上頜第一前磨牙X線法髓腔物理量

丁文杰，袁 野，丁繼固

(1.湖北科技學(xué)院五管醫(yī)學(xué)院，湖北咸寧437100;2.廣州軍區(qū)武漢總醫(yī)院耳鼻咽喉科;3.湖北科技學(xué)院基礎(chǔ)醫(yī)學(xué)院)

上頜第1前磨牙髓腔形態(tài)非常復(fù)雜，臨床上在進(jìn)行牙冠腔和根管治療時(shí)容易遺漏根管或根管充填不完全，導(dǎo)致治療失敗。且其與正畸、修復(fù)等學(xué)科的關(guān)系最密切［1］，在牙體牙髓病治療中占有重要地位。國(guó)內(nèi)外學(xué)者對(duì)牙髓腔從不同角度和不同方法進(jìn)行了大量研究，如Hess［2］首次通過硬化橡膠灌注法顯示了根管形態(tài)。其后又有眾多技術(shù)與手段被應(yīng)用于牙冠腔和根管的研究［3］，如連續(xù)斷層解剖法，拍攝 X線牙片法［4］，透明牙觀察法［5，6］，X 線多角度攝像法，CT 觀察法由 Tachibana［7］在1990年應(yīng)用于牙髓腔研究，MCT觀察法及根管顯微鏡技術(shù)等。目前國(guó)內(nèi)對(duì)髓腔研究較完整的是鄭廣寧等［8］，在對(duì)根管形態(tài)結(jié)構(gòu)和根管分型等方面也作了大量的研究［9～12］。本研究特選擇上頜第1前磨牙，先用肉眼觀察牙冠、牙頸及牙根形態(tài)，記錄單雙根牙數(shù)目，再將實(shí)體牙拍攝X線牙片，用電腦配套的柯達(dá)成像系統(tǒng)測(cè)量X線牙片物理量，并對(duì)根管形態(tài)進(jìn)行分型，以求探討上頜第1前磨牙物理量值，為口腔臨床實(shí)踐提供牙體質(zhì)物理量方面的數(shù)據(jù)，提高牙病的治愈率。

1 材料與方法

1.1 材料和儀器設(shè)備

收集外形基本完整，未記錄性別、年齡的臨床治療性拔牙及淘汰的廢舊標(biāo)本上頜第1前磨牙100顆。消毒，清潔牙面，自然干燥，編號(hào)(1～100)號(hào)，保存?zhèn)溆?。?guó)產(chǎn)牙科X線機(jī)(南昌新長(zhǎng)征醫(yī)療科技發(fā)展有限公司、型號(hào)JYF-10D)，KODAK 2200成像系統(tǒng)(美國(guó)柯達(dá))。

1.2 實(shí)體牙X線片拍攝

將實(shí)體牙用橡皮泥固定在靶片上，球管距離靶片3cm，并保持距離固定不變，用平行投照法拍攝頰舌向、近遠(yuǎn)中向影像牙。曝光時(shí)間為4s，電壓60kvp，用柯達(dá)成像系統(tǒng)進(jìn)行影像記錄、保存?zhèn)溆脺y(cè)量。

1.3 髓腔的物理量測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)

X線片牙髓腔形態(tài)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)參照吳友農(nóng)［11］和王惠蕓［13］研究方法，結(jié)合本研究目的要求，對(duì)髓腔測(cè)量特制定如下測(cè)量標(biāo)準(zhǔn):髓高(牙冠腔高):髓室頂與髓室底之間的距離;髓寬(牙冠腔寬):髓室的冠近中徑與冠遠(yuǎn)中徑之間的距離;根中頰徑:頰側(cè)根根中1/3的頰舌徑;根中舌徑:舌側(cè)根根中1/3的頰舌徑;根尖頰徑:頰側(cè)根距根尖0.5mm的頰舌徑;根尖舌徑:舌側(cè)根距根尖0.5mm的頰舌徑。

1.4 X線片牙根管分型標(biāo)準(zhǔn)

參照吳友農(nóng)［11］對(duì)根管分型標(biāo)準(zhǔn)，結(jié)合本研究目的要求，對(duì)根管分型制定如下9種標(biāo)準(zhǔn):Ⅰ-1-1型:Ⅰ-1-2型;Ⅰ-2-1型:Ⅰ-2-1-2型;Ⅰ-2-2型;Ⅰ-1-2-1型;Ⅰ-3-3型;Ⅱ-2-2型;Ⅲ-3-3型。

1.5 X線片牙髓腔物理量的測(cè)量

將X線片牙影像用電腦配套的柯達(dá)成像系統(tǒng)，按照上述所定的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)對(duì)X線片牙的髓高、髓寬、根中頰徑、根中舌徑、根尖頰徑和根尖舌徑進(jìn)行測(cè)量。

1.6 統(tǒng)計(jì)學(xué)處理

用SPSS17.0軟件統(tǒng)計(jì)處理X線片牙和透明牙物理量的的測(cè)量值，作統(tǒng)計(jì)學(xué)分析(均數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)差、相關(guān)及回歸)［14］。

2 結(jié)果

2.1 X線片牙根管類型及百分比

本研究在100顆上頜第1前磨牙X線片牙中觀察到6種類型牙根管，其中Ⅰ-1-1型占33%，Ⅰ-2-2 型占17%，Ⅰ-2-1 型占13%，Ⅰ-1-2 型占4%，Ⅰ-2-1-2型占3%和Ⅱ-2-2型占30%。見圖1。

2.2 X線片牙側(cè)副根管類型及百分比

本研究在100顆上頜第1前磨牙X線片牙中觀察到6種類型側(cè)副根管，其中根管側(cè)支占3%，根管分歧占3%，根管分叉占2%，管間交通占2%，管間峽占1%，其他形態(tài)占1%。側(cè)副根管總發(fā)生率為11%。見圖2。

圖1 X線片牙根管類型標(biāo)本圖片組

圖2 X線片牙側(cè)副管類型標(biāo)本圖片組

2.3 X線片牙髓腔物理量測(cè)量

本研究100顆X線片牙髓腔物理量:髓高3.09±1.18mm，髓寬3.88±0.61mm，根中頰1.76±1.18mm，根中舌0.59±0.34mm，根尖頰0.79±0.89mm，根尖舌0.35±0.28mm。

2.4 髓腔物理量各測(cè)值的相關(guān)系數(shù)及回歸

為了進(jìn)一步證實(shí)X線片牙髓腔各測(cè)量值是否存在物理量之間的相互關(guān)系，則用SPSS統(tǒng)計(jì)軟件對(duì)所測(cè)各值作了進(jìn)一步的相關(guān)和回歸的統(tǒng)計(jì)分析。見表1、表2。

表1 100顆X線片牙髓腔物理量相關(guān)性分析(相關(guān)系數(shù))

表2 100顆X線片牙髓腔物理量顯著相關(guān)指標(biāo)的直線回歸

3 討論

3.1 統(tǒng)一根管分型的標(biāo)準(zhǔn)及其重要性

對(duì)根管分型國(guó)內(nèi)外學(xué)者各有所見，分型標(biāo)準(zhǔn)也各不相同，沒有一個(gè)統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)，給口腔學(xué)對(duì)牙根的研究分型造成誤解或錯(cuò)誤統(tǒng)計(jì)。故制定統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)非常重要。參照吳友農(nóng)［11］和 Vertucci［12］及其他學(xué)者對(duì)根管分型標(biāo)準(zhǔn)，結(jié)合本研究對(duì)根管分型的分析理解，找出規(guī)律性。現(xiàn)就對(duì)本研究制定的根管分型標(biāo)準(zhǔn)介紹如下，為以后其他學(xué)者對(duì)根管研究分型提供參考。

本研究對(duì)根管分型標(biāo)準(zhǔn)的制定，先按牙體外型的牙根數(shù)編碼:①單根牙用羅馬字Ⅰ表示，雙根牙用羅馬字Ⅱ表示，3根牙用羅馬字Ⅲ表示，4根牙用羅馬字Ⅳ表示，對(duì)其他多根牙的編號(hào)依此推理。②再用1、2、3、4等阿拉伯?dāng)?shù)字對(duì)根管數(shù)制定編碼。如:單根牙中依牙根管數(shù)多少可隨機(jī)編碼定型。Ⅰ-1-1型:為1個(gè)根管離開髓室，根尖有1個(gè)根尖孔。Ⅰ-1-2型:為1個(gè)根管離開髓室，后分為兩個(gè)根管，根尖有兩個(gè)根尖孔。Ⅰ-1-3型:為1個(gè)根管離開髓室，后分為3個(gè)根管，根尖有3個(gè)根尖孔。Ⅰ-2-1型:為兩個(gè)根管離開髓室，再合為1個(gè)根管，根尖有1個(gè)根尖孔。Ⅰ-2-2型:為兩個(gè)各自獨(dú)立根管離開髓室，根尖有兩個(gè)根尖孔。Ⅰ-3-3型:為3個(gè)各自獨(dú)立根管離開髓室，根尖有3個(gè)根尖孔。Ⅰ-2-1-2型:為兩個(gè)根管離開髓室，再合為1個(gè)根管，再分成兩個(gè)根管，根尖有兩個(gè)根尖孔。Ⅰ-1-2-1型:為1個(gè)根管離開髓室，后分為兩個(gè)，再合為1個(gè)根管，根尖有1個(gè)根尖孔。Ⅰ-3-3型:為3個(gè)各自獨(dú)立根管離開髓室，根尖有3個(gè)根尖孔。其他類型編號(hào)依此推理。

雙根牙中依牙根管數(shù)多少可隨機(jī)編碼定型。如Ⅱ-2-2型為兩個(gè)牙根各自獨(dú)立有1個(gè)根管離開髓室，3個(gè)牙根根尖各有1個(gè)根尖孔。其他類型編號(hào)依此推理。

3根牙中依牙根管數(shù)多少可隨機(jī)編碼定型。Ⅲ-3-3型是3個(gè)牙根各有1個(gè)獨(dú)立根管離開髓室，3個(gè)牙根根尖各有1個(gè)根尖孔。其他類型編號(hào)依此推理。

上述對(duì)根管定型標(biāo)準(zhǔn)可對(duì)多根牙中的任何根管類型進(jìn)行規(guī)范編碼，易懂。避免了單根牙、雙根牙或多根牙中牙根管數(shù)相同情況下編碼的混淆。

3.2 髓腔物理量各測(cè)值的相關(guān)系數(shù)及回歸

通過對(duì)X線片牙髓腔物理量各測(cè)值配對(duì)相關(guān)分析，排除無(wú)相關(guān)性(P≥0.05)的配對(duì)組別，對(duì)有相關(guān)性(P＜0.05)的配對(duì)組別進(jìn)行回歸分析，得出Y隨X變化的回歸方程和P值)。從直線回歸可得出因變量的值(Y)主要受自變量值(X)的影響，因此可用自變量值(X)來推測(cè)因變量的值(Y)。如可用髓高來推測(cè)根中舌徑，其他配對(duì)組可依此推測(cè)。

上述結(jié)果說明本組上頜第1前磨牙根管類型主要是Ⅰ-1-1型、Ⅰ-2-2型和Ⅱ-2-2型。X線片牙的髓高3.09mm，髓寬3.88mm，根中頰徑1.76mm，根中舌徑0.59mm，根尖頰徑0.79mm，根尖舌徑0.35mm。用X線片牙研究牙的物理量方法簡(jiǎn)單、可行、實(shí)用，可為口腔臨床實(shí)踐提供牙體質(zhì)物理量方面的數(shù)據(jù)，對(duì)提高牙病的治愈率有指導(dǎo)性意義。

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