顏超超,劉 瑾,楊海馬,張 亮
(1.上海工程技術(shù)大學(xué)電子電氣工程學(xué)院,上海201620;2.上海理工大學(xué)光電信息與計算機工程學(xué)院,上海200093;3.中國科學(xué)院上海技術(shù)物理研究所,上海200083)
星-地量子通信作為新興的通信方式,仍處于科研階段。捕獲跟蹤與對準(Acquisition,Tracking and Pointing,ATP)技術(shù)作為星-地量子通信的核心支撐性技術(shù)[1,2],是該領(lǐng)域研究重點,因此對系統(tǒng)中獲取信息的敏感裝置提出了很高的要求。
本文中ATP跟瞄系統(tǒng)采用PSD作為位置信息獲取的核心。位置敏感傳感器(position sensitive detector,PSD)是基于非均勻半導(dǎo)體橫向光電效應(yīng)工作的位置敏感探測器件,具有位置分辨率高、響應(yīng)速度快、光譜響應(yīng)范圍寬、可靠性高等特點,且可以同時檢測光點位置與光強大小,目前在位移距離及角度測量、激光準直、非接觸測量與校準、光學(xué)定位跟蹤等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用[3,4],因此可以保證目標姿態(tài)信息測量的實時性和快速性。為達到可靠性的要求,需要滿足二維視角范圍為10°,角分辨率為0.2°,線性度小于1.5%等要求,本文以LabVIEW為軟件平臺設(shè)計了PSD精度測量系統(tǒng),根據(jù)實際值與測量值之間的對應(yīng)關(guān)系建立數(shù)學(xué)模型,采用二元二次多項式法,得到PSD的非線性修正函數(shù)。結(jié)合光學(xué)三角測量法[5-7]對被測物體進行微位移和角度測量,對測量結(jié)果進行誤差修正,修正后滿足實驗對精度的要求。
ATP跟瞄系統(tǒng)采用枕形結(jié)構(gòu)的二維PSD如圖1所示,檢測點位置計算公式如下:
式中,VX1、VX2、VY1、VY2分別代表每一極的輸出信號;x,y是入射光點輸出的位置坐標;LX和LY分別是二維PSD在x,y方向上光敏面的邊長,一般LX=LY。
圖1 枕型PSD結(jié)構(gòu)圖Fig.1 Pillow type PSD chart
根據(jù)Gear定理[8]可知,采用枕型結(jié)構(gòu),PSD的線性度有很大程度的提高[9],但仍會影響測量結(jié)果,為滿足實驗要求,提高測量精度,必須對PSD進行非線性誤差修正。常用的方法有插值法和神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)法[10-12],但兩種算法都存在著各自的缺點。插值法需要較多的數(shù)據(jù),而神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)法需要花費大量的時間來學(xué)習(xí),無法在短期內(nèi)運用到實驗中。
本文采用二元二次多項式修正法[13-14]對坐標位置進行修正。二元二次多項式修正法計算簡單、便于理解,在數(shù)據(jù)量較少的情況下修正效果好。設(shè)(x,y)為激光光斑在二維PSD光敏面上的真實坐標,(x',y')為測量得到的失真坐標,擬定真實坐標與失真坐標之間滿足二次多項式:
式中,ai和bi為待定系數(shù)。
為便于確定ai和bi的值,需要大量選取K(K≥6)個特點顯著和坐標已知的測量點[13]。設(shè)選取點的真實坐標為(xk,yk),k=1,2,…,K,測量得到的失真坐標為(x'k,y'k),從而由式(2)可得:
上式可簡寫為:
同理可得含有bi的線性方程組為:
為了得到精確的修正,選取的K值應(yīng)很大,使兩個方程組為超定方程組[3,13],這時便可求得a,使Aa在最小平方誤差意義下盡可能與X的值接近。
由式(4)和式(5)可得:a=A+x;b=A+y,在超定條件下有A+=(A'A)-1從而求出系數(shù)ai和bi的值,測量得到的失真坐標就可以得到逐點修正。
修正測試系統(tǒng)組成框圖如圖2所示,由三軸位移臺、步進電機控制器、激光二極管、二維PSD、PSD信號調(diào)理與處理模塊和PC機組成。
步進電機的控制模塊和數(shù)據(jù)處理模塊上位機軟件采用LabVIEW設(shè)計開發(fā)[15],實現(xiàn)采集電壓值,驅(qū)動步進電機,計算光斑所在位置坐標,傳輸數(shù)據(jù)處理、保存等功能,并負責(zé)協(xié)調(diào)系統(tǒng)各部分同步運行。
圖2 修正測試系統(tǒng)框圖Fig.2 Correctting and testing system block diagram
激光光源固定在三軸位移臺Z軸,調(diào)整PSD位置確保光軸與PSD的光敏面保持垂直。手動調(diào)整X、Y軸使激光照射在光敏面的中心位置,以此位置為二維PSD的坐標原點。通過串口給電機發(fā)送指令,驅(qū)動步進電機以“回”形方式運動,光點經(jīng)過整個矩形區(qū)域后停止運動[3,16]。二維PSD器件輸出的微弱光電流經(jīng)信號調(diào)理與處理模塊后,將數(shù)據(jù)經(jīng)串口傳送到上位機。上位機對電壓值進行計算,通過二元二次多項式修正法對坐標位置進行修正,得出激光光源在PSD光敏面的坐標值(x,y)。系統(tǒng)通過采用多次采樣求平均值的方法采集各路電壓值,以減少隨機噪聲的影響。
位移測量系統(tǒng)如圖3所示,基于光學(xué)三角測量法設(shè)計,采用直射式結(jié)構(gòu)。激光器發(fā)出的光線,入射到被測物體表面上,被測物體表面粗糙或位置移動會導(dǎo)致入射點沿入射光軸移動,入射點處的反射光經(jīng)成像透鏡照射到PSD感光面上[17,18]。成像透鏡可以將不同角度的光匯集在PSD感光面上,被測面的位移可以通過對相移的測量和計算得到。
圖3 位移測量系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖Fig.3 Displacement measurement system structure
兩者之間的關(guān)系式:
式中,d為PSD上的光斑移動距離;δ為被測面移動距離;l為被測點到透鏡中心的距離(物距);l'為PSD上光點到透鏡中心的距離(像距);α為入射光線與透鏡主軸的夾角;β為PSD光敏面與透鏡主軸的夾角。分母中符號“+”對應(yīng)于被測面靠近激光器方向移動,符號“-”對應(yīng)于被測面遠離激光二極管移動。
式(6)中,角α和β不是任意取值,為在實驗中達到理想成像效果,需滿足Scheimpflug條件[11],則圖3簡化成圖4。
根據(jù)透鏡成像原理及圖4中的幾何關(guān)系可以得到:
式中,ζ為成像系統(tǒng)放大倍率,通過Scheimpflug條件可知:將物平面、透鏡平面、像平面分別延伸,則三者必相交于一點。由此可見當(dāng)系統(tǒng)滿足Scheimpflug條件時,根據(jù)透鏡成像公式,光束上各點的共軛像點[19]均在像平面(PSD光敏面)上。
圖4 Scheimpflug條件Fig.4 Scheimpflug condition chart
如圖5(a)所示,平行光束照射到被測物體(此處為表面光滑的平面鏡),反射后透過凸透鏡后會在焦平面即PSD光敏面上匯聚為一點[20-21]。當(dāng)平面鏡轉(zhuǎn)動時,光點位置從O點運動到P點(x,y),間距為h,則由角度測量系統(tǒng)圖5中角度分解圖可知激光與PSD軸線夾角為2α,光束與PSD軸線在水平和垂直方向夾角分別為β、γ[20-21],則轉(zhuǎn)角各分量可表示為:
通過PSD實時記錄光點位置,便可實時測量被測物體的角度變化。
圖5 角度測量系統(tǒng)Fig.5 The Angle measurement system
實驗中選用感光區(qū)域為11 mm×11 mm的PSD傳感器,光敏感有效區(qū)域為10 mm×10 mm,入射光有效響應(yīng)范圍為320~1100 nm,數(shù)據(jù)處理模塊采用圖6所示的數(shù)據(jù)處理模塊,位移平臺采用XYZθ軸直動平臺,XYZ方向定位精度達到1μm,轉(zhuǎn)動精度達到0.5',從而保證被測位移裝置引入的測量誤差盡量最小。各測量系統(tǒng)實物圖如圖7所示。
圖6 數(shù)據(jù)處理模塊Fig.6 The data processing module
圖7 各測量系統(tǒng)實物圖Fig.7 The measurement system physical figure
基于LabVIEW軟件編制的數(shù)據(jù)采集與處理模塊上位機前面板如圖8所示。
上位機功能主要包含:信號采集、數(shù)據(jù)處理、光點位置顯示、曲線擬合、數(shù)據(jù)存儲、穩(wěn)定性顯示以及誤差分析的功能。
由于光斑大小不同有可能會影響PSD對光點位置的判斷,因此在測試前,需要根據(jù)不同的PSD來確定合適的光斑大小選取范圍。
通過調(diào)節(jié)激光器前端光孔大小,從而調(diào)節(jié)光斑大小,測量光點位置,確定適合的實驗光斑大小,由于實驗條件有限,光斑直徑最小為0.3 mm,測量結(jié)果如表1所示。
從表1可以看出,當(dāng)光斑直徑大于1.6 mm時,光點位置發(fā)生明顯變化,當(dāng)光斑直徑大于1.1 mm時,電壓值超出PSD可測量范圍,因此實驗中光斑選取范圍為0.3~1.1 mm。
表1 不同光斑尺寸下光點位置Tab.1 The light spot position under different spot size
實驗中,首先檢驗PSD的穩(wěn)定性,將激光照射在PSD光敏面任一位置,系統(tǒng)設(shè)定為每測一百個點自動計算這一百個點的平均值和方差,在一段時間內(nèi)測得的X、Y坐標值以及電壓U的值變化很小,誤差控制在0.3%以內(nèi),PSD穩(wěn)定可靠如圖9所示。
圖9 PSD穩(wěn)定性測試Fig.9 The PSD stability test figure
然后,調(diào)整三維轉(zhuǎn)臺,使光點位于光敏面的中心位置。通過串口發(fā)送指令,驅(qū)動步進電機以“回”形方式掃描二維PSD光敏面,脈沖頻率選為50 Hz,步長選為1 mm,測量信號通過信號處理模塊處理后,傳輸?shù)絃abVIEW數(shù)據(jù)處理與顯示模塊,采集時間間隔設(shè)為22 ms,得到數(shù)據(jù)點如圖10所示,其中X方向誤差平均值為0.2379 mm,Y方向誤差平均值為0.1853 mm。得到的測量坐標值與實際值差別較大,需要進行修正。
圖10 未修正的數(shù)據(jù)點Fig.10 Uncorrected data points
圖11 修正過的數(shù)據(jù)點Fig.11 Revised data points
按照二元二次多項式修正法對測量數(shù)據(jù)結(jié)果進行分析計算,得其修正方程為:
由圖11可知,經(jīng)過非線性糾正后,X方向誤差平均值為0.050 mm,Y方向誤差平均值為0.047 mm,因此誤差降低了約70%,使得系統(tǒng)在10 mm×10 mm范圍內(nèi)PSD的輸出誤差顯著減小,提高了精確度,較大擴展了PSD的測量范圍。
根據(jù)PSD參數(shù)和PSD位移測量系統(tǒng),該系統(tǒng)有效測量范圍為-5~+5 mm,系統(tǒng)理論分辨率為0.02%,但通過大量實驗測量表明,由于受噪聲影響,系統(tǒng)實際分辨率約為0.05%。因此實驗采用精度為1μm的微位移平臺,首先微調(diào)使PSD輸出坐標為(0,0),并以此為原點,然后以1000μm為步長進行橫向、縱向移動,最終得到11個坐標集合,每個集合各取50個點。通過數(shù)據(jù)處理模塊對每個坐標值進行非線性修正,并取平均值。從圖12可以清楚地看到修正后的坐標值與直接測量結(jié)果相比,更接近實際值。最后,利用最小二乘法對數(shù)據(jù)進行擬合,得到擬合直線如圖12所示,擬合方程可表示為:
Y=-0.0098795+0.99972X
圖12 位置標定和擬合曲線Fig.12 The position calibration and curve fitting
由上可得線性相關(guān)系數(shù)R為0.99972,線性度小于0.3%。
根據(jù)PSD角度測量系統(tǒng)搭建好試驗系統(tǒng),選擇焦距f=50 mm,直徑d=30 mm的透鏡,PSD的光敏感有效區(qū)域為10 mm×10 mm,以5'為步長,轉(zhuǎn)動平臺轉(zhuǎn)動,平臺轉(zhuǎn)動帶動平面鏡轉(zhuǎn)動,測量范圍設(shè)定為-5°~5°。通過數(shù)據(jù)處理模塊對每個坐標值進行非線性修正,利用公式(6)計算得到測量角度的大小表2所示。
表2 角度測量結(jié)果Tab.2 Angle measurements results
通過計算得到測量數(shù)據(jù)的標準差為:
由于Δαi<δmax=3σ=3.2526,所以測量值均為有效值,Δα的標準差為1.0842'小于0.2°(即12'),達到了測量的要求。
本文引入二元二次多項式修正法,對測量數(shù)據(jù)進行優(yōu)化,克服了由于PSD傳感器自身結(jié)構(gòu)各部件之間相互位置不能調(diào)整到理想狀態(tài),以及檢測環(huán)境中背景光、溫度以及為震動等因素影響帶來的誤差,實驗表明測量誤差比修正前降低了約70%;位移檢測系統(tǒng)基于光學(xué)三角測量法,通過二元二次多項式修正法對數(shù)據(jù)進行修正后,利用最小二乘法擬合對數(shù)據(jù)進行擬合線性相關(guān)系數(shù)R為0.999972,線性度小于0.3%,遠高于系統(tǒng)對測量線性度的要求;角度測量系統(tǒng),在選用凸透鏡和PSD接受面合適的情況下,二維視角10°范圍內(nèi),其測量均方差為1.0842',滿足系統(tǒng)對角度測量的精度要求。采用LabVIEW編制了數(shù)據(jù)采集與處理軟件,具有良好的人機界面并大大的縮短了開發(fā)時間,為進一步進行星-地量子通信研究奠定了基礎(chǔ)。
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