TFT-LCD畫面閃爍影響因子及定量分析方法

朱海鵬，吳海龍，但 藝，冉 敏，周 歡，付劍波，周 焱，閔泰燁

(京東方科技集團(tuán)股份有限公司 重慶京東方光電科技有限公司，重慶 400700)

1 引 言

隨著當(dāng)今社會(huì)的發(fā)展，各行各業(yè)如電視、筆記本電腦、手機(jī)等智能終端對(duì)顯示屏的依賴越來越重，人們對(duì)顯示產(chǎn)品畫面品質(zhì)的要求也越來越高，因此品質(zhì)優(yōu)異的顯示屏顯得格外重要。液晶顯示屏(TFT-LCD)為當(dāng)今社會(huì)最主流的顯示產(chǎn)品，畫面閃爍(Flicker)是衡量其顯示品質(zhì)的重要指標(biāo)之一，如何降低甚至消除閃爍是業(yè)界研究人員一直追求的目標(biāo)[1-4]。

液晶顯示屏以交流電(直流會(huì)使液晶劣化)進(jìn)行工作，工作時(shí)若正負(fù)幀像素電壓與參考電壓Vcom的差值不完全對(duì)稱，會(huì)引起正負(fù)幀像素電壓絕對(duì)值不一致，從而導(dǎo)致正負(fù)幀畫面亮度不同，因此呈現(xiàn)出閃爍現(xiàn)象[5-7]。目前，業(yè)內(nèi)多以閃爍_G127畫面來進(jìn)行評(píng)價(jià)或改善閃爍，實(shí)際工作中普遍采用調(diào)節(jié)共電極電壓Vcom來改善正負(fù)幀電壓對(duì)稱性，從而達(dá)到改善閃爍目的。然而，不同灰階閃爍水平不同，僅以閃爍_G127調(diào)節(jié)閃爍并不能將顯示器調(diào)至最佳，目前業(yè)界還沒有可預(yù)測(cè)不同灰階閃爍水平的定量分析方法。另外，研究結(jié)果表明，隨著VGH、VGL的變化，最佳閃爍及其對(duì)應(yīng)的最佳Vcom也會(huì)跟著變化[8-10]。

本文針對(duì)閃爍發(fā)生機(jī)理，首先研究了Vcom對(duì)閃爍的影響，結(jié)果表明隨著Vcom增加，閃爍先減小后增大。其次研究了不同灰階最佳閃爍及對(duì)應(yīng)Vcom關(guān)系，結(jié)果表明常白模式產(chǎn)品閃爍灰階增加時(shí)，最佳閃爍及對(duì)應(yīng)Vcom均呈減小趨勢(shì)，而常黑模式產(chǎn)品閃爍灰階增加時(shí)，最佳閃爍逐漸減小，但最佳閃爍對(duì)應(yīng)Vcom逐漸增加。再次，研究了VGH對(duì)閃爍的影響，結(jié)果表明，隨著VGH增加，閃爍先減小后增大，同一畫面最佳閃爍幾乎保持不變，但不同VGH最佳閃爍對(duì)應(yīng)Vcom呈逐漸減小趨勢(shì)。最后，研究了VGL對(duì)閃爍影響，結(jié)果表明隨著VGL增加，閃爍先減小后增大，且同一畫面最佳閃爍也逐漸減小，但最佳Vcom逐漸增大。另外，提出了一種可以預(yù)測(cè)不同灰階閃爍水平的分析方法。結(jié)果表明，該分析方法計(jì)算所得閃爍與CA310(色彩分析儀)測(cè)試閃爍值趨勢(shì)一致，常白模式與常黑模式產(chǎn)品計(jì)算值與實(shí)際測(cè)試值線性相關(guān)系數(shù)均達(dá)0.95以上，說明了該分析方法有一定的準(zhǔn)確性，為定量分析不同灰階閃爍水平提供了科學(xué)依據(jù)。

2 閃爍產(chǎn)生機(jī)理分析

2.1 ΔVp產(chǎn)生機(jī)理

決定TFT開關(guān)品質(zhì)的一個(gè)重要因素是TFT柵極金屬和源極金屬之間的寄生電容Cgs，一般把TFT連接像素電極的一側(cè)設(shè)定為源極。由于TFT的開關(guān)接近瞬態(tài) ，當(dāng)柵極電壓Vgs從高電平的VGH瞬間下降到低電平的VGL時(shí)，Vgs的變化量ΔVgs被TFT寄生電容Cgs耦合到像素電極上，導(dǎo)致像素電壓Vp跳變，跳變量為ΔVp，由于ΔVp的存在，像素電壓變?yōu)?Vp-ΔVp)。

圖1(a)與圖1(b)分別為TFT關(guān)斷前后瞬間的像素電極相關(guān)電壓和電量的關(guān)系，其中，Vg1和Vg2分別對(duì)應(yīng)像素上下相連的兩根掃描線電壓，Vd1和Vd2分別對(duì)應(yīng)像素左右相連的兩根數(shù)據(jù)線電壓，Cdp1和Cdp2分別表示像素電極和左右相連兩根數(shù)據(jù)線之間的耦合電容，Cst和Clc分別表示存儲(chǔ)電容和液晶電容[11-12]。由于TFT關(guān)斷后，像素電極與周邊是獨(dú)立的，像素電極在充放電時(shí)間內(nèi)接收的總電荷被保存起來。

TFT關(guān)斷瞬間的像素總電荷守恒，所以圖1(a)所示的總電荷和圖1(b)所示的總電荷相等：

Qst+Qlc+Qdp1+Qdp2，

(1)

Q′st+Q′lc+Q′dp1+Q′dp2.

(2)

TFT開啟時(shí)，Gate電壓為VGH，各電容的電荷分布分別表示為：

Qst=Cst(Vp-VGL)，

(3)

Qlc=Clc(Vp-Vcom)，

(4)

Qdp1=Cdp1(Vp-VdH)，

(5)

Qdp2=Cdp2(Vp-VdL)，

(6)

(a)TFT關(guān)斷前瞬間(a)Moment before TFT turn-off

(b)TFT關(guān)斷后瞬間(b)Moment after TFT turn-off圖1 TFT關(guān)斷前后瞬間的像素電極相關(guān)電壓和電量的關(guān)系Fig.1 Relation ship between the voltage and power of pixel electrode before and after TFT turn-off

Qgs=Cgs(Vp-VGH).

(7)

TFT關(guān)閉時(shí)，Gate電壓為VGL，各電容電壓分布分別表示為：

Q′st=Cst(V′p-VGL)，

(8)

Q′lc=Clc(V′p-Vcom)，

(9)

Q′dp1=Cdp1(V′p-VdH)，

(10)

Q′dp2=Cdp2(V′p-VdL)，

(11)

Q′gs=Cgs(V′p-VGL).

(12)

將公式(3)～(12)帶入公式(1)和公式(2)，得：

(13)

上式中：Cdp1+Cdp2遠(yuǎn)小于Cst+Clc，實(shí)際計(jì)算時(shí)可忽略，一旦產(chǎn)品設(shè)計(jì)生產(chǎn)完成Cst也為定值，則變化量為Cgs、Clc、VGH、VGL，本文后續(xù)研究工作基于Clc、VGH、VGL以及Vcom展開。

2.2 閃爍產(chǎn)生機(jī)理

LCD以電壓大小來控制液晶站起角度從而來控制亮度，且液晶以交流方式驅(qū)動(dòng)，如圖2所示，若Vcom值未調(diào)好，由于ΔVp的存在，相當(dāng)于在液晶層內(nèi)施加直流電壓，則Vp+≠Vp-，導(dǎo)致正負(fù)幀亮度存在差異，從而發(fā)生閃爍等現(xiàn)象，進(jìn)而縮短液晶壽命，因此，有抵消突變電壓ΔVp的必要。為了抵消突變電壓ΔVp那一部分，把公共電壓Vcom變成變量(可以調(diào)節(jié))。

圖2 像素電壓變化示意圖Fig.2 Diagram of pixel voltage change

2.3 閃爍評(píng)價(jià)方法

TFT-LCD 閃爍評(píng)價(jià)首先要根據(jù)產(chǎn)品驅(qū)動(dòng)模式選擇相應(yīng)的閃爍畫面，如采用1 Dot或者1+2 Dot，顯示畫面同一幀只顯示同一極性的像素，這樣可以保證正負(fù)幀像素極性相反，使正負(fù)幀亮度差異最大。研究人員通常會(huì)選擇人眼比較敏感的綠色畫面和亮度變化較敏感的L127灰階進(jìn)行閃爍評(píng)價(jià)。

視頻電子標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會(huì)VESA(Video Electronics Standards Association)標(biāo)準(zhǔn)中閃爍測(cè)試方法一般有兩種：JEITA測(cè)試法和FMA測(cè)試法[13]。

JEITA測(cè)試法是將顯示屏的刷新頻率調(diào)整到工作狀態(tài)時(shí)的頻率，采用頻譜儀和光電轉(zhuǎn)換設(shè)備，測(cè)試一幀內(nèi)亮度隨時(shí)間的變化曲線F(t)，通過快速傅里葉變換，將其轉(zhuǎn)換為亮度隨頻率的變化曲線F(ω)。接著，取與被測(cè)樣品相同頻率下的F(ω)，如取F60Hz和直流下的F0Hz，再對(duì)F(ω)/F0Hz取對(duì)數(shù)，結(jié)果即為閃爍值，公式表達(dá)為

(14)

(15)

FMA(Flicker Modulation Amplitude，F(xiàn)MA)測(cè)試法的測(cè)試條件同JEITA法一樣，通過光電轉(zhuǎn)換器將亮度轉(zhuǎn)換為調(diào)幅的電信號(hào)，讀取電壓波形最大值Vmax和最小值Vmin，并定性認(rèn)為(Vmax-Vmin)為交流成分，(Vmax+Vmin)/2為直流成分，則閃爍的表達(dá)式為

(16)

本文實(shí)驗(yàn)研究需要外灌Vcom、VGH、VGL，為方便操作，本文采用CA310用FMA法測(cè)試閃爍值。

3 實(shí) 驗(yàn)

3.1 樣品與設(shè)備

試驗(yàn)樣品：14.0FHD TN(常白模式)1 pcs、32HD ADS(常黑模式)1 pcs；

實(shí)驗(yàn)設(shè)備：臺(tái)式電腦、精測(cè)點(diǎn)燈機(jī)、CA310、直流電源、數(shù)字萬用表、電烙鐵、導(dǎo)線若干。

3.2 實(shí)驗(yàn)過程

本文所選樣品包括常白模式和常黑模式產(chǎn)品。由于低灰階時(shí)(如Flicker_G0、Flicker_G4)亮度太低，CA310無法采集到閃爍值，本文實(shí)驗(yàn)研究均從32灰階開始。

不同Vcom對(duì)閃爍影響實(shí)驗(yàn)需要根據(jù)電路圖將Vcom外接直流電源，利用電腦自動(dòng)控制Vcom值變化(Step為0.01 V)，并實(shí)時(shí)采集每個(gè)Vcom對(duì)應(yīng)的閃爍值，根據(jù)測(cè)試結(jié)果可以找到閃爍與Vcom對(duì)應(yīng)關(guān)系，通過測(cè)試不同灰階閃爍與Vcom關(guān)系曲線，可以得到各灰階最佳閃爍與對(duì)應(yīng)Vcom的關(guān)系。不同VGH、VGL對(duì)閃爍影響實(shí)驗(yàn)，需要將VGH、VGL(Step為0.01 V)分別外接直流電源，進(jìn)行單因子實(shí)驗(yàn)分析，根據(jù)結(jié)果，可以分別得出閃爍與VGH、VGL對(duì)應(yīng)關(guān)系。另外，VGH、VGL調(diào)整時(shí)，通過調(diào)節(jié)Vcom使閃爍達(dá)到最佳，可以得到不同VGH、VGL對(duì)應(yīng)最佳閃爍與Vcom關(guān)系。

不同灰階閃爍水平分析方法需要結(jié)合產(chǎn)品V-T(電壓-透過率)曲線及不同灰階實(shí)際ΔVp進(jìn)行計(jì)算，計(jì)算結(jié)果與CA310實(shí)測(cè)閃爍值線性相關(guān)性分析結(jié)果可以驗(yàn)證分析方法的準(zhǔn)確性。

4 實(shí)驗(yàn)結(jié)果與討論

4.1 Vcom對(duì)閃爍影響

實(shí)驗(yàn)分別基于14.0FHD TN與32HD ADS兩種不同顯示模式產(chǎn)品，分別將Vcom外灌連接至直流電源，通過軟件控制Vcom變化并實(shí)時(shí)采集每個(gè)Vcom下的閃爍值，實(shí)驗(yàn)結(jié)果如圖3所示。

圖3 閃爍與Vcom關(guān)系曲線Fig.3 Flicker vs.Vcom

實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，隨著Vcom的增加，閃爍先減小后增大(呈“V”型關(guān)系)。這是因?yàn)殡S著Vcom增加，正負(fù)幀電壓中心與Vcom差值先減小后增大，當(dāng)正負(fù)幀電壓中心與Vcom差值最小時(shí)閃爍達(dá)到最佳(曲線最低點(diǎn))。

4.2 不同灰階最佳閃爍與Vcom關(guān)系

實(shí)驗(yàn)分別測(cè)試了兩種顯示模式產(chǎn)品不同灰階最佳閃爍隨Vcom變化關(guān)系，結(jié)果如圖4所示。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，常白模式產(chǎn)品隨著灰階升高最佳閃爍及對(duì)應(yīng)Vcom均逐漸減小，而常黑模式產(chǎn)品最佳閃爍逐漸減小，但對(duì)應(yīng)Vcom逐漸增加。

常白模式產(chǎn)品ΔVp隨著灰階增大逐漸增大(Vcom負(fù)移)，從而引起正負(fù)幀亮度差增大，但畫面平均亮度隨灰階增加也呈增加趨勢(shì)(主要因素)，綜合導(dǎo)致最佳閃爍減?。欢：谀Ｊ疆a(chǎn)品灰階增加時(shí)ΔVp逐漸減小(Vcom正移)，從而引起正負(fù)幀亮度差逐漸減小，且由于畫面平均亮度也呈增加趨勢(shì)，故最佳閃爍逐漸減小。

圖4 不同灰階最佳閃爍及對(duì)應(yīng)VcomFig.4 Optimum flicker and corresponding Vcom with different gray level

4.3 VGH對(duì)閃爍影響

實(shí)驗(yàn)中將VGH電壓外接至直流電源，VGL與Vcom保持不變，分別測(cè)試常白模式及常黑模式產(chǎn)品不同VGH電壓下的閃爍值，結(jié)果如圖5所示，表明VGH對(duì)閃爍有顯著影響。分析原因?yàn)椋旱谝浑A段，VGH較低時(shí)，一方面ΔVp隨VGH增加而增大，另一方面VGH較低時(shí)，像素未完全充滿，正負(fù)幀亮度差較大(主要因素)，隨著VGH增加，像素逐漸充滿，正負(fù)幀亮度差減小，此階段閃爍隨VGH增加而減小；第二階段，VGH增大到一定程度，像素已完全充滿，此時(shí)ΔVp隨著VGH增加而增大，從而引起正負(fù)幀亮度差增大，即閃爍增大。

圖5 閃爍與VGH關(guān)系曲線Fig.5 Flicker vs.VGH

實(shí)驗(yàn)還研究了兩種模式產(chǎn)品不同VGH電壓最佳閃爍及對(duì)應(yīng)Vcom關(guān)系，圖6所示實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明VGH增加，最佳閃爍幾乎不變，但對(duì)應(yīng)Vcom逐漸減小，故VGH電壓變化時(shí)，可以通過調(diào)節(jié)Vcom使閃爍達(dá)到最佳。

圖6 不同VGH最佳閃爍及對(duì)應(yīng)VcomFig.6 Optimum flicker and corresponding Vcom with different VGH

4.4 VGL對(duì)Flicker影響

實(shí)驗(yàn)中將VGL電壓外接至直流電源，VGH與Vcom保持不變，分別測(cè)試常白模式及常黑模式產(chǎn)品不同VGL電壓下的閃爍值，結(jié)果如圖7所示，表明VGL對(duì)閃爍有顯著影響。分析原因?yàn)椋旱谝浑A段，VGL從-2 V逐漸減小至最低點(diǎn)(約-8 V)時(shí)，雖然ΔVp逐漸增大，但此時(shí)TFT的Ioff逐漸減小(主要因素)，像素電壓具有更好的保持特性，從而引起正負(fù)幀亮度差逐漸減小，即閃爍逐漸減?。坏诙A段，VGL繼續(xù)減小，ΔVp及TFT的Ioff均逐漸增大，兩者共同作用使正負(fù)幀亮度差逐漸增大，即閃爍逐漸增大。

圖7 閃爍與VGL關(guān)系曲線Fig.7 Flicker vs.VGL Curve

另外，本文還研究了兩種模式產(chǎn)品不同VGL電壓最佳閃爍及對(duì)應(yīng)Vcom關(guān)系，實(shí)驗(yàn)結(jié)果如圖8所示，表明隨著VGL的減小，兩種顯示模式產(chǎn)品最佳閃爍均呈逐漸增大趨勢(shì)，但最佳閃爍對(duì)應(yīng)Vcom逐漸減小。分析原因?yàn)閂GL減小引起ΔVp增大，從而使最佳Vcom負(fù)移；另外VGL減小像素漏電流先減小后增加，漏電流的存在會(huì)使像素電壓保持特性變差，從而使正負(fù)幀亮度差逐漸增大，即最佳閃爍逐漸增大。

圖8 不同VGL最佳閃爍及對(duì)應(yīng)VcomFig.8 Optimum flicker and corresponding Vcom with different VGL

5 閃爍分析方法

對(duì)單獨(dú)的一個(gè)像素而言，理想的光學(xué)波形應(yīng)該是一個(gè)60 Hz的波動(dòng)形狀，但實(shí)際的TFT-LCD存在Vcom漂移、漏電流、電容耦合等原因的影響，引起兩幀的像素電壓不同，畫面亮度明暗交替，導(dǎo)致實(shí)際的亮度波形為30 Hz的波形(對(duì)人眼而言，50 Hz以下的波動(dòng)容易識(shí)別)，如圖9(a)所示，實(shí)線表示理想亮度波形，虛線表示實(shí)際亮度波形。為方便分析，可以用亮度均值表示正負(fù)幀亮度，示意圖如圖9(b)所示，其亮度變化周期為30 Hz。

圖9 面板亮度波形Fig.9 Brightness waveform of panel

如前所述，VESA標(biāo)準(zhǔn)FMA測(cè)試法是用光電探測(cè)器采集到的電壓波形最大值Vmax和最小值Vmin的差值與二者的均值作為閃爍值。電壓波形最大值與最小值可以簡(jiǎn)單地理解為亮度最大值與最小值，即正幀與負(fù)幀亮度，則正負(fù)幀亮度差與正負(fù)幀亮度的平均值的比值即為該顯示屏的閃爍，表達(dá)式如公式(17)所示。

(17)

5.1 電壓-透過率曲線分析

由于閃爍是灰階正負(fù)幀亮度差的直接反映，而正負(fù)幀亮度差與正負(fù)幀像素電壓有關(guān)，故可通過分析電壓-透過率(V-T)曲線，得到正負(fù)幀亮度與電壓的關(guān)系，進(jìn)而得到正負(fù)幀亮度差與電壓的關(guān)系。

圖10為常白模式與常黑模式V-T曲線，其中橫軸為源極數(shù)據(jù)線電壓(亦可看做像素電壓)，由外接直流電源提供給面板，縱軸為各電壓下的歸一化亮度(亮度最大值為100%)。

圖10 不同顯示模式V-T曲線Fig.10 V-T curve with different display mode

分析各灰階閃爍水平，需要從Gamma曲線上找出灰階對(duì)應(yīng)亮度百分比，根據(jù)亮度百分比在V-T曲線上找出正負(fù)幀對(duì)應(yīng)電壓V+與V-。以TN模式產(chǎn)品為例，由于ΔVp的存在，實(shí)際的正負(fù)幀電壓會(huì)負(fù)移，從而使正幀亮度增大負(fù)幀亮度減小，即正負(fù)幀亮度不再一致，亮度差的變化率即可表征閃爍水平。

5.2 不同灰階ΔVp分析

根據(jù)ΔVp計(jì)算公式，由于不同灰階液晶翻轉(zhuǎn)程度不一樣，即不同灰階液晶電容(Clc)不一樣，故不同灰階ΔVp并不是一個(gè)定值。圖11為常白模式和常黑模式透過率-Clc曲線。圖中，橫坐標(biāo)均為源極電壓，主要縱坐標(biāo)軸表示歸一化亮度，次要縱坐標(biāo)軸表示各電壓下的Clc，即各灰階的Clc。由于常白模式的Clc變化量遠(yuǎn)大于常黑模式Clc變化量，故常白模式ΔVp變化量大于長(zhǎng)黑模式ΔVp變化量。

圖11 不同顯示模式透過率與Clc關(guān)系 Fig.11 Relation between T and Clc in different display mode

對(duì)于TN型產(chǎn)品，根據(jù)電容計(jì)算公式C=ε0εS/d，因?yàn)榭紤]的是同一個(gè)液晶電容體，ε0S/d不變，可以看為常數(shù)。當(dāng)ε=ε⊥時(shí)液晶電容最小，此時(shí)顯示亮態(tài)(L255)；當(dāng)ε=ε∥時(shí)液晶電容最大，顯示暗態(tài)(L0)，即TN產(chǎn)品低灰階到高灰階變化時(shí)，液晶電容逐漸減小，結(jié)合ΔVp計(jì)算公式，可得ΔVp逐漸增大。而對(duì)于ADS型產(chǎn)品，Clc是像素ITO與VcomITO之間的耦合電容，無法通過交疊面積計(jì)算直接得到，需要模擬獲得(模擬得出Clc+Cst，減去Cst可以得到Clc)，當(dāng)液晶處于ON(L255)時(shí)，液晶電容最大Clcmax(ε=ε∥)，此時(shí)ΔVp最??；當(dāng)液晶處于OFF(L0)時(shí)，液晶電容最小Clcmin(ε=ε⊥)，此時(shí)ΔVp最大，即常黑模式低灰階到高灰階變化時(shí)ΔVp逐漸減小。

5.3 閃爍分析方法

根據(jù)前述分析結(jié)果，由于ΔVp的存在，實(shí)際工作時(shí)會(huì)對(duì)Vcom進(jìn)行補(bǔ)償，為方便后續(xù)計(jì)算，假設(shè)補(bǔ)償量為ΔVpmin，則閃爍可用公式(18)表征：

(18)

計(jì)算步驟為：

(1)求出不同灰階實(shí)際ΔVpl相對(duì)ΔVpmin變化量Ωl；

(2)根據(jù)V-T曲線找出正負(fù)幀灰階電壓V+、V-；

(3)根據(jù)Ωl在V-T曲線上找出V-’、V+’；

(4)在V-T上找出ΔL+、ΔL-，并求出ΔL(%)。

其中：ΔVpl為某灰階實(shí)際ΔVp，ΔVpmin為ΔVp最小值，Ωl=ΔVpl-ΔVpmin；V+、V-分別為灰階對(duì)應(yīng)V-T曲線上正負(fù)幀電壓；V+’=V+-Ωl，V-’=V--Ωl，分別為正負(fù)幀實(shí)際電壓；ΔL+、ΔL-分別為V-T曲線上透過率變化量；L為灰階對(duì)應(yīng)V-T曲線上透過率；α為修正因子。

根據(jù)上述分析步驟，得到TN型產(chǎn)品亮度變化量計(jì)算結(jié)果如表1所示。從表1可知，低灰階到高灰階變化時(shí)，ΔL(%)逐漸減小，實(shí)測(cè)閃爍值也逐漸減小，二者規(guī)律一致。

表1 常白模式正負(fù)幀亮度變化量計(jì)算結(jié)果Tab.1 Calculate results of brightness variation of positive and negative frames of TN mode

將計(jì)算結(jié)果ΔL(%)與實(shí)測(cè)閃爍值進(jìn)行相關(guān)性分析，結(jié)果如圖12所示。計(jì)算結(jié)果實(shí)測(cè)值變化趨勢(shì)一致，且線性相關(guān)系數(shù)達(dá)0.95以上，說明了該分析方法具有較高的準(zhǔn)確性。

圖12 常白模式計(jì)算結(jié)果與實(shí)測(cè)值分析Fig.12 Analysis of calculation results and measured values of TN mode

同理，得到ADS型產(chǎn)品亮度變化量結(jié)果如表2所示，ΔL(%)計(jì)算結(jié)果與測(cè)試閃爍值均隨灰階增加而減小。

將ΔL(%)計(jì)算結(jié)果與實(shí)測(cè)閃爍值進(jìn)行相關(guān)性分析，結(jié)果如圖13所示。計(jì)算結(jié)果與實(shí)測(cè)值變化趨勢(shì)一致，且線性相關(guān)系數(shù)達(dá)0.95以上，再次驗(yàn)證了該分析方法的準(zhǔn)確性。說明此方法可以用來表征不同灰階閃爍水平。

表2 常黑模式正負(fù)幀亮度變化量計(jì)算結(jié)果Tab.2 Calculate results of brightness variation of positive and negative frames of ADS mode

圖13 常黑模式計(jì)算結(jié)果與實(shí)測(cè)值分析Fig.13 Analysis of calculation results and measured values of ADS mode

6 結(jié) 論

本文結(jié)合ΔVp及閃爍產(chǎn)生機(jī)理，首先研究了Vcom對(duì)閃爍影響，結(jié)果如下：閃爍隨Vcom增加先減小后增大，且常黑模式產(chǎn)品隨著閃爍灰階增加最佳閃爍逐漸減小，但對(duì)應(yīng)Vcom逐漸增加，而常白模式產(chǎn)品隨著閃爍灰階增加最佳閃爍及其對(duì)應(yīng)Vcom均呈下降趨勢(shì)；其次，實(shí)驗(yàn)研究了VGH對(duì)閃爍影響，結(jié)果如下：閃爍隨VGH增加先減小后增大，且最佳閃爍不隨VGH增加而變化，但對(duì)應(yīng)Vcom隨VGH增加呈減小趨勢(shì)；再次，研究了VGL對(duì)閃爍影響，實(shí)驗(yàn)結(jié)果如下：閃爍隨VGL增加先減小后增大，且最佳閃爍隨VGL增加逐漸減小，但其對(duì)應(yīng)Vcom逐漸增大；最后，提出了一種可以預(yù)測(cè)不同灰階閃爍水平的定量分析方法，分別對(duì)常白模式和常黑模式產(chǎn)品進(jìn)行了分析計(jì)算，并將計(jì)算結(jié)果與VESA標(biāo)準(zhǔn)下FMA測(cè)試法閃爍實(shí)測(cè)值進(jìn)行相關(guān)性分析，結(jié)果表明計(jì)算所得閃爍值與實(shí)測(cè)閃爍值相關(guān)性系數(shù)均達(dá)0.95以上，證明了分析方法的可行性與正確性，為預(yù)測(cè)產(chǎn)品不同灰階閃爍水平提供了分析思路。