紀(jì) 智, 張慶國(guó), 孫德瑞
(1.東北石油大學(xué) 地球科學(xué)學(xué)院,黑龍江 大慶163318;2.陜西延長(zhǎng)石油(集團(tuán))有限責(zé)任公司研究院,西安710075)
Z 區(qū)塊屬于扶余油田開發(fā)老區(qū)塊,多年來(lái),由于其勘探開發(fā)過(guò)程中使用的國(guó)內(nèi)外儀器不斷更新,致使測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)既存在以3700、5700 為主的引進(jìn)測(cè)井系列,也存在JD581、多線型、大數(shù)控、小數(shù)控等國(guó)產(chǎn)測(cè)井系列,測(cè)井分辨率及測(cè)井精度均有很大差別,在一定程度上影響了測(cè)井解釋結(jié)果及儲(chǔ)集層評(píng)價(jià)結(jié)果的準(zhǔn)確性。因此,有必要對(duì)不同測(cè)井系列、不同年代測(cè)井資料進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化處理。
測(cè)井曲線標(biāo)準(zhǔn)化方法較多,如均值校正法、直方圖校正法、趨勢(shì)面分析法等[1],筆者根據(jù)扶余油田Z區(qū)塊現(xiàn)狀,分別采用直方圖法、趨勢(shì)面分析法及直方圖法與趨勢(shì)面分析法相結(jié)合的方法(結(jié)合法)對(duì)其測(cè)井曲線進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化處理,為該區(qū)塊的測(cè)井解釋及儲(chǔ)集層評(píng)價(jià)提供了依據(jù)。
頻率直方圖法是將不同井標(biāo)準(zhǔn)層的測(cè)井取值劃分成若干段,分別統(tǒng)計(jì)各個(gè)井標(biāo)準(zhǔn)層測(cè)井?dāng)?shù)量落入各段的頻次,以此繪制各個(gè)井的頻率直方圖,并與關(guān)鍵井的標(biāo)準(zhǔn)層測(cè)井值比較[2]的方法。該方法根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)層的頻率直方圖峰值或是其頻率分布應(yīng)基本保持不變的情況,以關(guān)鍵井的頻率直方圖作為判別標(biāo)準(zhǔn),通過(guò)計(jì)算分析將所有井的曲線值校正至統(tǒng)一刻度范圍[3]。
1.2.1 基本原理
運(yùn)用數(shù)學(xué)方程擬合曲面表示地質(zhì)數(shù)據(jù)區(qū)域的變化趨勢(shì),該曲面即為趨勢(shì)面[4]。這種由趨勢(shì)面匹配地質(zhì)數(shù)據(jù)的方法就稱為趨勢(shì)面分析法。趨勢(shì)面分析法的基本思路是,建立適應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)層的測(cè)井響應(yīng)多項(xiàng)式趨勢(shì)面,并認(rèn)為它與原始地層趨勢(shì)面具有一定的一致性,如果趨勢(shì)分析的殘差值僅僅是隨機(jī)變量,則認(rèn)為是由測(cè)井刻度誤差造成的;如果存在一組異常的殘差值,這組異常值則可能是由巖性的局部變化引起的[5]。在標(biāo)準(zhǔn)層選擇合理的條件下,趨勢(shì)分析所得的殘差值即地質(zhì)參數(shù)空間的隨機(jī)變量。
1.2.2 處理過(guò)程
趨勢(shì)面分析法的處理過(guò)程:首先讀取每口井各類測(cè)井曲線在標(biāo)準(zhǔn)層的值,然后繪制頻率直方圖,并確定其分布頻率和峰值,將該峰值作為標(biāo)準(zhǔn)層的特征峰值,進(jìn)行趨勢(shì)面法校正,得到趨勢(shì)值和殘差值,從而得到校正量。
標(biāo)準(zhǔn)化校正量的計(jì)算式為
式中:Zq、Zh——標(biāo)準(zhǔn)化前后的測(cè)井響應(yīng)值;
Zc——趨勢(shì)面分析后的殘差值。
1.2.3 趨勢(shì)函數(shù)擬合次數(shù)選擇
趨勢(shì)函數(shù)擬合次數(shù)選擇關(guān)系到趨勢(shì)面分析法進(jìn)行測(cè)井曲線標(biāo)準(zhǔn)化處理的準(zhǔn)確性和合理性。趨勢(shì)函數(shù)擬合次數(shù)選擇過(guò)高或者過(guò)低時(shí),均會(huì)影響該方法對(duì)測(cè)井曲線標(biāo)準(zhǔn)化處理的準(zhǔn)確性。擬合次數(shù)選擇一般遵循以下條件:
(1)區(qū)域地質(zhì)模型和測(cè)井相應(yīng)特征具有一致的趨勢(shì),并認(rèn)為這一區(qū)域地質(zhì)模型的選擇與標(biāo)準(zhǔn)層的埋深有關(guān)。
(2)擬合度的高低影響趨勢(shì)面總信息量的多少,但它不能作為評(píng)判趨勢(shì)面分析效果的唯一標(biāo)準(zhǔn)。通常,擬合度會(huì)隨著擬合次數(shù)的不斷增加而增大,當(dāng)擬合次數(shù)達(dá)到一定值時(shí),擬合度就會(huì)隨著擬合次數(shù)的增大而逐漸降低,擬合度和擬合次數(shù)成正弦曲線關(guān)系,所以,正弦曲線頂點(diǎn)處的擬合次數(shù)即為最佳次數(shù)。
扶余油田Z 區(qū)塊位于松遼盆地南部中央凹陷區(qū)東緣、扶新隆起帶扶余三號(hào)構(gòu)造上,是一個(gè)被斷層復(fù)雜化的多高點(diǎn)穹隆背斜,油藏主要受構(gòu)造控制,屬于裂縫性低滲透構(gòu)造砂巖油藏。油田開采的主要目地層為泉頭組四段的扶余油層,地層劃分為四個(gè)砂巖組、13 個(gè)小層,儲(chǔ)層是以粉砂巖和細(xì)砂巖為主的穩(wěn)定巖層[6-7]。油田斷層多、斷裂系統(tǒng)復(fù)雜,油藏埋淺、油層多分布在構(gòu)造高點(diǎn)且多而薄,物性差異大,油層層間、層內(nèi)非均質(zhì)性嚴(yán)重,水驅(qū)效果較差。
對(duì)測(cè)井曲線進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化處理,首先選擇關(guān)鍵井,然后確定研究區(qū)內(nèi)地層厚度大且平面上分布廣泛、巖性與測(cè)井響應(yīng)特征標(biāo)志明顯的目的層為標(biāo)準(zhǔn)層。
關(guān)鍵井選擇須具備四個(gè)條件,第一,測(cè)井曲線相對(duì)較全;第二,有比較詳細(xì)的取芯資料和分析化驗(yàn)資料;第三,有較好的地質(zhì)控制因素;第四,井眼相對(duì)較好[8]。通過(guò)對(duì)研究區(qū)域的取芯資料與測(cè)井資料的分析,在地層精細(xì)劃分與對(duì)比的基礎(chǔ)上,選用目的層3700 測(cè)井系列和5700 測(cè)井系列的井作為關(guān)鍵井。
標(biāo)準(zhǔn)層是指基本覆蓋全區(qū)、厚度較厚、巖性單一、電性特征明顯的非滲透性儲(chǔ)集層[9],其一般應(yīng)符合下列條件:
(1)在目的層的上部、下部或者中間的位置。
(2)受油氣和孔隙度等影響相對(duì)較小的非滲透性儲(chǔ)集層,如硬石膏、致密的石灰?guī)r或者較純的頁(yè)巖。
(3)測(cè)井曲線在橫向上比較穩(wěn)定或者有規(guī)律變化,在縱向上厚度分布相對(duì)集中,一般都不小于5 m。
(4)巖性變化不大,所含雜質(zhì)較少。
(5)在深度上不會(huì)有太大變化,如深度上有較大變化,則須進(jìn)行分段處理。
由于此次研究的目的層段是河流、三角洲沉積體系,經(jīng)綜合對(duì)比分析,選取泉四段沉積時(shí)期松遼盆地南部最大湖泛形成的穩(wěn)定泥巖段作為標(biāo)準(zhǔn)層段,其厚度約為5~10 m。
3.1.1 頻率直方圖法
選取研究區(qū)內(nèi)測(cè)井曲線比較全且均為3700 測(cè)井系列和5700 測(cè)井系列的67 口井作為關(guān)鍵井,讀取深側(cè)向電阻率值,同時(shí)選取泉四段沉積時(shí)期松遼盆地南部最大湖泛形成的穩(wěn)定泥巖段作為標(biāo)準(zhǔn)層,分別讀取曲線的最大值、最小值和平均值,并利用深側(cè)向電阻率(ρRLLD)的平均值作出頻率分布直方圖,如圖1 所示。由圖1 可以看出,研究區(qū)內(nèi)深側(cè)向電阻率均值為5.883 Ω·m。將67 口井的深側(cè)向電阻率值均校正到同一參考點(diǎn),即研究區(qū)內(nèi)均值,從而得到深側(cè)向電阻率校正量系數(shù)(K)的頻率分布直方圖,如圖2 所示,校正系數(shù)均分布在0.85~1.05 之間,校正系數(shù)均值為1.013。
圖1 標(biāo)準(zhǔn)層深側(cè)向電阻率直方圖Fig.1 Standard lateral resistivity layer depth histogram
圖2 深側(cè)向電阻率校正量直方圖Fig.2 Deep lateral resistivity correction histogram
3.1.2 趨勢(shì)面分析法
該區(qū)塊油層標(biāo)準(zhǔn)化的最適合次數(shù)為三次,應(yīng)用MATLAB 軟件對(duì)研究區(qū)內(nèi)67 口井的深側(cè)向電阻率值進(jìn)行三次擬合,可以由擬合出的趨勢(shì)面方程計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)層的測(cè)井趨勢(shì)值,即得到經(jīng)趨勢(shì)校正后的測(cè)井值。圖3a 為深側(cè)向電阻率曲線標(biāo)準(zhǔn)層原始值,圖中深側(cè)向電阻率趨勢(shì)不明顯,可能是受到不同系列測(cè)井儀器的影響。圖3b 為趨勢(shì)值的平面等值線圖,可以看出,深側(cè)向電阻率有一定的規(guī)律性。
圖3 ρRLLD校正前后的趨勢(shì)面Fig.3 ρRLLD trend surface before and after correction
3.1.3 結(jié)合法
直方圖法與趨勢(shì)面法兩種方法均是在關(guān)鍵井和標(biāo)準(zhǔn)層的直接參與下完成的,理論上都可以獲得較好的效果,但實(shí)際校正過(guò)程中,由于目的層在沉積過(guò)程中,受到沉積環(huán)境和構(gòu)造作用的影響,不同井的標(biāo)準(zhǔn)層所反映出的頻率峰值和頻率分布并不相同,單獨(dú)采用直方圖法和趨勢(shì)面法會(huì)產(chǎn)生誤差。文中采用直方圖法與趨勢(shì)面分析法相結(jié)合的方法(結(jié)合法),對(duì)測(cè)井曲線進(jìn)行校正。根據(jù)研究區(qū)域井資料,采用趨勢(shì)面分析法對(duì)泉四段上部標(biāo)準(zhǔn)層的深側(cè)向電阻率曲線進(jìn)行校正,并利用校正后的值進(jìn)行頻率直方圖法校正。根據(jù)其主峰值的分布特征,確定泉四段上部標(biāo)準(zhǔn)層電阻率峰值為6.5 Ω·m 左右,其他井逐一與之對(duì)比,采用平移法確定出其校正值,這就實(shí)現(xiàn)了測(cè)井曲線標(biāo)準(zhǔn)化。圖4 為深側(cè)向電阻率校正量直方圖,經(jīng)過(guò)趨勢(shì)面法校正后的測(cè)井值再一次進(jìn)行直方圖法校正,其校正系數(shù)均值為1.012。
圖4 結(jié)合法深側(cè)向電阻率校正量直方圖Fig.4 Deep lateral resistivity correction histogram
3.2.1 滲透率
分別利用直方圖法、趨勢(shì)面分析法和結(jié)合法對(duì)系統(tǒng)取芯井曲線進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化處理,并用標(biāo)準(zhǔn)化后的曲線進(jìn)行測(cè)井解釋,解釋后的滲透率(k1)與巖芯分析滲透率(k2)相關(guān)性如圖5 所示??梢钥闯?,結(jié)合法解釋的滲透率比巖芯分析的滲透率相關(guān)性更好。
3.2.2 深側(cè)向電阻率與深度的關(guān)系
利用結(jié)合法對(duì)電阻率與深度(h)的關(guān)系進(jìn)行分析,其關(guān)系散點(diǎn)圖如圖6 所示。從圖中可以看出,標(biāo)準(zhǔn)化前數(shù)據(jù)點(diǎn)比較分散,經(jīng)過(guò)校正之后,數(shù)據(jù)點(diǎn)明顯集中,并且靠近趨勢(shì)線,且深度對(duì)深側(cè)向電阻率值的影響均不大。
圖5 不同方法求解滲透率比較Fig.5 Comparison of different methods to solve permeability
圖6 標(biāo)準(zhǔn)化前后深側(cè)向電阻率值與深度的關(guān)系Fig.6 Standardized deep lateral resistivity values before and after relationship with depth
在多井研究中,大部分測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)是需要作標(biāo)準(zhǔn)化處理的,用以校正野外數(shù)據(jù)采集時(shí)的誤差和系統(tǒng)誤差。筆者分別采用頻率直方圖法、趨勢(shì)面分析法及頻率直方圖法與趨勢(shì)面分析法相結(jié)合的方法(結(jié)合法)對(duì)扶余油田Z 區(qū)塊測(cè)井曲線進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化處理。研究結(jié)果證明,該區(qū)塊宜采用結(jié)合法進(jìn)行測(cè)井曲線標(biāo)準(zhǔn)化處理,該方法減少了不同測(cè)井系列引起的誤差,為測(cè)井解釋和礦區(qū)生產(chǎn)打下了堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)。
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