測(cè)試小型存儲(chǔ)器陣列的新方法

隨著半導(dǎo)體工藝不斷地進(jìn)步，那些原本存在芯片中的大型存儲(chǔ)器會(huì)轉(zhuǎn)變成數(shù)十或數(shù)百個(gè)小型的存儲(chǔ)器陣列，并且散布在芯片中各個(gè)角落。這些陣列有的是寄存器堆，F(xiàn)IPO，或者是在存儲(chǔ)器管理系統(tǒng)中一些對(duì)性能要求較高的存儲(chǔ)器。針對(duì)這種類(lèi)型的小型陣列，如果想要偵測(cè)出與速度相關(guān)的瑕疵以及固定邏輯(stuck—at)故障，其實(shí)并不是一件容易的事。