黃憲武 謝龍?jiān)? 侯志偉 譚泳成
摘要:針對(duì)試驗(yàn)過(guò)程中發(fā)現(xiàn)CVT介損偏大問(wèn)題,通過(guò)差異化運(yùn)維要求,每三個(gè)月對(duì)CVT開(kāi)展紅外測(cè)溫,分析二次電壓趨勢(shì),關(guān)注紅外檢測(cè)異常發(fā)熱以及二次電壓的增長(zhǎng)趨勢(shì),并結(jié)合停電工作進(jìn)行更換,避免了電網(wǎng)故障發(fā)生;同時(shí),通過(guò)對(duì)故障CVT解體發(fā)現(xiàn),其C相C13的(由上往下)第1個(gè)、第42個(gè)、第108個(gè)電容單元電容值存在異常情況,接近于零,估算電容偏差應(yīng)2.3%左右,與實(shí)測(cè)電容偏差2.37%相近。
關(guān)鍵字:CVT,介損,差異化運(yùn)維,電容值,電擊穿
一、缺陷(故障)概況
內(nèi)容應(yīng)包括:
1、設(shè)備缺陷(故障)發(fā)生經(jīng)過(guò)
2018年08月9日,高壓試驗(yàn)班對(duì)500kV東莞站500kV東惠乙線CVT進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)發(fā)現(xiàn)C相CVT介損偏大,其中上節(jié)C11介損0.189%,下節(jié)C13介損0.187%,C11及C13介損值增量均超出上次測(cè)試值的30%以上;另外下節(jié)C13的電容為18150pF,銘牌電容為17740pF,電容量偏差2.3%。其他A、B兩相CVT的介損也有不同程度的增加。按照變電設(shè)備運(yùn)維策略以及電力設(shè)備檢修試驗(yàn)規(guī)程的要求,對(duì)該線路的CVT實(shí)施差異化運(yùn)維,主要采取以下措施:1、每三個(gè)月對(duì)CVT開(kāi)展紅外測(cè)溫,分析二次電壓趨勢(shì),關(guān)注紅外檢測(cè)異常發(fā)熱以及二次電壓的增長(zhǎng)趨勢(shì);2、鑒于東惠乙線CVTC相的電容量增量超過(guò)了規(guī)程值+2%注意值的要求,按照規(guī)程縮短停電試驗(yàn)周期,計(jì)劃2019年內(nèi)申請(qǐng)停電進(jìn)行復(fù)測(cè),密切關(guān)注電容量與介損的變化。
按照差異化運(yùn)維策略要求,2019年8月19日開(kāi)展對(duì)500kV東莞站500kV東惠乙線CVT進(jìn)行停電復(fù)測(cè)檢查,結(jié)果發(fā)現(xiàn)500kV東惠乙線CVTA相上節(jié)C11、B相中節(jié)C12、C相中節(jié)C12的介損值超過(guò)了規(guī)程規(guī)定不超過(guò)0.2%的標(biāo)準(zhǔn)。進(jìn)一步綜合分析近三次試驗(yàn)數(shù)據(jù),發(fā)現(xiàn)B相下節(jié)C13、C相上節(jié)C11及下節(jié)C13的介損值呈現(xiàn)增長(zhǎng)趨勢(shì),且接近規(guī)程的規(guī)定值。綜合判斷500kV東惠乙線CVT三相介損不合格。
2、設(shè)備最近幾次運(yùn)維(運(yùn)維管控級(jí)別,巡視情況)、試驗(yàn)、檢修、動(dòng)作和缺陷情況。
2018年08月9日,按照試驗(yàn)周期,對(duì)500kV東莞站500kV東惠乙線CVT進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)發(fā)現(xiàn)該線路CVT介損明顯增大(具體數(shù)據(jù)見(jiàn)表2),納入差異化運(yùn)維。根據(jù)設(shè)備狀態(tài)評(píng)價(jià)要求“電容量超標(biāo):電容值與出廠值相比,增加量超過(guò)+2%”扣24分,設(shè)備健康度評(píng)價(jià)為“異常狀態(tài)”,設(shè)備重要度為“重要”,因此設(shè)備管控等級(jí)為II級(jí)管控。按照差異化運(yùn)維要求,分別在2018年8月23日、10月25日、12月26日以及2019年2月25日、5月29日、8月15日開(kāi)展了紅外測(cè)溫以及二次電壓的跟蹤測(cè)試,未發(fā)現(xiàn)異常。
2019年8月19日,按照停電計(jì)劃,開(kāi)展對(duì)該線路的停電復(fù)測(cè)檢查試驗(yàn),結(jié)果發(fā)現(xiàn)500kV東惠乙線CVTA相上節(jié)C11、B相中節(jié)C12、C相中節(jié)C12的介損值超過(guò)了規(guī)程規(guī)定不超過(guò)0.2%的標(biāo)準(zhǔn)。
二、故障查找
1、故障查找過(guò)程
為了徹底分析500kV東惠乙線CVT設(shè)備試驗(yàn)數(shù)據(jù)不合格的原因,選取電容量和介損均增長(zhǎng)較大的C相下節(jié)C13進(jìn)行解體分析。在變電一所檢修中心進(jìn)行解體分析,解體前測(cè)試數(shù)據(jù)如下(與現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試值相近):
通過(guò)現(xiàn)場(chǎng)解體分析,C相下節(jié)包括電容單元152個(gè),其中C13由130個(gè)電容單元串聯(lián),C2由22個(gè)電容單元串聯(lián)。現(xiàn)場(chǎng)依次測(cè)量了152個(gè)電容單元電容值。發(fā)現(xiàn)C13的(由上往下)第1個(gè)、第42個(gè)、第108個(gè)電容單元電容值存在異常情況,接近于零,判斷可能存在擊穿情況。
同時(shí)三個(gè)電容單元擊穿,可估算電容偏差應(yīng)2.3%左右,與實(shí)測(cè)電容偏差2.37%相近。為了進(jìn)一步驗(yàn)證上述分析,對(duì)異常的3個(gè)電容單元進(jìn)行拆除解體,并發(fā)現(xiàn)這3個(gè)電容單元內(nèi)部均存在明顯的擊穿現(xiàn)象。
三、總結(jié)與分析
通過(guò)解剖500kV東惠乙線C相CVT下節(jié)后,確認(rèn)是內(nèi)部多個(gè)電容元件發(fā)生擊穿而導(dǎo)致電壓的異常,分析電容元件發(fā)生擊穿的主要原因包括:
1)電網(wǎng)中發(fā)生的某種過(guò)電壓,使得運(yùn)行多年的電容元件發(fā)生瞬間擊穿。
2)電容元件制造材料的質(zhì)量問(wèn)題,可能在長(zhǎng)時(shí)間的運(yùn)行中,并絕緣油浸泡下發(fā)生變質(zhì),進(jìn)而發(fā)生擊穿,改變?cè)瓉?lái)的電容分壓。
3)電容式電壓互感器在電容元件的廠內(nèi)組裝,工作人員素質(zhì)參差不齊,可能在某個(gè)電容元件的組裝工藝上有欠缺。