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      升壓電荷泵等效電阻模型

      2017-04-25 07:00:18國電南瑞科技股份有限公司
      電子世界 2017年8期
      關(guān)鍵詞:電荷泵功耗電荷

      國電南瑞科技股份有限公司 余 南

      升壓電荷泵等效電阻模型

      國電南瑞科技股份有限公司 余 南

      DC-DC升壓電荷泵的能量損失主要分為兩類:阻性功耗和動態(tài)功耗。通過建立模型推導了阻性功耗等效電阻的表達式。

      集成電路;模擬集成電路;電荷泵;低功耗

      很多電路如非揮發(fā)性存儲器、LCD驅(qū)動等需要遠高于電源電壓VDD的電壓。隨著工藝的發(fā)展VDD越來越低,在一些模擬電路中也需要高于VDD的電壓。這些高電壓由電荷泵電路生成。片上電荷泵大多基于Dickson結(jié)構(gòu),如圖1所示,用時鐘clk及其反相時鐘clkn驅(qū)動泵電容CT,把電荷泵到負載電容CL上累積,從而得到高壓[1]。但是這種結(jié)構(gòu)的功耗效率很低[2]。

      圖1 Dickson 電荷泵Fig. 1 Dickson charge pump

      圖2 電容充、放電過程Fig. 2 Charging and recharging parasitic capacitors

      片上電容CT下極板會有很大的對地寄生電容Cpar,其值一般為CT的10~20%。至今所有片上電荷泵中時鐘均為方波,經(jīng)過driver電路(通常為反相器)得到clk和clkn來驅(qū)動泵電容的下極板。忽略自身寄生電容,driver輸出端寄生電容約為n*Cpar。如圖2所示,driver電路對Cpar很快充、放電導致功耗[2]。在此短暫過程中泵電容n*CT中電荷幾乎不變,不消耗能量。

      1 Rs表達式

      為提高電壓增益,圖1中二極管通常用電荷傳輸開關(guān)(charge transfer switch, CTS)來代替[2],設(shè)其導通電阻為Rpass。設(shè)單個泵電容值為CT,驅(qū)動時鐘clk周期為T (T=1/f)。

      圖3 Dickson電荷泵模型Fig. 3 Model of the Dickson charge pump

      設(shè)電荷泵數(shù)目n為偶數(shù),則Dickson電荷泵電路在半個時鐘周期內(nèi)的工作模型見圖3(可以證明n為奇數(shù)有相同結(jié)論)。其中Rup、Rdn分別表示時鐘驅(qū)動電路(driver)的等效充電電阻和等效放電電阻;C1表示所有待放電電容的總量(其值等于所有待充電電容的總量C2,C1= C2=n* CT/2);Rsw表示兩電容C間所有開關(guān)的總電阻(Rsw=2*Rpass/n)。整個環(huán)路的總電阻用R表示(R=Rsw+Rup+Rdn)。

      當driver帶驅(qū)動能力較強時:

      設(shè)開關(guān)合上前兩個電容上極板電壓分別為V1(0) 和V2(0)。記開關(guān)合上后時間為t=0。

      t時刻環(huán)路中電流:

      0到t時間內(nèi)兩電容之間傳輸?shù)碾姾闪浚?/p>

      0到t時間內(nèi)VDD輸出的電能量:

      0到t時間內(nèi)整個電路損失的電能量:

      此時間內(nèi)電阻R發(fā)熱消耗的能量為ER(t):

      顯然,整個環(huán)路浪費的電能量全部轉(zhuǎn)換為R上熱能。

      從負載端看來,等效為電荷泵輸出端有一個恒定電阻Rs消耗上述熱能[1]。設(shè)電荷泵電路負載電流為恒定值IL,在圖3中電荷傳輸?shù)目倳r間(T/2)內(nèi)計算得:

      整理得Rs更精確的表達式:

      和文獻[3]引用的結(jié)論一致。[T/(2RCT)]比較大時Rs=n/( f * CT) ,對應(yīng)于電荷完全轉(zhuǎn)移的情況。

      Rs與(RCf)的關(guān)系:

      圖4 函數(shù): y=x*coth(x)Fig. 4 Function: y=x*coth(x)

      由上可見,阻性功耗很難消除,這是因為Dickson電荷泵的基本思想是在電容之間傳輸電荷。

      [1]Dickson J F.On-chip high-voltage generation in MNOS integrated circuits using an improved voltage multiplier technique[J].IEEE Journal of Solid-State Circuits,1976,11(3):374-378.

      [2]Cabrini A,Gobbi L,Torelli G.A theoretical discussion on performance limits of CMOS charge pumps[EB/OL].(2005-08-28)[2006-11-6].http://ieeexplore.ieee.org/iel5/10211/32579/01522986.pdf.

      [3]Cabrini A.Enhanced charge pump for ultra-low-voltage applications[J].Electronics Letters,2006,42(9):512-514.

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