高功放高壓聯(lián)鎖電路改進(jìn)與測(cè)試

金華松　邱冬冬　劉斯亮

摘要：高壓聯(lián)鎖性能的好壞直接影響設(shè)備能否正常工作。通過分析CPI高功放(HPA)的延時(shí)加高壓程序、高壓聯(lián)鎖電路和交流延時(shí)器工作原理，研究出一種新改進(jìn)的高壓聯(lián)鎖電路方案和用于交流延時(shí)器的測(cè)試方法。分析闡述表明，該方案和測(cè)試方法克服了CPI高功放的高壓聯(lián)鎖方案的弊端。另外，根據(jù)分析結(jié)果設(shè)計(jì)了延時(shí)測(cè)試電路，它可對(duì)交流延時(shí)器性能參數(shù)進(jìn)行定量測(cè)試。

關(guān)鍵詞：CPI; 高功放; 高壓聯(lián)鎖; 交流延時(shí)器

中圖分類號(hào)：TN913.31+334； TM133 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼：A 文章編號(hào)：1004373X(2012)19015503