高 鵬, 楊可明*, 榮坤鵬, 程 鳳, 李 燕, 王思佳
1. 煤炭資源與安全開(kāi)采國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室, 中國(guó)礦業(yè)大學(xué)(北京), 北京 100083 2. 北京師范大學(xué)地理科學(xué)學(xué)部, 北京 100875
近年來(lái), 我國(guó)農(nóng)田土壤重金屬污染形勢(shì)嚴(yán)峻, 污染面積逐漸增大, 污染程度不斷提高[1]。 工業(yè)生產(chǎn)排放、 污水灌溉、 礦產(chǎn)資源開(kāi)采、 農(nóng)藥化肥使用和大氣沉降等是我國(guó)農(nóng)田土壤重金屬污染的主要來(lái)源[2]。 土壤中的重金屬富集后不易分解, 當(dāng)其積累到一定程度后會(huì)污染農(nóng)作物, 破壞農(nóng)作物細(xì)胞結(jié)構(gòu), 影響農(nóng)作物生長(zhǎng)發(fā)育, 降低農(nóng)產(chǎn)品質(zhì)量, 進(jìn)而通過(guò)食物鏈進(jìn)入人體, 危害人體健康[3]。 因此, 快速有效地監(jiān)測(cè)重金屬污染成為研究焦點(diǎn)。 傳統(tǒng)的監(jiān)測(cè)方法步驟繁瑣, 耗時(shí)費(fèi)力, 具有一定的破壞性, 而高光譜遙感具有光譜分辨率高, 波段多, 圖譜合一的優(yōu)點(diǎn), 為實(shí)時(shí)高效監(jiān)測(cè)重金屬污染提供了可能[4]。
目前, 國(guó)內(nèi)外學(xué)者對(duì)利用高光譜遙感監(jiān)測(cè)重金屬污染進(jìn)行了研究。 郭輝[5]等基于一階微分與諧波分析, 構(gòu)建光譜微分差信息熵與諧波振幅診斷玉米銅鉛污染程度; Dunagan[6]等認(rèn)為“紅邊”位置和比值植被指數(shù)能夠較好的判別菠菜葉片汞污染程度; Hede[7]等構(gòu)建綠波短波紅外指數(shù)探測(cè)植被重金屬污染程度, 發(fā)現(xiàn)該指數(shù)監(jiān)測(cè)結(jié)果優(yōu)于歸一化植被指數(shù); 楊可明[8]等基于高階譜和灰度共生矩陣有效地區(qū)分銅、 鉛脅迫下的玉米葉片光譜, 并判別玉米葉片銅、 鉛污染程度。 盡管利用高光譜遙感監(jiān)測(cè)作物重金屬污染已取得一些成果, 但對(duì)不同生長(zhǎng)時(shí)期玉米重金屬污染診斷的研究較少。
相關(guān)分析法是依據(jù)參數(shù)與光譜波段間相關(guān)系數(shù)大小來(lái)提取特征波段的方法, 該方法簡(jiǎn)單易行, 在高光譜數(shù)據(jù)降維和特征波段提取中應(yīng)用廣泛[9]。 最佳指數(shù)法是以最佳指數(shù)因子為評(píng)價(jià)指標(biāo), 選取冗余度小、 信息量豐富波段組合的方法, 但不能保證其選取的波段與參數(shù)之間具有較好的相關(guān)性[10]。 偏最小二乘法是集主成分分析、 典型相關(guān)分析和多元線性回歸分析于一體的多元統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)回歸方法, 能夠消除各變量間多重共線性對(duì)估測(cè)模型的影響, 在光譜數(shù)據(jù)處理方面意義重大[11]。 本研究擬基于銅脅下玉米盆栽實(shí)驗(yàn)所測(cè)的苗期、 拔節(jié)期和穗期葉片光譜數(shù)據(jù), 結(jié)合相關(guān)分析法、 最佳指數(shù)法和偏最小二乘法提取特征波段, 構(gòu)建植被指數(shù)監(jiān)測(cè)玉米重金屬污染, 同時(shí)與紅邊歸一化植被指數(shù)、 改進(jìn)紅邊比值植被指數(shù)、 紅邊植被脅迫指數(shù)和光化學(xué)指數(shù)監(jiān)測(cè)結(jié)果做對(duì)比分析, 驗(yàn)證該指數(shù)在監(jiān)測(cè)重金屬方面的有效性與優(yōu)越性, 以期為識(shí)別診斷作物重金屬污染提供一定的技術(shù)參考。
采用有底漏花盆對(duì)“密糯8號(hào)”玉米種子進(jìn)行培育, 所用土壤含有不同濃度CuSO4·5H2O(分析純)。 盆栽土壤共設(shè)置0, 50, 100, 150, 200, 300, 400, 600, 800, 1 000和1 200 μg·g-1等11個(gè)Cu2+脅迫梯度, 相應(yīng)標(biāo)記為Cu(ck), Cu(50), Cu(100), Cu(150), Cu(200), Cu(300), Cu(400), Cu(600), Cu(800), Cu(1 000)和Cu(1200), 每個(gè)脅迫梯度設(shè)置三組平行實(shí)驗(yàn)。 2017年5月10日進(jìn)行玉米種子催芽并于5月12日種植在盆栽土壤中。 待玉米出苗后向各盆中加入等量的適量的NH4NO3, KH2PO4和KNO3等營(yíng)養(yǎng)液。 培育期間保證所有盆栽生長(zhǎng)環(huán)境一致, 定期澆水通風(fēng)。
1.2.1 光譜數(shù)據(jù)采集
在玉米的苗期、 拔節(jié)期和穗期采集葉片光譜數(shù)據(jù)。 選用美國(guó)SVC HR-1024I地物光譜儀在室內(nèi)采集光譜。 測(cè)量時(shí)以功率為50 W鹵素?zé)糇鳛楣庠矗?光譜儀探頭視場(chǎng)角為25°并垂直于葉片表面5 cm處, 采用專用白板對(duì)光譜反射系數(shù)進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化處理。 測(cè)量過(guò)程中用黑色塑料袋蓋住花盆以防止土壤影響玉米葉片光譜。 在每株玉米老、 中、 新葉片上各測(cè)量三次, 取三次平均值作為最終數(shù)據(jù)。
1.2.2 葉綠素含量測(cè)定
在采集不同生長(zhǎng)時(shí)期玉米葉片光譜的同時(shí), 采用SPAD-502葉綠素儀測(cè)定玉米葉片中葉綠素含量。 在每株玉米老、 中、 新葉片上各測(cè)量三次, 取三次平均值作為最終結(jié)果。
1.2.3 Cu2+含量測(cè)定
測(cè)定穗期玉米葉片中Cu2+含量。 對(duì)玉米葉片進(jìn)行干燥、 沖洗、 微波消解等預(yù)處理后, 在相同的實(shí)驗(yàn)條件下, 采用電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP-OES)測(cè)定葉片中Cu2+含量。
結(jié)合相關(guān)分析法、 最佳指數(shù)法(optimum index factor, OIF)和偏最小二乘法(partial least square method, PLS)構(gòu)建OIF-PLS法提取特征波段, 具體過(guò)程為:
(1)基于相關(guān)分析法初步篩選特征波段
對(duì)不同生長(zhǎng)時(shí)期玉米葉片光譜與葉綠素含量、 穗期玉米葉片光譜與葉片Cu2+含量進(jìn)行相關(guān)性分析, 篩選相關(guān)系數(shù)通過(guò)顯著性檢驗(yàn)(p<0.01)且葉片光譜與葉綠素含量相關(guān)系數(shù)|r|>0.45的波段;
(2)計(jì)算最佳指數(shù)因子
最佳指數(shù)法是依據(jù)波段組合信息量同各波段間相關(guān)系數(shù)之和成反比, 同各波段的標(biāo)準(zhǔn)差之和成正比的基本思想來(lái)提取特征波段的方法, 該方法提取的特征波段所包含信息量大, 冗余度小[11]。 定義最佳指數(shù)因子OIF為
式中:Si為第i波段的標(biāo)準(zhǔn)差,Rij為第i和j兩波段間的相關(guān)系數(shù),r為i和j兩波段的組合數(shù)。
標(biāo)準(zhǔn)差越大表明波段所含信息量越大, 波段間相關(guān)系數(shù)越小表明波段間獨(dú)立性越好, 因此OIF值越大, 表明波段組合所含有的總信息量越大。
(3)OIF-PLS法提取特征波段
以O(shè)IF提取的三個(gè)波段組合為自變量, 對(duì)玉米葉片Cu2+含量進(jìn)行偏最小二乘回歸建模, 計(jì)算均方根誤差(root mean square error, RMSE)。 構(gòu)建指示因子M=OIF/RMSE提取特征波段, OIF越大, RMSE越小, 表明三個(gè)波段組合冗余度低, 信息量大, 且能夠較好地反映Cu2+污染信息, 故指示因子M最大的波段組合即為最佳特征波段。
依據(jù)玉米葉片光譜反射率與葉綠素含量、 葉片Cu2+含量的相關(guān)系數(shù)顯著性檢驗(yàn)初步篩選特征波段, 結(jié)果分別如圖1、 圖2所示, 可以看出, 不同生長(zhǎng)時(shí)期玉米葉片光譜與葉綠素含量在402~718 nm波段范圍內(nèi)顯著負(fù)相關(guān), 在481~712 nm波段范圍內(nèi)相關(guān)系數(shù)達(dá)到0.45; 在500~542, 555~650和683~712 nm波段范圍內(nèi), 穗期玉米葉片光譜與葉片Cu2+含量顯著正相關(guān)。 在紅外波段, 不同生長(zhǎng)時(shí)期玉米葉片光譜與葉綠素含量的相關(guān)系數(shù)差異較大, 穗期葉片光譜與葉片Cu2+含量相關(guān)系數(shù)較低。 綜合分析, 基于相關(guān)系數(shù)初步篩選的波段范圍為500~542, 555~650和683~712 nm。 通過(guò)OIF法和OIF-PLS法對(duì)初步篩選出的169個(gè)波段進(jìn)行最佳特征波段提取, 結(jié)果如圖3和圖4所示, 基于OIF選取的特征波段為602, 711和712 nm, 其最佳指數(shù)因子OIF值為5.459 7; 基于OIF-PLS選取的特征波段為542, 701和712 nm, 其指示因子M值為3.178 6。
圖1 不同生長(zhǎng)時(shí)期玉米葉片光譜反射率與葉綠素含量相關(guān)系數(shù)曲線
Fig.1 Correlation coefficient curve between spectral reflectance and chlorophyll content of corn leaves at different growth stages
圖2 穗期玉米葉片光譜反射率與葉片Cu2+含量相關(guān)系數(shù)曲線
Fig.2 Correlation coefficient curve between spectral reflectance and Cu2+content of corn leaves in spike period
圖3 OIF值分布
將OIF-PLS法提取的波段光譜數(shù)據(jù)作為自變量, 對(duì)玉米葉片Cu2+含量和葉綠素含量進(jìn)行偏最小二乘法回歸建模, 并與OIF法提取的波段光譜數(shù)據(jù)建立的回歸模型進(jìn)行比較, 結(jié)果如表1所示。 從表中可以看出, 由OIF-PLS選取的波段光譜數(shù)據(jù)所建模型決定系數(shù)R2和均方根誤差RMSE均優(yōu)于基于OIF法所建模型, 基于OIF-PLS法提取的特征波段能更好的用于監(jiān)測(cè)重金屬銅污染。
圖4 OIF-PLS指示因子(M)分布
OIFOIF-PLSRMSER2RMSER2苗期葉綠素3.238 60.633 53.015 20.685 5拔節(jié)期葉綠素4.877 20.793 34.781 80.801 3穗期葉綠素5.578 00.666 44.502 70.787 0葉片Cu2+含量2.124 30.103 81.671 10.445 4
為了充分利用542, 701和712 nm三個(gè)特征波段的信息, 便于直接分析特征波段與玉米葉片Cu2+含量、 葉綠素含量和土壤中Cu2+含量的關(guān)系, 構(gòu)建植被指數(shù)
OIFPLSI=(R712-R542)/(R712-R701)
并計(jì)算該指數(shù)及紅邊歸一化植被指數(shù)[12](red edge normalized difference vegetation index, NDVI705)、 改進(jìn)紅邊比值植被指數(shù)[13](modified red edge simple ratio index, mSR705)、 光化學(xué)指數(shù)[14](photochemical reflectance index, PRI)、 紅邊植被脅迫指數(shù)[15](red edge vegetation stress index, RVSI)與玉米葉片中Cu2+含量的相關(guān)系數(shù), 結(jié)果如表2所示。 由表2可見(jiàn), 玉米葉片Cu2+含量與NDVI705, mSR705呈現(xiàn)顯著負(fù)相關(guān)性, 與RVSI, OIFPLSI呈現(xiàn)顯著正相關(guān)性, 與PRI沒(méi)有顯著相關(guān)性, 相關(guān)系數(shù)由大到小依次為OIFPLSI, NDVI705, RVSI和mSR705。 因此認(rèn)為NDVI705, mSR705, RVSI和OIFPLSI均能區(qū)分玉米葉片Cu2+污染程度, 其中OIFPLSI效果最佳。
表2 不同植被指數(shù)計(jì)算方法及其與葉片Cu2+含量的相關(guān)系數(shù)
Table 2 Calculation methods of different vegetation indices and correlation coefficients with Cu2+content in leaves
植被指數(shù)計(jì)算方法相關(guān)系數(shù)NDVI705I1=(R750-R705)/(R750+R705)-0.559 8**mSR705I2=(R750-R445)/(R705+R445)-0.385 9**RVSII3=((R712+R752)/2)-R7320.399 2**PRII4=(R531-R570)/(R531+R570)-0.077 8OIFPLSIOIFPLSI=(S712-R542)/(R712-R701)0.675 5**
注:n=88, **表示在0.01水平上顯著相關(guān)
圖5為玉米老、 中、 新葉片OIFPLSI與葉片Cu2+含量的相關(guān)關(guān)系, 相關(guān)系數(shù)均通過(guò)顯著性檢驗(yàn), 相關(guān)性由高到低依次為新葉、 中葉、 老葉。 新葉OIFPLSI與葉片Cu2+含量的相關(guān)性優(yōu)于中葉、 老葉可能是因?yàn)椋?Cu2+是玉米生長(zhǎng)所需的微量元素, 優(yōu)先向新葉運(yùn)輸來(lái)滿足生長(zhǎng)需要[16], 因而光譜特征表現(xiàn)較為明顯。
圖5 老、 中、 新葉片OIFPLSI與Cu2+含量相關(guān)關(guān)系
土壤中的Cu2+被植物根系吸收后, 過(guò)量的Cu2+會(huì)影響植物酶的活性, 破壞葉綠體結(jié)構(gòu), 使得葉綠素的氧化分解速度加快; 同時(shí), Cu2+會(huì)取代植物葉綠體內(nèi)的Mg2+, Fe2+等離子, 影響光合作用, 從而降低葉綠素含量。 圖6、 圖7分別為不同生長(zhǎng)時(shí)期玉米葉片OIFPLSI與葉綠素含量、 土壤中Cu2+含量的相關(guān)關(guān)系。 分析發(fā)現(xiàn), 苗期、 拔節(jié)期和穗期玉米葉片OIFPLSI均與葉綠素含量成負(fù)相關(guān)關(guān)系, 與土壤Cu2+含量成正相關(guān)關(guān)系, 且相關(guān)系數(shù)均通過(guò)0.01極顯著檢驗(yàn)水平, 即隨著土壤中Cu2+含量的增大, 葉綠素含量隨之降低, 葉片OIFPLSI值隨之增大。 不同生長(zhǎng)時(shí)期葉片OIFPLSI與葉綠素含量的相關(guān)性高低依次為拔節(jié)期、 苗期、 穗期, 與土壤中Cu2+含量的相關(guān)性高低依次為拔節(jié)期、 穗期、 苗期。
圖6 OIFPLSI與葉綠素含量相關(guān)關(guān)系
圖7 OIFPLSI與土壤Cu2+含量相關(guān)關(guān)系
相關(guān)研究表明, 植物與Cu2+作用時(shí), 根部首先接觸Cu2+并分泌有機(jī)物與Cu2+結(jié)合成穩(wěn)定的化合物, 阻止Cu2+向莖葉轉(zhuǎn)運(yùn)。 過(guò)量Cu2+富集在根部, 抑制酶活性, 影響銨根離子轉(zhuǎn)化, 進(jìn)而損傷根部組織, 影響植物生長(zhǎng)。 逐漸地, 根部吸附固定Cu2+能力減弱, Cu2+向莖葉運(yùn)輸不斷增加。 在此過(guò)程中, 隨著植物的生長(zhǎng), 植物的氧化系統(tǒng)和滲透調(diào)節(jié)系統(tǒng)等會(huì)做出一定的反映緩解重金屬傷害[17-18]。 拔節(jié)期葉片OIFPLSI與土壤中Cu2+含量的相關(guān)性優(yōu)于苗期和穗期可能是因?yàn)椋?玉米幼苗時(shí)期, Cu2+主要集中在根部, 隨著玉米的生長(zhǎng), 根部吸收Cu2+減少, Cu2+向莖葉轉(zhuǎn)運(yùn)增多, 大量的Cu2+影響葉綠素合成, 破壞細(xì)胞結(jié)構(gòu), 從而在拔節(jié)期葉片光譜上有較明顯的表現(xiàn); 穗期玉米抗氧化能力和調(diào)節(jié)能力都有所增強(qiáng), 使得Cu2+對(duì)玉米的傷害有所降低, 因而Cu2+對(duì)玉米的影響在光譜上的表現(xiàn)有所減弱。
為了驗(yàn)證指數(shù)OIFPLSI的穩(wěn)定性和適用性, 采用在相同的實(shí)驗(yàn)方法下獲取的2014年和2016年數(shù)據(jù)對(duì)OIFPLSI進(jìn)行驗(yàn)證, 結(jié)果如圖8所示。 從結(jié)果來(lái)看, OIFPLSI與葉片Cu2+含量的相關(guān)系數(shù)為0.847 0, 相關(guān)性通過(guò)顯著性檢驗(yàn), 表明OIFPLSI在監(jiān)測(cè)玉米重金屬銅污染方面具有一定的穩(wěn)定性與有效性。
圖8 OIFPLSI與葉片Cu2+含量相關(guān)關(guān)系
為監(jiān)測(cè)重金屬污染, 結(jié)合相關(guān)分析法、 最佳指數(shù)法和偏最小二乘構(gòu)造OIF-PLS法提取反映重金屬污染信息的特征波段。 基于不同濃度Cu2+脅迫下玉米盆栽實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù), 提取了542, 701和712 nm為反映玉米葉片Cu2+污染信息的最佳特征波段, 并利用3個(gè)特征波段構(gòu)建植被指數(shù)OIFPLSI。 植被指數(shù)OIFPLSI與玉米葉片中Cu2+含量顯著正相關(guān), 相關(guān)性優(yōu)于紅邊歸一化植被指數(shù)、 改進(jìn)紅邊比值指數(shù)、 紅邊植被脅迫指數(shù)和光化學(xué)指數(shù)等常規(guī)指數(shù); 玉米不同生長(zhǎng)時(shí)期葉片的OIFPLSI與葉片葉綠素含量、 土壤中Cu2+含量存在顯著相關(guān)關(guān)系。 利用不同年份的數(shù)據(jù)對(duì)OIFPLSI進(jìn)行驗(yàn)證, 結(jié)果表明OIFPLSI具有一定的穩(wěn)定性和適用性。 研究結(jié)果為利用高光譜遙感監(jiān)測(cè)重金屬污染提供了一定的技術(shù)支持。