郭 虎,羅景潤(rùn)
(中國(guó)工程物理研究院總體工程研究所,四川 綿陽(yáng)621900)
高聚物黏結(jié)炸藥(polymer bonded explosive,PBX)PBX 是一種顆粒高度填充的復(fù)合材料。從細(xì)觀研究可以看出[1-4],PBX 含有初始損傷,在外加載荷的作用下,這些損傷會(huì)進(jìn)一步演化,以顆粒斷裂、界面脫粘、黏結(jié)劑基體開(kāi)裂、變形孿晶以及剪切帶等形式使炸藥的力學(xué)性能劣化。同時(shí),PBX的起爆機(jī)理(特別是XDT)與損傷也有密切的聯(lián)系。因此,對(duì)PBX 細(xì)觀損傷的表征是其力學(xué)行為研究的重要內(nèi)容,也是武器安全性研究的基礎(chǔ)。
目前,已有不少本構(gòu)模型應(yīng)用于PBX力學(xué)行為的研究,如修正的Ramberg-Osgood模型[5]、Johnson-cook模型[6]和羅景潤(rùn)等[7]結(jié)合前兩者而建立的模型,以及周風(fēng)華等[8-9]建立的損傷型ZWT 模型。但是,這些本構(gòu)模型都沒(méi)有較好地表征PBX 細(xì)觀損傷。微裂紋統(tǒng)計(jì)模型(Statistical Crack Mechanics,SCRAM)是基于微裂紋擴(kuò)展的本構(gòu)模型[10-11],利用微裂紋尺寸表征材料細(xì)觀損傷,能較好地反映材料細(xì)觀物理過(guò)程[12-13]。本研究基于微裂紋統(tǒng)計(jì)模型,分析了PBX 的力學(xué)行為及相應(yīng)的物理過(guò)程,以及黏性對(duì)PBX 力學(xué)行為的影響。
由于考慮的因素較多,SCRAM 本構(gòu)模型本身比較復(fù)雜,為方便應(yīng)用,相繼出現(xiàn)了各向同性ISOSCRAM 模型[14]和在其基礎(chǔ)上建立的黏彈性Visco-SCRAM 模型[15-16]。如圖1所示,Visco-SCRAM模型由一個(gè)包含多個(gè)Maxwell體并聯(lián)的黏彈性體和一個(gè)由SCRAM 模型定義的微裂紋損傷體串聯(lián)而成。其中,是偏應(yīng)力率,是黏彈性偏應(yīng)變率,是微裂紋損傷體的偏應(yīng)變率,而Gn和ηn分別是第n個(gè)Maxwell體的剪切模量和黏性系數(shù)。
在第n個(gè)Maxwell體里,有:
圖1 Visco-SCRAM 模型結(jié)構(gòu)圖[15]Fig.1 Schematic representation of Visco-SCRAM model[15]
由于彈簧與黏壺串聯(lián),故黏彈性應(yīng)變率等于彈簧與黏壺產(chǎn)生的應(yīng)變率之和,即:
故第n個(gè)Maxwell體的偏應(yīng)力率為:
即
式中:τ(n)=η(n)/G(n)是 第n個(gè)Maxwell體 的 松 弛時(shí)間。
對(duì)于由多個(gè)Maxwell體并聯(lián)的黏彈性體,其偏應(yīng)力S是各Maxwell體的偏應(yīng)力的和,即:
所以黏彈性體的偏應(yīng)力、偏應(yīng)力率和偏應(yīng)變率的關(guān)系可以表示為:
對(duì)于整個(gè)模型,總的偏應(yīng)變率為黏彈性偏應(yīng)變率和微裂紋損傷體的偏應(yīng)變率的和,即:
微裂紋損傷體的偏應(yīng)變和偏應(yīng)力的關(guān)系可表示為[15]:
其中,βe是與剪切模量G和初始裂紋分布N0相關(guān)的參數(shù),c是微裂紋平均半徑,
式中:A 是常數(shù);a為初始缺陷尺寸。
將其代入(3)式,可以得到:
寫(xiě)成率的形式為:
聯(lián)立方程(1)、(2)和(4),得到:
另外,模型假設(shè)體應(yīng)變?chǔ)舖和體應(yīng)力σm的關(guān)系為:
式中:k為材料的體積模量。
模型中含有微裂紋擴(kuò)展速率,該變量難以測(cè)量。根據(jù)實(shí)驗(yàn)觀察與總結(jié)[16],微裂紋擴(kuò)展速率主要依賴(lài)于應(yīng)力強(qiáng)度因子。本研究利用Dienes和Johnson等[17-18]總結(jié)的經(jīng)驗(yàn)公式對(duì)應(yīng)力強(qiáng)度因子和微裂紋擴(kuò)展速率進(jìn)行計(jì)算。
將本構(gòu)方程在單軸應(yīng)力下進(jìn)行簡(jiǎn)化,即將式(5)和(6)進(jìn)行簡(jiǎn)化,得到(v為泊松比):
利用中心差分的方法,將上述微分方程組轉(zhuǎn)化為增量形式,可得:
和
由上述單軸應(yīng)力情況下增量形式的本構(gòu)方程和文獻(xiàn)[16]給出的關(guān)于PBX9501 的參數(shù),可擬合得到不同加載方式和不同應(yīng)變率下的應(yīng)力應(yīng)變關(guān)系曲線。PBX9501中的顆粒(HMX)和黏結(jié)劑質(zhì)量分?jǐn)?shù)分別為95%和5%。
由于在拉伸和壓縮下的損傷機(jī)理不同,PBX 存在著明顯的拉伸和壓縮不對(duì)稱(chēng)性[7]。PBX 的拉伸強(qiáng)度要比壓縮強(qiáng)度小很多,通常在一個(gè)量級(jí)左右。圖2是通過(guò)Visco-SCRAM 模型擬合出的拉伸和壓縮下的應(yīng)力應(yīng)變曲線(應(yīng)變率1/s),可以看出,兩者明顯不對(duì)稱(chēng),且其拉伸和壓縮的強(qiáng)度和模量與實(shí)驗(yàn)結(jié)果基本一致。所以,Visco-SCRAM 模型能夠反映PBX 的拉壓不對(duì)稱(chēng)性,而模型的這一特征來(lái)自應(yīng)力強(qiáng)度因子的計(jì)算公式。
圖2 Visco-SCRAM 單軸拉伸與壓縮曲線Fig.2 Simulated stress-strain response under uniaxial tension and compression
PBX 是一種應(yīng)變率相關(guān)材料,在拉伸與壓縮狀態(tài)下,PBX 的模量和強(qiáng)度均隨應(yīng)變率的增大而增加。圖3和圖4分別是通過(guò)Visco-SCRAM 模型擬合出的拉伸與壓縮狀態(tài)的單軸應(yīng)力-應(yīng)變曲線??梢钥闯觯瑑煞N狀態(tài)下的曲線均有明顯的應(yīng)變率效應(yīng),模量和強(qiáng)度均隨應(yīng)變率的增大而增加,且在高應(yīng)變率(101~103s-1)下更加明顯。
另外,在相對(duì)較低的應(yīng)變率(<10s-1)下曲線的硬化效應(yīng)并不明顯,在軟化之前應(yīng)力應(yīng)變幾乎呈線性關(guān)系,而在應(yīng)變率較高時(shí)則表現(xiàn)出明顯的硬化效應(yīng)。這種硬化不明顯的現(xiàn)象與模型選取的黏性參數(shù)有關(guān)。
計(jì)算采用PBX9501相關(guān)參數(shù),其壓縮狀態(tài)下的計(jì)算值與實(shí)驗(yàn)結(jié)果吻合較好,兩者的強(qiáng)度與模量在進(jìn)入軟化階段前均相近(如圖5)。其中,準(zhǔn)靜態(tài)實(shí)驗(yàn)結(jié)果來(lái)自Wiegand等[19]的工作,動(dòng)態(tài)數(shù)據(jù)來(lái)自Dobratz等[20]的工作。進(jìn)入軟化階段后,動(dòng)態(tài)與準(zhǔn)靜態(tài)的計(jì)算值與實(shí)驗(yàn)結(jié)果均相差較大,說(shuō)明Visco-SCRAM 模型不能較好地模擬PBX 的軟化階段,這可能是出現(xiàn)宏觀裂紋造成的。由于準(zhǔn)靜態(tài)情況下計(jì)算曲線中的硬化效應(yīng)不明顯,其擬合結(jié)果與實(shí)驗(yàn)結(jié)果的差異比動(dòng)態(tài)情況大。所以,Visco-SCRAM模型更適合于模擬PBX 在動(dòng)態(tài)情況下的力學(xué)行為。
由以上結(jié)果可以看出,Visco-SCRAM 模型能較好地反映PBX 的模量和強(qiáng)度隨應(yīng)變率增大而增加的特征,且其模量和強(qiáng)度的計(jì)算值與實(shí)驗(yàn)結(jié)果吻合較好。但該模型只能模擬PBX 軟化前的階段,軟化階段的誤差較大。
圖5 準(zhǔn)靜態(tài)和動(dòng)態(tài)壓縮情況下應(yīng)力-應(yīng)變的擬合結(jié)果與實(shí)驗(yàn)Fig.5 Comparison of the stress-strain responses calculated by Visco-SCRAM with data under static and dynamic compression
SCRAM 模型的建立是基于細(xì)觀微裂紋的擴(kuò)展,微裂紋的平均半徑和微裂紋的擴(kuò)展速率是其中的重要變量,它們會(huì)隨著加載的過(guò)程而變化。
單軸壓縮應(yīng)力-應(yīng)變曲線和其過(guò)程中微裂紋平均半徑隨應(yīng)變的變化情況見(jiàn)圖6和圖7。
其中c/c0表示微裂紋平均半徑與初始平均半徑的比值。從微裂紋平均半徑與應(yīng)變的關(guān)系可以看出,初始的A點(diǎn)到B的過(guò)程中,微裂紋平均半徑基本不變,即c/c0≈1。當(dāng)?shù)竭_(dá)B點(diǎn)后,應(yīng)力足夠大,致使微裂紋開(kāi)始快速擴(kuò)展,微裂紋半徑也快速增大。在C點(diǎn),達(dá)到應(yīng)力峰值,此時(shí)微裂紋平均半徑大約是初始半徑的10倍,即c/c0≈10。通過(guò)對(duì)各應(yīng)變率下壓縮加載的分析,到達(dá)應(yīng)力峰值時(shí)的微裂紋平均半徑隨應(yīng)變率的增大而增大(如應(yīng)變率為103s-1時(shí),c/c0≈16)。另外,在拉伸情況下(10s-1),到達(dá)應(yīng)力峰值時(shí)的微裂紋平均半徑只是初始半徑的兩倍(c/c0≈2),明顯小于同等應(yīng)變率下壓縮的情況。在其他應(yīng)變率下分析也能得到同樣的規(guī)律,即對(duì)于應(yīng)力峰值時(shí)的微裂紋平均半徑,拉伸加載下明顯小于壓縮的情況。經(jīng)過(guò)應(yīng)力峰值之后,由于微裂紋半徑過(guò)大,微裂紋聚合、生長(zhǎng),使材料發(fā)生宏觀的破壞,致使材料進(jìn)入軟化階段(C—D)。上述分析能在一定程度上反映材料的細(xì)觀物理過(guò)程。
微裂紋是PBX 主要的損傷類(lèi)型,而SCRAM 模型能從微裂紋擴(kuò)展的角度描述PBX 在受載過(guò)程中的細(xì)觀物理過(guò)程,這將有助于研究PBX 宏觀力學(xué)行為與細(xì)觀物理過(guò)程的聯(lián)系。
PBX 的黏性主要來(lái)自黏結(jié)劑,黏結(jié)劑越少,黏性對(duì)PBX 力學(xué)行為的影響越小。Visco-SCRAM 模型里的黏性主要來(lái)自廣義Maxwell體里的松弛時(shí)間,表1中關(guān)于黏性的參數(shù)是通過(guò)半經(jīng)驗(yàn)的方式得到的。首先通過(guò)實(shí)驗(yàn)得到PBX 的模量與應(yīng)變率的關(guān)系,然后半經(jīng)驗(yàn)地假設(shè)松弛時(shí)間是應(yīng)變率倒數(shù)的十分之一,從而通過(guò)最小二乘法擬合數(shù)據(jù)點(diǎn)得到松弛時(shí)間與模量的關(guān)系,即應(yīng)力松弛譜。Bennett等[15]通過(guò)該方法得到PBX9501的松弛時(shí)間與模量呈對(duì)數(shù)關(guān)系(見(jiàn)圖8):
式中:m1=-0.17 077;m2=0.06 825;m3=7.1 679;E和τ的單位分別為MPa和s。
圖8 PBX9501楊氏模量與松馳時(shí)間的關(guān)系[15]Fig.8 The young′s modulus versus relaxation time data for PBX9501[15]
本研究假設(shè)松弛時(shí)間是應(yīng)變率倒數(shù)的10-(q+1)倍,則可在表1給出的黏性參數(shù)的基礎(chǔ)上得到新的黏性參數(shù)組。顯然,當(dāng)q<0 時(shí),黏性減小;當(dāng)q>0時(shí),黏性增大。圖9 是不同黏性參數(shù)下Visco-SCRAM 模型單軸壓縮應(yīng)力應(yīng)變曲線(10s-1)。從圖9可以看出,黏性增大和減小對(duì)壓縮曲線的影響是不對(duì)稱(chēng)的。當(dāng)黏性增大時(shí),模量略有減小,強(qiáng)度幾乎沒(méi)有變化,而q>2后,模量和強(qiáng)度都不會(huì)有明顯的變化。當(dāng)黏性減小時(shí),模量有明顯的增大,強(qiáng)度在q<-1后也有明顯的增大,而q<-4后,模量和強(qiáng)度都不會(huì)有明顯的變化。
圖9 黏性對(duì)Visco-SCRAM 壓縮應(yīng)力—應(yīng)變曲線的影響Fig.9 Effect of viscosity on the predicted stress—strain response under compression
以上分析說(shuō)明,黏性的變化對(duì)PBX 力學(xué)性能的影響較明顯。黏性增大時(shí),模量和強(qiáng)度會(huì)隨之減??;黏性減小時(shí),模量和強(qiáng)度會(huì)增大。其中,存在一定的范圍(-1<q<2)內(nèi),可以使PBX 的模量變化,而強(qiáng)度幾乎保持不變。對(duì)于以上黏性增大減小時(shí)的不對(duì)稱(chēng),可能是因?yàn)镻BX9501 的黏性本身就比較大。
(1)SCRAM 模型能較好地反映PBX 在拉伸和壓縮下的力學(xué)行為和相應(yīng)的細(xì)觀物理過(guò)程,對(duì)于疲勞、蠕變以及斷裂等行為,還需更加深入的研究。
(2)在壓縮或拉伸過(guò)程中,應(yīng)力較小時(shí),微裂紋平均半徑基本保持不變。隨著應(yīng)力的增大,微裂紋擴(kuò)展速率增大,當(dāng)微裂紋擴(kuò)展到一定長(zhǎng)度時(shí)會(huì)使PBX 產(chǎn)生破壞。到達(dá)應(yīng)力峰值時(shí),微裂紋平均半徑隨應(yīng)變率的增加而增大,且該值在拉伸時(shí)明顯比壓縮時(shí)小。
(3)減小PBX 的黏性,模量明顯增大,破壞應(yīng)變明顯減小。對(duì)于破壞應(yīng)力,存在一個(gè)閾值,當(dāng)黏性減小量小于這個(gè)閾值時(shí),破壞應(yīng)力基本不變,超過(guò)這個(gè)閾值后,破壞應(yīng)力明顯增大。
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