一種面向RAID陣列的SSD設(shè)計優(yōu)化方法

陳 博，肖 儂，劉 芳，歐 洋，何晚輝

(國防科學技術(shù)大學高性能計算國家重點實驗室，湖南 長沙 410073)

1 引言

隨著大數(shù)據(jù)時代的到來，目前NAND Flash已經(jīng)不僅局限于嵌入式領(lǐng)域，基于NAND Flash的SSD(Solid State Disk)已經(jīng)在大型數(shù)據(jù)中心得到廣泛應用。越來越多的公司開始涉足SSD市場，不僅一些老牌磁盤廠商，例如希捷、西部數(shù)據(jù)，開始生產(chǎn)SSD，華為公司也宣布其第一款PCIe SSD ES3000正式上市。然而，隨著NAND Flash單片容量的不斷增大，SSD的容量也不斷增加，源科公司的Kylin III MAX的單盤容量達到4.6 TB。

相比機械磁盤，基于NAND Flash的SSD具有諸多優(yōu)勢，例如低延遲、無噪聲、抗震動等[1]，但是SSD還沒有替代機械磁盤，一個很大的原因是SSD的價格遠高于機械磁盤。為了降低MYM/GB的價格，相繼出現(xiàn)MLC和TLC。但是，相比SLC的105的擦寫次數(shù)，MLC和TLC的擦寫次數(shù)急劇下降，僅有104和103[2,3]，并且數(shù)據(jù)的錯誤率也會增加[4]。

為了保證數(shù)據(jù)的可靠性，傳統(tǒng)的方法是采用ECC校驗，在數(shù)據(jù)寫入Flash的每一頁時，相應的校驗信息寫入頁的Spare Area。但是，基于海明碼的ECC校驗僅能檢測兩位錯，糾正一位錯；而基于RS和BCH及LDPC的ECC校驗能糾正多位錯，但是硬件實現(xiàn)復雜，并且增加了數(shù)據(jù)訪問的延遲[5]。

另外一種保證數(shù)據(jù)可靠性的方法是采用RAID技術(shù)。RAID技術(shù)可以用在SSD與SSD之間，SSD內(nèi)部的Flash芯片與芯片之間，提供不同層次的可靠性。當前的一些PCIe SSD產(chǎn)品中已經(jīng)使用RAID技術(shù)來保證數(shù)據(jù)的可靠性。例如，Violin Memory的閃存系統(tǒng)采用了ECC和獨有的RAID技術(shù)保證數(shù)據(jù)的可靠性，在有Flash芯片出現(xiàn)故障時不會造成數(shù)據(jù)的丟失，華為的ES3000也采用了Dynamic RAID技術(shù)保證數(shù)據(jù)的可靠性。但是， Skyera公司指出，使用最為廣泛的RAID5技術(shù)在用于SSD陣列時，會縮短SSD壽命。這是因為每一次更新數(shù)據(jù)，都需要更新相應的校驗信息，使得校驗信息更新比較頻繁，從而產(chǎn)生較多的無效頁，增加SSD的擦除次數(shù)，降低了整個SSD的性能且縮短了壽命。

針對這個問題，本文提出了校驗信息感知的SSD控制器，稱為PA-SSD(Parity-Aware SSD)控制器。傳統(tǒng)的RAID5控制器向SSD控制器發(fā)送數(shù)據(jù)請求和校驗請求時，在SSD控制器看來都是數(shù)據(jù)請求，從而SSD控制器不能針對校驗信息做專門的處理。本文稍微修改RAID5控制器，使其在向SSD控制器發(fā)送校驗請求時，同時發(fā)送一個校驗標志，表示該請求是校驗請求。在SSD控制器層設(shè)置一個校驗緩存Pcache，更新校驗信息時，SSD控制器接收到校驗標志后，將校驗信息緩存在Pcache中;讀取校驗信息時，先在Pcache中查找該校驗，如果命中，則將校驗信息返回給RAID5控制器；否則，向SSD發(fā)送讀請求，這樣就減少了對SSD的讀寫操作。在將Pcache中的校驗信息寫回SSD時，寫入專門的一片空間。與數(shù)據(jù)相比，校驗信息相當于熱數(shù)據(jù)，將熱點數(shù)據(jù)單獨存放可以減少整體的擦除次數(shù)，從而提高SSD的性能和壽命。實驗表明，PA-SSD控制器能夠?qū)SD的壽命提升28%。

2 相關(guān)工作

Im S等人[5]提出了一種Delayed Partial Parity Update的RAID策略來構(gòu)造高性能高可靠性的SSD，在每次更新數(shù)據(jù)時，計算當前新數(shù)據(jù)的校驗信息，并將校驗信息緩存在RAID控制器的Cache中，在下次更新數(shù)據(jù)時，利用Cache中存在的校驗信息再一次更新校驗信息，這樣多次更新數(shù)據(jù)只需要更新一次校驗信息，但在Cache中保存的是部分校驗信息。這種延遲更新校驗信息的方法減少了校驗信息更新的開銷，但是這種策略是在RAID控制器層工作，不能利用SSD控制器針對校驗信息的特點做優(yōu)化。

Lee Y等人[6]提出FRA(Flash-aware Redundancy Array)方法，將寫數(shù)據(jù)和寫校驗兩部分分開，當寫請求到達時，先將要寫入的數(shù)據(jù)寫入SSD，在系統(tǒng)空閑時再將校驗寫入SSD。這種方法將校驗信息和數(shù)據(jù)信息一起存放，頻繁地更新校驗信息使得塊中無效頁的數(shù)量增加很快，進而觸發(fā)垃圾回收，影響系統(tǒng)的性能。

杜溢墨等人[7]提出MuLe-RAID(Multiple Level RAID)技術(shù)，將RAID控制器分成兩層，即上層的RAID5控制器和下層的RAID0控制器，這種方法減輕了上層RAID5控制器的負載，提高了整個系統(tǒng)的性能，但是沒有解決校驗信息的更新對系統(tǒng)的影響。

3 PA-SSD控制器

傳統(tǒng)的SSD控制器不能感知校驗信息，因此不能針對校驗信息的特點做出相應的優(yōu)化，只能在其訪問頻繁時，當做普通的熱點數(shù)據(jù)處理。當前針對基于SSD的RAID系統(tǒng)的校驗信息的優(yōu)化都是在RAID控制器層或者文件系統(tǒng)層，沒有在SSD控制器層次做優(yōu)化的。而在RAID控制器層對校驗信息處理時，RAID控制器不知道底層SSD的數(shù)據(jù)布局。針對這一問題，我們提出PA-SSD控制器設(shè)計。

3.1 體系結(jié)構(gòu)設(shè)計

PA-SSD控制器的體系結(jié)構(gòu)圖如圖1所示。與傳統(tǒng)的RAID5控制器和SSD控制器不同的是，RAID5控制器將校驗信息請求發(fā)送給SSD控制器的同時，發(fā)送校驗標志信號，通知SSD控制器該請求是校驗信息。此外，在SSD控制器內(nèi)部增加一個緩存Pcache，將更新的校驗信息暫存在Pcache中，以減少對SSD的寫次數(shù)。同時，在SSD內(nèi)將存儲區(qū)間分為數(shù)據(jù)區(qū)和校驗區(qū)，分別存放數(shù)據(jù)和校驗。

Figure 1 PA-SSD controller architecture圖1 PA-SSD控制器體系結(jié)構(gòu)圖

下面是PA-SSD控制器的訪問流程偽代碼：

//lpn:請求的邏輯地址

//ppn:lpn對應的物理地址

/request:RAID5控制器發(fā)出的請求

//parity_flag:RAID5控制器發(fā)出的校驗標志

RAID5控制器發(fā)送request和parity_flay

if(request==parity_request)

if(request==read)

parity=find(lpn,pache);

if(parity不為空)

將parity返回給RAID5控制器

else

ppn=map_table[lpn];

ssd_read(ppn);

endif

else

write_pcache(parity);

endif

else

if(request==read)

ppn=map_table[lpn];

ssd_read(ppn);

else

ppn=alloc(lpn);

write_ssd(ppn,data);

endif

endif

RAID5控制器發(fā)出請求和校驗標志，PA-SSD控制器根據(jù)校驗標志判斷請求類型。如果是數(shù)據(jù)請求，則根據(jù)地址映射表訪問SSD，如果是校驗請求，則判斷讀寫類型，如果是寫請求，則寫入Pcache中，如果是讀請求，則根據(jù)邏輯地址在Pcache中查找校驗信息是否存在，如果存在，則將校驗信息返回RAID5控制器，如果不存在，則根據(jù)地址映射表訪問SSD。

3.2 Pcache管理和地址分配

根據(jù)程序的局部性原理，一個被訪問的地址在將來一段時間內(nèi)可能被再次訪問，在一段時間內(nèi)，程序的訪問空間集中在某一片區(qū)域。因此，在更新某一個地址的數(shù)據(jù)后，在將來一段時間內(nèi)，該地址以及它周圍的地址的數(shù)據(jù)可能被再次更新，如此，校驗信息的更新將會很頻繁。如果不加處理，每次更新校驗信息都對SSD執(zhí)行寫操作，同時將舊的校驗信息置為無效，則SSD中會有許多無效頁，進而觸發(fā)垃圾回收操作。為了減少校驗信息的更新對SSD的寫操作，在SSD內(nèi)部設(shè)置Pcache存放更新的校驗信息。更新校驗信息時，如果在Pcache中存在該校驗信息，則直接覆蓋舊的校驗信息，這樣就減少了校驗信息的更新對SSD的寫次數(shù)。

由于Pcache中保存的是最近一段時間內(nèi)使用的校驗信息，根據(jù)程序的局部性原理，最久未被使用的校驗信息可能在將來也不會被使用，因此Pcache的替換策略采用LRU方式。

校驗信息需要被頻繁地更新，與數(shù)據(jù)相比，校驗信息相當于熱點數(shù)據(jù)。如果將校驗信息與數(shù)據(jù)共同存放，則頻繁更新校驗數(shù)據(jù)會使得數(shù)據(jù)塊中無效頁的數(shù)量快速增加，在垃圾回收時需要擦除較多的數(shù)據(jù)塊，并且移動大量的有效數(shù)據(jù)頁，增加了垃圾回收的負擔。將數(shù)據(jù)和校驗信息分開存放，則校驗信息的頻繁更新不會影響到數(shù)據(jù)塊，數(shù)據(jù)塊的垃圾回收次數(shù)減少，校驗塊的垃圾回收移動的有效頁數(shù)量減少，減輕了垃圾回收的負擔。

PA-SSD控制器將SSD的地址空間分為數(shù)據(jù)區(qū)和校驗區(qū)，由圖1中的地址分配單元負責數(shù)據(jù)和校驗的地址分配。寫數(shù)據(jù)請求到達時，地址分配單元在數(shù)據(jù)區(qū)分配一個空閑頁給該請求，同時將地址映射表中與該邏輯地址對應的物理地址賦值。寫校驗信息時，控制器不給校驗信息分配物理地址，而是將校驗信息先寫入Pcache中。當Pcache需要替換時，地址分配單元給替換出的校驗信息在校驗區(qū)分配一個空閑頁。

校驗區(qū)存放的校驗信息雖然由于Pcache的存在減少了校驗信息寫入SSD的次數(shù)，但是由于校驗信息的更新比數(shù)據(jù)的更新更加頻繁，所以與數(shù)據(jù)區(qū)的塊相比，校驗區(qū)中塊的擦除次數(shù)更多，因此校驗區(qū)的塊更加容易磨損。針對這種情況，我們在控制器中維護兩個塊地址鏈表，一個是校驗區(qū)塊地址鏈表，另一個是數(shù)據(jù)區(qū)塊地址鏈表。對每個塊記錄擦除次數(shù)，當校驗區(qū)的塊擦除次數(shù)超過一定閾值時，就與數(shù)據(jù)區(qū)中干凈的擦除次數(shù)最少的塊做交換，以此來延長整個SSD的壽命。

Pcache使用RAM實現(xiàn)，為了防止掉電時Pcache中的校驗信息丟失，造成數(shù)據(jù)的不可靠，在SSD陣列上增加一塊電池或者電容，在檢測到掉電時，由電池或者電容向Pcache供電，將其中的校驗信息寫入SSD中。

4 實驗評估

為了評估PA-SSD控制器的性能，我們實現(xiàn)了支持校驗標志傳送的RAID5模擬器和包含PA-SSD控制器的SSD模擬器，分別用來模擬RAID5的功能和對SSD的操作，記錄SSD運行的結(jié)果，并與傳統(tǒng)的RAID5模擬器和SSD模擬器的運行結(jié)果相比較。

我們使用四個真實的磁盤IO trace作為測試用例，分別是prxy、usr、Exchange和Financial，這四個trace都是服務器trace，prxy和usr是Microsoft Research Cambridge在服務器上搜集的數(shù)據(jù)[8]，是典型的企業(yè)數(shù)據(jù)中心的數(shù)據(jù);Exchange是從Microsoft Exchange Server上搜集的數(shù)據(jù)[8]，包含61 000 000條請求，其中43%的請求是讀請求;Financial是一個OLTP應用程序trace[9]。

我們比較了普通SSD控制器(regular SSD)和PA-SSD控制器的性能和壽命。普通SSD控制器沒有從RAID5控制器接收校驗信息標志，沒有使用Cache緩存校驗信息，也沒有在SSD內(nèi)部將校驗信息集中存放。Parity-aware SSD控制器使用不同大小的Cache測試其容量對性能的影響，Cache容量分別為SSD總?cè)萘康?.5/1000、1/1000、2/1000和4/1000。

圖2表示regular SSD和Cache為不同大小的PA-SSD執(zhí)行各個trace的擦除次數(shù)，以regular SSD的擦除次數(shù)為1。從圖2中可以看出，PA-SSD相比regular SSD減少了擦除次數(shù)，在不同Cache大小的情況下，擦除次數(shù)平均減少23%～28%，最高可減少40%。在PA-SSD中，Cache越大，校驗信息在Cache中命中的幾率越高，從而寫回SSD的校驗信息越少，因此SSD的擦除次數(shù)越少。減少了SSD的擦除次數(shù)，SSD的壽命就得到了提高。

Figure 2 Comparision of erase count(normalized to regular SSD)圖2 擦除次數(shù)比較(歸一化到regular SSD)

圖3表示regular SSD和Cache為不同大小的PA-SSD的垃圾回收時移動的頁數(shù)，以regular SSD的頁移動次數(shù)為1。從圖3中可以看出，四個trace在PA-SSD下的頁移動次數(shù)相比regular SSD都有所減少，平均減少19%～27%，最高可減少37%。由圖2可知，在PA-SSD控制器中，擦除次數(shù)減少，結(jié)合圖2所示結(jié)果， PA-SSD控制器相比regular SSD控制器，在性能上有所提升。

Figure 3 Comparision of page move count(normalized to regular SSD)圖3 頁移動次數(shù)比較(歸一化到regular SSD)

綜合圖2和圖3的測試結(jié)果， PA-SSD控制器在減少擦除次數(shù)和降低垃圾回收時的頁移動次數(shù)方面都有很好的表現(xiàn)，在Cache容量為SSD總?cè)萘康?/1000的情況下，擦除次數(shù)平均減少28%，頁移動次數(shù)平均降低27%。因此，相比普通的SSD控制器，采用PA-SSD控制器的RAID5系統(tǒng)，延長了SSD的使用壽命，提升了整體的性能。

5 結(jié)束語

本文針對基于SSD的RAID5系統(tǒng)中校驗信息更新頻繁的特點，提出了PA-SSD控制器。RAID5控制器向SSD控制器發(fā)送請求的同時發(fā)送校驗標志，使得SSD控制器可以識別校驗信息。在SSD控制器內(nèi)部實現(xiàn)一個緩存Pcache，用于緩存更新的校驗信息，并且在將校驗信息寫入SSD時，與數(shù)據(jù)分開存放。這種方法有效地減少了校驗信息對SSD的寫操作，減少了SSD的擦除次數(shù)，提高了系統(tǒng)的性能，且其開銷僅增加了一個小容量Cache。

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[6] Lee Y, Jung S, Song Y Ho. FRA:A flash-aware redundancy array of flash storage devices[C]∥Proc of CODES+ISSS’09, 2009:163-172.

[7] Du Yi-mo, Xiao Nong, Liu Fang, et al. MuLe-RAID:Constructing large scale and high-performance SSD with multiple level RAID architecture[J]. Journal of Computer Research and Development, 2012,49(z1):111-117.(in Chinese)

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[9] Laboratory for Advanced System Software. UMass Trace Repository[EB/OL].[2009-10-16].http://www.traces.cs.umass.edu/.

附中文參考文獻：

[7] 杜溢墨，肖儂，劉芳，等. MuLe-RAID:面向大容量高性能SSD的層次化RAID[J].計算機研究與發(fā)展,2012,49(z1):111-117.