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      基于元認(rèn)知學(xué)習(xí)策略的Mark點(diǎn)設(shè)計(jì)

      2015-11-11 13:14:06張海峰郝秀云劉克能
      科技視界 2015年5期
      關(guān)鍵詞:板面空曠元認(rèn)知

      彭 琛 張海峰 郝秀云 劉克能

      (1.南京信息職業(yè)技術(shù)學(xué)院機(jī)電學(xué)院,江蘇 南京 210023;2.南京理工大學(xué)教務(wù)處,江蘇 南京 210094;3.挪拉通科技〈蘇州〉有限公司,江蘇 蘇州 215021)

      元認(rèn)知是弗拉維爾(Flavel)于20世紀(jì)70年代提出的一個(gè)概念,他認(rèn)為:元認(rèn)知就是個(gè)體關(guān)于自己的認(rèn)知過(guò)程的知識(shí)和調(diào)節(jié)這些過(guò)程的能力。元認(rèn)知策略是一種典型的學(xué)習(xí)策略,即通過(guò)確定學(xué)習(xí)目標(biāo)--制定學(xué)習(xí)計(jì)劃—開展學(xué)習(xí)—學(xué)習(xí)反饋—調(diào)整學(xué)習(xí)內(nèi)容、方式或途徑等—再學(xué)習(xí)和反饋—……—直到達(dá)成目標(biāo)。下面,本文以學(xué)習(xí)Mark點(diǎn)的設(shè)計(jì)為例,介紹如何通過(guò)元認(rèn)知的學(xué)習(xí)策略進(jìn)行自主學(xué)習(xí)。

      1 元認(rèn)知學(xué)習(xí)實(shí)施方案

      1)確定學(xué)習(xí)目標(biāo):掌握與Mark點(diǎn)設(shè)計(jì)有關(guān)的理論知識(shí)和設(shè)計(jì)實(shí)踐。

      2)制定學(xué)習(xí)計(jì)劃:

      ①通過(guò)查閱紙質(zhì)書籍、網(wǎng)絡(luò)資源或同學(xué)、朋友、老師之間的探討,了解與Mark點(diǎn)作用、設(shè)計(jì)理論有關(guān)的知識(shí)。

      ②將上述理論知識(shí)梳理出來(lái),并就其中的基礎(chǔ)部分、設(shè)計(jì)要點(diǎn)以及易出錯(cuò)部分記錄下來(lái),最好能找到案例予以佐證。

      ③進(jìn)行上機(jī)實(shí)踐,與理論知識(shí)進(jìn)行對(duì)照,并請(qǐng)其他有經(jīng)驗(yàn)的人員幫助評(píng)判(比如老師),進(jìn)行學(xué)習(xí)效果反饋。

      ④根據(jù)反饋結(jié)果,調(diào)整學(xué)習(xí)方式、學(xué)習(xí)方法或?qū)W習(xí)途徑。

      ⑤再學(xué)習(xí)、再反饋、再調(diào)整直到達(dá)成目標(biāo)。

      ⑥學(xué)習(xí)總結(jié)。

      2 Mark點(diǎn)設(shè)計(jì)理論學(xué)習(xí)

      2.1 Mark點(diǎn)的構(gòu)成要素及其設(shè)計(jì)參數(shù)

      一個(gè)完整的Mark點(diǎn)包括:標(biāo)記點(diǎn)或特征點(diǎn)和空曠區(qū),如圖1所示。標(biāo)記點(diǎn)常見的形狀如圖2所示。

      圖1 基準(zhǔn)點(diǎn)的組成

      圖2 常見Mark點(diǎn)圖形

      一般情況下,標(biāo)記點(diǎn)應(yīng)優(yōu)選直徑為Φ1mm(±0.2mm)的實(shí)心圓,空曠區(qū)圓半徑r≥2R(R為標(biāo)記點(diǎn)半徑),當(dāng)r=3R時(shí),設(shè)備識(shí)別效果最好。

      2.2 Mark點(diǎn)的布局布線要求

      因?yàn)榭臻g中,不在一條直線上的3個(gè)點(diǎn)可以確定一個(gè)平面,所以,若條件允許,可在需要進(jìn)行貼裝元件的PCB板面上呈“L”形放置3個(gè)Mark點(diǎn),如圖3所示。但若板面緊張或受到其它方面的限制,不能放置3個(gè)Mark點(diǎn),則在需要進(jìn)行貼裝的板面上至少放置一對(duì)Mark點(diǎn),呈對(duì)角放置,但不能完全對(duì)稱,如圖4所示。

      圖3 呈“L”形放置的Mark點(diǎn)

      圖4 對(duì)角放置的Mark點(diǎn)

      另外,Mark點(diǎn)距離PCB板邊緣距離必須大于SMT設(shè)備夾持的最小間距要求,且必須在PCB板內(nèi)而非在板邊,并滿足最小的基準(zhǔn)點(diǎn)空曠度要求。此外,為了保證印刷設(shè)備和貼片設(shè)備的識(shí)別效果,Mark點(diǎn)空曠區(qū)應(yīng)無(wú)其它走線、絲印、焊盤或V-Cut等,與其它同類型金屬圓點(diǎn)(如測(cè)試點(diǎn)等)的距離不低于5mm,如圖5所示。

      圖5 Mark點(diǎn)布局布線要求

      2.3 Mark點(diǎn)的制造要求

      制造PCB裸板時(shí),同一PCB板上Mark點(diǎn)尺寸變化不能超過(guò)25μm。否則尺寸變化過(guò)大,機(jī)器影像獲得的數(shù)據(jù)偏差會(huì)超出標(biāo)準(zhǔn)值的變化范圍,從而做出拒絕進(jìn)板和報(bào)警,影響生產(chǎn)效率。

      Mark點(diǎn)標(biāo)記的表面平整度應(yīng)該在15μm之內(nèi),且所有Mark點(diǎn)的內(nèi)層背景必須相同。否則平整度不好,可能會(huì)影響機(jī)器的識(shí)別效果甚至讓機(jī)器無(wú)法識(shí)別。

      同一板號(hào)的PCB上,所有Mark點(diǎn)必須大小形狀一致;建議將所有圖檔中的Mark點(diǎn)標(biāo)記統(tǒng)一為Φ1mm的實(shí)心圓。當(dāng)Mark點(diǎn)標(biāo)記與印刷板的基質(zhì)材料之間出現(xiàn)高對(duì)比度時(shí)可達(dá)到最佳的性能。此外,Mark點(diǎn)若做在覆銅箔上,需要與銅箔進(jìn)行隔離。

      3 操作練習(xí),評(píng)估學(xué)習(xí)效果

      為了評(píng)估學(xué)習(xí)效果,利用protel軟件繪制了一個(gè)50mmX30mm的PCB樣板,并在板面上設(shè)計(jì)了Mark點(diǎn),如圖6所示。

      圖6 首次Mark點(diǎn)設(shè)計(jì)圖樣

      通過(guò)軟件測(cè)量,發(fā)現(xiàn)兩點(diǎn)坐標(biāo)分別為(6.5,23.5)和(43.5,6.5),采用了對(duì)稱設(shè)計(jì),Mark點(diǎn)標(biāo)記點(diǎn)直徑為Ф0.5mm,空曠區(qū)寬度為2mm。對(duì)照第2部分中的Mark點(diǎn)構(gòu)成要素及其主要設(shè)計(jì)參數(shù)和Mark點(diǎn)布局布線要求,發(fā)現(xiàn)該設(shè)計(jì)中設(shè)計(jì)參數(shù)和布局均不太恰當(dāng),需要進(jìn)行修改。通過(guò)該練習(xí),可以發(fā)現(xiàn)學(xué)習(xí)者對(duì)于Mark點(diǎn)的主要設(shè)計(jì)參數(shù)和布局方面的知識(shí)掌握還不全面,需要進(jìn)行加強(qiáng)。

      4 調(diào)整學(xué)習(xí)

      通過(guò)前面的反饋練習(xí)和評(píng)估結(jié)果,發(fā)現(xiàn)需要在Mark點(diǎn)設(shè)計(jì)參數(shù)及布局方面需要加強(qiáng)學(xué)習(xí)。在后續(xù)的學(xué)習(xí)調(diào)整過(guò)程中,除了多查閱資料外,還去生產(chǎn)線體旁仔細(xì)查看設(shè)備工作過(guò)程,仔細(xì)體會(huì)不同設(shè)計(jì)參數(shù)及布局效果對(duì)機(jī)器識(shí)別結(jié)果的影響。

      通過(guò)再次學(xué)習(xí),發(fā)現(xiàn):①M(fèi)ark點(diǎn)對(duì)角放置時(shí),不能完全對(duì)稱,否則進(jìn)板錯(cuò)誤時(shí),機(jī)器無(wú)法發(fā)現(xiàn),從而出現(xiàn)印刷糊板或后續(xù)貼裝錯(cuò)誤的缺陷。對(duì)于一些有特殊要求、需要精確定位的單個(gè)元件 (如QFP、CSP、BGA等重要元件),可設(shè)計(jì)局部Mark點(diǎn)標(biāo)記,以提高貼裝精度。②Mark點(diǎn)標(biāo)記符號(hào)不宜過(guò)小或過(guò)大,過(guò)小可能系統(tǒng)不易識(shí)別;過(guò)大,可能超出識(shí)別范圍,不被當(dāng)作Mark點(diǎn)處理。不論哪種情況,均有可能使系統(tǒng)出現(xiàn)誤報(bào),耽誤生產(chǎn)的正常進(jìn)行。所以,采用圓形標(biāo)記符號(hào)時(shí),其直徑應(yīng)控制在Ф1-3mm,空曠區(qū)寬度應(yīng)在標(biāo)記符號(hào)半徑的2倍以上,最好是標(biāo)記符號(hào)半徑的3倍。本例中,若將圓形標(biāo)記符號(hào)直徑設(shè)計(jì)為Ф1mm,則空曠區(qū)直徑應(yīng)為3mm。

      5 操作練習(xí),再評(píng)估學(xué)習(xí)效果

      將前次的練習(xí)圖樣進(jìn)行改進(jìn)設(shè)計(jì),如圖7所示。

      圖7 改進(jìn)后的Mark點(diǎn)設(shè)計(jì)

      6 學(xué)習(xí)總結(jié)

      根據(jù)前面所介紹的,不難發(fā)現(xiàn),Mark點(diǎn)雖然容易設(shè)計(jì),但一些細(xì)節(jié)問(wèn)題卻容易忽視。若設(shè)計(jì)不當(dāng),Mark點(diǎn)應(yīng)有的作用不僅不能發(fā)揮出來(lái),甚至有可能起到反作用,造成印刷錯(cuò)誤,延誤生產(chǎn)。所以,作為電路設(shè)計(jì)人員,不僅需要掌握好電路設(shè)計(jì)的理論知識(shí),還需要掌握組裝設(shè)備對(duì)PCB的制造要求,充分考慮從設(shè)計(jì)到生產(chǎn)的各個(gè)環(huán)節(jié)的要求,做好可制造性設(shè)計(jì),提高產(chǎn)品的可制造性、生產(chǎn)效率和經(jīng)濟(jì)性。

      [1]朱秋英.PCB設(shè)計(jì)與可制造性之間的關(guān)系[M].硅谷,2012(17):48-49.

      [2]丘丹.DFM在PCBA質(zhì)量控制中的運(yùn)用[M].中國(guó)新通信,2012(10):56-59.

      [3]杜連芳,胡嵐.PCB工藝設(shè)計(jì)中應(yīng)注意的問(wèn)題[M].中國(guó)新技術(shù)新產(chǎn)品,2009(24):138.

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