李國(guó)有 邱艷佳 張學(xué)東
汕頭超聲印制板公司
多層印制電路板(PCB)中鍍通孔(PTH)起到內(nèi)層電源層與接地層的相互連通的功能,當(dāng)系統(tǒng)進(jìn)入高速訊號(hào)傳輸時(shí),PTH孔將成為信號(hào)完整性的瓶頸和障礙,在傳輸線中猶如一條多于的“尾巴”(Stubs),扮演著凹痕式濾波器的功能,在信號(hào)傳輸線路中,兩處出現(xiàn)這種Stubs時(shí),將形成一段震蕩段,不管是濾波或是震蕩,對(duì)高速訊號(hào)傳輸產(chǎn)生傷害,使信號(hào)失真[1]。
背鉆是銅通過(guò)二次鉆孔的方式,將已經(jīng)完成電鍍的PTH孔內(nèi),不利于信號(hào)傳輸?shù)目足~(Stubs)部分去除,背鉆后殘留的Stubs長(zhǎng)度越短,對(duì)信號(hào)傳輸?shù)耐暾栽接欣?。目前電子產(chǎn)品已經(jīng)進(jìn)入高速信號(hào)傳輸時(shí)代,相應(yīng)的對(duì)PTH孔內(nèi)殘留的Stubs的長(zhǎng)度要求越來(lái)越短,促使PCB制造廠家,通過(guò)多種手段,以提高背鉆的加工能力,滿足客戶更高的需求。本文介紹了三種背鉆技術(shù):(1)傳統(tǒng)的背鉆方法;(2)內(nèi)層為信號(hào)反饋層的背鉆方法;(3) 按板厚比例控制深度背鉆方法,并且簡(jiǎn)述了這三種背鉆方法各自的優(yōu)缺點(diǎn)。
傳統(tǒng)的背鉆方法是利用鉆機(jī)的鉆盲孔功能,背鉆時(shí),以外層作為信號(hào)反饋層,當(dāng)鉆針接觸到板面時(shí),反饋信號(hào)到伺服器,下鉆預(yù)先設(shè)定的深度,其原理可以根據(jù)圖1所示來(lái)理解。背鉆的鉆針直徑一般比第一次鉆孔大0.2 mm ~ 0.25 mm,板件走堿蝕流程,背鉆步驟在圖形電鍍后,堿性蝕刻前進(jìn)行,可以避免背鉆產(chǎn)生的銅絲,在預(yù)設(shè)下鉆深度時(shí),還要考慮蝕刻時(shí)也會(huì)去除部分孔銅。
圖1 傳統(tǒng)背鉆技術(shù)示意圖,信號(hào)反饋層在外層
這種背鉆方法每個(gè)孔的背鉆深度都是一致的,而板件的厚度是不均勻的,一般是板件四周薄,中間厚,那么背鉆后殘留的孔銅長(zhǎng)度均一性差,限制了背鉆能力的提升,板件越厚,厚度均勻性越差,殘留孔銅的長(zhǎng)度就越大,成為傳統(tǒng)背鉆技術(shù)的主要缺點(diǎn)。
同樣利用鉆機(jī)的鉆盲孔功能,將信號(hào)反饋層設(shè)置在內(nèi)層(例如參考層),例如背鉆目標(biāo)層為第8層,那么信號(hào)反饋層設(shè)置在第9層(參考層,從焊錫面背鉆),通過(guò)一個(gè)工具孔,將信號(hào)反饋層連接到板面,預(yù)設(shè)鉆深只有一層介質(zhì)層厚度,背鉆的精度會(huì)大大提高。一般情況下,背鉆的參考層為接地層,為大銅面,其原理可以根據(jù)圖2所示來(lái)理解[2]。與傳統(tǒng)的背鉆方法相比較,將信號(hào)反饋層設(shè)在內(nèi)層,有三個(gè)問(wèn)題需要關(guān)注:
(1)流程選擇:背鉆必須選擇在蝕刻后進(jìn)行,如果在蝕刻前背鉆,鉆針接觸到板面就會(huì)反饋信號(hào),達(dá)不到資料設(shè)計(jì)的初衷。
(2)背鉆后銅絲問(wèn)題:因?yàn)楸炽@選擇在蝕刻后,無(wú)法再利用蝕刻來(lái)避免銅絲,所以需要對(duì)背鉆的鉆孔參數(shù)進(jìn)行研究。
(3)層壓和第一次鉆孔精度要求高:第一次鉆孔時(shí),鉆針不能鉆到內(nèi)層的信號(hào)反饋層上,否則在后續(xù)的孔金屬化流程中,孔銅與信號(hào)反饋層導(dǎo)通,同樣達(dá)不到資料設(shè)計(jì)的初衷,所以對(duì)層壓和第一次鉆孔的對(duì)位精度要求很高,同樣也決定了背鉆時(shí)鉆針直徑的選擇。
圖2 內(nèi)層為信號(hào)反饋層的背鉆技術(shù)
本人通過(guò)試驗(yàn)證明這種背鉆方法的可行性,如圖3所示的背鉆參考層, 第一次鉆孔直徑為0.45 mm,隔離環(huán)單邊設(shè)計(jì)為5 mil。
圖3 層為信號(hào)反饋層背鉆資料示例
按照資料設(shè)計(jì)背鉆孔徑需要≥0.7 mm(第一次鉆孔直徑加上隔離環(huán)兩邊寬度),實(shí)際生產(chǎn)需要在內(nèi)層蝕刻后,測(cè)量環(huán)直徑才能確定背鉆孔直徑。圖4是在背鉆前做切片確認(rèn)對(duì)位精度,同時(shí)可以測(cè)量背鉆需要的鉆針直徑。可以看出,層壓和第一次鉆孔對(duì)位精度良好,背鉆直徑需要選擇0.75 mm。
圖4 刻后確認(rèn)對(duì)位精度和背鉆直徑
背鉆時(shí),采用常規(guī)的鉆孔參數(shù),孔內(nèi)出現(xiàn)銅絲,如圖5所示,且背鉆深度越大,銅絲越嚴(yán)重,提升鉆孔參數(shù)后[3],可以避免銅絲(鉆尖角度、鉆速、進(jìn)刀速度)??足~長(zhǎng)度控制良好,長(zhǎng)度均一,如圖6所示。
圖5 常規(guī)鉆孔參數(shù)背鉆銅絲
圖6 內(nèi)層為信號(hào)反饋層背鉆結(jié)果實(shí)例
通過(guò)實(shí)例可以看出,以內(nèi)層做為信號(hào)反饋層背鉆,在控制孔銅長(zhǎng)度能力方面表現(xiàn)優(yōu)秀,板厚均勻性將不再是背鉆的影響因素,但對(duì)生產(chǎn)流程中其他步驟能力要求高,流程控制難度大,同時(shí)背鉆孔徑比第一次鉆孔大0.3 mm以上。
板厚雖然是不均勻的,但鉆深和板厚具有一定的規(guī)律性,即鉆深占板厚的比例基本是一致的,鉆機(jī)可以根據(jù)坐標(biāo)點(diǎn)檢測(cè)板件不同背鉆位置的厚度,以外層做為信號(hào)反饋層,再根據(jù)預(yù)先設(shè)定的比例,不同的厚度下鉆的深度也不同,提升殘留孔銅長(zhǎng)度的加工能力[4]。本人利用生產(chǎn)報(bào)廢板件,對(duì)按照板厚比例控制鉆深的背鉆方法進(jìn)行了可行性調(diào)查,取三個(gè)生產(chǎn)編號(hào),編號(hào)A客戶要求完成板厚(4.00±0.40)mm,編號(hào)B客戶要求完成板厚(2.50±0.25)mm,編號(hào)C客戶要求完成板厚(3.20±0.32)mm。
做板件上不同位置(板邊、板中、測(cè)試孔、背鉆孔)切片,測(cè)量板件厚度和參考層(目標(biāo)層)深度,測(cè)量方法如圖7所示,每個(gè)編號(hào)取10個(gè)或以上數(shù)據(jù),計(jì)算參考層的平均深度、參考層占板厚的比例以及此比例的平均值,假設(shè)以兩種方法背鉆,一是按傳統(tǒng)背鉆方式,以測(cè)量的參考層深度平均值為固定鉆深,二是按測(cè)量的板厚比例平均值控制背鉆深度,板厚減去參考層深度認(rèn)為是孔銅長(zhǎng)度,計(jì)算殘留孔銅長(zhǎng)度的極差,數(shù)據(jù)見(jiàn)表1、表2、表3,因板件在蝕刻后測(cè)量數(shù)據(jù),測(cè)量時(shí)無(wú)法包含面銅厚度,表中實(shí)際數(shù)據(jù)認(rèn)為面銅50 μm。
圖7 板厚和參考層(目標(biāo)層)深度測(cè)量示例
表1 編號(hào)A控制板厚比例背鉆調(diào)查數(shù)據(jù)表,單位:微米
表2 編號(hào)B控制板厚比例背鉆調(diào)查數(shù)據(jù)表,單位:微米
表3 編號(hào)C控制板厚比例背鉆調(diào)查數(shù)據(jù)表,單位:微米
通過(guò)以上三個(gè)編號(hào)數(shù)據(jù)分析可知,外層為信號(hào)反饋層,理論上采用按照板厚比例計(jì)算鉆深,即不同板厚位置鉆孔深度按照比例計(jì)算,背鉆的能力比傳統(tǒng)的背鉆方式(固定一個(gè)背鉆深度)有很大的提高,且板件越厚、背鉆深度越大,能力提高越明顯。編號(hào)A完成板厚4 mm左右,背鉆深鍍2.22 mm左右,殘留Stubs長(zhǎng)度(板厚減去鉆深)極差由393.95 μm減小到172.94 μm;編號(hào)B完成板厚2.5 mm左右,背鉆深度0.9 mm左右,殘留Stubs長(zhǎng)度(板厚減去鉆深)長(zhǎng)度極差由145.45 μm減小到89.67 μm;編號(hào)C板厚3.2 mm左右,背鉆深度2.48mm左右,殘留Stubs長(zhǎng)度(板厚減去鉆深)長(zhǎng)度極差由296.92 μm減小到65.50 μm,理論的背鉆能力得到很大提高。按板厚比例控制背鉆深度背鉆的方法控制Stubs長(zhǎng)度方面表現(xiàn)良好,流程與傳統(tǒng)背鉆方法一致,過(guò)程控制難度小。
本文闡述了三種背鉆方法,并對(duì)其優(yōu)缺點(diǎn)進(jìn)行了比較,PCB制造廠可以根據(jù)本廠自身特點(diǎn),結(jié)合客戶要求,選擇合適的背鉆方法,滿足客戶需求。
[1]白蓉生. 背板之背鉆. circuitree.com, November 2006.
[2]Yasuhiko Kanaya et al. manufacturing method of a multi-layered circuit board; US patent No:7488676B2.
[3]陳顯任等. 背鉆孔內(nèi)披鋒改善分析研究[C]. CPCA 2010秋季國(guó)際PCB技術(shù)/信息論壇.
[4]Taveras, Victor. Back drilling method of through via, circuit board and manufacturing method of circuit board. WIPO PCT WO 2010/127496 A1.