王 丹,關艷霞
(沈陽工業(yè)大學 信息科學與工程學院,遼寧 沈陽 110178)
以功率器件為核心的現(xiàn)代電力電子器件,已成為人類生活必不可少的一部分。功率器件的應用范圍從軍用的導彈、航天、衛(wèi)星等到民用的汽車、電機驅動、焊機、UPS電源和通訊電源、家用電器等領域,可以說現(xiàn)代電力電子器件已經滲透到國計民生的各個領域。
功率MOSFET與IGBT是現(xiàn)代電力電子器件中重要的組成部分。功率MOSFET是多子導電型器件,具有輸入阻抗高、易驅動、速度快、頻率高,導通電阻具有正溫度系數,不存在由雙極晶體管中過熱引起的二次擊穿現(xiàn)象,SOA寬,利于并聯(lián)使用等特點。目前,功率MOSFET主要用于工業(yè)控制、航天、通信、汽車、計算機及便攜式電器、家電、辦公用品等領域。絕緣柵雙極晶體管(IGBT)既具有MOSFET單極型器件輸入阻抗高,驅動功率小,響應速度快的優(yōu)點,又具有雙極型器件電流密度高,導通壓降低等優(yōu)點。它既可以作為開關器件使用,又可以作為提高耐壓能力和開關頻率、降低損耗以及開發(fā)具有集成保護功能的智能產品,深受電路設計者的歡迎,成為電力電子器件中很有前途的競爭者。IGBT在電機控制、中頻開關電源和逆變器、機器人、空調器以及要求快速低損耗的許多領域中有越來越廣泛的應用[1]。
隨著電力電子技術的不斷發(fā)展與節(jié)能智能化的發(fā)展要求,電力電子器件正朝著高頻大功率、易驅動、智能化的方向發(fā)展。研究性能更好的器件已成為現(xiàn)代電力電子器件發(fā)展的必然趨勢。
新近出現(xiàn)的SJMOSFET與FS-IGBT器件則是以上兩類電力器件中的佼佼者。它們優(yōu)越的性能使其迅速成為電力電子器件的重要組成部分。SJMOSFET器件優(yōu)越的低導通電阻,高開關效率,良好的可靠性;FS型IGBT器件的開關損耗小,工作頻率高,通態(tài)壓降小,導通損耗降低等優(yōu)點使得它們迅速成為電力電子器件的重要組成部分。
這里將重點分析SJMOSFET與FS-IGBT器件的工作原理與特性,比較它們的優(yōu)缺點,以便研究出更好的電力電子器件。
由于導通電阻與擊穿電壓之間的固有矛盾 (即硅限理論),功率MOSFET的擊穿電壓主要取決于P阱與N-漂移區(qū)形成的PN結,要想獲得高耐壓就要求漂移區(qū)的厚度的增加以及較低的摻雜濃度,而這樣又導致導通電阻的大幅增加,因此大大限制傳統(tǒng)的功率MOSFET的進一步發(fā)展。為解決這一限制,自20世紀80年代末90年代初開始,提出一種全新的理論—“超結理論”(Superjunction Theory)[2]。
所謂超結,是指由交替的P柱區(qū)和N柱區(qū)所構成的耐壓層,其P柱區(qū)和N柱區(qū)必須滿足電荷平衡條件,即N柱區(qū)的濃度和寬度的乘積必須與P柱區(qū)中濃度和寬度的乘積相等。
SJMOSFET就是運用這一理論發(fā)展出來的新型功率MOSFET器件,其結構如圖1所示。與傳統(tǒng)類型的功率MOSFET器件一樣,SJMOSFET也是多子導電型器件。其開關損耗與傳統(tǒng)的功率MOSFET器件相同。P柱區(qū)的運用盡管對于導通狀態(tài)沒什么大的貢獻,但卻使N柱區(qū)(電壓支持層)的雜質摻雜濃度提高近一個數量級,即可以使在相同的擊穿電壓條件下,器件的導通電阻大大降低。且SJMOSFET在阻斷狀態(tài)下,由于耐壓層不僅存在著縱向PN結和橫向PN結,使得SJMOSFET在較小的漏極電壓下,整個耐壓層可以完全耗盡,類似于一個本征耐壓層,器件的耐壓得以提高。
SJMOSFET的耐壓是由P、N柱形成的超結來承擔的,由于P、N柱滿足電荷平衡條件,在發(fā)生擊穿之前整個柱區(qū)便會完全耗盡,因此SJMOSFET的耐壓可以表示為:
可通過控制柱區(qū)的長度來調節(jié)SJMOSFET的耐壓大小。
VDMOS結構可以等效為MOS結構和JFET的串聯(lián)。然而SJMOSFET可看作是VDMOS和超結結構的結合如圖1(b)所示。
圖1 SJMOSFET的基本單元結構及其等效電路
在SJMOSFET導通狀態(tài),漏源電壓為正,由于源區(qū)與P阱區(qū)短路,所以也與P柱區(qū)等電位。隨著漏源電壓的增加,N柱區(qū)和P柱區(qū)開始耗盡。當漏源電壓增大到一定程度時,N柱區(qū)的耗盡層停止擴展。N柱區(qū)為電流的通道,負責傳導電子電流,相當于JFET的導電溝道,而P柱區(qū)則相當于加負電壓的柵極區(qū)??梢?,SJMOSFET的P柱區(qū)和N柱區(qū)可等效為一個JFET區(qū)。圖2為VDMOS和SJMOSFET的導通電阻與擊穿電壓的關系曲線。
圖2 VDMOS和SJMOSFET的導通電阻與擊穿電壓的關系
由圖2可以看出,在相同條件的擊穿電壓下,SJMOSFET比傳統(tǒng)MOSFET的導通電阻顯著降低,甚至可以突破硅限,有效降低導通損耗。
盡管SJMOSFET有效地解決了導通電阻與耐壓之間的矛盾,使其具有導通電阻小、功耗低以及在相同導通電阻下器件面積小等特點。但是SJMOSFET同樣也存在兩個顯著的缺點:體二極管反向恢復硬度高和制造工藝難度大。
SJMOSFET中由于超結的存在 (在超結結構內存在一個體PIN二極管,在其工作時將起到反并聯(lián)續(xù)流二極管的作用),增大其體二極管的PN結面。在這個體二極管處于導通狀態(tài)時,大量過剩載流子貯存在電壓支持層中,使SJMOSFET具有很高的反向恢復電荷Qrr;同時,P柱區(qū)和N柱區(qū)構成的橫向PN結的存在又使得這些載流子迅速排出,導致dv/dt增大,從而引起反向恢復硬度高,相對于VDMOS結構其反向恢復特性較差;超結結構的實現(xiàn)是通過外延層生長和硼離子注入的交替進行。因此,形成超結結構的生長次數與成本的高低直接成正比,且因為超結MOSFET是一種電荷補償型器件,若內部不能做到電荷平衡,會使擊穿電壓顯著下降,這對工藝的要求很高,因此,目前的SJMOSFET產品還無法保證應用于上千伏的高壓[3]。
為突破硅限的限制,許多新結構器件不斷涌現(xiàn),其中,IGBT器件也是比較成功的一種。在導通狀態(tài)時,由于大量少子的注入,使得漂移層的載流子濃度要比原始摻雜濃度高出幾個量級,電導調制開始起作用,使得漂移層電阻顯著降低。
IGBT可以說是MOS管與雙極型晶體管的復合器件。因此IGBT具有功率場效應晶體管高速,高輸入阻抗的特性,同時也具有雙極達林頓管飽和電壓低,電流大,耐壓高的特點。
由于引入了PN結的注入機制,在IGBT器件正向工作條件下注入少子時,高阻厚外延的N-區(qū)產生電導調制效應,降低了外延層的電阻率,從而減少了器件的導通電阻。但是同時也使得器件的關斷時間降低,造成較差的關斷特性并且產生了拖尾電流。IGBT還有一個致命的缺點—閂鎖效應。這些就極大限制了IGBT的進一步發(fā)展。
場截止FS型IGBT的出現(xiàn)是IGBT發(fā)展的一個新突破。FS型IGBT結合了PT型和NPT型兩類器件的優(yōu)點,形成硅片厚度比NPT型器件薄約1/3,既有效降低了漂移層的厚度,又保有關斷時低的載流子濃度且保持正電阻溫度系數特征的FS型結構的器件[4]。
如圖3所示[4],NPT型IGBT的電場分布為三角形。經過改良后的FS型IGBT的電場分布是更為合理的斜角梯形分布。
圖3 NPT型IGBT與FS型IGBT的結構及電場分布圖
FS型IGBT的緩沖層比PT型結構的緩沖層摻雜濃度低,且P型襯底濃度也有所降低。由于襯底摻雜濃度低,關斷時電場上升主要取決于離子電荷濃度,上升的斜率則依賴于發(fā)射效率,于是電場的分布呈斜角梯形分布。緩沖層的摻雜濃度降低以及薄的P型襯底濃度使得FS型IGBT既保持相應的發(fā)射效率,漂移層中的過剩載流子減少,又使電場截止在該層。此外,它在關斷時沒有拖尾電流是其最大優(yōu)點。
對于FS IGBT器件,其場截止層應該在保持不降低集電極的注入效率的條件下,使得電場完全截止在該層,場截止層的總電荷量可以簡單由下式定義:
式中,dFSL為場截止層厚度,NFSL為截止層摻雜濃度,Ec為最大電場強度[4]。
與PT型IGBT不同,F(xiàn)S IGBT器件的 “緩沖層”NFSL的摻雜濃度一般在 1015~1016cm-3數量級。這樣既保證有效的注入效率,又可以在關斷時降低少子的復合消失時間,減少拖尾電流。
這種FS型的IGBT已經達到單管6 500 V的水平。采用FS結構的可比規(guī)格IGBT器件的通態(tài)壓降降低到1.3~1.5 V的理想水平。這種結構又被稱為弱穿通(LPT)結構。
FS-Trench IGBT是FS型的IGBT器件的進一步發(fā)展,它采用溝槽技術,優(yōu)化了器件表面的載流子分布,同時采用電場截止型緩沖層和低發(fā)射效率的P-發(fā)射極,優(yōu)化了N漂移區(qū)的載流子分布,其功率損耗比非穿通(NPT)型IGBT減少了25%[5]。
隨著全球能源需求的不斷增長以及環(huán)境保護意識的逐步提升,使得高效、節(jié)能產品成為電力電子器件市場發(fā)展的新趨勢。新型器件的開發(fā)與設計已成為功率器件發(fā)展與應用的必然趨勢。SJMOSFET具有導通電阻小、功耗低以及在相同導通電阻下器件面積小等特點。采用SJMOSFET的家用電器能耗可降低約30%。因此,發(fā)展SJMOSFET并將其應用到相關工業(yè)控制和家用及便攜式電器領域,將會對節(jié)能、環(huán)保有重要意義:FS-IGBT器件具有輸入阻抗高、通態(tài)壓降低、驅動電路簡單、安全工作區(qū)寬、電流處理能力強且?guī)缀鯚o拖尾電流等優(yōu)點,在電機控制、中頻開關電源和逆變器、機器人、空調器以及要求快速低損耗的領域中應用越來越廣泛[6]。
盡管由于工藝條件等限制,SJMOSFET與FS-IGBT器件的發(fā)展與應用理論研究的情況居多,但是隨著科技的不斷進度,工藝條件的不斷改善,理論實驗的不斷進行,SJMOSFET與FS-IGBT器件將有更廣闊的應用前景。
[1]李恩玲,周如培.IGBT的發(fā)展現(xiàn)狀與應用[J].半導體雜志,1999,23(3):48-51.
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[3]田 波,程 序,亢寶位.超結理論的產生與發(fā)展及其對高壓MOSFET 器件設計的影響[J].中國集成電路,2008,17(8):15-21.
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[5]郭紅霞,楊金明.IGBT 的發(fā)展[J].電源世界,2006,51(6):51-56.
[6]金千男,杜國同.功率VDMOSFET與IGBT的最新結構與性能特點 [J].吉林大學學報: 信息科學版,2004,22(6):549-552.