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    一種高電源抑制比帶隙基準源的設計

    2010-09-12 03:22:02龔美霞丁寧
    電子測試 2010年9期
    關鍵詞:帶隙基準電源

    龔美霞 , 丁寧

    南京信息職業(yè)技術學院 10046

    0 引言

    帶隙基準是所有基準電壓中最受歡迎的一種,由于其具有與電源電壓、工藝、溫度變化幾乎無關的突出優(yōu)點,所以廣泛應用于高精度的比較器、A /D 或D/A 轉換器、LDO 穩(wěn)壓器以及其它許多模擬集成電路中。帶隙基準的主要作用是在集成電路中提供穩(wěn)定的參考電壓或參考電流,因此這就要求基準對電源電壓的變化和溫度的變化不敏感。本文結合工程實際的要求設計了一款具有高的電源抑制比(PSRR)、低的輸出基準電壓的帶隙基準電壓源。本次設計采用SMIC公司的0.18μm工藝進行仿真,Hspice的仿真結果表明該基準源在電源抑制比(PSRR)、溫度特性等方面有良好的性能。

    1 帶隙基準的基本原理

    帶隙基準的基本原理是根據(jù)硅材料的帶隙電壓和溫度無關的特性,利用△VBE的正溫度系數(shù)與雙極型晶體管VBE的負溫度系數(shù)相互抵消,實現(xiàn)低溫漂、高精度的基準電壓。雙極型晶體管提供發(fā)射極偏壓VBE;由兩個晶體管之間的△VBE產(chǎn)生VT,通過電阻網(wǎng)絡將VT放大α倍;最后將兩個電壓相加,即VREF=VBE+αVT,適當選擇放大倍數(shù)α,使兩個電壓的溫度漂移相互抵消,從而可以得到在某一溫度下為零溫度系數(shù)的電壓基準。

    2 電路設計與性能分析

    2.1 電路結構

    本文設計所采用的整體結構如圖1所示,其中運算放大器的結構如圖2所示。

    圖1 整體帶隙結構

    圖2 運放結構

    圖1中的3只PMOS管參數(shù)相同,因此流過它們的電流也相同,于是得輸出基準電壓:

    其中N為Q2與Q1的發(fā)射區(qū)面積之比,通過調節(jié)參數(shù)可使輸出基準電壓在某一溫度下溫度系數(shù)為零;另外,通過選取不同R3的值,可得到不同的基準電壓。

    2.2 性能分析

    在該基準源電路中,其中一個重要的指標是電源電壓抑制比PSRR。提高PSRR可以從器件本身或電路結構的設計兩方面來實現(xiàn),對于給定工藝的前提下,只能通過電路結構設計的優(yōu)化改善PSRR。通常在電路中使用負反饋控制的原理,根據(jù)圖1分析,當電源電壓升高,引起電流增大,運放兩輸入端的電位均升高,但電阻R2上面的電壓降是線性增大的,而二級管上的電壓降是呈對數(shù)上升的,其上升的速度低于R2上的電壓降,所以運放由于輸入正電壓使得輸出電壓上升,這樣將導致電流減小,即形成深度負反饋使電流穩(wěn)定,也就是輸出電壓與電源電壓基本無關。此外,當電源電壓變化時,將使運放的輸出電壓Vo也跟隨變化,Vo的跟隨特性不好會影響輸出基準電壓的精度,電源變化可能對VBE產(chǎn)生影響,這就需要運放能將這種影響反映出來,也就是說運放的PSRR要高,所以選擇P差分對輸入的運放。

    對于基準源的另一個重要指標溫度系數(shù)來講,它與運放的性能也有密切的關系。如果溫度升高,由于電阻有較大的溫度系數(shù),導致運放的輸出電壓升高,控制支路中的電流減小,最終使運放兩輸入節(jié)點電壓相等,所以運放的增益越高,對電路的控制能力越強,越有利于改善電路的溫度系數(shù)。此外,運放中將采用密勒電容進行補償以保證整個系統(tǒng)的穩(wěn)定性。

    3 電路仿真結果

    3.1 運放性能仿真

    圖3為運放增益和相位裕度的仿真結果,本文所設計的運放的增益達到85dB,有利于提高電源抑制比;采用密勒補償使運放的相位裕度為67度,具有良好的穩(wěn)定性。

    圖3 運放的增益和相位仿真結果

    3.2 帶隙基準源整體性能仿真

    帶隙基準產(chǎn)生電路使用SMIC公司的0.18μm工藝,利用Hspice仿真工具進行仿真。在典型工藝模型下,電路工作電壓為3V,在25℃時輸出基準電壓為840mv。

    圖4為輸出基準電壓隨溫度的變化情況,當溫度由-40℃到120℃變化時,輸出基準變化在9mv左右,由此可算出基準電壓的溫度系數(shù)為67ppm/℃;圖5為基準電壓隨電源電壓變化的情況,當電源電壓由2.5V上升到7V時,輸出基準電壓變化小于0.022%。

    圖4 基準電壓隨溫度變化仿真結果

    圖5 基準電壓隨電源電壓變化仿真結果

    在典型工藝模型下,對電路在1-10MHz進行交流分析,測出輸出電源抑制比,在250Hz內(nèi),PSRR大于87dB,之后以20dB/dec下降,顯示出電路在低頻時具有較高的電源抑制能力,其仿真結果如圖6所示。

    圖6 電源抑制比隨頻率的變化仿真結果

    4 結束語

    本文設計了一款具有高電源抑制比、穩(wěn)定性良好的帶隙基準電壓源,當溫度由-40℃到120℃變化時,輸出變化在9mv左右,電源由2.5V變化到7V時,基準變化小于0.022%;在低頻下,該電路的電源抑制比高達87dB。仿真結果顯示出電路具有良好的性能,適用于對電源抑制比和穩(wěn)定性要求高的線性穩(wěn)壓器等電路中。

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