基于錯(cuò)頻法的介質(zhì)損耗測(cè)試研究

郭 華,申忠如

（西安交通大學(xué)城市學(xué)院，陜西西安,710018）

基于錯(cuò)頻法的介質(zhì)損耗測(cè)試研究

郭 華,申忠如

（西安交通大學(xué)城市學(xué)院，陜西西安,710018）

采用錯(cuò)頻法可將同頻干擾的問題轉(zhuǎn)變?yōu)閷?duì)異頻干擾的濾除；在本測(cè)試系統(tǒng)中，選用微處理器外置DAC的方法產(chǎn)生準(zhǔn)確的激勵(lì)電源，并進(jìn)行程序再校驗(yàn)，避免了輸入信號(hào)相位漂移產(chǎn)生的誤差；利用同步分離法將待測(cè)的試品（電阻電容串聯(lián)等效）的實(shí)部和虛部分離，經(jīng)A/D轉(zhuǎn)換器送入微處理器計(jì)算介質(zhì)損耗因數(shù)。測(cè)試結(jié)果表明，該系統(tǒng)工作穩(wěn)定，介質(zhì)損耗因數(shù)的絕對(duì)誤差小于0.01%。

介質(zhì)損耗因數(shù)；錯(cuò)頻法；同步分離法；濾波

0　引言

絕緣損壞是電力設(shè)備故障的主要因素，高壓電容型設(shè)備在電力系統(tǒng)中占有很大的比例，而介質(zhì)損耗因數(shù)是反映其絕緣狀況的重要參數(shù)。通過測(cè)量介質(zhì)損耗角的正切值tanδ可以發(fā)現(xiàn)電氣設(shè)備絕緣整體受潮、劣化變質(zhì)以及局部放電等缺陷，對(duì)電力系統(tǒng)的安全運(yùn)行具有重要意義。

在介質(zhì)損耗的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量中，干擾主要來自外界工頻電網(wǎng)產(chǎn)生的強(qiáng)電場(chǎng)。這是因?yàn)榻橘|(zhì)損耗測(cè)量裝置內(nèi)部產(chǎn)生的高壓測(cè)量電源是由輸入工頻供電電源直接升壓得到的，其頻率與產(chǎn)生強(qiáng)電場(chǎng)干擾的電網(wǎng)是源于同一供電系統(tǒng)即兩者具有相同的頻率，因此會(huì)造成“工頻同頻干擾”。解決同頻干擾的較好的方法是改變測(cè)量頻率，即測(cè)量時(shí)使用不同于工頻的電源作為激勵(lì)電源，使50Hz的同頻干擾信號(hào)成為異頻干擾信號(hào)，可以用頻域鑒相的方法將其濾除，有效提高測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性。基于上述理論，本文在錯(cuò)頻測(cè)試的基礎(chǔ)上，結(jié)合同步分離法設(shè)計(jì)了一種以微處理器TM4C123GH6PM為核心的介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)。

1　錯(cuò)頻法測(cè)試介質(zhì)損耗原理

錯(cuò)頻法測(cè)試介質(zhì)損耗是將激勵(lì)源的頻率偏離工頻50Hz上下取值，本文選用45Hz和55Hz的功率信號(hào)作為激勵(lì)電源，分別進(jìn)行兩組重復(fù)測(cè)量；然后求平均值可得工頻下的介質(zhì)損耗值。錯(cuò)頻法測(cè)試介質(zhì)損耗的電路如圖1所示。

圖1中，輸入偏離工頻頻率的正弦波激勵(lì)信號(hào)作用于有介質(zhì)損耗的絕緣體，本文將其等效為電容和電阻的串聯(lián)阻抗。試驗(yàn)時(shí)，分別獲取兩條并聯(lián)支路的電流信號(hào)，經(jīng)過調(diào)理電路，濾除干擾信號(hào)送入數(shù)據(jù)處理單元，計(jì)算介質(zhì)損耗角tanδ的值。

2　同步分離法計(jì)算介質(zhì)損耗因數(shù)

2.1有介質(zhì)損耗的絕緣體等效模型

用電路的概念來描述，可以把有介質(zhì)損耗的絕緣體看成是電容和電阻的并聯(lián)或者串聯(lián)的等效阻抗，本文將電容和電阻的串聯(lián)。介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ定義為電介質(zhì)在施加電壓時(shí)所消耗的有功功率與無功功率的比值，即

圖1　錯(cuò)頻法介質(zhì)損耗測(cè)試原理框圖

其中，φ角為串聯(lián)等效模型的相位角；R和X分別為等效模型的實(shí)部和虛部。

2.2同步分離法測(cè)試原理

圖2為同步分離法測(cè)量阻抗的原理圖。采用相敏檢波技術(shù)把實(shí)部和虛部分離出來，然后取平均值，以便得到的實(shí)部（對(duì)應(yīng)R）和虛部（對(duì)應(yīng)X）按電壓的平均值輸出，將分離后的兩信號(hào)分別送入微處理器中處理得到測(cè)量值。

濾去2ωt項(xiàng)，有2）

式（2）和（3）即為被測(cè)阻抗Z的實(shí)部和虛部。聯(lián)立式（1）（2）

3　系統(tǒng)方案設(shè)計(jì)

圖2　同步分離法測(cè)量原理圖

圖4　低通濾波電路

圖3　系統(tǒng)方框圖

本系統(tǒng)原理方框圖如圖3所示，由激勵(lì)電源、同步分離電路、A/D轉(zhuǎn)換器、微處理器、D/A轉(zhuǎn)換器和LED顯示組成。激勵(lì)電源產(chǎn)生準(zhǔn)確的余弦信號(hào)作用于試品，并移相90°共同輸入同步分離電路；得到試品的實(shí)部和虛部后經(jīng)A/D轉(zhuǎn)換輸入微處理器中進(jìn)行計(jì)算，可得試品的介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ。

3.1激勵(lì)電源

本系統(tǒng)中的激勵(lì)電源由TM4C123GH6PM微處理器外置DAC7625產(chǎn)生，即產(chǎn)生N個(gè)固定周期為TN的脈沖信號(hào)組成的正弦波。具體過程為：根據(jù)正弦波激勵(lì)源的頻率fs求出其周期Ts，然后依據(jù)頻率高低及單片機(jī)的速度確定N；則有固定周期TN= Ts/N。為了方便編程，N一般取32、64、128、26、512等數(shù)值。

固定周期TN用微處理器的定時(shí)器實(shí)現(xiàn)，由若干計(jì)數(shù)脈沖組成，與機(jī)器周期相關(guān)。由于每條指令執(zhí)行都需要相應(yīng)數(shù)量的機(jī)器周期，所以實(shí)際編制的延時(shí)程序總的執(zhí)行時(shí)間與要求的延時(shí)時(shí)間就會(huì)有微量誤差，運(yùn)行時(shí)間越長(zhǎng)累積誤差越大。為了避免這個(gè)累積誤差造成輸出電壓信號(hào)頻率偏離要求值，影響介質(zhì)損耗因數(shù)的準(zhǔn)確性，必須對(duì)頻率進(jìn)行校驗(yàn)。

3.2同步分離電路

同步分離電路中的乘法器選用AD633，低通濾波器選用低噪聲雙運(yùn)放OPA2111。低通濾波電路直接關(guān)系到試品虛部和實(shí)部的提取。由OPA2111雙運(yùn)放搭建的低通濾波器截止頻率可低至10Hz，如圖4所示。

3.3A/D轉(zhuǎn)換器和微處理器

A/D的轉(zhuǎn)換過程是把模擬輸入范圍劃為2n段，由于ADC無法區(qū)分同一范圍內(nèi)的不同值，所以輸出碼字的誤差可達(dá)±1/2LSB。這種不確定性就是量化誤差，它是任何數(shù)字化過程中固有的限制，明顯的改善方法就是增大n值。A/D轉(zhuǎn)換器的位數(shù)越高量化誤差引起的相位計(jì)算絕對(duì)誤差越小，12位A/D即可達(dá)到絕對(duì)誤差在1×10-4以內(nèi)，但是在信號(hào)達(dá)到A/D滿度值的情況下，若信號(hào)的幅值降低，即相當(dāng)于A/D的位數(shù)降低，因此為保證在信號(hào)幅值在一定范圍內(nèi)，系統(tǒng)仍能達(dá)到測(cè)試儀要求的精度，故應(yīng)選擇14位A/D轉(zhuǎn)換器。由于A/D還有差分和積分非線性誤差，故應(yīng)該選擇差分和積分非線性誤差小的A/D。本文選用14位A/D芯片AD7865。

微處理器選用TI公司的TM4C123GH6PM，對(duì)A/D轉(zhuǎn)換器采集的試品實(shí)部和虛部進(jìn)行計(jì)算，并利用外置DAC生成準(zhǔn)確的激勵(lì)電源。主程序流程圖如圖5所示。

圖5　主程序流程圖

4　測(cè)試結(jié)果分析

本系統(tǒng)進(jìn)行模擬測(cè)試，測(cè)試電壓5V。試品為10000pF電容和660電阻串聯(lián)，測(cè)試重復(fù)十次結(jié)果如表1所示。試品介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ的理論計(jì)算值為2.07×10-3。

表1　10000pF電容試品的介質(zhì)損耗因數(shù)試驗(yàn)結(jié)果

5　結(jié)論

本文利用錯(cuò)頻法原理和同步分離法推導(dǎo)出介質(zhì)損耗因數(shù)的計(jì)算公式，設(shè)計(jì)了介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試系統(tǒng)。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，該系統(tǒng)工作穩(wěn)定，介質(zhì)損耗因數(shù)的絕對(duì)誤差小于0.01%。

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Research about Dielectric Loss Detector Based on Frequencyconversion Method

Guo Hua,Shen Zhongru
（Xi’an Jiaotong University City College,Xi’an,710018）

Adoptingfrequency-conversion method, the same frequency interference problemturned into filter for different frequency interference.In this measurement system, accurate test power-source gained by microprocessor external DAC and routine check, to avoid error of the input signal phase drift.According to the synchro separation method, the test item utilizing capacitance and resistance to simulate as dielectric loss measurement sample divided into real and imaginary part.A/D converter sent data to microprocessor to calculate dielectric loss factor. Test results show that the system working stability,the absolute error of dielectric factor less than 0.01%.

dielectric loss factor;frequency-conversion method;synch separation method;filter

TM934.32

郭華（1977-），女，山西忻州人，副教授，碩士，從事控制算法和測(cè)量技術(shù)研究；

申忠如（1946-），男，陜西米脂人，教授，從事測(cè)量與控制技術(shù)，智能儀器研究。