愛德萬測試:創(chuàng)新是企業(yè)的生命力

本刊記者 蘆瀟靜

愛德萬測試:創(chuàng)新是企業(yè)的生命力

本刊記者 蘆瀟靜

中國政府強(qiáng)有力的扶持政策成為我國半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)快速發(fā)展的強(qiáng)大驅(qū)動(dòng)力。雖然不少中國設(shè)計(jì)公司已然躋身于全球第一梯隊(duì)，但垂直整合的半導(dǎo)體企業(yè)大多還在摸索之中，這也意味著中國市場具有很大的發(fā)展空間。對于21年前就在上海成立中國公司的愛德萬測試而言，這是絕佳的機(jī)遇。一向注重創(chuàng)新的愛德萬測試，通過不斷研發(fā)新品、拓展新業(yè)務(wù)來迎接這一市場機(jī)遇。在近日舉辦的記者發(fā)布會上，愛德萬測試全球市場副總裁Judy Davies，以及愛德萬測試中國的市場銷售總經(jīng)理陸樂和負(fù)責(zé)業(yè)務(wù)戰(zhàn)略發(fā)展的夏克金博士，共同分享了公司的最新發(fā)展?fàn)顩r。

Wave Scale測試板卡提供更加經(jīng)濟(jì)高效的測試方案

愛德萬測試基于經(jīng)典的V93000平臺推出了Wave Scale系列測試板卡，對于無線通信而言，可以前所未有地提高射頻及混合信號集成電路測試時(shí)的并行性及產(chǎn)能。新款V93000 Wave Scale RF及V93000 Wave Scale MX測試板卡，瞄準(zhǔn)射頻及無線通信市場，可實(shí)現(xiàn)高并行、多芯片同測及芯片內(nèi)并行測試，從根本上降低測試成本，縮短產(chǎn)品上市時(shí)間，同時(shí)為未來5G芯片的測試開辟出一條新的路徑。

Wave Scale RF板卡在每塊板上擁有4個(gè)獨(dú)立的射頻子系統(tǒng)，并帶有獨(dú)立的信號激勵(lì)及測量能力，能夠在同一時(shí)間對LTE、GPS、藍(lán)牙、WLAN器件進(jìn)行測試。每個(gè)子系統(tǒng)帶有8個(gè)單獨(dú)的端口，能夠同時(shí)將射頻信號扇出到最多4個(gè)獨(dú)立的測量儀器。這能使每個(gè)射頻子系統(tǒng)能夠支持多達(dá)8個(gè)芯片運(yùn)行RX（接收器）和TX（發(fā)射器）的測試，每塊板卡支持多達(dá)32個(gè)芯片同時(shí)測試。Wave Scale RF板卡的32個(gè)射頻端口都能支持最高至6 GHz的頻率。憑借200 MHz帶寬，以及包括提供內(nèi)部回路、嵌入式校準(zhǔn)等在內(nèi)的其他各種特性，Wave Scale RF板卡能很好地支持包括未來5G半導(dǎo)體器件在內(nèi)的廣泛的應(yīng)用。

Wave Scale MX高速混合信號測試板卡為模擬IQ基帶應(yīng)用及高速DAC和ADC測試進(jìn)行了優(yōu)化，每塊板卡上擁有32個(gè)完全獨(dú)立的測試儀器，并且每個(gè)通道上帶有一個(gè)額外的參數(shù)測量單元（PMU）以實(shí)現(xiàn)高精度的DC測量。憑借300 MHz的帶寬，這塊板卡能夠支持最新的調(diào)制標(biāo)準(zhǔn)，包括對基帶復(fù)合信號進(jìn)行帶外測量。

T5830存儲器測試系統(tǒng)滿足Flash器件測試成本效益需求

根據(jù)市場分析機(jī)構(gòu)VLSI Research的調(diào)研，隨著便攜式電子應(yīng)用的蓬勃發(fā)展，預(yù)計(jì)到2018年，F(xiàn)lash存儲器測試系統(tǒng)的全球市場將達(dá)到1億4800萬美元。經(jīng)濟(jì)高效地測試非易失性存儲器件，需要一個(gè)多功能的、靈活的測試平臺來確保用戶的投資回報(bào)率，并降低設(shè)備投資風(fēng)險(xiǎn)。

愛德萬測試全新的T5830存儲器測試系統(tǒng)，作為T5800測試平臺的新成員正式投放市場，用于全面覆蓋移動(dòng)電子市場Flash器件的各種測試需求，并向用戶提供最優(yōu)化的測試解決方案。T5830測試系統(tǒng)同時(shí)具備支持前道晶圓測試以及后道封裝測試的能力。其測試模塊（Tester On Module）內(nèi)置的可編程電源通道（PPS）的可擴(kuò)展架構(gòu)，可為不同引腳數(shù)量的芯片提供靈活經(jīng)濟(jì)的硬件資源分配組合。

T5830測試系統(tǒng)非常適合測試采用標(biāo)準(zhǔn)串行外圍接口協(xié)議（SPI）的NOR和NAND Flash器件，以及引腳數(shù)較少的Flash器件（如智能卡、SIM、EEPROMs、內(nèi)嵌式Flash等），可以完全應(yīng)對并充分滿足中國大陸和臺灣地區(qū)蓬勃發(fā)展的物聯(lián)網(wǎng)與智能卡市場的測試需求。

T5851為通用閃存設(shè)備及PCle BGA固態(tài)硬盤提供系統(tǒng)級測試

愛德萬測試專為高效能通用快閃儲存（UFS）元件與PCIe BGA固態(tài)硬盤（SSD）提供了低成本測試解決方案，即T5851系統(tǒng)，可滿足智能手機(jī)、平板電腦、超便攜式產(chǎn)品等低功耗、移動(dòng)應(yīng)用市場對于存儲器IC的強(qiáng)勁需求。

T5851測試系統(tǒng)具有量產(chǎn)機(jī)型與工程開發(fā)機(jī)型，客戶可以根據(jù)應(yīng)用需求彈性運(yùn)用于可靠性測試、品質(zhì)檢驗(yàn)測試、測試程序開發(fā)測試等用途，也能在搭載自動(dòng)化動(dòng)態(tài)機(jī)械手（如愛德萬測試的M6242）的架構(gòu)下，應(yīng)用于量產(chǎn)環(huán)境。T5851是一套完全整合式的系統(tǒng)級測試解決方案，不僅能支持多種協(xié)議，且具備tester-per-DUT架構(gòu)與專有的硬件加速器，使測試時(shí)間與效率領(lǐng)先業(yè)界。

勤于創(chuàng)新，才能不斷發(fā)展

愛德萬測試在測試領(lǐng)域耕耘多年，近兩年新增了太赫茲頻段信號測量和MEMS兩個(gè)領(lǐng)域，其每年銷售收入的20%都會投入到新產(chǎn)品研發(fā)中。為了更加貼近中國市場，繼北京、蘇州、成都之后，愛德萬測試又在西安成立了研發(fā)中心，并尋求未來在深圳設(shè)置分支的可能性。除了各地的研發(fā)中心外，愛德萬測試的全球應(yīng)用研發(fā)中心也設(shè)立在中國，旗下100名經(jīng)驗(yàn)豐富的工程師，在服務(wù)于全球客戶的同時(shí)，竭力為中國本土客戶提供最佳服務(wù)。