陳華平,李輝,張穎,鹿文軍,溫志英
(深圳出入境檢驗(yàn)檢疫局,廣東 深圳 510600)
近年來(lái),歐盟、美國(guó)、日本等經(jīng)濟(jì)發(fā)達(dá)國(guó)家陸續(xù)出臺(tái)大量電子電氣產(chǎn)品安全、能耗、環(huán)保等方面的法規(guī)、條例和標(biāo)準(zhǔn)等,使得中國(guó)出口電子電氣產(chǎn)品的門(mén)檻越來(lái)越高。其中,日本 “長(zhǎng)期使用產(chǎn)品安全檢修制度”和 “長(zhǎng)期使用產(chǎn)品安全標(biāo)示制度”中的核心要求是企業(yè)要設(shè)計(jì)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)使用期限并且要提供設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)使用期限推算依據(jù)的書(shū)面資料。
據(jù)統(tǒng)計(jì)的海關(guān)資料顯示,這兩項(xiàng)制度將影響我國(guó)每年約6億美元的產(chǎn)品。更為重要的是,隨著制度的實(shí)施,日本很有可能擴(kuò)大 “長(zhǎng)期使用產(chǎn)品安全檢修制度”和 “長(zhǎng)期使用產(chǎn)品安全標(biāo)示制度”的管制產(chǎn)品范圍。同時(shí),歐盟等其它國(guó)家有可能更新它們的技術(shù)指標(biāo),要求中國(guó)產(chǎn)品在技術(shù)上向日本產(chǎn)品看齊,甚至于歐盟等國(guó)也出臺(tái)類(lèi)似標(biāo)準(zhǔn)。這些標(biāo)準(zhǔn)的出臺(tái)將對(duì)我國(guó)電氣產(chǎn)品出口企業(yè)帶來(lái)極大的挑戰(zhàn)。
對(duì)日本該技術(shù)性貿(mào)易壁壘中要求的電子電氣產(chǎn)品安全使用期限評(píng)估和檢測(cè)技術(shù)的研究十分關(guān)鍵,非常迫切,對(duì)我國(guó)電子電氣產(chǎn)品的出口意義重大。而應(yīng)對(duì)這些標(biāo)準(zhǔn)制度的主要措施就是對(duì)產(chǎn)品的壽命進(jìn)行評(píng)估和測(cè)試,目前,壽命評(píng)估主要是在對(duì)關(guān)鍵零部件及整機(jī)測(cè)試的基礎(chǔ)上進(jìn)行測(cè)試,一般都是根據(jù)目標(biāo)銷(xiāo)售國(guó)家及地區(qū)的環(huán)境條件進(jìn)行模擬實(shí)驗(yàn),耗費(fèi)的時(shí)間成本比較多,測(cè)試的產(chǎn)品數(shù)量也比較多。在當(dāng)前產(chǎn)品更新?lián)Q代快速的形勢(shì)下,這種測(cè)試給企業(yè)帶來(lái)了極大的障礙。
在討論產(chǎn)品壽命時(shí),通常指的是產(chǎn)品失效發(fā)生前的操作或工作時(shí)間t,通常采用f(t)來(lái)表示失效機(jī)率密度函數(shù),或稱(chēng)之為失效機(jī)率密度函數(shù)。該函數(shù)表明的物理意義為單位時(shí)間的失效機(jī)率,其數(shù)學(xué)表達(dá)式為:
一般而言,物品的失效率函數(shù)為時(shí)間的函數(shù),除少數(shù)的應(yīng)用情形外,大部分物品的失效率隨時(shí)間的變化幾乎呈現(xiàn)一浴缸曲線的性質(zhì),如圖1所示。
圖1中產(chǎn)品壽命由3段組成,第1段為早期失效期,失效率隨時(shí)間逐漸遞減,這是因?yàn)槲锲酚捎谠O(shè)計(jì)、組裝等潛在的不合格因素,設(shè)備在早期就逐漸發(fā)生失效的行為;第2段為偶然失效期,占據(jù)相當(dāng)長(zhǎng)的時(shí)間,在這段時(shí)間內(nèi)失效率大致不變,失效也往往是偶然發(fā)生的;第3段為磨損失效期,由于長(zhǎng)時(shí)間的使用后,物品的失效率隨著時(shí)間的變化而增加。由于這3段時(shí)間所組合的失效函數(shù)的形狀很像浴缸,因而被稱(chēng)之為浴缸曲線。
由于壽命評(píng)估主要討論的是物品的失效時(shí)間這個(gè)隨機(jī)變數(shù)T,用R(t)來(lái)表示物品不失效的時(shí)間特性:
式(2)中:R(t)——失效時(shí)間大于t的機(jī)率,稱(chēng)為可靠度函數(shù)。
產(chǎn)品的壽命不盡相同,很難對(duì)某一個(gè)產(chǎn)品的壽命進(jìn)行精確的預(yù)計(jì),只能對(duì)該型號(hào),或該類(lèi)產(chǎn)品的壽命進(jìn)行大致的評(píng)估。產(chǎn)品的壽命一般用可靠壽命、平均任務(wù)時(shí)間、平均壽命或中位壽命表示。
a)可靠壽命
可靠壽命是給定的可靠度值時(shí)所對(duì)應(yīng)的壽命時(shí)間,一般而言,可靠度為隨著工作時(shí)間t的增加而下降的函數(shù),因此對(duì)不同的給定R值,則有不同的壽命:
可靠壽命的觀測(cè)值是能完成規(guī)定功能的產(chǎn)品的比例,恰好等于給定可靠度時(shí)所對(duì)應(yīng)的壽命時(shí)間。
b)中位壽命
當(dāng)指定產(chǎn)品的可靠度R=0.5時(shí),此時(shí)的壽命被稱(chēng)為中位壽命。
c)平均壽命
產(chǎn)品無(wú)失效時(shí)間的平均值,被稱(chēng)為平均壽命或平均失效時(shí)間。對(duì)于可維修物品而言,平均壽命為平均失效間隔時(shí)間(MTBF);對(duì)于不可維修物品而言,則為平均失效發(fā)生時(shí)間(MTTF)。平均壽命的定義為:
d)平均任務(wù)壽命
對(duì)于一些有固定任務(wù)或預(yù)先設(shè)定壽命(tD)的系統(tǒng)而言,則以平均任務(wù)時(shí)間表示其特征壽命,平均任務(wù)時(shí)間的定義為:
壽命評(píng)估以后,需要對(duì)產(chǎn)品的壽命進(jìn)行相應(yīng)的驗(yàn)證,即壽命檢測(cè)。但是我們注意到,不同地區(qū),甚至同一地區(qū)的產(chǎn)品的壽命也不一定相同,這是因?yàn)楫a(chǎn)品的壽命受使用的環(huán)境、時(shí)長(zhǎng)和頻率等因素的影響,因此在壽命評(píng)估的時(shí)候,也要考慮這些因素。
現(xiàn)有的壽命檢測(cè)方法已經(jīng)比較成熟,有著相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)可以依照。一般的壽命檢測(cè)都是采用抽取一定量的樣品進(jìn)行測(cè)試,測(cè)試流程為:1)根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)及使用環(huán)境,設(shè)定實(shí)驗(yàn)的環(huán)境;2)根據(jù)產(chǎn)品準(zhǔn)備使用的頻率及時(shí)長(zhǎng),電壓的波動(dòng)來(lái)設(shè)定具體的參數(shù);3)進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間的運(yùn)行實(shí)驗(yàn),記錄每一短時(shí)間內(nèi)的失效產(chǎn)品數(shù)目;4)根據(jù)產(chǎn)品的失效函數(shù)進(jìn)行相應(yīng)的驗(yàn)證。
在實(shí)際的工作中,壽命測(cè)試需要花費(fèi)大量的時(shí)間成本及經(jīng)濟(jì)成本,給企業(yè)帶來(lái)了極大的負(fù)擔(dān),因此提出了加速壽命檢測(cè)方法。
根據(jù)退化理論,退化模型一般為:
這也是物理加速模型的最原始、最基本的型式。 是退化量的特征值,f()是與退化量相關(guān)的物質(zhì)狀態(tài)的函數(shù),K為退化速度。常用的物理加速模型有如下幾種:
a)Arrhenius模型
產(chǎn)品失效從根本上講都是基本的物理/化學(xué)過(guò)程,而溫度對(duì)于許多物理/化學(xué)過(guò)程來(lái)講是一個(gè)重要因素,因此溫度常常在加速試驗(yàn)中作為一個(gè)重要的加速應(yīng)力。
式(7)中:η——特征壽命;
A——常數(shù),與產(chǎn)品和試驗(yàn)方法有關(guān);
E——激活能,與材料有關(guān);
k——波爾茲曼常數(shù);
T——絕對(duì)穩(wěn)定。該模型廣泛地應(yīng)用于溫度作為應(yīng)力的加速壽命試驗(yàn)中。
b)逆冪率模型
在加速試驗(yàn)中,除了溫度應(yīng)力外,還有機(jī)械應(yīng)力和電應(yīng)力。
式(8)中:η——特征壽命;
A——常數(shù);
n——一個(gè)與激活能相關(guān)的正常數(shù);
S——應(yīng)力水平。
逆冪率模型使用于如機(jī)械疲勞、機(jī)械磨損和電壓擊穿、絕緣擊穿等失效機(jī)理場(chǎng)合,表征產(chǎn)品壽命退化特征的逆冪率模型在機(jī)械產(chǎn)品和電工產(chǎn)品的加速試驗(yàn)中應(yīng)用廣泛。
c)艾林(Eying)模型
式(9)中:η——特征壽命;
A、B——常數(shù);
k——波爾茲曼常數(shù)。
艾林模型和Arrhenius模型相似,只是前面的系數(shù)略有不同而已,兩者可以通用,都可以擬合高應(yīng)力和低應(yīng)力產(chǎn)品壽命之間的關(guān)系。
d)廣義艾林(Eying)模型
對(duì)于除溫度以外還包含其它應(yīng)力S的普通情況,反應(yīng)速度與應(yīng)力的關(guān)系可以用廣義Eying模型描述
式(10)中:η——特征壽命;
A、B、n——待定常數(shù);
k——波爾茲曼常數(shù);
S——溫度以外的其它應(yīng)力。
廣義艾琳模型針對(duì)溫度和其它應(yīng)力共同作用于產(chǎn)品下的加速模型。從模型的表達(dá)式來(lái)看,廣義艾琳模型是艾林模型和逆冪率模型的疊加組合,如果是溫度和電力應(yīng)力兩者共同作用,則廣義艾琳模型比較合適。
加速壽命測(cè)試通過(guò)強(qiáng)化某一應(yīng)力或幾個(gè)應(yīng)力對(duì)設(shè)備的沖擊,以模擬設(shè)備在嚴(yán)酷環(huán)境下的運(yùn)行情況,加速設(shè)備退化的時(shí)間,進(jìn)而縮短壽命測(cè)試的時(shí)間。
壽命測(cè)試需要長(zhǎng)時(shí)間的試驗(yàn)時(shí)間和大量的樣品,對(duì)制造商是一筆不菲的開(kāi)支,特別是在當(dāng)前電子產(chǎn)品更新?lián)Q代速度快的時(shí)代,時(shí)間成本對(duì)制造商來(lái)說(shuō)是極為寶貴的,因此,及時(shí)地預(yù)測(cè)后續(xù)的試驗(yàn)過(guò)程就尤為重要了。目前,已經(jīng)有許多針對(duì)壽命試驗(yàn)的預(yù)測(cè)研究。
灰色理論的GM(1,1)模型,有全數(shù)據(jù)模型、新信息模型和新陳代謝模型,而新陳代謝模型的模擬精度最好,它通過(guò)現(xiàn)有數(shù)據(jù)系列基礎(chǔ)上的GM(1,1)模型,對(duì)下一個(gè)數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)測(cè),在得到預(yù)測(cè)值后將其加入數(shù)據(jù)系列,同時(shí)去掉原建模序列的第一個(gè)數(shù)據(jù),用同樣長(zhǎng)的新序列進(jìn)行再建模,如此循環(huán)。在李競(jìng)[2]的研究中采用正弦處理建模序列,對(duì)背景值進(jìn)行近似構(gòu)造,最終建立相應(yīng)的新陳代謝模型,得到了更高的預(yù)測(cè)精度。
BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)具有外推性、記憶性和對(duì)非線性函數(shù)的逼近能力,可以通過(guò)學(xué)習(xí)訓(xùn)練去逼近可靠性預(yù)測(cè)模型,預(yù)測(cè)更多的可靠性數(shù)據(jù),以實(shí)現(xiàn)對(duì)可靠性的統(tǒng)計(jì)分析。如果電子設(shè)備的可靠性數(shù)據(jù)樣本少,也無(wú)法確定它的壽命分布,則可采用BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)來(lái)擴(kuò)大可靠性數(shù)據(jù)的樣本量,然后再進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析。有效地預(yù)測(cè)壽命測(cè)試的后續(xù)過(guò)程能極大地減少測(cè)試時(shí)間及樣品,可以幫助制造商減少測(cè)試成本,占得市場(chǎng)先機(jī),這也是目前研究的熱點(diǎn)之一。
本文從設(shè)備壽命的數(shù)學(xué)模型、加速測(cè)試的方法及預(yù)測(cè)方法對(duì)壽命評(píng)估的影響等方面進(jìn)行了初步的研究。設(shè)備壽命是可靠性的一個(gè)重要指標(biāo),經(jīng)典的壽命評(píng)估方法主要是以大樣本試驗(yàn)的方法進(jìn)行,通過(guò)加速壽命試驗(yàn),同時(shí)根據(jù)可靠性模型及得到的數(shù)據(jù),對(duì)測(cè)試的后續(xù)進(jìn)行預(yù)測(cè),及時(shí)地停止試驗(yàn),可以有效地降低測(cè)試成本。
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