WZP—26S型裝配式鉑電阻檢定與校準(zhǔn)方法的比較

摘 要：介紹WZP-26S型鉑電阻檢定與校準(zhǔn)的方法，并通過分析試驗結(jié)果來說明兩種方法的優(yōu)缺點(diǎn)。文章對此進(jìn)行了深入細(xì)致的分析和探討，以期為相關(guān)人士提供參考和借鑒。

關(guān)鍵詞：工業(yè)鉑電阻；裝配式鉑電阻；檢定；校準(zhǔn)

引言

裝配式鉑電阻是由感溫元件、不銹鋼外保護(hù)管、接線盒以及各種用途的固定裝置組成。鉑電阻是一種溫度傳感器，它是利用鉑絲在溫度變化時自身電阻也隨著變化的特性來測量溫度的。不銹鋼保護(hù)管不但具有抗腐蝕性能，而且具有足夠的機(jī)械強(qiáng)度，保證鉑電阻能安全地使用在各種場合。而其中型號為WZP-26S，長度為50mm的裝配式鉑電阻（見圖1），用于測量流動氣體和液體溫度。由于其長度過短，其校準(zhǔn)和檢定的方法有所不同。

為了驗證這兩種方法對于WZP-26S鉑電阻的測量結(jié)果影響，我們選用了3支A級鉑電阻，分別使用兩種方法進(jìn)行比較試驗。

1 試驗過程

1.1 檢定

根據(jù)JJG229-2010《工業(yè)銅鉑熱電阻》，被檢鉑電阻應(yīng)有足夠的置入深度。保證在允差檢定時的熱損失可被忽略。所以在檢定鉑電阻時，是將其放入恒溫槽液面30cm以下，以此來保證檢定條件。對于WZP-26S，就是將其放入合適的玻璃試管中，引出接線，并用棉花封住試管口減小熱對流。此方法由于鉑電阻沒有直接接觸液體，需等待很長時間才能達(dá)到熱平衡。

結(jié)果如表1所示。

1.2 校準(zhǔn)

在校準(zhǔn)時，一般是模擬客戶實際使用時的測量溫度方法，即將其直接插入恒溫槽中，直至螺紋口完全沒入液面為止。等待測溫電橋上示值穩(wěn)定后進(jìn)行記錄。結(jié)果如表2所示。

2 試驗結(jié)果分析

如表1所示，3支鉑電阻R（0℃）、R（100℃）、α都滿足A級鉑電阻的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)。

而根據(jù)表2中所示數(shù)值。3支鉑電阻R（0℃）、R（100℃）符合A級鉑電阻標(biāo)準(zhǔn)，α超差。觀察數(shù)據(jù)后發(fā)現(xiàn)，0℃時鉑電阻檢定的電阻值比校準(zhǔn)的低，而100℃時則相反。初步分析造成以上結(jié)果的原因就是鉑電阻插入深度不夠，沒有消除熱損失的影響，同時也可能沒有插入到恒溫槽的恒溫工作區(qū)。為了驗證這個結(jié)論，我們將這3支鉑電阻在校準(zhǔn)方法的基礎(chǔ)上又拔出10mm，測量結(jié)果如表3。這時R（0℃）、R（100℃）都不符合A級鉑電阻的標(biāo)準(zhǔn)了。

3 結(jié)束語

通過試驗數(shù)據(jù)我們可以看出校準(zhǔn)與檢定兩種方法的結(jié)果還是有差別的。換算成溫度誤差的話，在0℃兩者的相差0.1℃，而在100℃兩者的相差0.2℃左右。相較于A級鉑電阻的允許誤差，兩者的差別還是很明顯的。

由于檢定過程需要嚴(yán)格遵循檢定規(guī)程，所有通過檢定方法能保證鉑電阻的準(zhǔn)確性。而校準(zhǔn)則模擬了使用過程，更能體現(xiàn)出鉑電阻在實際應(yīng)用過程中的性能。

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作者簡介：朱毅晨（1985-），男，上海人，學(xué)歷：研究生，研究方向：儀器儀表。