越的性能而被廣泛應(yīng)用于通訊、航空航天、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域.微板結(jié)構(gòu)是MEMS中主要的結(jié)構(gòu)之一,其主要應(yīng)用于微泵、微鏡和微麥克風(fēng)等.然而,MEMS微板尺寸微小,在工作的過程中抵抗外界因素如:溫度[1]、濕度[2]和微結(jié)構(gòu)之間的微觀力[3-4]影響的能力較差,微板結(jié)構(gòu)會與固定極板發(fā)生吸合現(xiàn)象,簡稱坍塌(Pull-in)[5].近年來國內(nèi)外學(xué)者對微結(jié)構(gòu)的坍塌現(xiàn)象進行了研究并取得了一定的成果.陳昌萍等[6]研究了壓電層合微梁的靜力坍塌特性,并分析了控制電壓對坍塌電壓的影響.Sadeghian等[7]采用微分求積法和伽遼金法對夾支梁的坍塌不穩(wěn)定性進行了分析和對比.考慮幾何非線性,Ghayesh等[8]和Farokhi等[9]研究了靜力驅(qū)動微板結(jié)構(gòu)微機電系統(tǒng)的坍塌特性和非線性動力特性.基于修正偶應(yīng)力理論,Kazemi等[10]研究了層合壓電微板的非線性坍塌不穩(wěn)定性.
以上研究主要基于經(jīng)典彈性理論,研究表明微結(jié)構(gòu)具有尺度效應(yīng)[11].另外,MEMS器件在惡劣的環(huán)境下工作也會出現(xiàn)結(jié)構(gòu)損傷,而目前以具損傷微板結(jié)構(gòu)為對象的研究成果很少見.本文以具損傷彈性微板為研究對象,討論了尺度效應(yīng)、邊緣場效應(yīng)等因素對微板坍塌電壓的影響.
根據(jù)Yang等[12]提出的修正偶應(yīng)力理論,應(yīng)變能可用應(yīng)力和偶應(yīng)力表示為:
式中:σij、mij分別為應(yīng)力張量和偶應(yīng)力張量;εij、χij分別為應(yīng)變張量和旋轉(zhuǎn)梯度張量.分別定義為:
式中:i、j、k=x或y;ui為位移分量;δij為克羅內(nèi)克爾符號;E、G、υ分別為彈性模量、剪切模量和泊松比;l為特征尺度參數(shù);D為損傷變量[13];θi為轉(zhuǎn)動矢量且表示為:
式中:eijk為置換符號.
考慮如圖1所示直角坐標(biāo)系oxyz下的彈性微板,微板中點為坐標(biāo)系原點,其長度為2a,寬度為2b,厚度為h,密度為ρ,初始時刻微板與基底之間的距離為d,且兩者之間的電勢差Vc,參考平面取為微板中面z=0.
圖1 微板模型Fig.1 Schematic of the micro-plate
不考慮幾何非線性,由Kirchhoff假設(shè),微板任意一點的位移u1、u2、u3可分別表示為:
式中:w(x,y,t)為微板撓度.將式(7)代入式(4)(5)可以得到應(yīng)變分量和旋轉(zhuǎn)梯度分量:
由應(yīng)力和偶應(yīng)力引起的彎矩分量為:
用撓度表示為:
式中:D0、Dl分別為傳統(tǒng)彎曲剛度和旋轉(zhuǎn)梯度對彎曲剛度的貢獻.分別表示為:
根據(jù)Hamilton原理,得
式中:T、U、W分別為系統(tǒng)的動能、應(yīng)變能和外力所做的功.且
式中:Fz為電場力(考慮邊緣場效應(yīng)),且
將式(17)~(19)代入式(16)可得到微板的動力學(xué)方程為:
相應(yīng)的邊界條件為:
將彎矩表達式(12)(13)代入式(21)可得到用撓度表示的運動方程為:
引入下列無量綱參數(shù):
式中:V0為單位電壓.
采用泰勒級數(shù)展開對電場力進行處理并保留前8項,將處理后的電場力代入運動方程并進行無量綱化.
MEMS結(jié)構(gòu)廣泛采用夾支邊界[14],本文采用四邊夾支矩形微板,其無量綱邊界條件為:
假設(shè)方程(25)滿足邊界條件(26)的解為:
對方程(25)進行伽遼金積分可得無量綱形式常微分動力學(xué)方程.
若沒有特殊說明,算例中的幾何參數(shù)和物理參數(shù)如表1[15]所示.本文僅研究靜力坍塌,忽略動力項后運動方程為:
表1 微板幾何參數(shù)和物理參數(shù)Tab.1 Geometric and material properties of the micro-plate
為了驗證本文計算方法的合理性,在不考慮損傷和尺度效應(yīng)的情況下,將本文計算結(jié)果與文獻進行對比,對比結(jié)果如圖2所示.從圖2中可以看出,文獻[15]的結(jié)果和文獻[16]的實驗結(jié)果與本文結(jié)果吻合得較好,說明本文的計算方法是可靠的.
圖2 本文結(jié)果與文獻結(jié)果對比Fig.2 Comparison of results between present and literatures
圖3給出了損傷效應(yīng)對板中點撓度和坍塌電壓的影響.其中,圖3(a)給出了不同損傷變量對撓度電壓曲線的影響(l/h=0.5);圖3(b)給出了特征尺度參數(shù)l/h=0.5(本文模型)和l/h=0(經(jīng)典模型)時損傷變量對坍塌電壓的影響.從圖3(a)可知,隨著外電壓的增大,板中點撓度也不斷增大;當(dāng)外電壓達到坍塌電壓時,結(jié)構(gòu)發(fā)生坍塌現(xiàn)象.從圖3(b)可以看出,損傷變量增大,坍塌電壓減小.損傷會導(dǎo)致結(jié)構(gòu)剛度減小,結(jié)構(gòu)抵抗變形能力變?nèi)酰虼颂妷簳S損傷變量增大而減小.根據(jù)坍塌電壓的變化可以從一定程度上識別微板損傷.
圖3 損傷效應(yīng)對板中點撓度和坍塌電壓的影響Fig.3 Damage effect on center deflection and pull-in voltage
圖4給出了尺度效應(yīng)對板中點撓度和坍塌電壓的影響.其中,圖4(a)為不同特征尺度參數(shù)對撓度電壓曲線的影響(D=0.5);圖4(b)為損傷變量D=0.2時本文模型和經(jīng)典模型(l/h=0)坍塌電壓隨特征尺度參數(shù)變化曲線.從圖4可以看出,尺度參數(shù)變大,坍塌電壓也會增大.與損傷效應(yīng)相反,尺度效應(yīng)的存在會增加微板結(jié)構(gòu)的剛度,微板結(jié)構(gòu)抵抗變形的能力增強,因此坍塌電壓增大.基于以上分析可知,尺度效應(yīng)是不可忽視的,尤其是當(dāng)微板厚度較小的時候,微板厚度越小,尺度效應(yīng)越明顯.
圖4 尺度效應(yīng)對板中點撓度和坍塌電壓的影響Fig.4 Size effect on center deflection and pull-in voltage
圖5給出了初始間距對板中點撓度和坍塌電壓的影響.其中,圖5(a)為不同初始間距對撓度電壓曲線的影響(損傷變量和特征尺度參數(shù)分別為0.2和0.5);圖5(b)給出了本文模型(l/h=0.5)和經(jīng)典模型(l/h=0)坍塌電壓隨初始間距變化曲線(損傷變量取0.2).由圖5可知,坍塌電壓隨著初始間距的增大而大幅增加.這是由于在電壓不變的情況下電場力中的系數(shù)α與初始間距的立方d3呈反比.故初始間距增大會急劇減小電場力的大小.
圖5 初始間距對板中點撓度和坍塌電壓的影響Fig.5 Influence of initial gap on center deflection and pull-in voltage
表2給出了邊緣場效應(yīng)對坍塌電壓的影響.由表2可以看出,考慮邊緣場效應(yīng)時的坍塌電壓比不考慮邊緣場效應(yīng)時的坍塌電壓略小.從電場力的表達式(式(20))可知,邊緣場效應(yīng)會提供微結(jié)構(gòu)額外的電場力作用,因此考慮邊緣場效應(yīng)時的坍塌電壓會略微減小.
表2 邊緣場效應(yīng)對坍塌電壓的影響Tab.2 Fringing effect on pull-in voltage
本文通過數(shù)值計算對夾支微板在電場力作用下坍塌特性進行分析,并將所得結(jié)果與文獻結(jié)果進行了對比,驗證了本文模型的合理性,討論了損傷效應(yīng)、尺度效應(yīng)、邊緣場效應(yīng)以及初始間距對微板坍塌電壓的影響.研究結(jié)果表明,損傷效應(yīng)會減小坍塌電壓,而尺度效應(yīng)會增大坍塌電壓,坍塌電壓會隨著初始間距的增大而大幅增加,考慮邊緣效應(yīng)時坍塌電壓會稍微減小但變化不大.本文所得結(jié)果對電致驅(qū)動微板結(jié)構(gòu)設(shè)計具有一定的指導(dǎo)意義.