電子產(chǎn)品調(diào)試技術(shù)及故障分析

王斌

摘 要：在調(diào)試過程中出現(xiàn)故障是不可預(yù)計(jì)又是不可避免的，要在大量的元器件和電路結(jié)構(gòu)中迅速、準(zhǔn)確地找出故障原因是不易的。排故思路和依據(jù)就是從故障現(xiàn)象出發(fā)，通過分析電路原理圖，查線路和以元器件為中心進(jìn)行排查，檢查每個(gè)連接點(diǎn)是否在理論范圍內(nèi)，逐步找出故障的原因。當(dāng)調(diào)試過程中出現(xiàn)故障時(shí)，不可盲目地拆焊某些元器件，這樣不但會損壞電路板，而且會誤判斷故障來源，給真實(shí)故障的出現(xiàn)埋下隱患。

關(guān)鍵詞：儀器；調(diào)試；電路；電源

目前，隨著電子科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展和更新，其應(yīng)用已經(jīng)廣泛滲透到工業(yè)、農(nóng)業(yè)、交通、環(huán)境、國防等各個(gè)領(lǐng)域。一個(gè)合格的電子產(chǎn)品的誕生，不僅在初級階段要有完善可靠的設(shè)計(jì)思路、先進(jìn)的電子電路設(shè)計(jì)軟件的支持，更離不開精密電子元器件的安裝焊接和后期成熟的調(diào)試檢測技術(shù)，其中產(chǎn)品調(diào)試是一個(gè)重要的生產(chǎn)環(huán)節(jié)，它是產(chǎn)品出廠前的最后一道關(guān)口，是鑒定產(chǎn)品性能好壞和保證質(zhì)量穩(wěn)定可靠性的關(guān)鍵步驟，特別是在涉及人身安全、國防軍事的電子產(chǎn)品，調(diào)試環(huán)節(jié)顯得尤為重要。具體地來說，電子電路在調(diào)試中應(yīng)注意以下幾個(gè)方面。

1 調(diào)試與檢測儀器

調(diào)試的常用的電源儀器有：直流穩(wěn)壓源、交流電源、可編程控制電源等；信號分析儀器有：示波器、信號發(fā)生器、微波源等；測量儀器有：電流電壓表、數(shù)字多用表、頻譜儀等；專用測量儀器：阻抗、容抗測試儀、絕緣電阻表等；輔助設(shè)備：工控機(jī)、仿真器、燒錄器等。傳統(tǒng)儀器的使用方法應(yīng)注意以下幾點(diǎn)：

（1）首先熟悉掌握儀器儀表的使用說明書，操作是選擇正確的儀器功能鍵。

（2）合理接線：順著信號傳輸方向，力求最短；正負(fù)極接線避免短接。

（3）保證精度：定期校驗(yàn)校準(zhǔn)；儀器開啟后預(yù)熱一段時(shí)間后再使用。

（4）防干擾：多臺儀器并用時(shí)應(yīng)采用共地方式；輸入信號與輸出信號分離，傳輸線勿平行，必要時(shí)可用錫紙纏繞線束；有接插件時(shí)應(yīng)減少線纜的扭矩。

（5）插好電源線后，再打開儀器開關(guān)，避免因瞬間電流過大損壞儀器；斷開電源開關(guān)不等于切斷電源，只有把下電源插頭斷開才是真正斷開。

2 調(diào)試前的準(zhǔn)備

（1）調(diào)試工作臺的搭設(shè)：工作臺配備所需的調(diào)試儀器擺設(shè)應(yīng)遵循：操作使用方便，電源重物設(shè)備在下，測量儀器在上的原則，目的是便于信號觀察、便于儀器操作，減少和避免錯(cuò)誤概率的發(fā)生；工作臺臺面應(yīng)保持干凈、整潔和做好防靜電措施保護(hù)等，養(yǎng)成良好的調(diào)試習(xí)慣。

（2）工藝、圖紙、工裝的準(zhǔn)備：調(diào)試工藝文件是產(chǎn)品質(zhì)量保證的唯一依據(jù)，是必不可缺少的現(xiàn)場指導(dǎo)資料；圖紙是在調(diào)試電路板出現(xiàn)故障時(shí)便于查閱參考，是設(shè)計(jì)者的原始思想；調(diào)試過程中，不但要認(rèn)真觀察和測量，還要記錄測量的數(shù)據(jù)、波形和相位關(guān)系等。只有掌握大量的可靠的記錄并與理論結(jié)果加以比較，才能不斷發(fā)現(xiàn)問題，完善工藝文件及改進(jìn)設(shè)計(jì)方案。

（3）電源準(zhǔn)備：首先確定儀器所使用的電壓是否是220V交流，其次要使用穩(wěn)壓穩(wěn)流電源，用萬用表檢查電源與地線之間的電阻值，檢查電源與地線之間是否存在短路現(xiàn)象。

3 調(diào)試的一般步驟

（1）直接觀察。首先觀察待調(diào)試產(chǎn)品的焊接是否無誤，有無明顯的短路、斷路等現(xiàn)象；看元件有無明顯的機(jī)械損壞，例如破裂、錯(cuò)位、變形、虛焊等，檢查芯片是否插牢，不易觀察的焊點(diǎn)是否存在虛焊、漏焊的現(xiàn)象，此步驟可以有效地減少故障的發(fā)生，將故障排除在最初，降低故障發(fā)生率，提高產(chǎn)品質(zhì)量。

（2）電源調(diào)整。調(diào)試電源應(yīng)具有穩(wěn)壓/穩(wěn)流自動轉(zhuǎn)換的功能，即在保護(hù)電流范圍內(nèi)，電源以穩(wěn)壓方式工作，超過保護(hù)電流即以穩(wěn)流方式工作（此時(shí)輸出電壓降低）。電源在接入電路前先調(diào)好電壓電流，一般調(diào)試時(shí)，電壓采用設(shè)計(jì)工作電壓，保護(hù)電流可調(diào)到工作電流的1.2～1.5倍。如果電路設(shè)計(jì)時(shí)沒有給出電流，可根據(jù)電路原理估算，電路板設(shè)置通常在1A以下。接通電路時(shí)注意觀察電壓表，如果電壓值迅速下降則應(yīng)立即關(guān)電源檢查。

（3）連接測試電纜和測試工裝，進(jìn)一步檢查電源是否設(shè)置正確，確認(rèn)無誤后再給產(chǎn)品加電，加電順序遵循電壓由小后大的原則。通電后立刻觀察電路板是否有異常聲響，是否有燒焦的異味；用手去試探元器件的表面溫度是否異常，例如，一些功率器件如果摸上去是涼的，則基本上可以判斷它沒有工作起來；但如果不該熱的地方熱了或者發(fā)燙，應(yīng)立刻關(guān)閉電源按鍵，進(jìn)行全面檢查。

（4）先靜態(tài)調(diào)試，后動態(tài)調(diào)試。a.對模擬電路而言，一般是不加輸入信號并將輸入端接地，進(jìn)行直流測試，包括各部分直流工作點(diǎn)，靜態(tài)電流等參數(shù)進(jìn)行調(diào)整，使之符合設(shè)計(jì)要求，然后再加上輸入信號，進(jìn)行測量和調(diào)整電路。b.對數(shù)字電路來說，先不送入數(shù)據(jù)而先測量各邏輯電路的有關(guān)直流參數(shù)，然后再輸入數(shù)據(jù)進(jìn)行功能調(diào)試。c.對多級信號處理電路或多種功能組合電路要采用先分級、分模塊調(diào)試，最后進(jìn)行整體系統(tǒng)調(diào)試的方法。這樣使調(diào)試工作條理清楚、便于操作，另一方面可以避免一部分電路失常而影響或損壞相關(guān)其他電路。

（5）故障排除。在調(diào)試過程中出現(xiàn)故障是不可期望又是不可避免的，要在大量的元器件和電路結(jié)構(gòu)中迅速、準(zhǔn)確地找出故障原因是不易的。排故思路和依據(jù)就是從故障現(xiàn)象出發(fā)，通過分析電路原理圖，查線路和以元器件為中心進(jìn)行排查，用儀器檢查每個(gè)連接點(diǎn)是否在理論范圍內(nèi)，逐步找出故障的原因。當(dāng)調(diào)試過程中出現(xiàn)故障時(shí)，不可盲目地拆焊某些元器件，這樣不但會損壞電路板焊點(diǎn)，提高調(diào)試排故成本，而且會誤判斷故障來源，給真實(shí)故障的出現(xiàn)埋下隱患。故障原因有的是元器件損壞失效，還有的是連線發(fā)生短路或斷路（如焊點(diǎn)虛焊，接插件接觸不良，可變電阻器、電位器、電容等接觸不良，接觸面表面鍍層氧化等），還可能是外界環(huán)境的使用條件發(fā)生變化（如電網(wǎng)電壓波動，過流，電磁干擾，過冷或過熱的等環(huán)境因素）影響電子設(shè)備的正常運(yùn)行。

4 調(diào)試中應(yīng)注意的其他問題

（1）在插入和拔出集成電路芯片時(shí)，為防止芯片受損需謹(jǐn)慎操作。插入芯片時(shí)芯片缺口應(yīng)與管座缺口的方向一致，一般缺口朝左，使所有引腳均對準(zhǔn)插座板上的針孔，均勻用力按下；拔出時(shí)，必須用專用拔鉗，夾住集成塊兩端，垂直向上拔起，或用小起子對撬，以免使其引腳因受力不勻而彎曲或折斷。

（2）調(diào)試中的測試連線一般應(yīng)選用直徑為Ф0.35mm～Ф0.8mm的單

股導(dǎo)線，長度適中，布線時(shí)要注意在電路板周圍走線，避免導(dǎo)線在電路板上方跨過，以免妨礙排故或調(diào)換器件；電路中不同功能的導(dǎo)線應(yīng)盡量采用不同的顏色，如電源線用紅色，接地線用黃色等。布線的順序是先布電源線和地線，再布其他連線（如連接信號源、示波器等），最后再逐級連接控制線及各種邏輯線。必要時(shí)可以邊接線邊測試，逐步進(jìn)行。走線時(shí)應(yīng)盡可能遮蓋裸露的金屬，以免其他導(dǎo)線的接觸而造成短路。

（3）做好防靜電措施：保持室內(nèi)濕度、戴防靜電手腕、設(shè)備良好接地、勤洗手等。

5 結(jié)束語

當(dāng)今沒有一種電子產(chǎn)品可以“免調(diào)試”，即使某些功能結(jié)構(gòu)較簡單的所謂“免調(diào)試”產(chǎn)品，實(shí)際免除的是元器件參數(shù)的調(diào)整，因?yàn)椴唤?jīng)過調(diào)試檢測是無法證明產(chǎn)品質(zhì)量的。隨著電子信息產(chǎn)業(yè)的飛速發(fā)展，電子產(chǎn)品已發(fā)展到一個(gè)全新的時(shí)代，產(chǎn)品功能越來越豐富，更新?lián)Q代速度越來越快，體積尺寸越來越小，傳統(tǒng)的人工測試越來越不適應(yīng)新的發(fā)展需要，于是自動測試技術(shù)在強(qiáng)大的驅(qū)動力作用下迅速發(fā)展，由靜態(tài)測試到動態(tài)測試，由初級故障檢測到高級組合測試，在引入網(wǎng)絡(luò)技術(shù)、Boundary Scan（邊界掃描）和CIMS（計(jì)算機(jī)集成制造系統(tǒng)）等技術(shù)后，將開創(chuàng)未來電子產(chǎn)品調(diào)試檢測的新時(shí)代。

參考文獻(xiàn)

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