小兒熱性驚厥的腦電圖分析

戴瑾

熱性驚厥 (FC)在小兒時(shí)期很常見，反復(fù)發(fā)作將對(duì)腦功能產(chǎn)生一定影響，部分患兒的腦電圖 (EEG)出現(xiàn)不同程度的異常改變，現(xiàn)將我院2007年1月—2010年1月診治的50例FC患兒的EEG進(jìn)行分析，探討FC對(duì)腦功能的影響及FC時(shí)EEG與小兒發(fā)病年齡、程度、復(fù)發(fā)次數(shù)的關(guān)系。

1 資料與方法

1.1 一般資料 50例患兒初次發(fā)作時(shí)間為1個(gè)月～6歲，在上呼吸道感染或其他感染疾病的初期，體溫38℃以上時(shí)突然出現(xiàn)的驚厥，不包含中樞神經(jīng)系統(tǒng)感染及可致驚厥的器質(zhì)性或代謝性異常者。單純FC發(fā)作時(shí)體溫一般超過38℃，發(fā)作形式為強(qiáng)直－陣攣，陣攣或強(qiáng)直發(fā)作，少數(shù)為失張力發(fā)作，持續(xù)時(shí)間不超過15min，發(fā)作后無異常神經(jīng)體征，1次熱程中僅有1次發(fā)作，而復(fù)雜FC發(fā)病年齡小于6個(gè)月或6歲以上仍有發(fā)作，驚厥時(shí)體溫＜38℃，有局部性發(fā)作表現(xiàn)，1次熱程中有1次以上驚厥復(fù)發(fā)或驚厥時(shí)間超過15min。

1.2 腦電圖描記方法 采用上海諾誠16導(dǎo)NATION128WH電生理記錄儀使用銀盤狀電極，按國際標(biāo)準(zhǔn)10～20系統(tǒng)安放電極，進(jìn)行參考導(dǎo)聯(lián)，雙極導(dǎo)聯(lián)描記，描記時(shí)間為20～30min，3歲以上合作兒童采用清醒、安靜、閉目狀態(tài)行EEG檢查，并做睜閉眼試驗(yàn)及深呼吸3min誘發(fā)試驗(yàn)，不合作兒童及3歲以下嬰幼兒采用剝奪睡眠或口服水合氯醛誘導(dǎo)睡眠，腦電圖診電標(biāo)準(zhǔn)參照劉曉燕診斷標(biāo)準(zhǔn)［1］。結(jié)果分為正常腦電圖和異常腦電圖，其中異常腦電圖分為非特異性異常 (背景活動(dòng)出現(xiàn)彌漫性慢波)發(fā)作性異常 (出現(xiàn)棘波、尖波、棘慢綜合波等病理性病)。

2 結(jié)果

2.1 為消除FC患兒發(fā)熱和驚厥后改變對(duì)EEG的影響，均在熱退后10d～2周以后進(jìn)行EEG描記，50例FC患兒中男29例，女21例;結(jié)果正常34例，異常16例 (其中非特異性異常13例，發(fā)作性異常3例)。

2.2 50例FC患兒中發(fā)作1次者29例，其中異常7例，發(fā)作2次者13例，異常5例發(fā)作，3次及以上者8例，異常4例。

2.3 FC患兒在1歲以內(nèi)9例，1～3歲27例，3歲以后14例，3歲以內(nèi)的36例中，EEG異常9例，3歲以后的14例，異常7例。

2.4 FC患兒發(fā)作時(shí)體溫＞39℃者31例，異常9例，體溫＜39℃者19例，異常7例。

2.5 FC患兒中單純熱性驚厥39例，異常10例，復(fù)雜性熱性驚厥11例，異常6例，其中發(fā)作性異常5例。

3 討論

小兒FC系上呼吸道感染、支氣管炎、肺炎等多種病因引起的腦功能一過性紊亂的一種常見癥狀，是兒科常見急癥，發(fā)病率高，多數(shù)國家報(bào)道兒童期發(fā)病率為2%～5%，其發(fā)病機(jī)制尚不明確，可能與嬰幼兒發(fā)育不成熟，髓鞘生成不全及興奮性神經(jīng)遞質(zhì)不平衡有關(guān)［2］。本研究顯示，驚厥發(fā)作次數(shù)越多，異常率越高，考慮為反復(fù)抽搐，造成暫時(shí)性腦缺血缺氧，損傷腦細(xì)胞，EEG異常率高，而發(fā)作年齡越大，異常率越高，考慮為不同年齡大腦對(duì)不良刺激的耐受性不同，也可能因?yàn)槟挲g較大的FC患兒病程長，損害更大一些，而且隨著年齡增大，腦發(fā)育成熟度增加，發(fā)病人數(shù)相對(duì)少些，一旦發(fā)生異常率較高。

體溫高于39℃的FC患兒EEG異常率低于體溫低于39℃的患兒，考慮高熱引起的驚厥與腦損傷的相關(guān)性相對(duì)較低，而低溫就不能耐受FC患兒可能本來就存在不同程度的潛在病灶及中樞神經(jīng)系統(tǒng)的不穩(wěn)定性。

復(fù)雜性熱性驚厥患兒腦電圖異常率明顯高于單純性熱性驚厥患兒，考慮為復(fù)雜性熱性驚厥患兒在體溫、發(fā)作次數(shù)、發(fā)作時(shí)間等方面引起的腦損傷程度高于單純性熱性驚厥患兒。

總之，通過本組FC患兒EEG分析，發(fā)現(xiàn)EEG的異常與FC的發(fā)作年齡、發(fā)作次數(shù)、發(fā)作持續(xù)時(shí)間等有相關(guān)性，F(xiàn)C小兒的發(fā)生是其腦功能異常的表現(xiàn)，同時(shí)FC也能使腦缺氧加劇等致EEG的異常，既往研究證實(shí)，反復(fù)的癲癇發(fā)作可導(dǎo)致腦損傷，影響患者的認(rèn)知，學(xué)習(xí)和記憶能力，而每次熱性驚厥本身是一次癲癇發(fā)作，是不需診斷為癲癇的癲癇發(fā)作，驚厥發(fā)作時(shí)造成暫時(shí)性腦缺血、缺氧，反復(fù)發(fā)作即可引起大腦后部的損害致癲癇，國內(nèi)兒童醫(yī)院統(tǒng)計(jì)發(fā)熱驚厥轉(zhuǎn)化為癲癇者為4%。EEG檢查可幫助臨床診斷、治療，估計(jì)預(yù)后，小兒腦細(xì)胞發(fā)育不成熟，雖然驚厥使腦功能受到一定的影響，但只要及時(shí)治療，預(yù)防高熱，防止復(fù)發(fā)，腦細(xì)胞在發(fā)育過程中可以得到恢復(fù)。所以對(duì)FC患兒定期行EEG檢查，采取必要的預(yù)防措施，以防止復(fù)發(fā)及癲癇的發(fā)生。

1 劉曉燕.臨床腦電學(xué)［M］.北京:人民衛(wèi)生出版社，2006:213－216.

2 帥海平，王子才.101例高熱驚厥患兒的轉(zhuǎn)歸［J］.實(shí)用兒科臨床雜志，2003，18(9):724－725.