王瓔琰 張永華 周 瑩
(無錫江南計算技術(shù)研究所,江蘇 無錫 214083)
覆銅箔板是由樹脂、玻纖布和銅箔所組成的復(fù)合物,其中樹脂是對覆銅箔板的熱膨脹系數(shù)影響最重要的因素。樹脂在常溫下為玻璃態(tài),但它在被加熱的情況下,會由玻璃態(tài)轉(zhuǎn)變?yōu)楦邚棏B(tài)(橡膠態(tài)),此時所對應(yīng)的轉(zhuǎn)變溫度稱為玻璃化轉(zhuǎn)變溫度,簡稱玻璃化溫度(Tg)?;牡哪蜔嵝?、耐濕性、耐化學(xué)藥品性、尺寸的穩(wěn)定性均與玻璃化溫度有關(guān),因此準(zhǔn)確測量印制板的玻璃化溫度無論是在材料性能檢驗或產(chǎn)品質(zhì)量管控中都具有重要意義。
玻璃化溫度不是一個固定的值,而是材料特性產(chǎn)生變化的一段區(qū)間,其測量結(jié)果與采用的測試方法,以及測試過程中的試驗條件都存在相關(guān)性。本文將通過使用TMA法測量成品印制板的玻璃化溫度,分別考察下列三個因素對測量結(jié)果的影響:升溫速率、探頭負(fù)荷、樣品狀態(tài)。
熱機(jī)械分析法(TMA)是指在程序控溫條件下(等速升溫、降溫、恒溫或循環(huán)溫度),在受非震蕩性的負(fù)荷下(如靜態(tài)負(fù)荷)通過量測材料的尺寸變化,從而表征材料隨溫度、時間、力等發(fā)生膨脹或收縮的行為。在印制板行業(yè),TMA法可用來測量玻璃化轉(zhuǎn)變溫度、熱膨脹系數(shù)(CTE)、熱膨脹百分率PTE(50℃~260℃)和熱分層時間(T260、T288、T300)等。
熱機(jī)械分析儀探頭由固定在其上面的懸臂梁和螺旋彈簧支撐,實驗時通過加馬力馬達(dá)對試樣施加載荷。當(dāng)試樣長度(即試樣管和探頭的相對位置)發(fā)生變化時,差動變壓器檢測到此變化,則連同溫度、應(yīng)力和應(yīng)變數(shù)據(jù),由TMA中央處理機(jī)收集后送到TMA工作站進(jìn)行數(shù)據(jù)分析,繪制出“溫度—尺寸變化”曲線圖(如圖1)。圖1中,A-B段的斜率為材料玻璃化轉(zhuǎn)變溫度前的熱膨脹系數(shù),用α1表示;C-D段的斜率為材料玻璃化轉(zhuǎn)變溫度后的熱膨脹系數(shù),用α2表示。兩條線的交點對應(yīng)的溫度為玻璃化轉(zhuǎn)變溫度Tg。溫度“A”應(yīng)在室溫以上選擇;溫度“B”和“C”應(yīng)在曲線直線部位選擇,且應(yīng)分別低于和高于轉(zhuǎn)變區(qū)溫度;溫度“D”代表感興趣的溫度(如焊接溫度)。
圖1 TMA 法測試曲線圖
待測樣品選擇用生益科技S1000-2型基材生產(chǎn)的PCB成品。生益科技公司的基材手冊中列出S1000-2的Tg、Z-CTE(Z軸熱膨脹系數(shù))的參考值(見表1)。
表1 S1000-2部分性能指標(biāo)
儀器型號為美國TA公司TMA Q400。
(1)吹掃氣體:N2;
(2)氣體流速:100 mL/min;
(3)升溫速率:5℃/min~30℃/min;
(4)施力大?。?.01 N~0.1 N。
在樣品內(nèi)、外層均無金屬層且無阻焊的區(qū)域上取樣,樣品尺寸6.35 mm×6.35 mm。用銑刀/銑機(jī)進(jìn)行裁切后,為減少產(chǎn)生的殘余應(yīng)變,先后采用400#、600#、800#和1500#砂紙及大量的流水細(xì)磨樣品邊緣來釋放內(nèi)應(yīng)力,然后在105℃±2℃烘箱中至少放置2±0.25 h,取出后在干燥箱中冷卻至室溫。預(yù)處理后的待測樣品(如圖2)。
選擇樣品厚度方向(Z軸)進(jìn)行測定,探頭施加0.05 N的負(fù)荷。分別在5℃/min、10℃/min、20℃/min、30℃/min這4種不同升溫速率下將樣品從室溫升高至280℃,分析整理實驗曲線,升溫速率對玻璃化溫度的影響(如圖3),測試結(jié)果(見表2)。
圖2 待測樣品實物圖
圖3 不同升溫速率的TMA曲線
表2 不同升溫速率下的Tg和Z-CTE
由表2中的實驗數(shù)據(jù)可知,升溫速率不同,玻璃化溫度和熱膨脹系數(shù)都會存在明顯的差異性,其中隨著升溫速率的升高,玻璃化溫度也會升高。這是因為升溫速率過快,樹脂這種高聚物的反應(yīng)會出現(xiàn)滯后現(xiàn)象,鏈段在應(yīng)有的玻璃化溫度(Tg)時來不及運動,其觀察時間會比低升溫速率下的觀察時間更短,因此在高升溫速率下測得的玻璃化溫度會更高。建議采用較慢的升溫速率來防止熱滯后現(xiàn)象,但適度提高升溫速率又會提高測試的靈敏度,兩者存在一定的矛盾性,IPC-TM-6502.4.24C中采用的升溫速率為10℃/min。
選擇樣品厚度方向(Z軸)進(jìn)行測定,升溫速率:10℃/min,探頭分別選擇施加0.01 N、0.025 N、0.05 N和0.075 N這4種不同的負(fù)荷,將樣品從室溫升高至280℃。分析整理實驗曲線,探頭負(fù)荷大小對玻璃化溫度的影響(如圖4),測試結(jié)果(見表3)。
由表3可以看出,當(dāng)施加負(fù)荷大小不同時,玻璃化溫度和熱膨脹系數(shù)會有小量的差異,并且隨著施加負(fù)荷的增加,玻璃化溫度測量結(jié)果會逐漸增大。通常實驗時為了防止過量負(fù)荷導(dǎo)致樣品的穿破或變形,會施加一個較小的負(fù)荷(例如0.01 N),但是當(dāng)探頭施加在樣品上的力較弱時,TMA曲線會出現(xiàn)“跳舞”的現(xiàn)象(如圖5)。這種現(xiàn)象是由于負(fù)荷過小,探頭在升溫過程中出現(xiàn)振動引起的,為避免此現(xiàn)象,可以適當(dāng)提高施加負(fù)荷的大小,最大可達(dá)0.1 N。IPC-TM-6502.4.24C中建議起始負(fù)荷為0.05 N,實驗時可根據(jù)不同的材料類型或樣品結(jié)構(gòu)進(jìn)行適當(dāng)調(diào)節(jié),以保證探頭、試樣和平臺三者間的緊密接觸。
圖4 不同探頭負(fù)荷下的TMA曲線
因為TMA是測量樣品形變的儀器,所以樣品本身的狀態(tài)對測試也很重要,本實驗為驗證樣品狀態(tài)對測試結(jié)果的影響,分別從樣品有/無阻焊,樣品內(nèi)/外層有無銅箔這兩方面分別進(jìn)行實驗分析。
3.3.1 有/無阻焊
當(dāng)基板的環(huán)境溫度高于Tg時,樹脂處于高彈態(tài),它所具有的動能雖不足以使主鏈進(jìn)行移動,但主鏈上的一些單鏈、支鏈卻可以旋轉(zhuǎn),使鏈段發(fā)生滑移甚至卷曲,因此表現(xiàn)出基板材料在這段溫度區(qū)間內(nèi)形變率增大,厚度明顯增加,加之其內(nèi)應(yīng)力也在明顯增大,共同為分層或爆板現(xiàn)象的產(chǎn)生提供了動力因素。在分析印制板爆板或分層原因時,測試失效樣品的Tg值十分必要。但通常情況下,失效樣品均為成品印制板,已印有阻焊,因此本實驗選取無阻焊、帶阻焊和不同阻焊處理的四種樣品進(jìn)行實驗,來驗證有/無阻焊對TMA法測量印制板的玻璃化溫度的影響情況。
表3 不同探頭負(fù)荷下的Tg和Z-CTE
圖5 “跳舞”的TMA曲線
實驗選擇樣品厚度方向(Z軸)進(jìn)行測定,升溫速率:10℃/min,探頭施加負(fù)荷:0.05 N,分別將四種不同樣品從室溫升高至280℃。分析整理實驗曲線,有/無阻焊對玻璃化溫度的影響(如圖6),測試結(jié)果(見表4)。
由表4中的測試數(shù)據(jù)可知:帶阻焊樣品和采用化學(xué)藥水褪去阻焊的樣品,相比無阻焊樣品或采用機(jī)械研磨的方法去除阻焊的樣品,玻璃化溫度的測量結(jié)果會略微偏大。測試成品印制板的Tg主要是指測試基材中樹脂的Tg,所以在失效分析時應(yīng)優(yōu)先選擇無阻焊的樣品,例如可以請印制板廠家提供不帶阻焊的同批次樣品,或者選擇阻焊開窗的區(qū)域,也可以用適宜的方式去除阻焊后再取樣測試。
圖6 不同阻焊處理的TMA曲線
3.3.2 內(nèi)/外層有無銅箔
為減少印制板的翹曲和增加尺寸穩(wěn)定性,多層板每一層內(nèi)的導(dǎo)線分布應(yīng)盡量平衡,導(dǎo)線分布的密度盡量遍及整塊印制電路板,因此印制電路板在設(shè)計時,會在沒有導(dǎo)線的空地方設(shè)計許多孤立的銅圓點、方塊或者網(wǎng)絡(luò)。當(dāng)對失效印制板進(jìn)行Tg測試時,往往在失效樣品上找不到內(nèi)、外層均無金屬層的適宜測試區(qū)域,因此本實驗通過比對內(nèi)/外層無銅;僅外層含銅;內(nèi)/外層均含銅這三種樣品的實驗數(shù)據(jù),來驗證內(nèi)/外層含銅對玻璃化溫度的影響。實驗選擇樣品厚度方向(Z軸)進(jìn)行測定,升溫速率:10℃/min,探頭施加負(fù)荷:0.05 N,將三種不同樣品從室溫升高至280℃。分析整理實驗曲線,內(nèi)/外層有無銅對玻璃化溫度的影響(如圖7),測試結(jié)果(見表5)。
由表5中測試結(jié)果可知:僅外層含銅,以及內(nèi)/外層均含銅的樣品Tg測量結(jié)果明顯比內(nèi)/外層均無銅的樣品要小。從化學(xué)結(jié)構(gòu)角度分析,決定高聚物玻璃化溫度的主要因素有兩個:鏈本身的柔順性和高分子間的作用力,高分子鏈的柔順性越高,高分子間作用力越小,高聚物的Tg越低。而銅作為良好的導(dǎo)熱體,客觀上會使高分子鏈間的作用力減弱,從而使高分子鏈更易運動,導(dǎo)致Tg偏低。樣品內(nèi)外層有銅會導(dǎo)致Tg測試結(jié)果明顯偏低,所以進(jìn)行失效分析時,需要特別注意選擇的樣品內(nèi)/外層均不應(yīng)含有銅箔。
表4 不同阻焊處理的Tg和Z-CTE
圖7 內(nèi)/外層有無銅情況下的TMA曲線
表5 內(nèi)/外層有無銅情況下的Tg和Z-CTE
(1)升溫速率是TMA法測試印制板玻璃化溫度的重要影響因素,隨著升溫速率加快,可以提高測試靈敏度,但同時產(chǎn)生的熱滯后現(xiàn)象會更為明顯,玻璃化溫度的測量結(jié)果也會更高。
(2)用TMA法測試印制板玻璃化溫度時,探頭負(fù)荷不宜過高,以免發(fā)生樣品的穿破或變形,但過低的負(fù)荷又容易產(chǎn)生測試曲線“跳舞”的現(xiàn)象。建議起始負(fù)荷為0.05 N,可根據(jù)樣品不同的材料類型或結(jié)構(gòu)進(jìn)行調(diào)節(jié),以保證探頭、樣品和平臺三者間的緊密接觸。
(3)用TMA法測試印制板玻璃化溫度時,優(yōu)先選用不帶阻焊的試樣,或者選取適宜的方式將阻焊去除后再取樣測試。
(4)用TMA法測試印制板玻璃化溫度時,樣品內(nèi)/外層含銅會導(dǎo)致測試結(jié)果偏低。