【摘要】簡述了開關(guān)柜產(chǎn)品整柜局部放電/電暈試驗的重要性,討論了局部放電/電暈試驗原理及方法,對產(chǎn)品局部放電/電暈的結(jié)果進行了分析并提出解決方案。
【關(guān)鍵詞】開關(guān)柜;局部放電;試驗方法;試驗研究;結(jié)果分析
引言
隨著電力行業(yè)的不但發(fā)展壯大,開關(guān)柜產(chǎn)品的需求和產(chǎn)量也在急劇的增加;對其絕緣性能要求也在不但提高,為確保產(chǎn)品絕緣性能符合要求,對產(chǎn)品整柜的絕緣性能試驗增加局部放電/電暈試驗。
1.試驗線路的設(shè)計及工作原理
1.1試驗原理
測量原理:利用局部放電產(chǎn)生的脈沖電流在測試阻抗上的壓降,通過放大后進行測量。
1.2試驗線路及所需設(shè)備
按照電氣法即脈沖電流法進行測量,要想進行局部放電試驗,必須具備兩大測量系統(tǒng):工頻耐壓試驗系統(tǒng)和局部放電測試系統(tǒng)。 根據(jù)局部放電/電暈試驗的要求,設(shè)計試驗線路原理圖如圖所示:
2.試驗方法及過程
以KYN61-40.5鎧裝移開式金屬開關(guān)設(shè)備進行測試。
2.1首先進行工頻耐壓試驗,確保產(chǎn)品符合工頻耐壓試驗要求。
2.2對試驗變壓器耦合電容和檢測阻抗進行改造,符合需要。
2.3用校正方波發(fā)生器(標準50Pc)進行方波校準,符合要求。
2.4對測試線路進行檢查,觀察背景噪聲測試環(huán)境:7-15pC。
2.5根據(jù)國標GB3906-2006 《3.6kV~40.5kV交流金屬封閉開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備》附錄B的要求進行高壓試驗。
3.試驗結(jié)果
為A相:612pC,B相:580pC,C相:750pC。
從測試結(jié)果看,單相測試局部放電量普遍在500pC-750pC之間,最大750pC。從測試過程可以明顯聽到在45kV電壓下有明顯放電聲。
4.試驗結(jié)果分析
從測試結(jié)果可以看出,目前產(chǎn)品整體性能達不到電暈試驗的要求。從波形圖分析,產(chǎn)品內(nèi)部存在尖端放電和絕緣件內(nèi)部缺陷是數(shù)值超標的主要原因。
為驗證試驗方法是否有效,對35kV開關(guān)柜結(jié)構(gòu)較為簡單的絕緣件(母線套管)單獨進行試驗并進行了理論計算。
1)試驗結(jié)果:隨即抽取3只套管,其局部放電量均在300pC-600pC之間。
2)分析計算:將扁平的矩形導體等效于圓柱導體,看作一種典型的同軸圓柱形雙層電介質(zhì)中的電場分布情況。等效電極形狀如圖所示。
內(nèi)層、外層介質(zhì)的介電常數(shù)分別為ε1、ε2。介質(zhì)中電感應(yīng)強度分別為D1、D2。
在介質(zhì)分界面處,不同介質(zhì)中電感應(yīng)強度法向分量連續(xù),于是:
又由于U=U1+U2
按照系統(tǒng)實際運行電壓為35kV考慮,對地的相電壓U:
將數(shù)據(jù)帶入上述公式
兩層介質(zhì)上的電壓分別為:
將數(shù)據(jù)帶入上述公式
各層中最大場強均在其內(nèi)圓柱的外表面。
套管內(nèi)壁場強
套管外壁場強:
對于同軸電極電暈起始場強:Ec1=29.79kV
E1,max>E2,max
說明該套管具備電暈放電的條件。
5)結(jié)論
由于內(nèi)層介質(zhì)介電常數(shù)比外層小,得E1,max>E2,max,所以導體附近場強高,又因空氣介電強度遠低于環(huán)氧樹脂,因此空氣腔內(nèi)易發(fā)生電暈。與試驗的結(jié)果是一致的。
5.試驗結(jié)論
從產(chǎn)品整機及母線套管的試驗結(jié)果上看數(shù)據(jù)不太理想,現(xiàn)就可能存在的原因分析如下:
1) 鎧裝移開式金屬封閉開關(guān)設(shè)備產(chǎn)品內(nèi)部電場極不均勻;
2)絕緣件結(jié)構(gòu)不符合電暈試驗的要求;
3)絕緣件澆注質(zhì)量不理想。
6.改進措施
1)可采用改變電極形狀,增大曲率半徑,另外通過增加屏蔽環(huán)、增設(shè)中間電極、采用不同電介質(zhì)來改變場強分布。
2)優(yōu)化觸頭盒、支柱絕緣子、斷路器絕緣筒等絕緣件電場結(jié)構(gòu)。
3)控制絕緣件澆注質(zhì)量,防止絕緣材料中含內(nèi)部缺陷。
參考文獻
[1]GB3906-2006.3.6kV ~40.5kV交流金屬封閉開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備.
[2]嚴璋,朱德恒.高電壓絕緣技術(shù).北京:中國電力出版社,2007.