新生兒低血糖腦損傷振幅整合腦電圖特征分析

袁愛(ài)珍

新生兒低血糖腦損傷振幅整合腦電圖特征分析

袁愛(ài)珍

【摘要】目的 分析新生兒低血糖腦損傷振幅整合腦電圖（aEEG）特征。方法 對(duì)比兩組低血糖新生兒aEEG特征。結(jié)果 兩組SWC出現(xiàn)頻率、aEEG差值差異顯著（P＜0.05）。結(jié)論 aEEG可用來(lái)動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)低血糖腦損傷。

【關(guān)鍵詞】低血糖；腦損傷；aEEG

持續(xù)、反復(fù)的低血糖可能導(dǎo)致新生兒永久性腦損傷，進(jìn)而遺留認(rèn)知障礙、腦癱等后遺癥，對(duì)于新生兒健康成長(zhǎng)非常不利[1]。因而必須準(zhǔn)確識(shí)別病情，評(píng)估預(yù)后。振幅整合腦電圖（aEEG）是單通道、時(shí)間壓縮腦電圖監(jiān)測(cè)，可簡(jiǎn)便有效評(píng)估患者腦功能，在國(guó)外已廣泛應(yīng)用于新生兒床旁腦電連續(xù)監(jiān)測(cè)。本研究對(duì)低血糖新生兒的aEEG特征進(jìn)行觀察，探討aEEG在預(yù)測(cè)新生兒低血糖腦損傷中的應(yīng)用價(jià)值，現(xiàn)報(bào)告如下。

1　資料與方法

1.1一般資料

選取我院于2014年12月～2015年5月收治的低血糖新生兒25例，均符合新生兒低血糖診斷標(biāo)準(zhǔn)。納入標(biāo)準(zhǔn)：外觀無(wú)畸形，＞28 d；靜脈血氨和乳酸濃度正常；排除缺氧缺血性腦病、顱內(nèi)出血、敗血癥等。腦損傷診斷標(biāo)準(zhǔn)：意識(shí)改變；原始反射改變；出生后2 d內(nèi)出現(xiàn)肌張力改變，即肌張力降低或增高或癲癇性發(fā)作或喂養(yǎng)困難；呼吸困難。參照MRI結(jié)果將25例患兒分為腦損傷組11例和無(wú)腦損傷組14例。患兒家長(zhǎng)均知情同意。

1.2方法

1.2.1血糖監(jiān)測(cè) 入院后，采用美國(guó)羅氏公司ACCU-CHEH血糖儀立即測(cè)血糖，并常規(guī)監(jiān)測(cè)3 d，1次/6 h，若血糖正常在3 d之后停止監(jiān)測(cè)，若發(fā)現(xiàn)低血糖病例，應(yīng)增加監(jiān)測(cè)的次數(shù)，對(duì)癥治療后血糖趨于穩(wěn)定可逐步減少血糖監(jiān)測(cè)次數(shù)，靜脈補(bǔ)液停止后若能維持血糖正常3 d以上可停止監(jiān)測(cè)。

1.2.2aEEG監(jiān)測(cè) 采用國(guó)產(chǎn)CFM 3000數(shù)字化腦電圖儀進(jìn)行描記，描記前將患兒頭皮清潔干凈。接通電源，校正儀器，電極位置在雙頂骨，兩電極點(diǎn)距75 mm，雙頂骨參考電極位于頭頂中央向前25 mm額中線上。以半對(duì)數(shù)形式將腦電信號(hào)描記在熱敏感紙上，每次描記12 h。分別在診斷低血糖當(dāng)天和血糖穩(wěn)定后5 d或診斷低血糖10 d左右進(jìn)行描記，監(jiān)測(cè)時(shí)間為12 h。

1.2.3aEEG圖形分析 采用盲法判讀，由兩位對(duì)早產(chǎn)兒aEEG有豐富經(jīng)驗(yàn)的臨床醫(yī)生采用半對(duì)數(shù)公式對(duì)aEEG檢測(cè)資料進(jìn)行電壓測(cè)量，結(jié)合綜合評(píng)分系統(tǒng)對(duì)aEEG圖形進(jìn)行分析，從連續(xù)性、電壓下屆振幅、睡眠-覺(jué)醒周期（SWC）等方面進(jìn)行評(píng)估，計(jì)算低血糖新生兒每次aEEG得分，參照綜合評(píng)分系統(tǒng)求出與其各自孕周平均得分的平均值之差，以消除不同孕周所造成的差異。

1.3統(tǒng)計(jì)學(xué)處理

采用SPSS19.0軟件包對(duì)所有數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，數(shù)據(jù)以（均數(shù)±標(biāo)準(zhǔn)差）（±s）表示，計(jì)量資料采用t檢驗(yàn)，計(jì)數(shù)資料采用χ2檢驗(yàn)，以P＜0.05為差異具有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義。

2　結(jié)果

11例低血糖新生兒腦顱MRI信號(hào)表現(xiàn)出不同程度異常，aEEG有頻發(fā)冒狀或鋸齒狀的驚厥持續(xù)狀態(tài)發(fā)作，臨床表現(xiàn)出萎靡、肌張力降低、呼吸困難、吸吮反射改變，這11例患兒為低血糖腦損傷患兒，低血糖平均持續(xù)時(shí)間（67.2±34.6）h。另14低血糖新生兒腦顱MRI信號(hào)無(wú)異常，aEEG無(wú)驚厥或偶發(fā)驚厥或驚厥持續(xù)性發(fā)作，臨床僅表現(xiàn)出萎靡和肌張力低下，這14例患兒為無(wú)腦損傷患兒，低血糖平均持續(xù)時(shí)間（14.9±25.6）h。兩組低血糖平均持續(xù)時(shí)間差異顯著（P＜0.05）。

比較腦損傷組和無(wú)腦損傷組患兒aEEG下邊界和振幅無(wú)顯著差異（P＞0.05）。第1次aEEG監(jiān)測(cè)顯示腦損傷組SWC出現(xiàn)頻率27.3%，無(wú)腦損傷組SWC出現(xiàn)頻率100.0%，第2次aEEG監(jiān)測(cè)顯示腦損傷組SWC出現(xiàn)頻率54.5%，無(wú)腦損傷組SWC出現(xiàn)頻率100.0%，兩組比較差異均具有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義（P＜0.05）。兩組aEEG所得分?jǐn)?shù)與各自孕周平均得分的平均值之差比較差異顯著（P ＜0.05），見(jiàn)表1。

表1　兩組aEEG所得分?jǐn)?shù)與同胎齡平均得分差值比較 [分，（±s）]

表1　兩組aEEG所得分?jǐn)?shù)與同胎齡平均得分差值比較 [分，（±s）]

組別 　　第1次 　　第2次腦損傷組 　6.1±0.9 　4.7±1.9無(wú)腦損傷組 　0.7±0.6 　0.7±0.6

3　討論

由于新生兒出生時(shí)肝臟尚未儲(chǔ)存足夠糖原，大腦只能從肝臟糖原中獲取有限的葡萄糖，所以新生兒容易出現(xiàn)低血糖。對(duì)于一過(guò)性腦損傷患兒，經(jīng)過(guò)積極的治療后期往往不會(huì)留下后遺癥，但大量研究表明，持續(xù)、反復(fù)的低血糖可能導(dǎo)致新生兒永久性腦損傷，進(jìn)而導(dǎo)致其出現(xiàn)智力發(fā)育緩慢、視聽(tīng)障礙，遺留認(rèn)知障礙、腦癱等后遺癥。新生兒低血糖嚴(yán)重程度不僅與神經(jīng)系統(tǒng)的損傷程度有關(guān)，還與低血糖持續(xù)時(shí)間有關(guān)[2]。本研究中，低血糖新生兒中有腦損傷患兒的低血糖持續(xù)時(shí)間比無(wú)腦損傷患兒低血糖持續(xù)時(shí)間更長(zhǎng)，其血糖水平更低。

aEEG是一種有效的監(jiān)測(cè)腦皮質(zhì)電活動(dòng)的方法，只記錄一個(gè)通道的信號(hào)，首先將采集信號(hào)放大，通過(guò)波段濾波器將＜2 Hz和＞15 Hz的信號(hào)濾除，最后以緩慢的速度將信號(hào)輸出在屏幕上。有關(guān)研究表明，aEEG可用于足月兒缺血缺氧性腦病的早期診斷，嬰兒窒息后6 h內(nèi)aEEG的異常改變能早期發(fā)現(xiàn)缺血缺氧性腦病。有研究者建立了動(dòng)物模型，結(jié)果顯示圍產(chǎn)期有缺血缺氧性腦病豬腦的腦電活動(dòng)早期明顯降低，在2 h之后進(jìn)行再灌注和再供氧的豬的aEEG有所改善，同時(shí)比較人類相關(guān)病例生理學(xué)，發(fā)現(xiàn)aEEG類型與新生兒缺血缺氧性腦病有很好相關(guān)性和一致性，提示可將aEEG作為早期腦損傷的敏感指標(biāo)[3-5]。本研究顯示，低血糖腦損傷患兒aEEG有頻發(fā)冒狀或鋸齒狀的驚厥持續(xù)狀態(tài)發(fā)作，而血糖糾正后在恢復(fù)期仍有散發(fā)或頻發(fā)癲癇發(fā)作。

aEEG背景活動(dòng)存在規(guī)律的周期性變化，腦功能狀態(tài)完善的體現(xiàn)是腦電波的正常調(diào)節(jié)和調(diào)幅。SWC完整，提示新生兒的背景腦電活動(dòng)隨著睡眠狀態(tài)、清醒狀態(tài)等的變化而變化，揭示了新生兒腦電活動(dòng)反應(yīng)性良好，說(shuō)明其腦功能狀態(tài)良好。腦功能受損，則SWC缺失，本研究中，腦損傷組患兒SWC出現(xiàn)頻率遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于無(wú)腦損傷組，其中有9例嚴(yán)重低血糖腦損傷患兒中，其SWC全部消失，而MRI也提示具有嚴(yán)重腦損傷。

綜上所述，aEEG與MRI具有良好一致性，可用來(lái)動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)低血糖腦損傷。

參考文獻(xiàn)

[1] 郭志梅. 新生兒低血糖腦損傷振幅整合腦電圖特征研究[J]. 臨床兒科雜志，2013，31（11）：1019-1023.

[2] 趙月喬. 振幅整合腦電圖在新生兒腦損傷中的應(yīng)用[D]. 廣州：南方醫(yī)科大學(xué)，2013：14.

[3] 祝偉. 新生兒低血糖腦損傷時(shí)腦電生理功能改變與臨床預(yù)后的關(guān)系[J]. 中國(guó)婦幼保健，2014，29（8）：1201-1203.

[4] 鄧松清. 振幅整合腦電圖在早產(chǎn)兒腦損傷早期診斷的研究[J]. 四川大學(xué)學(xué)報(bào)，2013，44（2）：280-283.

[5] 王海霞. 新生兒缺氧缺血性腦病綜合性治療的臨床分析[J]. 中國(guó)衛(wèi)生標(biāo)準(zhǔn)管理，2014，5（15）：35-36.

作者單位：475001 開(kāi)封市兒童醫(yī)院神經(jīng)電生理室

Analysis of Characteristics of Neonatal Hypoglycemic Brain Injury Amplitude Integration of Electroencephalogram

YUAN Aizhen, Kaifeng City Children's Hospital neurophysiological room, Kaifeng 475001, China

[Abstract]Objective Analysis of the aEEG characteristics of neonatal hypoglycemic brain damage. Methods Comparison of two groups of low blood sugar in neonatal aEEG characteristics. Results The difference of SWC between the two groups was significant (aEEG), the difference was significant (P<0.05). Conclusion aEEG can be used to dynamically monitor the brain damage of hypoglycemia.

[Key words]Hypoglycemia, Brain damage, aEEG

doi：10.3969/j.issn.1674-9308.2015.20.082

【文章編號(hào)】1674-9308（2015）20-0112-02

【文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼】B

【中圖分類號(hào)】R722.1