張寧
(商丘師范學(xué)院 物理與電氣信息學(xué)院,河南 商丘476000)
電子設(shè)備在運(yùn)行過程中,由于環(huán)境、故障或者誤操作等原因,會(huì)發(fā)生過電壓現(xiàn)象。有些設(shè)備甚至在其正常工作狀態(tài)中,包括瞬時(shí)的高壓脈沖也會(huì)發(fā)生過電壓現(xiàn)象。為保證設(shè)備的穩(wěn)定運(yùn)行,必須按照高電壓試驗(yàn)規(guī)范,對(duì)這些電子設(shè)備和構(gòu)成電子設(shè)備的電子元器件進(jìn)行絕緣性能評(píng)估。
筆者針對(duì)電子設(shè)備高電壓試驗(yàn)的實(shí)際需求,結(jié)合電力電子技術(shù)和計(jì)算機(jī)控制技術(shù),對(duì)智能化電子設(shè)備絕緣檢測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行設(shè)計(jì)與分析。
智能化電子設(shè)備絕緣檢測(cè)系統(tǒng)采用ATmega16單片機(jī)作為主控芯片。其最小系統(tǒng)包括:1)5 V工作電源;2)電容電感串連構(gòu)成的帶延時(shí)硬件復(fù)位電路;3)16 M外部有源時(shí)鐘;4)6線JTAG在線仿真接口。ATmega16單片機(jī)強(qiáng)大的運(yùn)算處理能力和豐富的片上集成功能,使其能滿足智能化電子設(shè)備絕緣檢測(cè)系統(tǒng)幾乎所有的功能需求。為絕緣檢測(cè)系統(tǒng)提供算法支持,對(duì)整個(gè)絕緣檢測(cè)過程進(jìn)行監(jiān)控。
本系統(tǒng)設(shè)計(jì)的主控模塊與系統(tǒng)其他功能模塊的連接關(guān)系,其中高壓直流生成模塊沿用開關(guān)電源設(shè)計(jì)思路,采用交-直-交-直方式,最終輸出試驗(yàn)所需的直流高電壓。該模塊包括以下幾個(gè)子模塊:1)PWM 波發(fā)生器;2) 光電隔離;3)MOS管驅(qū)動(dòng);4)半橋逆變電路;5)脈沖變壓器;6)倍壓整流電路。如圖1所示。
圖1 系統(tǒng)結(jié)構(gòu)框圖Fig.1 Structure of system
相比于傳統(tǒng)電力工程中的高電壓試驗(yàn),針對(duì)電子設(shè)備及元器件的高電壓試驗(yàn)有其自身的特點(diǎn):1)測(cè)試電壓相對(duì)較低,基本在3 kV以下;2)由于電子設(shè)備及元器件本身的高敏感度,測(cè)試精度要求更高;3)由于電子設(shè)備本身結(jié)構(gòu)的復(fù)雜性,對(duì)測(cè)試設(shè)備的智能化要求更高。
絕緣檢測(cè)系統(tǒng)主要的工作流程如圖2所示。
通過外接鍵盤,對(duì)絕緣測(cè)試的各參數(shù),包括上限電壓、擊穿電流和升壓步長等進(jìn)行設(shè)置。經(jīng)由鍵盤掃描程序,將設(shè)定值存儲(chǔ)于相關(guān)寄存器,供主程序調(diào)用及處理。
各初始化參數(shù)、當(dāng)前工作狀態(tài)及試驗(yàn)結(jié)果等,經(jīng)由顯示程序,直觀地顯示于外部LCM,使操作者適時(shí)掌握試驗(yàn)狀態(tài)。系統(tǒng)中PWM波發(fā)生器由ATmega16片上自帶的兩路8位PWM波發(fā)生器構(gòu)成,通過對(duì)單片機(jī)編程,可以設(shè)定其生成的PWM波的頻率、脈寬和相位等參數(shù)。光電隔離模塊將單片機(jī)5 V控制信號(hào)轉(zhuǎn)換位波形相同的15 V驅(qū)動(dòng)信號(hào),經(jīng)由專用MOS管驅(qū)動(dòng)芯片,當(dāng)設(shè)定占空比為16%,外界3 V直流逆變?cè)?,兩路互鎖MOS管驅(qū)動(dòng)信號(hào)波形如圖3所示。
圖2 系統(tǒng)流程圖Fig.2 Flow chart of system
圖3 兩路MOS管信號(hào)Fig.3 Signal of two MOS
它對(duì)逆變電橋進(jìn)行控制,生成高頻脈沖交流源,輸入到脈沖變壓器原邊。變壓器原邊輸入波形如圖4所示。
圖4 變壓器原邊輸入波形Fig.4 Waveform of transformer primary side input
脈沖變壓器副邊輸出幅值較高的脈沖交流電壓,經(jīng)倍壓整流電路整流濾波,可得穩(wěn)定性很高的直流高壓電源。如圖5所示。
圖5 五倍壓整流濾波的輸出波形Fig.5 Waveform of the voltage rectifier five timesoutput
傳統(tǒng)絕緣測(cè)試系統(tǒng)大多采用傳感器作為數(shù)據(jù)采集的前端,使得采樣精度受到傳感器本身參數(shù)的限制,采樣誤差中不可避免地包含傳感器本身的測(cè)試誤差。
本系統(tǒng)直接采用ADC公司的高性能儀表運(yùn)算放大器作為采樣環(huán)節(jié),省去了傳感器環(huán)節(jié)。將待測(cè)件與小阻值精密電阻串連,采用ADI公司高性能儀表運(yùn)算放大器取樣精密電阻兩端的分壓值,輸入到ATmega16片上自帶的10位精度A/D轉(zhuǎn)換器中,可算得測(cè)試回路的漏電流值。進(jìn)而算出在當(dāng)前電壓值下的絕緣電阻值。主控芯片可依據(jù)數(shù)據(jù)采集模塊的輸出結(jié)果,判斷待測(cè)件是否已經(jīng)擊穿,并以此作為反饋,構(gòu)成閉環(huán),提高電源生成模塊的穩(wěn)定性和可控性。
在非破壞性試驗(yàn)中,保護(hù)電路主要對(duì)待測(cè)件起到保護(hù)作用;在破壞性試驗(yàn)中,該電路主要對(duì)測(cè)試系統(tǒng)本身起到保護(hù)作用。當(dāng)絕緣擊穿發(fā)生時(shí),主控芯片經(jīng)用采樣電路獲得反饋,斷開低壓直流逆變?cè)矗沟帽秹赫髂K失去能量供給,僅由電容存儲(chǔ)的能量進(jìn)行放電。串連于測(cè)試回路功率電阻則在測(cè)試件絕緣電阻驟減時(shí)起到限流的作用,對(duì)測(cè)試件及系統(tǒng)本身進(jìn)行保護(hù)。
根據(jù)上述設(shè)計(jì)方案,搭建實(shí)際絕緣測(cè)試系統(tǒng),對(duì)多種電子設(shè)備進(jìn)行絕緣評(píng)估試驗(yàn),具體指標(biāo)為:
1)主控芯片工作主頻16 MHz,逆變電路工作頻率32 kHz;
2)輸出電壓可以在10~100 V和100~2 000 V兩個(gè)量程之間連續(xù)可調(diào);
3)輸出電流 0~10 μA;
4)電流采樣分辨率 0.5 μA;
升壓過程中,系統(tǒng)輸出電壓變化速率可調(diào),波形平穩(wěn)。測(cè)試過程中,采樣頻率高,響應(yīng)時(shí)間快。擊穿發(fā)生時(shí),能迅速觸發(fā)保護(hù)。人機(jī)界面友好,自動(dòng)化程度高。自帶通訊接口,與上位機(jī)通訊穩(wěn)定,拓展性好,智能化程度高。
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