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      基于FPGA的數(shù)字電路故障診斷系統(tǒng)

      2014-04-29 17:33:17莊波
      電子世界 2014年13期
      關(guān)鍵詞:數(shù)字電路故障診斷

      【摘要】介紹了一種采用向量法對數(shù)字電路進行故障診斷的系統(tǒng),通過向被測電路發(fā)送測試向量,接收被測電路對激勵的響應結(jié)果,然后將該結(jié)果與正常工作電路的相應結(jié)果進行比對的方法,驗證被測電路的功能以及診斷故障。參考目前的一系列測試系統(tǒng),給出了系統(tǒng)的硬件結(jié)構(gòu)和具體軟件流程。該系統(tǒng)擁有256路獨立的IO通道,各個通道的輸出電壓均可獨立設(shè)置,輸出頻率最高可達50MHz,可以完成對目前主流的數(shù)字電路的診斷任務,提高數(shù)字電路測試診斷的效率。

      【關(guān)鍵詞】FPGA;數(shù)字電路;計算機測控;故障診斷

      1.引言

      當今社會數(shù)字電路已經(jīng)遍布人們生活的各個角落,數(shù)字電路廣泛應用于通信、娛樂、工業(yè)生產(chǎn)等不同領(lǐng)域。隨著數(shù)字電路的不斷發(fā)展,電路的測試和故障診斷成為了其設(shè)計和生產(chǎn)維修的重要組成部分。目前國內(nèi)部分國防單位使用的數(shù)字電路板具有高性能、高功耗、高集成度等特點,比如戰(zhàn)斗機上從俄羅斯等國引進的實現(xiàn)關(guān)鍵功能的數(shù)字電路板[1]。而使用年限及次數(shù)等因素不可避免的會對這些電路板造成損傷,導致包含這些數(shù)字電路板的設(shè)備無法正常使用,因此對數(shù)字電路板的性能測試及故障檢測尤為重要。

      2.系統(tǒng)結(jié)構(gòu)

      2.1 系統(tǒng)總體結(jié)構(gòu)

      本文介紹了一種采用向量法對數(shù)字電路進行故障診斷的系統(tǒng),通過向被測電路發(fā)送測試向量,接收被測電路對激勵的響應結(jié)果,然后將該結(jié)果與正常工作電路的相應結(jié)果進行比對,從而驗證被測電路的功能以及診斷故障[2]。該系統(tǒng)兼容目前主流的采用TTL,CMOS等電平邏輯的數(shù)字電路。其系統(tǒng)結(jié)構(gòu)如圖1所示。

      圖1 系統(tǒng)硬件結(jié)構(gòu)

      本系統(tǒng)主要由計算機和8個下位機子系統(tǒng)兩部分構(gòu)成。每個子系統(tǒng)包含32路IO端口,負責完成測試向量的發(fā)送和接收,計算機根據(jù)用戶建立的測試任務,控制下位機子系統(tǒng),并顯示處理被測數(shù)字電路的響應結(jié)果。系統(tǒng)選用PXI6534來完成計算機與下位機子系統(tǒng)之間的數(shù)據(jù)通信,PXI6534是NI公司的一款高速數(shù)字IO卡。它將復雜的PXI總線轉(zhuǎn)換為相對簡單的16位同步并行總線供下位機設(shè)計人員開發(fā),而為上位機設(shè)計人員提供了大量API函數(shù)從而簡化底層驅(qū)動的開發(fā)過程,讓設(shè)計人員將更多精力集中在其它應用功能上的開發(fā)。各個子系統(tǒng)通過母板掛接到16位數(shù)據(jù)總線上。由于PXI6534的數(shù)字IO驅(qū)動能力有限,本系統(tǒng)通過母板來提高數(shù)據(jù)總線的驅(qū)動能力,并且進行電平邏輯的轉(zhuǎn)換和提供同步時鐘。

      2.2 下位機子系統(tǒng)結(jié)構(gòu)

      子系統(tǒng)根據(jù)用戶設(shè)定的測試任務,完成對某種數(shù)字電路的檢測診斷,并緩存被測電路的響應結(jié)果,其結(jié)構(gòu)如圖2所示。

      圖2 診斷檢測子系統(tǒng)結(jié)構(gòu)

      子系統(tǒng)包括FPGA核心模塊、數(shù)據(jù)緩存模塊(SDRAM)、發(fā)送調(diào)理電路、接收調(diào)理電路和參考電壓模塊。通過FPGA進行指令和數(shù)據(jù)的讀取,根據(jù)測試任務所需的測試向量的電壓范圍設(shè)置參考電壓,并且將待發(fā)送的測試向量的數(shù)據(jù)存入發(fā)送緩存SDRAM。測試開始后,F(xiàn)PGA從發(fā)送緩存SDRAM讀取數(shù)據(jù)通過發(fā)送調(diào)理電路,同時將接收調(diào)理電路接收的被測電路的響應數(shù)據(jù)存入接收緩存SDRAM。測試完成后,F(xiàn)PGA從接收緩存SDRAM中讀取測試結(jié)果通過數(shù)據(jù)總線上傳給計算機。

      2.2.1 控制芯片

      本系統(tǒng)選用ALTERA公司CycloneIII系列芯片EP3C25F324C8作為下位機子系統(tǒng)的主控制芯片。該芯片具有215個可編程IO口,24624個邏輯單元,4個鎖相環(huán)。相比于ARM,DSP等主流微處理芯片,F(xiàn)PGA具有更高速度的優(yōu)勢,且其內(nèi)部PLL鎖相環(huán)資源可以為系統(tǒng)提供不同的工作頻率。FPGA豐富的IO資源可以滿足系統(tǒng)在測試多輸入輸出的數(shù)字電路時的需求。

      FPGA是整個數(shù)字電路故障診斷系統(tǒng)下位機子系統(tǒng)的核心,測試向量的發(fā)送和接收,以及與計算機的通信均由FPGA編程實現(xiàn)。

      2.2.2 發(fā)送調(diào)理電路

      發(fā)送調(diào)理電路完成測試向量的電壓轉(zhuǎn)換,由于FPGA輸出的是0和3.3V的電壓,為滿足測試不同數(shù)字電路的需求,需要將FPGA輸出的電壓轉(zhuǎn)換為被測數(shù)字電路所能識別的電壓。本系統(tǒng)選用,系統(tǒng)采用Intersil 公司的高性能管腳驅(qū)動芯片EL1056 作為發(fā)送驅(qū)動芯片,可輸出電壓范圍-12V~+12V,驅(qū)動電流可達140mA,最高頻率可達60MHz。

      2.2.3 接收調(diào)理電路

      接收調(diào)理電路實現(xiàn)對被測數(shù)字電路響應向量的比較,將響應向量轉(zhuǎn)變?yōu)镕PGA兼容的電平。系統(tǒng)采用Intersil 公司的EL2252 作為接收比較芯片,該比較芯片含有兩個獨立的比較器,帶寬可達50MHz,電平范圍為-12V~+12V,電路原理如圖3所示。

      圖3 接收調(diào)理電路

      通過兩個比較器將被測電路的響應向量分別與VH、VL高低兩個電壓比較,得到vec1和vec2。當vec1=1,vec2=1時,則響應結(jié)果為高即邏輯1;當vec1=0,vec2=0時,則響應結(jié)果為低即邏輯0;當vec1=0,vec2=1時,則響應結(jié)果為高阻。通過兩個比較器實現(xiàn)了對被測數(shù)字電路響應向量的三態(tài)判斷。

      2.2.4 參考電壓模塊

      參考電壓模塊由D/A轉(zhuǎn)換電路和偏置放大電路兩部分組成。本文選用8為D/A芯片AD8801來完成數(shù)模轉(zhuǎn)換,該芯片含有8個模擬輸出通道,有效的提高了系統(tǒng)的集成度。

      2.2.5 數(shù)據(jù)存儲模塊

      系統(tǒng)選用SDRAM作為測試向量發(fā)送和接收的存儲模塊,SDRAM具有讀寫速度快,存儲容量大,價格便宜等優(yōu)點,已經(jīng)廣泛應用在數(shù)字電路領(lǐng)域。本系統(tǒng)選用兩片位寬為16位、容量為64MBits(4MBits×16)的MT48LC4M16A2TG-75組成容量為128MBits(4MBits×32)的存儲單元,該芯片最高讀寫時鐘頻率可達133MHz。

      3.軟件設(shè)計

      3.1 下位機程序設(shè)計

      本系統(tǒng)下位機硬件驅(qū)動程序使用Verilog HDL語言,在Quartus II開發(fā)環(huán)境下設(shè)計完成。Verilog是一種硬件描述語言,采用模塊化的編程方式進行設(shè)計。工作流程如圖4所示,程序上電啟動,首先進去自檢流程,檢測系統(tǒng)自身的健康狀態(tài),以保證系統(tǒng)能正常運行。自檢流程完成后等待計算機發(fā)出指令,識別不同指令完成測試任務。

      通道狀態(tài)設(shè)置。FPGA根據(jù)測試任務,設(shè)置某一路IO通道的狀態(tài),選擇是否從該路通道接收或發(fā)送測試向量。各個通道均可獨立設(shè)置,系統(tǒng)可以根據(jù)被測對象靈活的選用不同的IO通道。

      接收帶發(fā)送數(shù)據(jù)。計算機將待發(fā)送的測試向量數(shù)據(jù)下傳給下位機子系統(tǒng),F(xiàn)PGA將這些數(shù)據(jù)暫存在SDRAM中。

      發(fā)送頻率初始化。FPGA進行分頻,設(shè)置本次測試任務發(fā)送和接收測試向量的頻率。

      參考電壓初始化。設(shè)置IO通道發(fā)送和接收測試向量的高低電壓值。

      開始測試。FPGA從發(fā)送緩存中讀取測試向量的數(shù)據(jù),通過IO通道發(fā)送。同時將接收到的響應數(shù)據(jù)存入接收緩存中。

      上傳接收數(shù)據(jù)。FPGA從接收緩存中讀取測試結(jié)果,通過16位數(shù)據(jù)總線上傳給計算機,以便顯示和比較。

      圖4 系統(tǒng)工作流程

      圖5 計算機界面

      整個程序包括以下幾個模塊:①主程序模塊。實現(xiàn)與計算機的通信,接收和上傳數(shù)據(jù),識別計算機所發(fā)出的指令,控制其他模塊配合完成測試任務。②D/A控制模塊。控制D/A的輸出,設(shè)置測試任務所用的參考電壓。③SDRAM控制模塊??刂芐DRAM的刷新和數(shù)據(jù)存取。④分頻模塊。為發(fā)送和接收測試向量提供不同的頻率,采用整數(shù)分頻,半整數(shù)分頻和小數(shù)分頻結(jié)合的方式提高頻率調(diào)節(jié)的分辨率。⑤向量發(fā)送接收模塊。控制測試向量的發(fā)送和接收。

      3.2 計算機應用程序

      本系統(tǒng)采用LABVIEW構(gòu)建人機交互界面。如圖5所示。LABVIEW是一種圖形化的編程語言,利用了計算機的強大性能,在設(shè)計計算機應用程序界面是非常方便。由于本系統(tǒng)采用了NI公司的高速數(shù)字IO板卡,NI公司提供了該數(shù)字板卡在LABVIEW環(huán)境下的API函數(shù),為編程提供的方便。

      4.結(jié)論

      論文設(shè)計了一種通用數(shù)字電路故障診斷系統(tǒng),該系統(tǒng)具有以下優(yōu)點:擁有256路獨立I/O,輸出頻率可達50MHz,輸出電壓在-6V~+9V內(nèi)可調(diào),可以滿足目前大部分數(shù)字電路的診斷需要。

      參考文獻

      [1]胡敏明.幾種典型的數(shù)字電路測試技術(shù)[Z].杭州:電子科學,2009:17-18.

      [2]郭希維,蘇群雄,谷宏強.數(shù)字電路測試中的關(guān)鍵技術(shù)研究[J].科學技術(shù)與工程,2006,6(18):2904-2905.

      [3]黃鑫,常天慶等.數(shù)字電路板自動測試與故障診斷系統(tǒng)的設(shè)計與實現(xiàn)[J].計算機測量與控制,2010,18(7):1512-1514.

      [4]賀喆,周劍奇等.基于PXI總線的小型化數(shù)字電路故障診斷系統(tǒng)設(shè)計方法研究[J].計算機測量與控制,2010,18(2):323-325.

      [5]秦福星,周慶年,安江波等.基于測試向量的數(shù)字電路故障診斷[J].船電技術(shù),2010(10):47-48.

      作者簡介:莊波(1981—),男,江蘇常州人,大學專科,現(xiàn)供職于天地(常州)自動化股份有限公司,主要從事與工礦企業(yè)相關(guān)的計算機及信息化工程相關(guān)工作等。

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