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    LabScan?XE光譜光度計

    2016-12-16 17:12:38
    紡織檢測與標(biāo)準(zhǔn) 2016年4期
    關(guān)鍵詞:光度計孔徑校正

    儀器與設(shè)備

    LabScan?XE光譜光度計

    HunterLab公司LabScan?XE光譜光度計是一款功能更多、性能更優(yōu)、操作簡便及自動化程度較高的光譜光度計,它以全新的觀點測量顏色。

    1 LabScan?XE光譜光度計的主要特性

    (1)測試所有形狀、大小和結(jié)構(gòu)的顏色

    全新規(guī)格的光譜光度計LabScan?XE以肉眼看顏色的方式測量樣品顏色。它把顏色測量帶進了一個新的完全不同的先進技術(shù)水平,其操作更簡便、自動化程度更高、功能更多。從粉末、固體和液體到小球形、薄片、紗線或紙,LabScan?XE均可提供最佳的顏色測量,被廣泛應(yīng)用于塑料、紡織、涂料、食品、紙、化學(xué)品、藥品和建筑材料。

    (2)0°/45°光學(xué)幾何結(jié)構(gòu)

    相同顏色的樣品由于其表面光澤或紋理不同,人眼看的結(jié)果則是不同的顏色。LabScan?XE的0°/ 45°圓環(huán)幾何結(jié)構(gòu)利用含15點光纖環(huán)接受并平均從所有點來的反射光,這樣既得到快速、簡便的測試結(jié)果,還自動考慮了結(jié)構(gòu)、光潔或顆粒方面等變量對顏色的影響,所以結(jié)果與人眼一致。

    (3)新的測試通用性

    LabScan?XE憑借其空前的多功能性、簡便性和精度性,可以測量大小、形態(tài)和形狀各異的所有樣品。例如,最大的照明面積可達44 mm,可選的自動變化樣品照明面積(VSI)特性允許測試3 mm~44 mm的樣品,在測試樣品的大小和種方面有最大的適應(yīng)性。VSI特性在測試半透明固體或液體時同樣可以提供比較大的精度,更重要的是還可使測試孔向上、向前(旁側(cè))或帶一可選的支架垂直向下進行測試。另外,LabScan?XE還具有提供多臺儀器之間優(yōu)良的讀數(shù)一致性的特性。

    (4)配色或QC

    LabScan?XE適合于質(zhì)量控制和配色應(yīng)用,可以在實驗室或生產(chǎn)上與PC機連接使用,通過運行Universal?軟件進行質(zhì)量控制,或結(jié)合EasyMatch?軟件進行配色或QC,亦或兩者均用,也可與牢固的、可靠的DP-9000?處理器連接在惡劣的工廠環(huán)境使用。

    (5)建立新標(biāo)準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)特性

    0°/45°檢測方法可以測試和考慮在紋理和光潔度方面的變化,“看”顏色的方法與人眼一致,故評定結(jié)果與人眼一致;光譜光度計提供的最大反射孔尺寸為44 mm(1.75英寸),樣品尺寸和結(jié)構(gòu)變化范圍較寬,以便更好的觀察樣品;使用的氙燈無需更換,符合D65要求;內(nèi)置板維持最佳的測試穩(wěn)定性,具有自動反射校正功能;在實際操作時無風(fēng)扇或空氣過濾器無噪音,維修率低;緊湊的單件設(shè)計可以節(jié)省空間位置,無外置電源;雙光路系統(tǒng)具有最優(yōu)的精度、重現(xiàn)性和長期使用性;測試功能鍵在樣品孔旁邊,無需將手移到計算機上便可直接在測色儀上進行測試;特有的孔向上或向前結(jié)構(gòu)可以測試液體、固體、粉末或漿料。

    (6)可選特性

    擁有的自動可變樣品照明系統(tǒng)可使用戶設(shè)置照明到所需的尺寸(3~44 mm),計算機檢測孔板、照明面積和校正模式間的一致性以達到無誤測試,用戶可快速存儲和調(diào)用校正模式;觀察樣品位置的孔可以提供待測樣品面積的精確位置;可快速釋放的樣品夾較易在孔上定位適應(yīng)大的或畸形尺寸的樣品;孔向下支架允許紡織品或紙樣品測量時不受“襯墊”影響;自動UV控制和校正系統(tǒng)可以自動控制UV含量,以便始終如一地測試光學(xué)增白劑的樣品;自動包括/去除UV濾色片可以允許對包括和不包括UV能量進行測試,定量測試樣品熒光。

    2 LabScan?XE光譜光度計測量

    (1)測量原理

    幾何構(gòu)造:0°照明/通過15點的光纖以45°圓環(huán)觀察

    分光計:256個二極管矩陣和高分辨率凹面全息光柵

    方向:測量孔向上或向前,帶可選支架的孔向下觀察孔徑:

    大面積觀察:44 mm照明、50 mm測量

    可變樣品照明(VSI):3、6、13、25、44 mm照明,5、10、17、30、50 mm測量

    為VSI可選件的透鏡縮放:自動

    為VSI可選件的孔感知:孔板大小的自動感知

    鏡面反射部分:去除

    光譜范圍:400~700 nm

    波長分辨率:<3 nm

    波長精度:0.1 nm

    有效帶寬:10 nm等三角形

    報告間隔:10 nm

    光度范圍:0~150%

    光度分辨率:0.003%(報告的分辨率為0.01%)光源:脈沖氙燈,過濾后最符合標(biāo)準(zhǔn)D65光源燈壽命:10億次閃爍

    測量時間:<3 s

    測量間的最小時間間隔:3 s

    參考校正:自動到內(nèi)參考標(biāo)準(zhǔn)

    自動UV控制可選件:去除380 nm和420 nm濾色片,帶自動UV校正

    (2)性能

    色度重復(fù)性(20次讀數(shù)):白板 ΔΕ*≤0.09 CIELab,孔徑44 bmm;藍(lán)色粗紋板 ΔΕ*≤0.07 CIELab,孔徑44 mm

    儀器間一致性:ΔΕ*≤0.15 CIELab(平均),孔徑44 mm;ΔΕ*≤0.36 CIELab(最大),孔徑44 mm

    標(biāo)準(zhǔn)追蹤:儀器校正標(biāo)準(zhǔn)板追蹤到國家標(biāo)準(zhǔn)和技術(shù)研究所(NIST)值

    需要了解更多詳細(xì)信息請聯(lián)系上海貝夫化工科技有限公司www.shanion.com或www.hunterlab.com。

    聯(lián)系人:檀朝梅

    電 話:13311898096,021-54420373

    郵 件:maytcm@qq.com

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