李 建,張 偉,朱佳音,萬(wàn) 鈞
1中海石油有限公司深圳分公司,廣東 深圳
2中海油田服務(wù)股份有限公司深圳作業(yè)公司,廣東 深圳
隨著地質(zhì)導(dǎo)向?qū)圮壽E要求的不斷提高,隨鉆方位密度成為不可或缺的測(cè)井工具,國(guó)外三大油田服務(wù)公司均開發(fā)出了各自的方位密度測(cè)井儀,主要是通過(guò)對(duì)測(cè)量區(qū)域進(jìn)行象限劃分的方式來(lái)提供多條密度曲線,如低邊密度、高邊密度、平均密度等,但實(shí)際地層評(píng)價(jià)中如何選用卻沒有明確的規(guī)范。研究表明,不同的井斜、井眼條件及儀器串組合都會(huì)影響測(cè)井儀器對(duì)地層密度的測(cè)量;從儀器本身的測(cè)量原理入手,總結(jié)其在不同條件的響應(yīng)特征,可以明確不同的密度曲線與井眼地層條件的匹配關(guān)系,從而在后續(xù)的地層評(píng)價(jià)中采用更為可靠的測(cè)井資料。筆者以南海東部某油田開發(fā)井為例,總結(jié)了哈里伯頓隨鉆方位密度測(cè)井儀(ALD)密度曲線的優(yōu)選原則。
研究區(qū)開發(fā)井隨鉆測(cè)井作業(yè)使用哈里伯頓FEWD系統(tǒng),密度測(cè)量采用ALD (圖1)。
Figure 1.The azimuth density logging tool while drilling (ALD)圖1.隨鉆方位密度測(cè)井儀(ALD)
在該區(qū)A井實(shí)鉆過(guò)程中發(fā)現(xiàn),ALD提供的高值密度(ALCDLC)在穿越某些地層界面時(shí)出現(xiàn)響應(yīng)過(guò)激現(xiàn)象(圖2):A井的相鄰預(yù)探井同層段砂巖密度一般為2.25 g/cm3左右,泥巖密度一般為2.55 g/cm3左右,而A井實(shí)鉆測(cè)量到的ALCDLC (紅色)過(guò)層界面時(shí)測(cè)量值最高達(dá)到了2.85 g/cm3左右,與地層經(jīng)驗(yàn)值差異較大,明顯不符合地層規(guī)律;對(duì)比之下,平均密度(ALCDA)(藍(lán)色)測(cè)量值更接近經(jīng)驗(yàn)值。研究區(qū)作業(yè)井型均為大斜度井與水平井,確定ALD不同密度曲線測(cè)量原理及適用條件,有利于準(zhǔn)確計(jì)算孔、滲、飽參數(shù),對(duì)于測(cè)井處理解釋及油藏開發(fā)工作意義重大。
Figure 2.The over-responding density readings of ALCDLC from Well A圖2.A井ALCDLC過(guò)層界面響應(yīng)過(guò)激現(xiàn)象
密度測(cè)井是利用康普頓散射原理來(lái)進(jìn)行地層密度測(cè)量的一種測(cè)井技術(shù)。工具通過(guò)銫(Cs137)源向地層輻射伽馬射線,再利用與源相距一定距離的探測(cè)器測(cè)量經(jīng)過(guò)地層散射和吸收后的伽馬射線強(qiáng)度。伽馬射線在地層中散射的概率僅取決于地層的電子密度,通過(guò)校正將電子密度轉(zhuǎn)換為體積密度可實(shí)現(xiàn)地層密度的測(cè)量[1]。
在隨鉆密度測(cè)井中,最常見的是對(duì)井壁間隙(standoff)的環(huán)境校正。環(huán)境校正受 standoff的大小、工具與井壁間的泥漿密度影響,通過(guò)“脊肋圖”的方式來(lái)實(shí)現(xiàn)環(huán)境校正(圖3)?!凹咕€”對(duì)應(yīng)于工具翼肋緊靠在井壁上的情況(standoff = 0"),此時(shí)井眼流體的干擾為零,遠(yuǎn)、近探測(cè)器測(cè)量得到的視密度值相同;“肋線”反映工具與地層間存在不同大小standoff時(shí)所對(duì)應(yīng)的響應(yīng)趨勢(shì)[2]。
Figure 3.The spine and ribs plot of ALD environmental correction圖3.ALD環(huán)境校正“脊肋圖”
由于遠(yuǎn)探測(cè)器對(duì)地層密度較為敏感,近探測(cè)器對(duì)井眼環(huán)境較為敏感,在工具與井壁之間存在間隙時(shí),為獲得準(zhǔn)確的密度讀數(shù),必須在遠(yuǎn)探測(cè)器的視密度讀數(shù)上加一個(gè)附加校正量,以抵消井眼對(duì)于密度讀數(shù)的影響,該校正量是遠(yuǎn)探測(cè)器讀數(shù)和與該點(diǎn)所處的肋線與脊線交叉處對(duì)應(yīng)的密度之間的差值。standoff校正公式為:
式中:Δρ為密度附加校正量,g/cm3;a、b、c、d為擬合常數(shù),1。
在實(shí)際測(cè)量中得到遠(yuǎn)、近探測(cè)器的視密度后,通過(guò)兩者間的差值得到Δρ,校正后的電子密度為:
式中:ρe為校正后的電子密度,g/cm3。
ρe可轉(zhuǎn)換為體積密度:
式中:ρb為體積密度,g/cm3。
當(dāng)泥漿密度比較小時(shí),Δρ為正值,ρb為正向校正(測(cè)量值偏小);當(dāng)泥漿密度大于地層密度時(shí),由于近探測(cè)器受泥漿和井眼條件的影響更大,則Δρ為負(fù)值,ρb為反向校正(測(cè)量值偏大)。
3.3.1.平均密度(ALCDA)
ALD可以將采樣區(qū)間分為4、8、16個(gè)象限。研究區(qū)方位密度存儲(chǔ)數(shù)據(jù)分為360?、8扇區(qū)(圖4),ALCDA為8個(gè)扇區(qū)共同的平均密度。
Figure 4.The diagrammatic sketch of 8 sectors of ALD圖4.ALD的8扇區(qū)示意圖
與電纜測(cè)井不同,隨鉆測(cè)井工具的特點(diǎn)是在旋轉(zhuǎn)中測(cè)量。而“脊肋圖”校正算法適用于工具靜止采集數(shù)據(jù)(不旋轉(zhuǎn))的情況。在鉆具旋轉(zhuǎn)的過(guò)程中,特別是井眼存在擴(kuò)徑現(xiàn)象時(shí),“靜態(tài)”測(cè)量條件很可能被破壞,導(dǎo)致額外誤差值的形成。
在隨鉆密度工具采樣期間內(nèi),如果井徑?jīng)]有明顯擴(kuò)大,即工具間隙值小(standoff < 0.5")時(shí),肋線距脊線較近且近于直線,此時(shí)得到的ALCDA測(cè)量值較為準(zhǔn)確。在井徑擴(kuò)大的情況下,工具間隙值大(standoff >0.5")時(shí),井眼形狀和井徑均不規(guī)則,在遠(yuǎn)、近視密度肋脊線交會(huì)圖上,肋線距脊線較遠(yuǎn)且較彎曲,此時(shí)ALCDA測(cè)量有偏差。由此可知,井況越好,遠(yuǎn)、近密度值越接近,肋線形態(tài)越接近于直線,工具測(cè)量得到的ALCDA越準(zhǔn)確。
3.3.2.低邊密度(ALCDLC_B)
低邊密度(ALCDLC_B)取低邊左45?到低邊右45?區(qū)間(扇區(qū)4 + 5)的平均密度。在均一地層、大井斜的情況下,低邊密度可以被認(rèn)為是地層密度。
3.3.3.高值密度LCRB (ALCDLC)
當(dāng)井眼條件欠佳或者有較大的standoff時(shí),ALD會(huì)運(yùn)行“快速采樣模式”,用以解決ALCDA受旋轉(zhuǎn)與擴(kuò)徑影響造成測(cè)量失準(zhǔn)的缺點(diǎn)。
“快速采樣模式”的原理為:在井眼擴(kuò)大井段,儀器旋轉(zhuǎn)過(guò)程中在各個(gè)方向上的間隙不同,儀器從各個(gè)方向上獲得的地層反饋信號(hào)強(qiáng)弱不同;根據(jù)每個(gè)采樣點(diǎn)計(jì)數(shù)率(Count Rate)高低不同,把采樣獲得的數(shù)據(jù)由低到高分成3組——Bin1、Bin2、Bin3。實(shí)際試驗(yàn)發(fā)現(xiàn),Bin2區(qū)域采樣點(diǎn)很少,主要采樣點(diǎn)落在其他2個(gè)區(qū)域。Bin1定義為低計(jì)數(shù)率區(qū)(Low Count Rate Bin),Bin3定義為高計(jì)數(shù)率區(qū)(High Count Rate Bin)。使用Bin1、Bin3原始采樣數(shù)據(jù)獲得的密度分別叫LCRB(即ALCDLC)和HCRB。
快速采樣模式在一個(gè)采樣期間快速對(duì)不同計(jì)數(shù)率數(shù)據(jù)進(jìn)行分區(qū),劃分最小 standoff 和最大 standoff的采樣計(jì)數(shù)率,進(jìn)而得出最小standoff和最大standoff的密度值。在低泥漿密度情況下,ALCDLC反映了在工具旋轉(zhuǎn)過(guò)程中,standoff最小時(shí)獲得的密度值,對(duì)比其他方法,此時(shí)的ALCDLC準(zhǔn)確度更高一些。在擴(kuò)徑段,ALCDLC會(huì)比其他密度(HCRB和ALCDA)要高一些,可以理解為ALCDLC是測(cè)量值最高的密度曲線,即為高值密度。
以B5H井水平段(圖5)為例,在4040~4045 m井段,儀器由低密度向高密度穿層,ALCDLC (紅色)與ALCDLC_B (褐色)差異不大,均大于ALCDA (紫色);而在4048~4054 m井段,儀器從高密度向低密度穿層,ALCDLC取上部高密度層密度,ALCDLC_B取下部低密度層密度,ALCDA介于兩者之間;由井徑曲線可知,整個(gè)井段井徑較為規(guī)則,此時(shí)ALCDA能夠較為準(zhǔn)確地代表地層密度。
Figure 5.The diagram of through-formation logging in Horizontal Well B5H圖5.B5H井水平段穿層測(cè)井圖
如圖6所示,在B6H井水平段4258~4288 m,井眼靠近砂泥巖的交界面,井眼上部為泥巖,密度較高,此時(shí)ALCDLC取井眼上部泥巖密度,井眼下部為低密度砂巖,ALCDLC_B取井眼底部砂巖密度,ALCDA介于兩者之間,由于井徑?jīng)]有擴(kuò)大,ALCDA能夠準(zhǔn)確反映地層密度。
通過(guò)上述實(shí)例可知,“快速采樣模式”原理決定了ALCDLC在穿越層界面時(shí),測(cè)量值取儀器旋轉(zhuǎn)過(guò)程中相鄰地層的最高值,一般高于ALCDA,導(dǎo)致了ALCDLC過(guò)界面時(shí)響應(yīng)過(guò)激現(xiàn)象。在井況較好的均質(zhì)地層中,ALCDLC與ALCDA接近,2種密度均能較為真實(shí)地反映地層密度。
在井況條件不好的地層中,如C4P2井著陸段為12.25in井眼大斜度井段,存在不同程度的擴(kuò)徑現(xiàn)象,部分井段擴(kuò)徑嚴(yán)重,導(dǎo)致 standoff增大,ALCDA受擴(kuò)徑影響較大,故在測(cè)井處理解釋工作中應(yīng)選擇ALCDLC作為密度處理曲線。
1)哈里伯頓隨鉆方位密度測(cè)井儀ALD可同時(shí)提供平均密度、低邊密度、高值密度等3類密度曲線。
2)高值密度曲線為低計(jì)數(shù)率區(qū)密度,用以解決平均密度在擴(kuò)徑時(shí)測(cè)量失準(zhǔn)的缺點(diǎn),反映儀器旋轉(zhuǎn)過(guò)程中相鄰地層的最高值;井況較好時(shí),平均密度能夠真實(shí)反映地層密度;井況較差時(shí),擴(kuò)徑使得工具偏心距增大,導(dǎo)致平均密度測(cè)量值偏差較大。
3)結(jié)合工區(qū)實(shí)際井況,提出ALD密度曲線優(yōu)選原則為:在擴(kuò)徑嚴(yán)重的12.25in井眼中,選取高值密度進(jìn)行處理解釋工作;在井況較好的水平段,選取平均密度進(jìn)行處理解釋工作。